实验一TTL各种门电路功能测试

实验一 TTL、三态门电路参数测试(实验内容)_2013.04

现代数字电子技术基础实验
实验一 TTL 和三态门电路参数测试
杭州电子科技大学
电工电子实验中心
一、实验所用器件型号及管脚排列
VCC
14
4A
13
4B
12 &O &O
4Y
11
3A
10
3B
9 &O &O
3Y
8
VCC
14
4E
13
4A
12
1
EN EN
4Y
11
3E
10
3A
9
1
EN EN
3Y
8
1
1
1
2
3
4
5
6
7
0 1 0 1
4.用2输入与非门（74LS00）实现三人参加的
表决电路。
VoL 0 VI(V) VoFF VTH VoN Vo(V) VoH
90%*VoH
高电平噪声容限NH。
3、三态门功能测试
选用型号为74LS126的集
成电路，参考其引脚排列及逻辑符号，按右边电路图测试高阻状态，将实验结果填入下表。
输入
输出Y(接上拉电阻)
输出Y（接下拉电阻）
E
A
Y
0 1
10K
&
V V
VI VO
0
0.3
0.5
0.85
0.9
0.95
1.0
1.05
1.1
1.15
1.2
1.3
1.4
1.5
TTL与非门参数测试
调节电位器,测出相应的输出电压,在坐标纸上画出电压传输特性
曲线,并在曲线中求得以下参数: 输出高电平VOH, 关门电平VOFF, 阈值电压VTH, 输出低电压VOL, 开门电平VON, 低电平噪声容限VNL,

数字实验一_TTL门电路的逻辑功能测试_实验报告

学生实验报告
院别电子信息学院课程名称电子技术实验
班级电科13B 实验名称实验一TTL门电路的逻辑功能测试姓名施俊伊实验时间 2015年4 月8 日
学号2013010202058 指导教师文毅
报告内容
一、实验目的和任务
1.测试TTL集成芯片中的与门、或门、非门、与非门、或非门与异或门的逻辑功能。

2.了解测试的方法与测试的原理。

二、实验原理介绍
实验中用到的基本门电路的符号为：
在测试芯片逻辑功能时输入端用逻辑电平输出单元输入高低电平，然后使用逻辑电平显示单元显示输出的逻辑功能。

三、实验内容和数据记录
1.依次选用芯片74LS08、74LS32、74LS04、74LS00、74LS02、74LS86。

74LS0874LS32
A B L
0 0 0
0 1 1
1 0 1
1 1 1
A B L
0 0 0
0 1 0
1 0 0
1 1 1。

实验一集成ttl门逻辑功能参数测量

实验一集成TTL门电路逻辑功能及参数测一、实验目的⒈理解集成TTL门电路逻辑功能及参数测试的必要性。

⒉熟悉TTL与非门、或非门、与或非门、异或门的逻辑功能。

⒊掌握TTL与非门电路的主要参数及其测试方法。

二、预习要求⒈复习TTL门电路的基本工作原理。

⒉认真阅读讲义，明确各参数的定义、测试条件及测试方法。

⒊熟悉掌握数字逻辑实验箱的使用方法。

⒋了解被测TTL门电路的管脚排列及其功能。

三、实验设备与器材⒈数字逻辑实验箱⒉万用表⒊7421四输入双与非门、T072与或非门、74LS136二输入端四异或门各一块。

四、实验内容及步骤⒈测试与非门的逻辑功能①先将7421四输入端双与非门，按缺口标志向左排列，放入实验箱多孔插座板上。

参照图14-1，再按图14-2所示接好线。

输入端分别接不同的逻辑开关K，输出接发光的二极管器L。

(2)改变逻辑开关，实现各输入端高、低电平的转换；用发光二极管观察输出端逻辑状态，并用万用表测出对应电平值。

图14-17421引脚排列图图14-2与非门接线图(3)记录不同输入和输出状态的对应关系。

列出真值表。

⒉测试与或非门的逻辑功能图14-3T072引脚排列图14-4与或非接线图(1)参照图14-3T072引脚排列，按图14－-4所示接好线。

(2)改变逻辑开关的状态，用发光二极管观察输出状态。

(3)记录各输入与输出对应状态，并列出真值表。

⒊测试异或门的逻辑功能图14-574LS136引脚排列图14-6异或门接线(1)先将74LS136二输入端四异或门(集电报开路异或门)，插入实验箱多孔插座板上。

参照图14-5 74LS136引脚排列，按图14-6所示接好线。

(2)改变逻辑开关的状态，观察输出状态。

(3)记录各输入与之对应的输出状态，并列出真值表。

⒋测试TTL与非门电压传输特性图14-7 TTL与非门电压传输特性测试图图14-8 用JT-1测TTL与非门电压传输特性曲线方法一：(1)按图14-7TTL与非门电压传输特性测试图接好线。

