集成LCAS仿真及VCG延时仿真的EOS测试仪[发明专利]

专利名称：集成LCAS仿真及VCG延时仿真的EOS测试仪专利类型：发明专利
发明人：鲍胜青
申请号：CN200910086404.6
申请日：20090612
公开号：CN101582814A
公开日：
20091118
专利内容由知识产权出版社提供
摘要：本发明公开了一种集成LCAS仿真及VCG延时仿真的EOS测试仪，包括：以太网接口，STM －N接口，以太网数据产生和检测模块，处理单元，所述EOS测试仪还包括虚级联组VCG查分延时与检测模块和链路调节机制LCAS仿真模块，其中VCG差分延时与检测模块，用于提取相同同步数字系列SDH帧中每个成员的复帧指示MFI差值，以得到所有成员的差分延时；LCAS仿真模块，用于控制虚级联组VCG链路的容量。

EOS测试仪可以对每个VC－x通道进行延时控制，因此接收到的VCG成员都是不同的MFI值，因此可以测试VCG的差分延时；通过LCAS仿真模块可以无损地增加或减少VCG 链路的容量，从而满足上层业务对带宽的需求。

申请人：北京奥普维尔科技有限公司
地址：100085 北京市海淀区上地信息路28号信息大厦B座801室
国籍：CN
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