液晶的mura介绍及资料
LCD 的 mura 介绍及资料
Symptom：Circle Mura Description：可分較畫面深的黑丸mura及 較畫面淡的白丸mura。 Defect photo：
Symptom：Cloud Mura Description：局部區域雲狀不均。
Defect photo：
Updated：8/8/2012 Printed Date：8/8/2012 Rev.1.0
Symptom：Around Strip Mura Description：位置於邊框四周或任一側色 差。 Defect photo：
Updated：8/8/2012 Printed Date：8/8/2012 Rev.1.0
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各種 Mura
Symptom：Spacer Clustering Description：黑畫面可看見因spacer聚集 所產生的mura。 Defect photo：
Updated：8/8/2012 Printed Date：8/8/2012 Rev.1.0
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Defect photo：
Updated：8/8/2012 Printed Date：8/8/2012 Rev.1.0
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各種 Mura
Symptom：Rain Mura Description：50%gray判定,下雨似的色差。 Defect photo：
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Mura 产生原因
Symptom：LC not full Description： 1.各種畫面或不需驅動即可看到Panel注入 口處對側局部變黑。 2. 無畫面(完全無液晶)。
Defect photo：
Defect photo：
Updated：4/1/2015 Printed Date：4/1/2015 Rev.1.0
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各種 Mura
Symptom：Ring Mura Description：一圈圈均勻的色差圓。
Symptom：Row Mura Description：50%gray畫面水平方向線狀 mura。 Defect photo：
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各種 Mura
Symptom：Twill lines or rubbing line Description：區域性斜線。 Defect photo：
Symptom：Vertical Mura Description：Driver IC與TFT匹配問題。
Page: 23
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Defect photo：
Updated：4/1/2015 Printed Date：4/1/2015 Rev.1.0
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Symbol of Quality
Thank You
Updated：4/1/2015 Printed Date：4/1/2015 Rev.1.0
mura产生原理
mura产生原理Mura产生原理Mura是指液晶显示器中出现的亮度不均匀现象，即屏幕上出现了黑暗或亮度不一致的区域。
这种现象通常是由于液晶显示器制造过程中的不完美或外部环境因素引起的。
下面将从液晶显示器的结构、液晶分子排列和电场作用等方面介绍Mura产生的原理。
液晶显示器是由多个液晶单元组成的，每个液晶单元包含一个液晶分子层和两个电极。
液晶分子层是一种有机化合物，具有一定的电介质特性。
当外加电场作用于液晶单元时，液晶分子会发生排列，从而改变光的传播方式，实现图像的显示。
然而，由于制造过程中的一些影响因素，液晶显示器中的液晶分子排列不可避免地会出现一定程度的不均匀性。
这就是导致Mura现象的一个重要因素。
液晶分子排列的不均匀性主要表现为以下几个方面：1. 液晶分子方向不一致：液晶分子在不同区域的方向可能存在微小的差异，导致光的传播方向也不一致，从而在屏幕上形成亮暗不均的区域。
2. 液晶分子排列密度不均匀：液晶分子排列的密度不均匀也会导致光的传播方式不同。
在某些区域，液晶分子排列较为紧密，光的透过率较低，而在其他区域，液晶分子排列较为疏松，光的透过率较高，从而形成明暗差异。
3. 液晶分子层厚度不一致：液晶分子层的厚度不一致也会导致Mura现象的出现。
液晶分子层厚度的不均匀性会引起光的相位差，进而影响光的干涉和衍射效应，使得屏幕上出现光强不均的现象。
除了液晶分子排列的不均匀性，Mura现象还受到其他因素的影响，例如背光源的不均匀性、温度的变化等。
背光源的不均匀性会导致液晶显示器的亮度不一致，从而形成Mura现象。
而温度的变化会引起液晶分子的扭曲和展开，进而影响液晶分子的排列和光的传播。
为了解决Mura现象，制造商会采取一些措施。
