牛津最新款镀层测厚仪X-Strata920简介
镀层测厚仪简介
镀层测厚仪简介镀层厚度测量已成为加工工业、表面工程质量检测的重要环节，是产品达到优等质量标准的必要手段。
为使产品国际化，我国出口商品和涉外项目中，对镀层厚度有了明确要求。
镀层厚度的测量方法主要有：楔切法，光截法，电解法，厚度差测量法，称重法，X射线荧光法，β射线反向散射法，电容法、磁性测量法及涡流测量法等等。
这些方法中前五种是有损检测，测量手段繁琐，速度慢，多适用于抽样检验。
X射线和β射线法是无接触无损测量，测量范围较小，X 射线法可测极薄镀层、双镀层、合金镀层。
β射线法适合镀层和底材原子序号大于3的镀层测量。
电容法仅在薄导电体的绝缘覆层测厚时采用。
随着技术的日益进步，特别是近年来引入微机技术后，采用X射线镀层测厚仪向微型、智能、多功能、高精度、实用化的方向进了一步。
测量的分辨率已达0.1微米，精度可达到1%，有了大幅度的提高。
它适用范围广，量程宽、操作简便且价廉，是工业和科研使用最广泛的测厚仪器。
工作原理：镀层测厚仪是将X射线照射在样品上，通过从样品上反射出来的第二次X射线的强度来。
测量镀层等金属薄膜的厚度，因为没有接触到样品且照射在样品上的X射线只有45-75W左右，所以不会对样品造成损坏。
同时，测量的也可以在10秒到几分钟内完成。
测量原理：一．磁吸力测量原理及测厚仪永jiu磁铁（测头）与导磁钢材之间的吸力大小与处于这两者之间的距离成一定比例关系，这个距离就是覆层的厚度。
这一原理制成测厚仪，只要覆层与基材的导磁率之差足够大，就可进行测量。
鉴于大多数工业品采用结构钢和热轧冷轧钢板冲压成型，所以磁性测厚仪应用最广。
测厚仪基本结构由磁钢，接力簧，标尺及自停机构组成。
磁钢与被测物吸合后，将测量簧在其后逐渐拉长，拉力逐渐增大。
当拉力刚好大于吸力，磁钢脱离的一瞬间记录下拉力的大小即可获得覆层厚度。
新型的产品可以自动完成这一记录过程。
不同的型号有不同的量程与适用场合。
牛津日立精工镀层测厚仪参数对比
服务能力
备注
元素周期表中17号到21号元素分别是氯，氩，钾， 钙，钪。基本镀层中没有这些元素，因此这三款仪 器的的实际测量范围是一样的。 X-Strata920测厚仪可同时分析的元素更多，即解析 谱图的能力更强，抗干扰能力更强 三款仪器的测量方向一致
在测量不同的镀层种类时,可选择不同KV的高压，, 因为不同的电压激发不同能量段的元素。如果测量 的元素与高压不匹配时，会产生不必要的噪音和干 扰信号，这样会对测量的结果有影响。X-Strata920 的高压可调挡位最多，在建立测量程序的时候，就 选择并固定了与之相对应的高压。以保证用最合适 的电压进行测量得到最精确的测量结果。
操作软件
FP方法和经验系数法，用户可自 FP方法，用户不能自由新建校准曲 FP方法和经验系数法，用户可自由 由新建校准曲线 线，除非单独购买额外软件包 新建校准曲线
样品观察
彩色CCD系统，可观察测量点位置 彩色CCD系统，可观察测量点位置 彩色CCD系统，可观察测量点位置 并保存图像 并保存图像 并保存图像
全自动样品台，Z轴镭射自动对 全自动样品台，Z轴镭射自动对 焦，XY程控，样品台尺寸 样品台（仓）尺 Z轴采用图像对焦模式，XY手动样 ，XY程控，样品台尺寸260 mm 650*610mm，移动距离 品台 寸 x 210 mm，移动距离250*200mm 178*178mm。带有样品对位用激 。 光指示点，方便客户对准样品测量 位置
X-Strata920采用牛津仪器独有的微聚焦射线管，单 位照射面积光通量更大，激发效果最好。市场大品 牌仪器大部分使用牛津X射线管。牛津的X射线管是 厚度测量和元素测试行业，业界公认最好、最稳定 的光管。 相当
相当
X-Strata920和FT110的软件系统开放性更强，可适 应用户在产品镀层结构方面的不断变化，客户可以 自由建档，自己校准而不需要依赖生厂厂家。
涂镀层测厚仪的分类 测厚仪技术指标
涂镀层测厚仪的分类测厚仪技术指标依据测量原理一般有以下几种类型:1.磁性测厚法:适用导磁材料上的非导磁层厚度测量.导磁材料一般为:钢铁银镍.此种方法测量精度高2.涡流测厚法:适用导电金属上的非导电层厚度测量.此种方法较磁性测厚法精度低3.超声波测厚法:目前国内还没有用此种方法测量涂镀层厚度的,国外个别厂家有这样的仪器,适用多层涂镀层厚度的测量或则是以上两种方法都无法测量的场合.但一般价格昂贵测量精度也不高.4.电解测厚法:此方法有别于以上三种,不属于无损检测,需要破坏涂镀层.一般精度不高.测量起来较其他麻烦。