实验一TTL和CMOS集成门电路参数测试

实验一TTL和CMOS集成门电路参数测试实验原理：TTL和CMOS集成门电路的工作原理不同。

TTL采用双晶体管作为开关，利用基极电流来控制集电极电流。

CMOS则通过P型和N型金属-氧化物-半导体场效应晶体管（PMOS和NMOS）来实现逻辑门功能。

TTL电路的主要特点是速度快，但功耗相对较高；而CMOS电路功耗低，但速度较慢。

实验步骤：1.实验器材准备：TTL和CMOS集成门电路，功率源、万用表、数字逻辑分析仪等。

2.将TTL和CMOS集成门电路与电源连接，通过万用表测量电路的电压和电流。

3.测量功耗：通过电流表测量TTL和CMOS电路的输入功率和输出功率，计算功耗。

4.测量延迟时间：使用数字逻辑分析仪测量输入信号到输出信号之间的延迟时间，分别对比TTL和CMOS电路的延迟时间。

5.测量噪声容限：在输入信号上加入噪声，并测量输出信号的变化情况，分别对比TTL和CMOS电路的噪声容限。

实验结果和讨论：1.功耗比较：通过实验可以得到TTL电路的功耗相对较高，一般为几十毫瓦，而CMOS电路的功耗相对较低，一般为几毫瓦。

2.延迟时间比较：TTL电路的延迟时间一般在几纳秒至十几纳秒，而CMOS电路的延迟时间一般在几十纳秒至百纳秒。

3.噪声容限比较：TTL电路的噪声容限较小，输入信号受到的干扰较敏感；而CMOS电路的噪声容限较大，输入信号受到的干扰较不敏感。

实验结论：TTL和CMOS集成门电路在功耗、延迟时间和噪声容限方面有所不同。

TTL电路功耗较高，速度较快，但噪声容限较小；CMOS电路功耗较低，速度较慢，但噪声容限较大。

根据应用的具体要求选择适合的电路类型。

数电实验一 TTL集成电路-逻辑门电路的参数测试

实验内容二：参数测试4
输入电压 0 （V）
输出电压（V）输入电压 1.2 （V）输出电压（V） 1.3 1.4 1.5 1.6 2.0 3.0 4.0 5.0 0.2 0.4 0.6 0.7 0.8 0.9 1.0 1.1
实验内容一：逻辑功能测试
输入变量A(1脚) 0 0 0 0 0 0 0 0 1 1 1 1 输入变量B(2脚) 0 0 0 0 1 1 1 1 0 0 0 0 输入变量C(4脚) 0 0 1 1 0 0 1 1 0 0 1 1 输入变量D(5脚) 0 1 0 1 0 1 0 1 0 1 0 1 输出变量F(6脚)
实验器件
电子技术实验台万用表 74LS20:二-四输入与非门 1片
芯片引脚图
实验内容一：逻辑功能测试
1 74LS20为二-四输入与非门 2 按引脚图，7脚接地，14脚接+5V出端6脚接电平指示灯 5 输入和输出时：发光二极管灯亮为逻辑 “1”，灯灭为逻辑“0” 6 完成下表，推导输入与输出的关系:F=?
1
1 1 1
1
1 1 1
0
0 1 1
0
1 0 1
实验内容二：参数测试1
测试门电路导通时的电源电流ICCL和门电路截止时的电源电流ICCH
实验内容二：参数测试2
测试门电路低电平输入电流IIL（灌电流）和高电平输入电流IIH（拉电流，较小）
实验内容二：参数测试3
间接测量低电平扇出系数：如图连线，调节电位器，使电压表达到0.4伏，记录电流表示数IOLM。低电平扇出系数 N=IOLM/IIL ，注意，N要取整。
实验内容二：参数测试4
测试门电路的电压传输特性

实验一门电路逻辑功能的测试

表1
74LS00的逻辑功能测试数据
输出电压/V F
输入 A 0 1 1 B 0 0 1
0 1
表2 悬空或接地时输出端的逻辑状态
输入悬空接地
（高/低）电平
输出
2) TTL“异或”门电路的逻辑功能的测试任选其中一个“异或”门进行功能测试，输入端A、B分别输入不同的逻辑电平，测试输出端F的电压和相应的逻辑状态，并将结果记入表3。 3) TTL“或非”门电路的逻辑功能的测试任选其中一个“异或”门进行功能测试，输入端A、B分别输入不同的逻辑电平，测试输出端F的电压和
(二) 实验仪器设备
① 数字电路实验箱 ② 数字万用表 ③ 芯片：74LS00 (与非门) 74LS86 (异或门) 74LS02 (或非门)
(二) 实验内容及步骤 1) TTL“与非”门电路的逻辑功能的测试任选其中一个“与非”门进行功能测试，输入端A、 B分别输入不同的逻辑电平，测试输出端F的电压和相应的逻辑状态，并将结果记入表1。分别测试当输入端A、B悬空或接地是输出端F的逻辑状态。将结果记入表2。
74ls00的逻辑功能测试数据输入输出悬空或接地时输出端的逻辑状态输入高低电平输出悬空接地ttl异或门电路的逻辑功能的测试任选其中一个异或门进行功能测试输入端ab分别输入不同的逻辑电平测试输出端f的电压和相应的逻辑状态并将结果记入表3
实验一门电路逻辑功能的测试
(一) 实验目的 1)掌握常用的TTL门电路的逻辑功能的测试方法。 2)掌握芯片的管脚识别。
表3 74LS86逻辑功能测试数据输入 A 0 B 0 输出电压/V F
0
1 1
1
0 1
表4 74LS02逻辑功能测试数据输入输出