例如，通过优化液晶分子的配方和制造工艺，减小液晶分子的方向和密度的不均匀性。
此外，还可以通过改进背光源的设计和温控系统，减少背光源和温度对Mura现象的影响。
总结起来，Mura现象是液晶显示器中常见的一种亮度不均匀现象。
Mura产生原因解读
Updated ：10/19/2018 Printed Date ：10/19/2018 Rev.1.0
Page: 10
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ND的使用
使用10% ND檢 驗Mura仍清楚 可見
使用8% ND檢 驗Mura較不 明顯
使用6% ND檢 驗Mura不可見
Updated ：10/19/2018 Printed Date ：10/19/2018 Rev.1.0
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Mura的判定
? Mura的判定通常於50%Gray pattern 畫 面判定，其judge的方式可採用 limit sample or ND filter。
? ND Filter--ND為在可見光波常範圍下能提供相當穩定平穩的響應， 主要功能在於降低光源之透光率。
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Mura 的成因
為何會有Mura產生—就LCD製程而 言
? Cell gap—cell gap的不均，偏高或偏低階會造成mura 的現象。
? Spacer—spacer散佈的均勻性及spacer本身原材料的均 勻性都有可能影響mura的產生。
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Mura 的成因
為何會有Mura產生—就CF製程而言
? 膜厚—因為膜厚的Coating不均，導致產 生色不均之現象。
? Coating—光阻於coating時若噴嘴有阻塞 的情況，即會造成vertical mura。
Updated ：10/19/2018 Printed Date ：10/19/2018 Rev.1.0
基于机器视觉的TFT-LCD屏mura缺陷检测技术研究共3篇
基于机器视觉的TFT-LCD屏mura缺陷检测技术研究共3篇基于机器视觉的TFT-LCD屏mura缺陷检测技术研究1基于机器视觉的TFT-LCD屏mura缺陷检测技术研究随着科技的不断进步，TFT-LCD屏已经广泛应用于电子产品中，如手机、电视、电脑等。
然而，由于其制造过程中存在多种不可避免的因素，如尘埃、残留物等，会导致一些缺陷出现在屏幕上，从而影响到其质量和使用效果。
其中，mura缺陷是一种最为常见的缺陷，通常表现为屏幕表面出现不均匀的亮度和色彩等问题。
为了保证产品质量和客户体验，需要对TFT-LCD屏进行缺陷检测。
本文探讨了一种基于机器视觉的TFT-LCD屏mura缺陷检测技术。
机器视觉是一种以计算机视觉算法为基础的视觉系统，它可以对图像进行快速而准确的分析和处理。
在TFT-LCD屏的mura缺陷检测中，机器视觉可以实现快速定位、准确识别缺陷，并进行有效的分类处理。
具体来说，该技术主要包含以下几个步骤：第一步是图像采集。
使用高分辨率相机或显微镜等设备采集TFT-LCD屏的图像，并将其转换成数字信号。
第二步是预处理。
将图像进行去噪、平滑和灰度化等处理，以消除噪声、提高图像质量和降低复杂度。
第三步是特征提取。
将处理后的图像进行特征提取，如亮度、颜色、对比度等，以获取重要的信息。
第四步是缺陷检测。
提取到特征向量后，可以利用支持向量机、卷积神经网络等算法进行分类，并进行缺陷检测。
第五步是结果分析。
根据测试结果分析缺陷类型、分布范围、严重程度等，并进行记录和报告，为后续处理提供依据。
在具体实现过程中，需要考虑多种因素。
例如，图像采集设备的选择与配置、人工干预的影响、算法准确度等。
同时，在算法方面还需要进一步提高检测的速度和准确度，以满足不同应用场景的需要。
总的来说，基于机器视觉的TFT-LCD屏mura缺陷检测技术具有快速、准确、可靠的优点，可以有效地提升产品质量和客户体验。
未来，我们可以进一步拓展应用领域，如面板制造、电子产品检测等，为智能制造和智慧生活提供更多的支持综上所述，基于机器视觉的TFT-LCD屏mura缺陷检测技术是一种重要的质检方法，具有高效、准确、可靠的优点。
液晶的mura介绍及资料
Updated:7/15/2010 Printed Date:7/15/2010 Rev.1.0
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Mura的成因
为何会有Mura产生— LCD制程而 为何会有Mura产生—就LCD制程而 言
Cell gap—cell gap的不均,偏高或偏低阶会造成mura 的现象. Spacer—spacer散布的均匀性及spacer本身原材料的均 匀性都有可能影响mura的产生. Roller—因机台roller的压力过大或是roller上沾附异物, Roller— roller roller 造成panel经过roller后而产生丸状或条状mura. Stage—因机台stage吸力过大而造成吸附后形成stage mura , 或stage的平整度不佳当经过制程机台后, 亦 有可能产生相关性的mura.