5.切割破坏式测厚仪:涂层以一个定义的角度被划破到基材，涂层的厚度（s）依据切割面的三角形投影（b）计算出来，这由一个显微镜和切割角（а）决议。
适用于常规的电磁测量技术不能工作的情况。
紧要测量木头、混凝土、塑料和其它非金属基材上的涂层6.放射测厚法:此种仪器价格特别昂贵（一般在10万RMB以上）,适用于一些特别场合.国内目前使用较为普遍的是第12两种方法。
测厚仪英文名称为thicknessgauge，是一类用来测量材料及物体厚度的仪表，在工业生产中常用来连续或抽样测量产品的厚度。
那么我们常见的几种测厚仪的工作原理是什么？下面就来了解下：1、激光测厚仪激光测厚仪：此类测厚仪是利用激光的反射原理，依据光切法测量和察看机械制造中零件加工表面的微观几何形状来测量产品的厚度，是一种非接触式的动态测量仪器。
2、X射线测厚仪X射线测厚仪：此类测厚仪利用的是当X射线穿透被测材料时，X射线强度的变化与材料厚度相关联的特性，从而测定材料的厚度，是一种非接触式的动态计量仪器。
3、超声波测厚仪超声波测厚仪：这种测厚仪是依据超声波脉冲反射的原理来对物体厚度进行测量的，当探头发射的超声波脉冲通过被测物体到达材料分界面时，脉冲会发生反射而返回探头，通过精准明确测量超声波在材料中传播的时间，来计算被测材料的厚度。
4、涂层测厚仪涂层测厚仪：紧要接受的是电磁感应法来测量涂层的厚度。
牛津仪器推出最新X射线镀层测厚仪
牛津仪器推出最新X射线镀层测厚仪
佚名
【期刊名称】《电子质量》
【年(卷),期】2012(000)011
【摘要】牛津仪器非常荣幸地推出新款X-Strata920X射线荧光（XRF）镀层测厚和材料分析仪。
该X-Strata920结合了大面积正比计数探测器和牛津仪器微聚焦X射线光管，使X射线光束强度大、斑点小，样品激发更佳，榍保同级别中精确性最好，分析结果只需要几秒钟，从而获得更有效的过程控制和性价比。
【总页数】2页(P55-56)
【正文语种】中文
【中图分类】TH821.1
【相关文献】
1.牛津仪器发布新款涂镀层测厚仪 [J],
2.牛津仪器推出两款最新高性能手持式X射线荧光光谱仪 [J],
3.牛津仪器公司两款最新涂镀层测厚仪问世 [J],
4.牛津仪器推出世界首款带温度补偿功能的铜箔测厚仪 [J],
5.牛津仪器推出两款最新高性能手持式X射线荧光光谱仪 [J],
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涂镀层厚度检测方法
涂镀层厚度检测方法
1.电磁涂层厚度计：电磁涂层厚度计是一种常用的非接触式涂层测量设备。
该仪器基于电磁感应原理，通过测量涂层表面的感应电流强度和感应磁场大小来确定涂层厚度。
电磁涂层厚度计广泛应用于汽车工业、航空航天、建筑工程等领域，准确度高，操作简单。
2.超声波涂层厚度计：超声波涂层厚度计利用超声波在材料中的传播速度和强度的变化，测量涂层厚度。
通过将传感器紧贴于被测物表面，发射和接收超声波信号，可以得到涂层厚度的测量结果。
超声波涂层厚度计适用于对涂层厚度进行快速、准确测量的场合。
3.X射线荧光光谱仪：X射线荧光光谱仪是一种能够非破坏性地检测涂层厚度的设备。
它通过射入样品表面的X射线激发样品表面的元素产生荧光，再通过检测荧光光谱来分析样品中元素的组成和涂层厚度。
X射线荧光光谱仪在材料分析、质量控制等领域有广泛的应用。
5.刮刀法：刮刀法适用于较厚的涂层厚度测量。
测量方法是用一把刮刀刮取样品表面的部分涂层，然后使用显微镜或影像测量仪测量涂层和基材分离的位置，根据分离的位置判断涂层的厚度。
由于需要刮取一部分涂层，所以该方法不适用于一些对涂层完整性有要求的情况。
这些涂镀层厚度检测方法各有特点，适用于不同的场景和材料。
根据具体需求，选择合适的方法进行涂镀层厚度的测量，将有助于提高产品质量和工艺控制。
镀层测厚仪操作规程
镀层测厚仪操作规程一、引言镀层测厚仪是一种用于测量金属表面镀层厚度的仪器。
通过准确测量镀层厚度，可以评估金属制品的质量和耐腐蚀性能。
本文档旨在介绍如何正确操作镀层测厚仪，以确保测量结果的准确性和可靠性。
二、仪器准备1. 确保镀层测厚仪处于正常工作状态，电池电量充足。