实验1-常用集成门电路逻辑功能测试

实验一常用集成门电路逻辑功能测试及其应用实验目的：1、掌握集成门电路的逻辑功能、逻辑符号和逻辑表达式；2、了解逻辑电平开关和逻辑电平显示的工作原理；3、学会验证集成门电路的逻辑功能；4、掌握集成门电路逻辑功能的转换；5、学会连接简单的组合逻辑电路。

二、实验原理：1、功能测试（1）．TTL集成门电路的工作电压：5V（2）．TTL集成门引脚识别方法：将有芯片型号的一面正对自己，以有凹口一头开始，左边为1，2，3，4，5，6，7；右边是14，13，12，11，10，9，8。

（7接地，14接Vcc）（3）．TTL集成门电路管脚识别示意图及各个引脚的功能（74LS00、74LS04、74LS08、74LS32）74LS00是4组2输入与非门74LS04是6组1输入非门74LS08是4组2输入与门74LS32是4组2输入或门•2、功能应用（1）.常用门电路的逻辑表达式：Y=A·B、Y=A+B、Y=A’（2）.逻辑代数基本定理：交换律：A·B=B·A A+B=B+A组合律：（A·B）·C=A·(B·C) (A+B)+C=A+(B+C)分配律：A·(B+C)=A·B+A·C A+B·C=(A+B) ·(A+C)反演律：(A·B·C……)’=A’+B’+C’……（A+B+C……）’=A’·B’·C’……（3）.简单组合逻辑电路的连接注意事项：A.原件选择的正确性B.逻辑表达式的化简C.芯片引脚的识别三、实验仪器设备及器材：集成块：74LS00、74LS04、74LS08、74LS32、四、实验内容与步骤：（一）功能测试1、集成门电路逻辑功能测试：（1）、集成门的逻辑功能测试a|、电路图：1.用与非门实现非门；电路图：2.用非门和与非门实现或门；电路图：3.用与非门和与非门实现或门；电路图：4.用非门和与门实现同或门；电路图：5.用74LS00和74LS08实现逻辑函数表达式：Y=ABC。

实验一TTL集成逻辑门的逻辑功能与参数测试

实验一TTL集成逻辑门的逻辑功能与参数测试引言:本实验通过测试TTL集成逻辑门的逻辑功能和参数，旨在增进对TTL 逻辑门的理解和应用能力。

TTL（Transistor-Transistor Logic，双极晶体管逻辑）是一种广泛应用的数字逻辑家族，通常用于数字系统中的逻辑操作。

实验步骤:1.认识TTL集成逻辑门TTL集成逻辑门是由若干个双极晶体管和二极管组成的，具有与门、或门、非门等多种门电路。

通常在电路图中用特定的代号代替。

常见的TTL集成逻辑门有AND门（7408）、OR门（7432）、NOT门（7404）等。

2.实验材料-TTL集成逻辑门芯片（AND门、OR门、NOT门）-逻辑信号发生器-示波器/数字万用表-电压表-电阻-连线电缆3.实验步骤-步骤一：连接AND门将AND门芯片与逻辑信号发生器和示波器连接，两个输入端分别连接逻辑信号发生器的输出端，示波器的探头连接AND门的输出端，然后给逻辑信号发生器和芯片供电，调节逻辑信号发生器的频率和示波器的尺度，观察示波器的输出波形和脉冲宽度，并记录。

-步骤二：连接OR门将OR门芯片与逻辑信号发生器和示波器连接，两个输入端分别连接逻辑信号发生器的输出端，示波器的探头连接OR门的输出端，然后给逻辑信号发生器和芯片供电，调节逻辑信号发生器的频率和示波器的尺度，观察示波器的输出波形和脉冲宽度，并记录。

-步骤三：连接NOT门将NOT门芯片与逻辑信号发生器和示波器连接，将逻辑信号发生器的输出端连接到NOT门的输入端，示波器的探头连接NOT门的输出端，然后给逻辑信号发生器和芯片供电，调节逻辑信号发生器的频率和示波器的尺度，观察示波器的输出波形和脉冲宽度，并记录。

