一种用于集成电路芯片的测试装置

专利名称：一种用于集成电路芯片的测试装置专利类型：实用新型专利
发明人：陈果夫,黄宏铭,张强,林沃栈
申请号：CN202121525602.0
申请日：20210706
公开号：CN215641657U
公开日：
20220125
专利内容由知识产权出版社提供
摘要：本实用新型涉及芯片测试技术领域，公开了一种用于集成电路芯片的测试装置，通过将集成电路芯片分别放入测试座的上端部的第一容置槽内，并将定位销分别插入引脚插接孔内，集成电路芯片的侧壁分别与定位板的侧壁抵接，压板的下端壁分别与集成电路芯片的上端壁抵接，焊盘分别可拆卸的嵌设于所述第三容置槽内，避免在测试过程中集成电路芯片发生位移，从而有效提高了集成电路芯片的测试准确度，通过弹簧探针的上端部分别与测试触点抵接电连接，避免与芯片刚性接触，有效避免损坏集成电路芯片，通过测试接口与测试机进行电连接，完成对集成电路芯片的各种功能进行测试，且操作方便快捷，定位精准，实用性强。

申请人：百润生科技(深圳)有限公司
地址：518000 广东省深圳市龙华区大浪街道龙平社区鸿荣源尚峻二期3B栋1003
国籍：CN
代理机构：深圳市中科创为专利代理有限公司
更多信息请下载全文后查看。