2. 清洁测量头和金属表面，确保无尘、无污染。
3. 确定测量模式和相关参数，如测量范围、单位等。
三、操作步骤1. 开机准备a. 按下电源按钮，等待仪器启动。
b. 根据需要选择相应的测量模式。
c. 根据测量要求设置相关参数，如测量范围、单位等。
2. 测量准备a. 将测量头对准待测金属表面，确保与表面垂直接触。
b. 轻轻按下触发按钮，测量头会自动发出声音或显示相关指示，表示测量准备完毕。
3. 进行测量a. 将测量头轻轻按压在金属表面上，保持稳定。
b. 等待测量头发出声音或显示结果，表示测量完成。
c. 记录测量结果，并将测量头移开，完成一次测量。
4. 多点测量a. 如需进行多个点的测量，依次将测量头对准不同的位置。
b. 等待每次测量完成后，将测量头移开，记录测量结果。
5. 结束操作a. 关闭仪器，按下电源按钮，将测量头从金属表面拆离。
b. 清洁测量头和金属表面，确保无尘、无污染。
c. 将仪器妥善存放，避免损坏或误用。
四、注意事项1. 在进行测量前，应该对仪器进行校准，以确保测量结果的精确性。
2. 在测量时应该保持测量头与金属表面垂直接触，并保持稳定。
3. 避免将测量头使用在有尖锐物品或有腐蚀性的表面上，以防损坏测量头。
4. 定期对仪器进行保养和维护，以保证仪器的正常工作。
5. 在进行测量时要注意操作规程，遵循相关安全操作规范，确保人身安全。
五、总结镀层测厚仪是一种用于测量金属表面镀层厚度的重要工具。
正确操作镀层测厚仪，可以保证测量结果的准确性和可靠性。
本文档介绍了镀层测厚仪的操作规程，包括仪器准备、操作步骤、注意事项等。
希望该文档能够帮助用户正确使用和维护镀层测厚仪，提高工作效率和测量结果的质量。
五种常见镀层测厚仪类型及测厚方法
五种常见镀层测厚仪类型及测厚方法镀层测厚仪是一种常用的工具，用于测量各种物体表面的镀层厚度。
常见的镀层测厚仪类型有磁性涂层测厚仪、涡流涂层测厚仪、超声波涂层测厚仪、光学涂层测厚仪和放射性测厚仪。
下面将逐一介绍这些类型的测厚仪及其测厚方法。
1.磁性涂层测厚仪磁性涂层测厚仪主要用于测量金属表面的非磁性涂层厚度，如油漆、漆膜等。
它通过测量在测量位置上的磁场强度来确定涂层的厚度。
测厚仪工作时，将磁性涂层测厚仪放置在被测物体表面，仪器会产生一定强度的磁场，当磁场通过被测涂层时，由于涂层的存在，磁场会发生变化，通过测量磁场变化的大小，就可以确定涂层的厚度。
2.涡流涂层测厚仪涡流涂层测厚仪是用于测量金属表面涂层的工具。
它通过感应涡流的大小来确定涂层的厚度。
在测量过程中，测厚仪与被测物体表面接触，仪器会生成一定频率的交流电磁场，通过测量交流电磁场感应出来的涡流大小，就可以确定涂层的厚度。
3.超声波涂层测厚仪超声波涂层测厚仪是通过超声波的传播速度来确定涂层厚度的。
仪器会发射超声波，当超声波通过涂层时，会反射回来，通过测量超声波的传播时间和速度，就可以计算出涂层的厚度。
4.光学涂层测厚仪光学涂层测厚仪是用于测量透明涂层（例如玻璃、塑料等材料）的厚度。
测厚仪会发射一束可见光，当光线穿过透明涂层时，会发生反射和折射，通过测量反射和折射光的强度和角度，就可以计算出涂层的厚度。
5.放射性测厚仪放射性测厚仪是一种使用放射性同位素进行测量的测厚仪。
测厚仪内部放置有一个放射性同位素源，放射性同位素通过射线照射被测物体表面，当射线穿过涂层时，会发生衰减，通过测量射线衰减的程度，就可以确定涂层的厚度。
综上所述，常见的镀层测厚仪类型有磁性涂层测厚仪、涡流涂层测厚仪、超声波涂层测厚仪、光学涂层测厚仪和放射性测厚仪。
每种测厚仪都有其适用于不同材料和涂层类型的测厚方法，选择合适的测厚仪和测厚方法可以提高测量的准确性和精度。
EI操作手册稳态瞬态荧光光谱仪(FLS 920)操作说明书
Edinburgh InstrumentFLS920User Manual目录一、开机步骤 (2)二、实验操作 (4)1、实验前准备 (4)2、稳态实验 (6)A、发射光谱实验 (6)B、激发光谱实验 (9)C、同步谱 (10)D、Map (11)E、偏振光谱 (12)3、低温实验 (17)A、液氮冷却系统(Oxford) (17)B、ARS冷却系统 (19)4、样品衰减操作 (22)A、纳秒、皮秒级衰减 (22)纳秒灯为光源 (22)激光器为光源 (27)B、微妙、毫秒级衰减 (29)三、数据处理 (32)1、数据一般处理 (32)2、稳态光谱 (33)3、瞬态光谱 (33)四、附录 (36)1、氢灯清洗方法 (36)一、开机步骤1、打开总电源（开之前保证所有仪器开关关闭）2、开启PH13、开启PMT制冷电源CO14、开启光谱仪控制电源CD920（控制盒）或样品室下方的控制板电源此为控制盒此为控制板5、根据需要的光源开启氙灯或是其它灯源电源此为氙灯电源此为氢灯电源6、开启电脑，同时将谱仪样品室上方盖子移开。