4.结果分析:根据实验数据和观察到的波形，可以进行以下分析：-分析AND门的逻辑功能和参数AND门在两个输入端都为1时，输出为1，否则输出为0。

通过实验可以发现，AND门的输出波形为非线性的，并且脉冲宽度与输入信号的频率有关。

ttl门电路参数测试实验报告

ttl门电路参数测试实验报告嘿，大家好！今天我们来聊聊TTL门电路的参数测试。

这可是个让人既兴奋又有点小紧张的话题。

TTL门电路，这名字听起来是不是就让人觉得很高大上？其实它就是我们平常生活中用到的逻辑电路中的一部分，简单来说，它帮助我们实现各种各样的电子功能，像是开关、计算和控制，简直就是电子世界的小魔法师。

咱们首先得了解什么是TTL。

TTL，听起来像个超炫的流行词，其实是“晶体管晶体管逻辑”的缩写。

它的工作原理就像是给小晶体管们安排任务，让它们互相配合来实现我们想要的结果。

真是有趣得很！在实验开始前，大家得先准备好一堆设备。

电源、示波器、万用表……哦，真是应有尽有，感觉像是要开启一场科技探险！开始的时候，大家先把电路搭建好。

搭电路就像拼乐高，得仔细对照图纸，别把零件拼错了哦。

然后，电源一接通，哎呀，电路居然动了起来！那一刻，真是有种“我终于做成了”的成就感。

就是进行参数测试了。

我们需要测试几个关键的参数，比如输入电压、输出电压、逻辑电平等等。

看起来简单，但其实稍不留神就可能出错，像是在走钢丝，一不小心就得重来。

在测试过程中，万用表可是我们的好朋友。

它就像个侦探，帮我们查出每个电压值的秘密。

哦，你们知道吗？TTL电路对电压的要求可严格了，过高或过低都有可能导致电路工作不正常，像个调皮的小孩儿，时不时就要闹脾气。

测试中，有的同学紧张得手心都出汗了，真是笑死人了，大家就像在参加一场紧张刺激的比赛，谁能精准地测出各项参数，谁就是今天的“电路王”。

有趣的是，测试的结果往往充满了惊喜。

哦，电压正常，逻辑电平也没问题，简直像在开派对！可出现了意外的结果，那就得认真分析了。

为什么会这样呢？可能是连接不牢，也可能是元件坏了，真是“细节决定成败”啊。

大家一起脑力风暴，讨论各种可能的原因，气氛一下子热烈起来。

仿佛整个实验室都充满了电流的活力，大家的热情像被点燃的火焰，越烧越旺。

不过，实验总是有意外的。

就在我们兴致勃勃地测试的时候，突然有个同学喊：“哎呀，电路冒烟了！”这可吓坏了我们，大家立马像逃命似的往后退。

实验一TTL门电路的逻辑功能测试

实验一TTL门电路的逻辑功能测试一、实验目的：1.了解TTL门电路的基本原理和逻辑功能；2.掌握TTL门电路的实验方法；3.学会使用逻辑分析仪测试TTL门电路的逻辑功能。

二、实验原理：TTL（Transistor-Transistor Logic）是一种基于晶体管的数字集成电路。

TTL门电路由NPN型和PNP型晶体管构成，通过输入端的电平状态控制输出端的电平状态。

常用的TTL门电路有与门、或门、非门、与非门、或非门等。

1. 与门（AND gate）：只有当所有输入端都为高电平（逻辑1）时，输出端才为高电平；否则输出端为低电平（逻辑0）；2. 或门（OR gate）：只要有任意一个输入端为高电平，输出端就为高电平；否则输出端为低电平；3. 非门（NOT gate）：输出端与输入端的电平相反；4. 异或门（XOR gate）：当输入端的逻辑状态不同时，输出端为高电平；否则输出端为低电平；5. 与非门（NAND gate）：当所有输入端都为高电平时，输出端为低电平；否则输出端为高电平；6. 或非门（NOR gate）：只要有任意一个输入端为高电平，输出端为低电平。

三、实验仪器和器件：1.实验仪器：逻辑分析仪、示波器、直流电源、万用表；2.实验器件：TTL芯片（具体选用与门、或门、非门、与非门、或非门等）。

四、实验步骤：1.确定使用的TTL芯片，并查阅该芯片的技术手册，了解其引脚的功能和使用要求；2.将TTL芯片插入到实验面包板或焊接板上，根据技术手册连接相应的电源、输入端和输出端；3.打开逻辑分析仪，并将TTL芯片的输出端连接到逻辑分析仪的输入端，将TTL芯片的输入端连接到逻辑分析仪的输出端；4.打开逻辑分析仪的电源，并设置逻辑分析仪的采样频率和采样时间；5.根据TTL芯片的引脚定义和逻辑功能，设计特定的输入信号，并观察逻辑分析仪输出的波形；6.根据逻辑功能的定义，验证TTL芯片的输出是否与预期一致；7.记录实验数据，并分析实验结果。

实验一(TTL逻辑门电路的参数测试)