Updated:7/15/2010 Printed Date:7/15/2010 Rev.1.0
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Mura的成因
为何会有Mura产生— CF制程而言 为何会有Mura产生—就CF制程而言
膜厚—因为膜厚的Coating不均,导致产 生色不均之现象. Coating—光阻於coating时若喷嘴有阻塞 的情况,即会造成vertical mura.
Updated:7/15/2010 Printed Date:7/15/2010 Rev.1.0
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Mura的成因
为何会有Mura产生— TFT制程而言 为何会有Mura产生—就TFT制程而言
Over-lap—TFT的主要构成为层与层之间的 关关相连,若某一层当中有shift的情况产生 就会产生异常,可能影响TFT的特性而造成 Mura.
Mura Introduction
LCDMura现象与量化
显示屏Mura定义与量化分析TFT-LCD（Thin Film Transistor-Liquid Crystal Display）从一问世起，就受到了人们的广泛关注。
与传统的CRT（Cathode Ray Tube）显示器相比，它除了具有高分辨率、高亮度和无几何变形等诸多优点外，还具有体积小、重量轻和功耗低等特点。
因此，TFT-LCD 被广泛应用于数码照相机、数码摄像机、车载显示器、桌上显示器、笔记本电脑和液晶电视等几乎所有的显示器领域[1]（如图1-1 所示）。
TFT-LCD 屏的缺陷检测主要有三个目的。
第一，淘汰那些不合格的产品。
第二，为修复某些类型的缺陷提供依据。
第三，分析缺陷的特点和产生原因以提高生产工艺水平。
目前，TFT-LCD 屏的缺陷检测方法主要包括电学方法和光学方法两大类。
一般来讲，电学方法可以识别那些电气缺陷所引起的点缺陷和线缺陷，但是对于化学污染等非电气原因造成的mura 缺陷，电学方法就显得无能为力了[4]。
为此，近年来基于机器视觉的光学检测技术成为了研究的热点，并针对具体的缺陷类型提出了一些检测方法或判别标准。
空间相关法空间相关法适用于点缺陷和线缺陷的检测[5]。
其原理如图1 所示。
依据该算法，首先用一个摄像机（例如CCD）对被测液晶屏进行图像采集。
然后，将摄取的图像与经过移位一个像素的图像做相关运算。
如果存在像素缺陷（线缺陷），则相关图像中只有缺陷像素（线）作为检测信号被检出；如果不存在像素缺陷（线缺陷），则相关结果无输出信号。
假设原始图像信号记为C ，右移一个像素的图像信号记为R ，而左移一个像素的图像信号记为L ，相关运算的结果为Φ= R + L - 2C其中Φ表示相关信息。
图1：空间相关法原理图空间相关法利用邻像素的空间相关性进行像素缺陷检测，所以该方法可以把噪声、不均匀的背光源和液晶屏的其它固有缺陷等因素所引起的图像不均匀性的影响降到最低。
Muralook 检测算法从1991 年起，Photon Dynamics 的William K.Pratt 等人就开始研究mura 缺陷的检测系统，并且在大量应用知识的基础上，于2000 年左右在《Automatic blemish detection in liquid crystal flat paneldisplays》一文中首次提出了Muralook 检测算法[6]。
push mura原理
push mura原理
Push-mura原理是一种减少液晶显示器中矩阵式液晶单元之间
亮度非均匀度（Mura）的技术。
Mura指的是显示器屏幕上出
现的亮度不均匀的现象，可能是由于液晶材料的不均匀分布、电场的不均匀或封装过程中的误差等造成的。
Push-mura原理可以通过施加恒定的电场脉冲来产生电荷驱动
的变色液晶材料的变色现象，从而使得液晶单元的亮度变均匀。
具体来说，Push-mura技术利用了电荷驱动模式下液晶材料的
非线性光学特性。
通过调整施加到液晶单元上的电场脉冲的强度和时间，可以调节液晶材料的偏振转换特性，以实现亮度的均匀分布。
通过Push-mura技术，液晶显示器在生产过程中可以经过一系