待进入操作系统后进入F900软件。
二、实验操作 1、实验前准备在做实验前有几点需要注意：A 、 对于红敏PMT （R928），其制冷必须达到一定温度，一般为室温-40℃左右。
待C O 1显示在-17℃左右的时候，在软件的S i g n a l R a t e 窗口里观察E m 1的C P S 读数显示。
若其读数维持在50C P S 以下，则表明读数正常，P M T 制冷达到工作状态，可以用该探测器进行实验。
Fig.2.1 B 、 对于近红PMT （5509），其必须准备以液氮杜瓦罐（约15升左右），将制冷部件的管子插入罐中，开启制冷电源Fig.2.2制冷电源杜瓦罐通气管道电源开启后，其显示屏上有两行显示，一行为设定的80k，一行为PMT的温度显示。
PMT温度显示会很快显示为80k（约一分钟内）。
镀层测厚仪原理
镀层测厚仪原理镀层测厚仪是一种用于测量金属表面镀层厚度的仪器，它在工业生产中扮演着非常重要的角色。
镀层测厚仪的原理是通过不同的物理原理来实现测量，下面我们将详细介绍镀层测厚仪的原理。
首先，我们需要了解的是镀层测厚仪的工作原理。
镀层测厚仪主要利用了磁性感应原理和涡流原理。
在测量金属表面镀层厚度时，镀层测厚仪会产生一个磁场，并通过测量磁场的变化来确定镀层的厚度。
当金属表面有镀层时，磁场的传感器会受到影响，从而产生一个信号。
通过对这个信号进行分析，就可以确定镀层的厚度。
其次，镀层测厚仪还可以利用涡流原理来进行测量。
涡流原理是指当金属表面有导电性材料时，通过交变磁场的作用会在金属中产生涡流。
镀层测厚仪会利用涡流的衰减程度来确定镀层的厚度。
通过测量涡流的频率和振幅的变化，就可以准确地测量出镀层的厚度。
除了磁性感应原理和涡流原理，镀层测厚仪还可以利用射线透射原理来进行测量。
射线透射原理是利用射线在不同材料中的透射率不同来测量材料的厚度。
镀层测厚仪会通过发射射线，并测量射线透过材料后的强度变化，从而确定镀层的厚度。
在实际应用中，镀层测厚仪的原理可以根据不同的测量要求来进行选择。
例如，在测量较薄的镀层时，可以选择利用磁性感应原理和涡流原理进行测量；而在测量较厚的镀层时，可以选择利用射线透射原理进行测量。
通过灵活运用不同的原理，可以满足不同厚度镀层的测量需求。
总的来说，镀层测厚仪的原理主要包括磁性感应原理、涡流原理和射线透射原理。
通过这些原理的灵活运用，可以准确、快速地测量金属表面镀层的厚度，为工业生产提供了重要的技术支持。
希望本文对镀层测厚仪的原理有所帮助，谢谢阅读。
涂镀层测厚仪磁感应原理
涂镀层测厚仪磁感应原理涂镀层测厚仪是一种常用于测量涂镀层（如漆膜、电镀层等）厚度的仪器。
其原理是基于磁感应原理，通过测量涂镀层表面和基材之间的磁场变化来确定涂镀层的厚度。
下面将从磁感应原理的基础知识、涂镀层测厚仪的工作原理和测量方法三个方面进行详细解释。
1. 磁感应原理的基础知识磁感应原理是指物体在磁场中受到的磁力与物体的磁导率、磁场强度和物体所处的位置等因素有关。
当一个物体位于磁场中时，磁感应强度可以通过磁通量密度来表示。
磁通量密度是指通过垂直于磁场方向的单位面积的磁通量，在国际单位制中用特斯拉（T）来表示。
根据法拉第电磁感应定律，当一个导体在磁场中运动时，会在导体中产生感应电动势，即涡流。
涡流的大小与导体的尺寸、材料和速度等因素有关。
涡流会对原有的磁场产生反作用，从而改变磁场的分布。
2. 涂镀层测厚仪的工作原理涂镀层测厚仪通过在涂镀层和基材之间进行非接触式测量，通过测量磁场的变化来计算涂镀层的厚度。
涂镀层测厚仪通常由一个传感器和一个显示器组成。
2.1 传感器涂镀层测厚仪的传感器通过一个磁场发生器产生一个强磁场，该磁场穿过涂镀层并作用在基材上。
然后，传感器测量基材上的磁感应强度，并将其转换为电信号。
传感器通常采用霍尔效应传感器或磁电阻传感器。
2.2 显示器涂镀层测厚仪的显示器接收传感器发送的电信号，并将其转换为涂镀层厚度的数值显示。