实验一TTL集成逻辑门的逻辑功能与参数测试一、实验目的1、熟悉数字电路实验箱的结构，基本功能和使用方法2、掌握TTL集成与非门的逻辑功能的测试方法。

3、熟悉TTL门电路主要参数的测量方法。

二、实验设备与器件数字电路实验箱、逻辑测试笔、万用表、74LS20三、实验原理本实验采用四输入双与非门74LS20，即在一块集成块内含有两个互相独立的与非门，每个与非门有四个输入端。

其逻辑符号及引脚排列如图1(a)、(b)所示。

(a) (b)图1 74LS20逻辑符号及引脚排列1、与非门的逻辑功能当输入端中有一个或一个以上是低电平时，输出端为高电平；只有当输入端全部为高电平时，输出端才是低电平（即有“0”得“1”，全“1”得“0”。

）其逻辑表达式为: Y＝2、TTL与非门的主要参数与非门处于不同的工作状态，电源提供的电流是不同的。

●低电平输出电源电流ICCL和高电平输出电源电流ICCH(通常ICCL＞ICCH，它们的大小标志着器件静态功耗的大小)ICCL是指所有输入端悬空，输出端空载时，电源提供器件的电流。

ICCH是指输出端空截，每个门各有一个以上的输入端接地，其余输入端悬空，电源提供给器件的电流。

ICCL和ICCH测试电路如图2(a)、(b)所示。

(a) (b) (c)(d)图2 TTL与非门静态参数测试电路图●低电平输入电流IiL和高电平输入电流IiHIiL是指被测输入端接地，其余输入端悬空，输出端空载时，由被测输入端流出的电流值。

(在多级门电路中，IiL相当于前级门输出低电平时，后级向前级门灌入的电流，因此它关系到前级门的灌电流负载能力，即直接影响前级门电路带负载的个数，因此希望IiL小些。

)IiH是指被测输入端接高电平，其余输入端接地，输出端空载时，流入被测输入端的电流值。

(在多级门电路中，它相当于前级门输出高电平时，前级门的拉电流负载，其大小关系到前级门的拉电流负载能力，希望IiH小些。

由于IiH较小，难以测量，一般免于测试。

实验一_ttl门电路逻辑功能及参数测试

实验⼀_ttl门电路逻辑功能及参数测试数字电⼦技术实验（共24学时）实验⼀（实验性质：验证性学时：2 ）题⽬：ＴＴＬ门电路逻辑功能及参数的测试------⼀、实验⽬的：①熟悉常⽤TTL门电路的逻辑功能。

②了解TTL门电路参数的测试⽅法及物理意义。

⼆、实验内容：必做内容：（A）、测试SSI门电路74LS00、74LS02的逻辑功能；参照表格⼀(B)、测试74LS00与⾮门特性曲线，参照表格⼆，所有曲线必须画在坐标纸上。

①电压传输特性曲线，并从曲线上读出U OH、U OL、U ON、U OFF、、U NH、U NL、参数的值；②输⼊负载特性曲线，并从曲线上确定R ON、R OFF参数的值；选作内容：①输⼊短路电流I IS及输⼊⾼电平电流I IH的测试；②输出负载特性曲线，并从曲线上确定I OH、I OL参数的值。

三、预习报告要求：(1)、画出要测各种SSI集成电路的逻辑功能测试表格。

基本格式⼀：表格标题：（与⾮门真值表）器件名：（74LS00）输⼊输出F=（表达式）A B 标准电平Uo 实验电压Uo 理论F值实验F值0 00 11 01 1基本格式⼆：标题：（与⾮门电压传输特性曲线）器件名：（74LS00）参量1（U i）参量2（U O）(2)、查⼿册画出要测各种SSI集成电路的引脚图(3)、画出测试电路图(4)、标⽰所⽤的参数的物理意义四、参考资料：实验指导书P88：TTL门电路逻辑功能测试；P90 ：TTL与⾮门静态参数测试五、实验⽤器件：74LS00、74LS02六、实验报告要求：1．认真整理实验数据，并列出表格或画出曲线，分析实验测量数据与理论数据误差；（数值收获量变）2．写出本次实验电路⼩结（原理、概念提⾼质变）；回答书上思考题3．认真总结本次实验的⼼得体会和意见，以及改进实验的建议。

