晶振检测电路

用一般的万用表是不能测出晶振的好坏的，这里提供了一种简单而实用的晶振检验器，它只采用一个 N 沟道结型场效应管（FET），两个普通 NPN 小功率晶体三极管，一个发光管和一些阻容元件，便可有效的检验任何晶振的好坏。

如图所示，2N3823 结型 N 沟道场效应管（可用任何其它型号的同类小功率场效应管，如 3DJ6，3DJ7 等）与被测晶体（晶振）等组成一个振荡器，两个两个 NPN 三极管 2N3904（也可用其它任何型号的小功率 NPN 三极管）接成复合检波放大器，驱动发光二极管 LED。

若被测晶振良好时，振荡器起振，其振荡信号经 0.01uF 的电容耦合至检波放大器的输入端，经放大后驱动发光二极管发光。

如果被测晶振不好，则晶振不起振，发光二极管就不发光。

本装置可检验任何频率的晶振但其最佳的工作状态是在 3---10MHz 范围内。

下图为电路原理图：
晶振测试装置，原理电路如附图所示。

图中，V1及其外围元件（包括被测晶振）共同组成一个电容三点式振荡器。

当探头X1、X2两端接入被测晶振时，电路振荡。

振荡信号经V2射极跟随级放大后输出，经C4耦合、D1、D2倍压整流后为V3提供偏置电流，V3导通，LED发光。

若晶振不良或断路，电路则不能起振，因而LED不发光。

该装置结构简单，所用元件极为普遍，而且只要元件质量良好，装配无误，不需调试即可一次成功。

探头可利用两个插孔代替。

也可以选用带电缆的表笔或测试棒，但引线不宜过长。

该测试议可测试频率为450KHz～49MHz的各种晶振，工作电源推荐采用6V叠层电池。