手机维修

WT-WT-E003 手机分析维修手册手机分析维修手册拟日制期示例机型页数WT-WT-E003 目录一DL 工位： 1.DL 没反应--------------------------3 2. DL 下载变红-----------------------7 二三SN 工位------------------------------------8 CFT 工位：1.AFC 不良------------------------------9 2.EGSM APC 不良------------------------11 3.EGSM AGC 不良------------------------11 4.CALL 不良----------------------------11 5.EGSM TXP 不良------------------------11 6.EGSM BER 不良------------------------11 四CIT 工位： 1. 不开机-----------------------------11 2. 显示不良---------------------------11 3. 触摸屏无效-------------------------12 4. 开机声音不良----------------------13 5. 不识SIM 卡-------------------------14 6. 不识T 卡---------------------------14 7. 键盘灯不亮-------------------------15 WT-WT-E003 8. 按键无效--------------------------16 9. 无振动--------------------------16 10. 无回音---------------------------17 11. 耳机不良-------------------------18 12. 摄像不良-------------------------19 13. 蓝牙不良-------------------------20 14. FM 调频收音机不良-----------------22 15. 七彩灯不良-----------------------23 16. 充电不良-------------------------25 17. 不能识别USB---------------------26 18. 附录----------------------------27 工位：一DL 工位：没反应：1.DL 没反应：没电流：1.1 DL 没电流：、现所用多为USB 下载，故应先从电池连接器供电，按POWER 键看开机电流是否正常，若开机电流正常（一般为20~30MA）则说明是USB 接口（J501）有问题（US，SS 或CD）；WT-WT-E003 若从电池连接器供电开机电流仍为零，则应先检查VBAT 是否经过L201 供给电源管理芯片，再检查电源部分是否正常工作，加焊或更换电源管理芯片（展讯平台都为PMIC 和CPU 集成，故要加焊或更换BBIC（U101））。小电流：1.2 DL 小电流：开机电流偏小（一般在10MA 以下），此种情况说明手机部分电路没有正常工作，可以先检查各个供电电压是否正常，处在开机激发状态时用万用表（直流电压20V 档）或示波器测量下图所示的电压，看电压是否正常若电压为零或者偏低则应先检查电源部分，后检查这几个电压所供给的部分，因为后段电路的不良会拉低供电电压值的偏低；若上图所示的电压值都正常，则应检查26M 基准时钟信号是否正常，处在开机激发状态时用示波器或频谱仪（中心频率调到26MH）测量中频（U102）第35 脚是否有波形，若没有则应先测量中频第31，32 脚的供电是否正常，若供电正常则可以判定为X101 或U102 为US 或者CD；若此两处波形正常则应检查U102 第33 脚是否有波形（用示波器或频谱仪）以此类推一步一步测量可以判定U102 ，为US 或CD, C131 为US 或WP，或者为U101US，CD 或PCB 开路电流正常：1.3 DL 电流正常：开机电流正常则说明手机逻辑部分已正常工作，此时应检查USB 连接部分的问题，用万用表或示波器测量USB 接口（J501）第5，7，8 脚信号是否正WT-WT-E003 常，若正常则说明J501 为CD ；若J501 第8 脚信号不正常，则应检查第8 脚与CPU 之间的电路，FV509 如是否RP，R506，R512 是否WP，T501 是否US 或CD，U101 是否US，CD 或PCB 开路；WT-WT-E003 若J501 第5，第7 脚信号不正常，则应检查此两脚与CPU 之间的电路，如FV501，FV502 是否SS，U101 是否US，CD，或PCB 开路；大电流：1.4 DL 大电流：此情况一般都为电路中某一个电压（VDDNF，VMEM，VDDIO，VDD，VCHG，VDRIVE，VRF，VCAMERA，VCAM-CORE）对地短路或对地阻值很小所造成的，用万用表蜂鸣档，取红表笔接地，黑表笔接各个电压的的滤波电容上即可，若某一个电压对地阻值很小或为零，则检查此电压所供给的部分，看是否有元件SS 或CD。短路：1.5 DL 短路：此情况都为VBAT 对地短路所造成的（测量方法同上），此时则应检查与VBA T 相连的有关电路，其它则可以不用考虑，以节省分析所用的时间，如下图所示，此芯片不是VBA T 直接对其供电，所以DL 短路的主板不用考虑是此芯片的不良引起的。WT-WT-E003 同样，如FLASH，蓝牙控制芯片，触