同时，显示器还可以根据预设条件进行报警并记录测量数据。
2.3 工作原理涂镀层测厚仪的工作原理基于磁感应原理。
当涂镀层测厚仪传感器中的磁场穿过涂镀层和基材时，涂镀层会对磁场产生反作用，改变磁场的分布，这种变化可以通过传感器测量到。
传感器测量到的磁感应强度与涂镀层厚度之间存在一定的关系。
通过对已知涂镀层厚度的标准样品进行测量，可以建立涂镀层厚度与磁感应强度之间的标定曲线。
然后，根据传感器测量到的磁感应强度，可以通过标定曲线反推涂镀层厚度。
涂镀层测厚仪通常具有测量范围广、测量精度高、操作简便等特点，可以适用于涂镀层厚度的快速测量。
SOPWQ051 牛津920膜厚仪操作说明(A1)
1.0目的正确使用、保养膜厚仪，保持膜厚仪测量精度，确保测量数据准确。
2.0适用范围牛津膜厚仪，型号：X-Strata920。
3.0操作内容：3.1仪器使用环境要求：温度23~25℃，湿度65%以下，使用仪器之前，必须先开启空调，保证室温达到以上要求之后再开启膜厚仪，膜厚仪使用时不能关闭空调。
3.2 开启设备：3.2.1 为保证仪器不受市电突然停电影响，本设备配备UPS （不间断电源），开启UPS 电源开关-A ，如下图；3.2.2 依次开启膜厚仪电源开关B 和启动开关C ，再启动电脑；（B 开关在设备第一次开启后，后续关闭设备时，可不关闭，关闭UPS 总开关A 即可）3.3 仪器点检和测试3.3.1在电脑桌面找到膜厚测试软件“SmartLink FP”，双击开启，开启后膜厚以X 射线光管需要预热升压，升压完成后在软件右下端会显示45.0KV ,“GO”键由灰色变为绿色，此过程需10分钟左右；3.3.2 波普校准：波普校准需每12小时执行一次，在软件中点击“波普校准”，将波普校准片放入测试台，在影像区找到校正片影像，点击“聚焦激光”，将图像调整清晰，点击绿色的“Go 键，A-UPS 电源开关B 开关位于仪器右后方B-膜厚仪电源开关，往下按开，往上关C-膜厚仪启动开关产品测试台①先校验Cu-Ag，后校验Ag，校验结束后软件上会显示“波普校验成功”。
此步骤需耗时15分钟左右；波普校正片，先校验Cu-Ag,再校验Ag波普校正，位于软件上方中央3.3.3 实际测试膜厚：3.3.3.1须将被测样品测试面，水平放置与测试工作台（如产品本身不是平面状态，可使用夹具辅助），如果测试面倾斜，将导致测试结果不准，见下图；3.3.3.2 选择测试程序：依据产品底材和镀层类型，选择合适的测试程序（如C5191镀Ni 和Sn ，须选择、Sn 标准片数据-Ni 标准片数据-Cu(c5191)； C5191镀Ni 和Au 、须选择Au 标准片数据-Ni 标准片数据-Au(C5191)），镀层厚度须与标准片数据接近测试才准确(允许测试范围为：标准片数据+100%/-50%)。
镀层测厚仪的工作原理及优点介绍
镀层测厚仪的工作原理及优点介绍摘要本文将介绍镀层测厚仪的工作原理和优点。
镀层测厚仪是一种用于对涂层或表面镀层进行测量的仪器。
它可以通过简单的操作测量出涂层的厚度，可以用于检测基材表面镀层的尺寸和厚度。
使用这种仪器可以为生产和质量控制提供重要的信息，从而提高产品质量和生产效率。
工作原理镀层测厚仪采用非破坏性测试技术，它通过使用无损探测方法快速测量涂层的厚度。
它可以用于各种涂层类型，如漆、铬、铜、锡、金、银、锌等，并可测量涂层与基材之间的粘结强度。
镀层测厚仪包含一个光学探测器和一个电子探测器。
光学探测器将光发射到被测曲面上，测量的对象物体内的某一点对其发出的反射信号进行采样，并将这些采样数据发送到电子探测器进行处理。
电子探测器用于获取采样数据并将其转换为一个数字信号，该数字信号经过处理后可用于计算涂层厚度。
优点镀层测厚仪的优点如下：1. 非破坏性测试由于测量涂层厚度的方法是非破坏性的，因此可以不影响涂层本身和基材。
这意味着即使进行重复测量，样品也不会受到任何损害。
2. 快速测量镀层测厚仪可以快速准确地测量涂层的厚度，因此可以节省大量的时间和精力，提高生产效率。
3. 应用广泛镀层测厚仪可以测量各种不同类型的涂层，包括漆、铬、铜、锡、金、银、锌等等，因此可以应用于不同的行业和领域。
4. 时间和成本节约使用镀层测厚仪可以减少二次加工，并且可以提前发现生产过程中的缺陷，节约时间和成本。
结论镀层测厚仪是一种高效、准确且非破坏性的测试仪器，它可以为生产和质量控制提供重要的信息，从而提高产品质量和生产效率。
