TEM和SEM应用对比

想请问一下透射电镜（TEM）和扫描电镜（SEM）应用的区别？
haizi2000(站内联系TA)
TEM是做材料微观组织分析，比如说孪晶啊、马氏体啊、位错啊等等，SEM一般是做面扫
描，也可以配能谱仪进行能谱分析，比如说断面形貌，组织观察，元素百分比等等。

jhkla(站内联系TA)
在百度百科上收一下ten sem 一搜就有
chxmright(站内联系TA)
其实本质上还是原理不一样，造成应用上的差别
另外补充一下
做TEM的样比SEM的样要复杂很多~
santuo(站内联系TA)
TEM是做材料微观组织、晶体结构分析；
SEM主要用于表面形貌观察，亦可通过能谱检测局部元素组成与含量
Image6975(站内联系TA)
SEM 观察材料表面信息
TEM 观察材料内部信息
tiger808(站内联系TA)
TEM是做材料微观组织分析，比如说孪晶啊、马氏体啊、位错啊等等，SEM一般是做面扫描，也可以配能谱仪进行能谱分析，比如说断面形貌，组织观察，元素百分比等等。

补充：透射电镜做晶体结构分析较好，扫描电镜做表面形貌和成分分析较好。

lchealsea(站内联系TA)
透射电镜是利用透射电子来成像的，为此样品制作比较麻烦，需要做的很薄。

可以TEM检测来判断材料的内部空间结构。

比如得到衍射花样，再通过标定，可以得到其为面心，体心，是否有孪晶等。

扫描电镜主要是利用二次电子成像，以获取材料的表面形貌。

通常扫描的附件会带有能谱仪，
通过特征射线获取材料的成分分布情况，另外扫描电镜可以观察端口形貌。

大友(站内联系TA)
扫描电镜就扫表面
透射电镜电子束透过
透射的放大倍数高
扫描的好分析
透射可以分析结构
扫描只能看形貌
老师：
感觉要看断口的宽厚，SEM比较好，看微晶结构TEM更好，但是以前师兄师姐的论文即使做了透射也不是分析晶体结构。