摸控制芯片等都不会引起主板DL 短路；上电电流不归零（MA）：1.6 上电电流不归零（20 多MA）：此种情况多为32.768 没起振所造成，用示波器量32.768 是否起振，若没起振，应检查周边的电路（C209,C210,R205,R206 及CPU），更换X201，加焊或更换U101; 下载变红：2. DL 下载变红此项不良为程序下载到中途时出错，先应检查VMEN 供电是否正常，而多数情况为FLASH 与CPU 之间的数据（DA TE）线或地址（ADDRESS）线通路有问题，加焊或更换FLASH，CPU；WT-WT-E003 其次如下图：FLASH 片选，SRAM 片选，读写信号，片选低八位，高八位，复位信号等也是必须的，只是实际维修时此不良极少碰到；工位：二SN 工位：此工位相对比较简单，首先应确认软件是否正确，重新下载软件，再到WT-WT-E003 CIT 工位看是否能开机，其次，FLASH 硬件不良也会引起SN 扫不进；工位：三CFT 工位：不良：3.1 AFC 不良：中文解释为自动频率控制，综测仪检测并校准手机AFC，记录DAC 值，写进手机NV 参数表，此项不良维修方法为：用发射软件使主板处于发射状态（先使用GSM900MH 频段，信道选择62，功率等级选择5），用频谱仪探针测量射频头处的发射波形是否正常：波形正常： 3.1.1 波形正常：再测量DCS1800MH 频段，信道选择700，功率等级选择0，看发射波形是否正常，若波形不正常则应将波形修好（修法同GSM900，下面有讲解），若波形正常则应先检查手机RX 部分（因为接收不良也会引起AFC 不良）再更换26M ，（X101），因为26M 本身的频偏用频谱仪很难直观地看出，还有，中频，射频头，CPU（少见）不良也可能引起AFC 不良，最后，射频头后段的电阻电容也会引起AFC 不良；波形偏小：3.1.2 波形偏小：用频谱仪测量C130 处波形正常，而C105 处波形偏小或无波形，则应先用示波器测量C104 处的VBS1 是否正常，若不正常则判定为CPU 为US 或CD；若正常则可判定天线开关（U103）为US，SS 或CD. 用频谱仪测量R107 处波形正常而C130 处波形偏小，则可以判定射频功放（U104）为US，SS 或CD，若C130 处无波形则应先检查VBAT 是否供电正常，还有射频供电（VRF），PA 使能信号（TX-EN）PA 放大控制信号（RF-RAMP）是否正常，若正常则可判定U104 为US 或CD；若不正常则应检查各电压，信号相通的电路，看CPU 是否US,SS,CD 或与CPU 之间是否开路；WT-WT-E003 用频谱仪测量中频第15 脚，若没有波形或者波形很偏很杂则应先检查中频第11，12，13，25，28，29 脚的供电电压是否正常，第1，2，3，4，5，6，7，9，10 脚的时钟信号，使能信号，信号等是否正常IQ （此几信号都可以用示波器测量），若不正常则应检查与其相连的电路（R101，R102，R103，RN101，R105，R106，CPU 等），若正常则可以判定中频（U102 ）为US 或CD ；WT-WT-E003 GSM不良：3.2 GSM-APC 不良：中文解释为自动功率控制，此项不良多为发射功率偏低引起，维修方法可参考AFC 不良的维修方法，只是有必要时应逐一测量各个功率等级的波形是否正常，若用频谱仪测量出的波形是正常的则可更换射频功放或天线开关；GSM不良： 3.3 GSM-AGC 不良：中文解释为自动增益控制，手机从机站接收到信号经天线开关，RX 滤波器，经中频转换成IQ 信号输送给CPU 进行调制解调，此项不良多为天线开关（U103），RX 滤波器（U105），中频（U102）US 或CD 引起，其次还有U105 周围的电容，电感；不良：3.4 CALL 不良中文意思为呼叫建立失败，因之前已经对手机进行了严格的TX，RX 校准，故可以暂不考虑射频部分，多为CPU 处理电路有问题，其次软件故障也会引起该项不良；GSM不良： 3.5 GSM-TXP 不良：中文意思为发射功率不良，该项是测试900MH 频段的发射功率，若有不良一般都为射频功放或CPU 引起（此项FAIL 较少）；GSM不良：3.6 GSM-BERR 不良：中文解释为接收误码率偏差，此项不良多为RX 滤波器（U105）及其相关电路衰减过大所引起的。工位：三CIT 工位：不开机： 1. 不开机：CIT 夹具有电池接口供电和TP 供电，故应先检查TP 是否接触不良，电池接口是否US;其次应检查开机键内圈是否有VBAT 电压，若有可再检查开机触发信号(PBINT)一