在各种行业和领域，镀层测厚仪得到了广泛的应用。
涂镀层测厚仪使用说明
0猇1250
1
±(3%H+1)
± (1%H+1)
1.5
平直
F7
F7
0.5
0.5
F10 0猇10000
10 ±(3%H+10) ±(1%H+10)
10 F40
2
N型：
工作原理
探头型号
测量范围(mm)
低限分辨力(mm)
一点校准(mm) 示值
误差 二点校准(mm)
最小曲率半径(mm)
测试 条件
最小面积的直径(mm)
说明: 1. 如果在测量中探头放置不稳，显示一个明显的可疑 值，可删除该值；
2.重复测量三次或三次以上，测量后可显示四个统计值：平均 值（MEAN）、测量次数（NO.）、最大测量值（MAX）、最小 测量值（MIN）。
2.5 功能设置 2.5.1 工作方式
该仪器具有两种工作方式：直接方式和成组方式 (a)直接方式：此方式用于随意性测量，此方式下可存储100个测 量值，当存满100个值时，新的测量值将替掉旧的测量值,总保留最新 的100个测量值。 (b)成组方式：此方式便于用户分批记录所测试的数据，一组最多 存100个测量值，总共五组，可存500个测量值。当每组存满100个值 时，屏幕将显示“存储器满”，此时，仍可进行测量，但是测量值只 显示不存储，也不参与统计计算。只有删除该组数据，才能保存新的 测量值。每组内设有一个校准值，即该组下各个数据都是基于这个校 准值测得的。成组方式下，每个测量统计计算。只有删除该组数据， 才保存新的测量值。每组内设有一个校准值都参与统计计算。因为成 组方式下，可存贮几套基于不同校准值的测量数据，因此该方式特别 适合于现场测量。
(b) 按 键，检查电池。 ● 开机时无显示，表示无电池或电池电压太低，无法显示。需更换电池。 ● 无低电压指示，表示电池电压充足。 ● 有低电压指示，表示电池电压不足则显示低压指示约1秒钟后自动
便携式涂镀层测厚仪通用检测方法及原理介绍
便携式涂镀层测厚仪通用检测方法及原理介绍在化工、电子、电力、金属等行业中，为了实现对各类材料的保护或装饰作用，通常要采用喷涂、有色金属覆盖以及磷化、阳极氧化处理等方法，这样，便出现了涂层、镀层、敷层、贴层或化学生成膜等概念，我们称之为;;覆层;;。
覆层的厚度测量已成为金属加工工业已用户进行成品质量检测必备的重要的工序。
是产品达到优质标准的必备手段。
目前，国内外已普遍按统一的国际标准测定涂镀层厚度，覆层无损检测的方法和仪器的选择随着材料物理性质研究方面的逐渐进步而更加至关重要。
有关覆层无损检测方法，主要有：楔切法、光截法、电解法、厚度差测量法、称重法、X射线莹光法、β射线反射法、电容法、磁性测量法及涡流测量法等。
这些方法中除了后五种外大多都要损坏产品或产品表面，系有损检测，测量手段繁琐，速度慢，多适用于抽样检验。
X射线和β射线反射法可以无接触无损测量，但装置复杂昂贵，测量范围小。
因有放射源，故使用者必须遵守射线防护规范，一般多用于各层金属镀层的厚度测量。
电容法一般仅在很薄导电体的绝缘覆层厚度测试上应用。
磁性测量法及涡流测量法，随着技术的日益进步，特别是近年来引入微处理机技术后，测厚仪向微型、智能型、多功能、高精度、实用化方面迈进了一大步。
测量的分辨率已达0.1μm，精度可达到1%。
又有适用范围广，量程宽、操作简便、价廉等特点。
是工业和科研使用广泛的仪器。
采用无损检测方法测厚既不破坏覆层也不破坏基材，检测速度快，故能使大量的检测工作经济地进行。
我金硕特公司现对以下分别介绍几种常规测厚的方法分别介绍。
磁性测量原理一、磁吸力原理尼克斯测厚仪利用磁铁测头与导磁的钢材之间的吸力大小与处于这两者之间的距离成一定比例关系可测量覆层的厚度，这个距离就是覆层的厚度，所以只要覆层与基材的导磁率之差足够大，就可以进行测量。
鉴于大多数工业品采用结构钢和热轧冷轧钢板冲压成形，所以磁性测厚仪应用很广。
涂镀层测厚仪原理
涂镀层测厚仪原理
涂镀层测厚仪是用于快速测量各种涂镀层和表面保护层的厚度的仪器。
它是通过测量
电磁波在被测对象上反射和透射的能量来确定涂层厚度的。
涂镀层测厚仪的工作原理与电磁波的物理学有关。
涂层的厚度可以通过测量所测量的
电磁波的传播速度和时间来确定。
当电磁波穿过涂层时，它会在涂层和基材之间发生反射
和散射。
这些反射和散射会导致信号的干扰和变形，从而影响测量结果。
为了消除这些干扰，涂镀层测厚仪使用高精度的波束干扰消除技术，以确保测量结果的准确性和可靠性。