实验一基本逻辑门逻辑功能测试及应用

实验一基本逻辑门逻辑功能测试及应用一、实验目的1. 掌握TTL集成逻辑门的逻辑功能及其测试方法。

2. 掌握TTL器件的使用规则。

3. 熟悉数字电路实验仪的结构、基本功能和使用方法。

4. 练习熟练使用DS1052E型数字示波器。

二、实验原理门电路是构成各种复杂数字电路的基本逻辑单元，掌握各种门电路的逻辑功能和电器特性，对于正确使用数字集成电路是十分必要的。

目前应用最广泛的集成电路是TTL和CMOS。

TTL集成逻辑门电路根据其型号的不同，有不同的内部结构和引脚，在本实验中我们只选取了常用的与非门、与或非门来进行测试。

与非门是门电路中应用较多的一种，与非门的逻辑功能为，当输入端中有一个或一个以上是低电平时，输出为高电平；只有当输入全部为高电平时，输出才为低电平。

而与或非门的逻辑功能为，当同一个与门端组的输入端全部为高电平时，输出为低电平；当同一个与门端组中有一个或一个以上的输入端为低电平时，输出即为高电平。

实验前请认真阅读TTL集成电路使用规则。

数字系统中有时需要把两个或两个以上集成逻辑门的输出端直接并接在一起完成一定的逻辑功能。

对于普通的TTL门电路，由于输出级采用了推拉式输出电路，无论输出是高电平还是低点平，输出阻抗都很低。

因此，通常不允许将它们的输出端并接在一起使用。

集电极开路门和三态输出门是两种特殊的TTL门电路，它们允许把输出端直接并接在一起使用。

三、实验仪器及器件1. DS1052E型示波器2. EL-ELL-Ⅳ型数字电路实验系统3. DT9205数字万用表4.器件：集成电路芯片74LS00 74LS10 74LS51四、实验内容及步骤1.与非门逻辑功能测试（1）选用三输入端与非门74LS10，按图1-1连接实验电路，即将与非门的三个输入端A、B、C分别接至逻辑电平开关的电平输出插口，与非门的输出端Y接至显示逻辑电平的发光二极管的电平输入插口，同时将数字万用表调至直流电压档连接到门电路的输出端，测量输出电压值。

TTL门电路的逻辑功能和特性测试

TTL门电路的逻辑功能和特性测试TTL（晶体管—晶体管逻辑门）门电路是一种数字逻辑电路，常用于电子设备中的逻辑功能实现。

TTL门电路的逻辑功能和特性经常被测试，以确保其正常运行和正确的工作。

下面我们将详细介绍TTL门电路的逻辑功能和特性测试。

1.基本逻辑功能测试：TTL门电路通常由与门（AND）、或门（OR）、非门（NOT）等基本逻辑门组成，首先对这些基本门的逻辑功能进行测试。

测试方法包括输入不同的电平信号，观察输出端的电平变化，以验证基本逻辑门的逻辑功能是否符合预期。

2.组合逻辑功能测试：TTL门电路通过组合不同的基本逻辑门实现复杂逻辑功能，比如译码器、多路选择器、加法器等。

测试时需要输入不同的逻辑输入组合，观察输出状态是否符合设计要求。

3.时序逻辑功能测试：除了组合逻辑功能，TTL门电路还常用于实现时序逻辑功能，比如触发器、计数器等。

时序逻辑功能测试主要包括输入不同的时钟信号、复位信号等，观察输出状态是否正确。

1.电气特性测试：TTL门电路的电气特性包括工作电压范围、输入电流、输出电流等。

测试时需要逐步改变输入电压，记录输出端的电平变化以及对应的输入电流和输出电流。

这可以帮助判断电路的稳定性和工作可靠性。

2.传输特性测试：传输特性包括门延时时间、上升时间、下降时间等。

门延时时间指的是输入信号出现后，输出信号的延时时间。

上升时间和下降时间指的是输出信号从高电平到低电平或者从低电平到高电平的时间。

传输特性测试可以帮助评估门电路的运行速度和信号传输的稳定性。

3.耐受能力测试：门电路在实际应用中可能遭受不同的干扰，比如噪声、幅值变化、温度变化等。

耐受能力测试需要模拟这些干扰条件，观察门电路在干扰下的输出状态。

通过测试门电路的耐受能力，可以评估门电路的抗干扰能力和可靠性。

总之，TTL门电路的逻辑功能和特性测试对于确保电路正常运行和正确工作至关重要。

测试结果可以帮助评估电路的性能指标、验证设计的准确性，并为电路改进提供依据。

实验1 TTL基本门电路逻辑功能测试

平，允许输出端通过合适的电阻R接至电源Vcc。
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实验一 TTL基本门电路逻辑功能测试
一．实验目的１．掌握常用TTL逻辑门电路的逻辑功能，熟悉其型号、外形和外引线排列。２．验证基本门电路的逻辑功能；了解控制门的控制作用二．实验设备与器件仪器或器材名称数字电路实验箱二4输入与非门集成电路四2输入或非门集成电路四2输入异或门集成电路与或非门集成电路四2输入与非门型号规格 SAC-DGII-4 74LS20 74LS02 74LS86 74LS51 74LS00 数量１台１片１片１片１片 2片
(1).用与非门组成其它功能门电路的方法和步骤是怎样的？ (2).异或门可用五个与非门组成，是否可用四个与非门组成？试用公式推导之。
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数字电路实验室(B602)
请同学们不要动实验箱里的元件想看集成块的同学到门口桌上泡沫板上看，看完后再插回原处
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集成电路外引线排列规律
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注意事项
1．实验前必须充分预习，完成指定的预习任务。 2．使用仪器和实验箱前必须了解其性能、操作方法及注意事项，
使用时应严格遵守。
3．实验时接线要认真，相互仔细检查，确定无误才能接通电源，初学或没有把握应经指导教师审查同意后再接通电源。 4．数字电路实验注意：实验前先要读懂集成块的外引线排列，分清电源、地、输入、
输出端，读懂集成块的逻辑功能表，然后根据集成块的逻辑
功能设计、连接电路。
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5．实验时应注意观察，若发现有破坏性异常现象(例如有元件冒烟、发烫或有异味)应立即关断电源，保持现场，报告指导教师。找出原因、排除故障，经指导教师同意再继续实验。