涂镀层测厚仪主要由两个部分组成：传感器和控制器。
传感器是仪器中的最重要部分，它含有一个发射器和一个接收器。
发射器将电磁波发送到被测对象表面，接收器则接收反
射和透射的波。
控制器将这些数据转换成涂层和基材之间的距离或厚度，然后显示在仪器
屏幕上。
不同类型的涂层测厚仪使用不同的电磁波谱。
例如，涂层测厚仪可以使用X光、贝克
勒尔辐射、激光或超声波等电磁波谱。
每个波谱都有其独特的特点和适用范围。
例如，X
光在金属涂层中的使用效果最好，而激光在塑料和其它非金属涂层中的应用最广泛。
镀层测厚仪操作规程
镀层测厚仪操作规程1. 引言镀层测厚仪是一种用于测量金属零件上镀层厚度的设备。
本文档旨在为操作人员提供镀层测厚仪的正确使用方法，以确保测量结果的准确性和操作过程的安全性。
2. 设备准备在使用镀层测厚仪前，请确保已完成以下准备工作： - 确认测量前的镀层已经完全干燥固化。
- 检查镀层测厚仪的仪器仪表和传感器是否正常工作。
- 确保测量环境的温度、湿度等条件符合要求。
3. 操作步骤3.1 打开仪器•将镀层测厚仪放置在平稳的工作台上，确保仪器稳固不会滑动。
•按下仪器的开关按钮，确保仪器顺利开机。
•检查仪器显示屏上的参数是否正确显示，如有异常请及时调节或修复。
3.2 校准仪器•使用校准块（标准厚度的金属块）对镀层测厚仪进行校准。
•将校准块放置在测量区域，并确保校准块与测量台面紧密接触。
•按下仪器上的校准按钮，并按照操作提示进行校准操作。
•校准完成后，检查仪器显示屏上的校准结果是否正常。
如有异常请重新校准。
3.3 测量镀层厚度•将待测量的零件放置在测量台面上，确保零件与测量台面接触紧密。
•调节仪器的测量参数，包括测量模式、测量单位等，根据具体要求进行设置。
•使用仪器的传感器对零件上的镀层进行测量。
将传感器靠近零件表面并保持一定的稳定压力，按下测量按钮进行测量。
•测量完成后，仪器会在显示屏上显示测量结果。
记录下测量结果并与要求的镀层厚度进行对比，判断是否符合要求。
3.4 关闭仪器•测量完成后，按下仪器的关闭按钮，将仪器关机。
•将仪器放置在安全的位置，并清理测量台面上的残留物。
4. 安全注意事项•在操作镀层测厚仪前，必须佩戴防护手套，避免直接接触仪器和测量液体。
•镀层测厚仪仪器和传感器较为精密，请避免剧烈碰撞或过度振动。
•使用镀层测厚仪时，应注意避免与水、油等化学物质接触。
如有不慎发生，请立即清洗仪器并通风。
•在进行校准和测量操作时，应根据操作指南进行，避免操作错误导致仪器损坏或操作人员受伤。
5. 维护与保养•定期对镀层测厚仪进行仪器和传感器的清洁，可以使用干净的软布轻轻擦拭表面。
涂镀层测厚仪用法(一)
涂镀层测厚仪用法(一)涂镀层测厚仪是一种用于测量物体表面涂层厚度的仪器。
它在许多工业领域中都有广泛的应用，如汽车制造、航空航天、建筑工程等。
本文将列举一些涂镀层测厚仪的用法，并进行详细的讲解。
1. 什么是涂镀层测厚仪？涂镀层测厚仪是一种通过非破坏性测试（NDE）技术来测量物体表面涂层厚度的仪器。
它通常使用电磁感应或超声波技术来实现测量，可以在不破坏涂层的情况下，准确地获取涂层的厚度信息。
2. 为什么需要使用涂镀层测厚仪？在许多工业领域中，涂镀层的厚度是一个非常重要的参数。
正确的涂层厚度可以确保物体的耐腐蚀性、机械强度和外观效果。
因此，通过使用涂镀层测厚仪可以帮助我们实时监测涂层的厚度，并及时采取措施来保证涂层的质量。
3. 涂镀层测厚仪的用法简单测量模式涂镀层测厚仪通常提供简单测量模式，以便用户快速进行测量。
在这种模式下，用户只需将测厚仪靠近待测物体的表面，并按下测量按钮。
测厚仪会立即显示涂层的厚度数值，让用户能够快速获取测量结果。
扫描模式有些涂镀层测厚仪支持扫描模式，可以在较大的区域内进行连续的测量。
用户只需将仪器沿着待测物体的表面平稳地移动，测厚仪将自动记录并显示涂层厚度的变化。
这种模式可以帮助用户全面了解涂层的厚度分布情况。
高精度测量模式涂镀层测厚仪通常可以设置高精度测量模式，以提供更精确的测量结果。
在这种模式下，仪器会采用更高的采样率和更精确的算法来进行测量，以达到更高的精度要求。
这对于一些对涂层厚度有严格要求的应用场景非常重要。
数据记录与导出涂镀层测厚仪通常具备数据记录和导出功能，用于保存和管理测量数据。