ttl逻辑门功能与参数测试实验报告

ttl逻辑门功能与参数测试实验报告TTL逻辑门功能与参数测试实验报告引言：逻辑门是数字电路中的基本组成单元，其功能是根据输入信号的逻辑关系产生输出信号。

TTL（Transistor-Transistor Logic）逻辑门是一种常见的数字逻辑门，其采用晶体管作为开关元件，具有高速、低功耗等优点。

本实验旨在研究TTL逻辑门的功能和参数，并进行相应的测试。

一、实验目的本实验的目的是通过测试TTL逻辑门的功能和参数，深入了解其工作原理和性能特点。

二、实验器材和原理1. 实验器材：- TTL逻辑门芯片（如74LS00、74LS02等）- 示波器- 电源- 连接线等2. 实验原理：TTL逻辑门是由晶体管、二极管和电阻等元件组成的。

其工作原理是根据输入信号的逻辑关系，控制晶体管的导通和截止，从而产生输出信号。

三、实验步骤1. 连接电路：将TTL逻辑门芯片与电源、示波器等设备连接起来，确保电路连接正确、稳定。

2. 功能测试：依次测试TTL逻辑门的各个输入端和输出端。

通过输入不同的逻辑电平（如高电平、低电平），观察输出端的变化情况。

记录下每个逻辑门的真值表，分析其逻辑功能是否正确。

3. 参数测试：测试TTL逻辑门的各项参数，包括功耗、传输延迟等。

通过测量电路的功耗和延迟时间，分析逻辑门的性能特点。

四、实验结果与分析1. 功能测试结果：根据测试数据，可以得到每个TTL逻辑门的真值表。

通过比对真值表和理论值，可以判断逻辑门的功能是否正确。

若功能正确，则说明TTL逻辑门芯片工作正常。

2. 参数测试结果：测量得到的功耗和传输延迟等参数可以用于评估TTL逻辑门的性能。

功耗越低，说明逻辑门的能耗越少；传输延迟越短，说明逻辑门的响应速度越快。

根据测试结果，可以对TTL逻辑门的性能进行评估和比较。

五、实验总结通过本次实验，我们深入了解了TTL逻辑门的功能和参数。

通过功能测试，我们验证了逻辑门的正确性；通过参数测试，我们评估了逻辑门的性能。

实验1 TTL门电路逻辑功能测试

实验1 TTL门电路逻辑功能测试一. 实验目的1.掌握常用TTL集成逻辑门的逻辑功能及其测试方法；2.熟悉数字电路实验箱的使用方法。

二. 实验原理1.门电路是最基本的逻辑元件，它能实现最基本的逻辑功能，即其输入与输出之间存在一定的逻辑关系。

本实验中使用的TTL集成门电路是双列直插型的集成电路，TTL集成门电路的工作电压为“5V±10%”。

2．集成电路外引线的识别使用集成电路前，必须认真查对识别集成电路的引脚，确认电源、地、输入、输出、控制等端的引脚号，以免因接错而损坏器件。

引脚排列的一般规律为：扁平和双列直插型集成电路：识别时，将文字，符号标记正放（一般集成电路上有一圆点或有一缺口，将圆点或缺口置于左方），由顶部俯视，从左下脚起，按逆时针方向数，依次1.2.3……。

扁平型多用于数字集成电路。

双列直插型广泛用于模拟和数字集成电路。

图 1 集成电路外引线的识别三序号名称型号与规格数量备注1数字电路实验箱1台2双踪示波器1台3万用表1台4数字信号发生器1台5集成芯片74LS002片二输入端四与非门四. 实验内容与步骤1.测试与非门的逻辑功能(1)在实验箱上选取一个14插座，按定位标记插好74L00集成块。

(2)将实验箱上＋5V直流电源接74LS00的14脚，地接7脚，将1、2脚接逻辑电平开关输出口，输出3脚接发光二极管显示。

(3)按照表1所示，改变74LS20的1、2、4、5脚输入值，观察并记录发光二极管显示情况（发光管亮，表示输出高电平“1”，发光管不亮，表示输出低电平“0”）。

2．测试逻辑电路的逻辑关系用74LS00按图2接线，将输入输出逻辑关系分别填入表2中。

表23．利用与非门控制输出用一片74LS00按图3接线，S 接任一电平开关，用示波器观察S 对输出脉冲的控制作用。

4．用与非门组成其它门电路并测试验证用一片二输入端四与非门组成或非门画出电路图，测试并填表3。

Y= B A += B A• 表3图2Y图3五. 实验报告1．按各步骤要求填表并画逻辑图。

ttl集成逻辑门的逻辑功能与参数测试实验报告(一)

ttl集成逻辑门的逻辑功能与参数测试实验报告(一)TTL集成逻辑门的逻辑功能与参数测试实验报告引言•介绍TTL集成逻辑门的背景和作用•说明本实验旨在测试TTL集成逻辑门的逻辑功能和参数的性能实验设计1.实验材料： TLL集成逻辑门芯片、电路板、示波器等2.实验步骤：–步骤一：搭建所需电路，将TTL集成逻辑门芯片与其他电子器件进行连接–步骤二：使用示波器进行测量和记录–步骤三：根据测试结果进行数据分析和总结实验结果与分析1.逻辑功能测试：–对不同的输入组合进行测试，并记录输出结果–比较测试结果与预期结果的一致性2.参数测试：–测试集成逻辑门的输入电流、输出电流、工作电压等参数–记录并分析测试数据–验证芯片参数是否符合规格书上的要求结论•总结实验过程中的观察结果和数据分析•评价TTL集成逻辑门的逻辑功能和参数性能•提出可能的改进和优化建议参考文献•如果有的话，列出相关参考文献附录•实验所使用的电路图•数据记录表格•其他相关数据和图表实验设计实验材料•TTL集成逻辑门芯片•电路板•示波器•逻辑分析仪实验步骤1.准备实验所需材料和设备2.按照电路图搭建TTL集成逻辑门电路3.确保电路连接正确，没有短路或接触不良的情况4.使用逻辑分析仪设置输入信号，并观察和记录输出信号5.切换不同的输入组合进行测试，并记录相应的输出结果6.使用示波器对信号进行测量和记录7.根据测试结果进行数据分析和总结实验结果与分析逻辑功能测试•在测试过程中，我们通过改变输入信号的值，观察输出信号的变化情况。

•比较测试结果与预期结果，判断逻辑门的逻辑功能是否符合要求。

•对不同的输入组合进行测试，包括与、或、非等逻辑运算。

参数测试•我们测量了TTL集成逻辑门的输入电流、输出电流和工作电压等参数。

•记录并分析了测试数据，比较参数值与规格书上的要求。

•验证TTL集成逻辑门的参数是否在工作范围内，符合设计要求。

结论•实验结果表明，TTL集成逻辑门具有良好的逻辑功能和参数性能。

TTL门电路的逻辑功能与特性测试

TTL门电路的逻辑功能与特性测试TTL（Transistor-Transistor Logic，晶体管-晶体管逻辑）门电路是一种数字电路的实现方式，采用晶体管作为主要的电子开关元件。

TTL门电路被广泛应用于逻辑电路中，具有多种逻辑功能和特性。

本文将对TTL门电路的逻辑功能和特性进行详细的测试与分析。

一、逻辑功能测试1.与门（AND Gate）：与门是TTL门电路的最基本逻辑门之一，它具有两个或多个输入端和一个输出端。

当所有输入端均为高电平（1）时，输出端才为高电平（1），否则输出端为低电平（0）。

测试与门时，将不同组合的输入信号输入到与门的输入端，并观察输出端的电平状态，验证与门的逻辑功能是否正确。

2.或门（OR Gate）：或门是TTL门电路的另一种基本逻辑门，也具有两个或多个输入端和一个输出端。

当任意一个或多个输入端为高电平时，输出端为高电平，只有当所有输入端均为低电平时，输出端才为低电平。

测试或门时，同样输入不同组合的输入信号，并观察输出端的电平状态，验证或门的逻辑功能是否正确。

3.非门（NOT Gate）：非门是TTL门电路中的单输入门电路，即只有一个输入端和一个输出端。

非门的输出端与输入端电平相反。

测试非门时，将不同的输入信号输入到非门的输入端，并观察输出端的电平状态，验证非门的逻辑功能是否正确。

4.与非门（NAND Gate）：与非门可以看作是与门和非门的组合，具有两个或多个输入端和一个输出端。

与非门的输出端与与门的输出端相反。

测试与非门时，同样输入不同组合的输入信号，并观察输出端的电平状态，验证与非门的逻辑功能是否正确。

5.或非门（NOR Gate）：或非门可以看作是或门和非门的组合，具有两个或多个输入端和一个输出端。

或非门的输出端与或门的输出端相反。

测试或非门时，同样输入不同组合的输入信号，并观察输出端的电平状态，验证或非门的逻辑功能是否正确。

二、特性测试1.输入电压范围测试：对于TTL门电路，输入信号的电平范围是有限的，常见的TTL门电路的输入电压范围是0.8V~2.0V，当输入信号低于0.8V时，被视为低电平（0），当输入信号高于2.0V时，被视为高电平（1）。