用户可以将测量结果保存在仪器内部的存储器中，也可以通过连接到电脑或移动设备来进行数据导出。
这样，用户可以随时查看之前的测量记录，并进行进一步的分析和比较。
4. 小结涂镀层测厚仪是一种用于测量物体表面涂层厚度的重要工具。
它的简单测量模式、扫描模式和高精度测量模式，可以满足不同应用场景的需求。
镀层厚度测试报告
镀层厚度测试报告1. 引言本报告记录了对某种镀层的厚度进行测试的结果和分析。
该测试旨在评估镀层的质量和性能，以确保其符合预期标准。
2. 测试方法2.1 仪器设备本次测试使用了以下仪器设备：•厚度计：用于测量镀层的厚度，采用非接触式测量原理，具有高精度和稳定性。
2.2 测试样本选取了多个具有相同类型和制备工艺的镀层样本进行测试。
在测试前，对样本进行了充分的准备工作，包括清洗、抛光等。
2.3 测试步骤1.将测试样本放置在测试台上，并确保表面光洁、无明显污染或损伤。
2.打开厚度计，并对仪器进行校准，以确保准确度和重复性。
3.使用厚度计在样本的不同区域进行多次测量，保证测试结果的代表性和可靠性。
4.记录每次测量的厚度数值，并计算出平均值和标准偏差。
3. 测试结果3.1 测试数据以下表格给出了每个样本的测量结果：样本编号测量1（mm）测量2（mm）测量3（mm）平均值（mm）标准偏差（mm）1 0.75 0.76 0.78 0.763333 0.0115472 0.77 0.79 0.76 0.773333 0.0124723 0.76 0.79 0.77 0.773333 0.0144334 0.74 0.78 0.76 0.76 0.0163305 0.75 0.76 0.75 0.753333 0.0076343.2 分析和讨论根据测试结果，可以得出以下结论：•样本1的平均镀层厚度为0.763333mm，标准偏差为0.011547mm；•样本2的平均镀层厚度为0.773333mm，标准偏差为0.012472mm；•样本3的平均镀层厚度为0.773333mm，标准偏差为0.014433mm；•样本4的平均镀层厚度为0.76mm，标准偏差为0.01633mm；•样本5的平均镀层厚度为0.753333mm，标准偏差为0.007634mm。
通过对测试数据的分析，可以发现镀层厚度存在一定的变化程度，但整体上保持在预期范围内。
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镀层测厚仪X-Strata920：是牛津仪器最新发布的新一代镀层测厚仪；是CMI900的升级换代产品；在CMI900基础上，改进了系统安全部件、系统软件进行了更新、测量结果进行多样化的输出；是X射线荧光(XRF)镀层测厚仪；具有非破坏、非接触、无损测量；一键定焦，有效避免人
为操作误差；快速简洁，仅需10秒即可得出测量结果。
适用于大多数行业，是质量控制、节约成本的最佳检测工具。
拥有着多种称谓：金镍测厚仪、LED测厚仪、金银测厚仪、X射线测厚仪、X-Ray测厚仪、台式测厚仪、镀层测试仪、支架测厚仪……
镀层测厚仪X-Strata920应用行业：
PCB、FPC、LED、连接器、端子、电阻和电容等电子元件、螺栓和弹簧等五金产品、卫浴洁具、汽车零部件、功能性电镀件、装饰件、首饰饰品等多个行业、检测机构和科研院校。
镀层测厚仪X-Strata920工作原理：
对被测样品发射一束一次X射线，样品的原子吸收X射线能量后被激发并释放出二次X射线。
每个化学元素会释放出特定能量的X射线，通过测量这些释放出的二次X射线的特征能量和强度，镀层测厚仪就能够对被测材料的镀层厚度和成份提供定性和定量分析。
镀层测厚仪X-Strata920特点：
可测元素：钛Ti22---铀U92间各元素；
可测镀层：5层镀层(含基材层)，15种元素共存校正；
测量时间约10秒，快速得出测量结果；
测量结果精确到微英寸；
测量结果报告可包含：数据、被测样品点图片、各种统计报表、客户信息；
提供贵重金属分析和金纯度检查(即Au karat评价)；
提供NIST认证的标准片；
享有全球的服务与支持。
镀层测厚仪X-Strata920测厚范围：
取决于具体的应用。
镀层测厚仪X-Strata920测量精度：
膜厚≤20µin(0.5um)时，测量误差值为：第一层±1µin，第二层±2µin，第二层±3µin
膜厚＞20µin(0.5um)时，测量误差值为：第一层±5%，第二层±10%，第二层±15%。