列的测试和校准，以消除或减小Mura现象的出现。
这样可以
提升液晶显示器的显示质量，使得画面更加均匀、清晰、细腻。
液晶显示行业里的mura是什么，Mura是由什么引起？
液晶显示行业里的mura是什么，Mura是由什么引起？mura本来是一个日本字, 随着日本的液晶显示器在世界各地的发展, 这个字在显示器界就变成一个全世界都可以通的文字。
mura？是什么？简单来说mura是指显示器亮度不均匀, 造成各种痕迹的现象。
为什么会有Mura产生？其实，Mura产生的主要原因就是视觉上对于感受到的光源有不同的频率响应而感觉到颜色的差异。
一、CF制程膜厚因为膜厚的Coating不均，会导致产生色不均之现象。
Coating在涂布时如果喷嘴有阻塞的情况，即会造成Vertical Mura。
二、TFT制程Over LapTFT的主要构成为层与层之间的相互交叠，若某一层在制作过程中发生偏移就会产生异常，可能影响TFT的特性而造成Mura。
三、LCD制程Cell GapCell Gap不均，会造成偏高或偏低阶的Mura现象。
Spacerspacer散布的均匀性及spacer本身原材料的均匀性都有可能影响Mura的产生。
Roller因机台Roller的压力过大或是轮子上沾附异物，造成面板经过滚轮后而产生丸状或条状Mura。
Stage因机台Stage吸力过大而造成吸附后形成Stage Mura ，或Stage 的平整度不佳当经过制程机台后，亦有可能产生相关性的Mura。
四、LCM制程Roller因机台Roller的压力过大或是滚轮上沾附异物，造成面板经过滚轮后而产生丸状或条状Mura。
Vacuum因Stage吸力过大而造成吸附后形成StageMura。
Black-Light：B/L本身膜材不良或其他来料造成异常亦会形成Mura现象，通常以交叉验证等方式确认背光是否有异常现象。
五、偏光片偏光片本身来料不良，造成偏贴后形成Mura，通常更换偏光板后即OK。
六、人为因素因拿取Panel方式不当，手指按压到面板的力量过大，易造成丸状Mura。
Mura怎么判定？Mura的判定通常于百分之五十Gary Pattern书面判定，其Judge的方式可采用Limit Sample or ND Filter.。
液晶的mura介绍及资料-精品文档
Updated：3/15/2019 Printed Date：3/15/2019 Rev.1.0
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ND的使用
使用10% ND檢 驗Mura仍清楚 可見
使用8% ND檢 驗Mura較不 明顯
使用6% ND檢 驗Mura不可見
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Mura Introduction
Updated：3/15/2019 Printed Date：3/15/2019 Rev.1.0
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1. 2. 3. 4. 何謂 Mura Mura的成因 Mura的檢驗方法 各種Mura
Updated：3/15/2019 Printed Date：3/15/2019 Rev.1.0
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Mura的判定
Mura的判定通常於50%Gray pattern 畫 面判定，其judge的方式可採用limit sample or ND filter。
ND Filter--ND為在可見光波常範圍下能提供相當穩定平穩的響應， 主要功能在於降低光源之透光率。
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Mura的成因
為何會有Mura產生—就LCD製程而 言
Cell gap—cell gap的不均，偏高或偏低階會造成mura 的現象。 Spacer—spacer散佈的均勻性及spacer本身原材料的均 勻性都有可能影響mura的產生。 Roller—因機台roller的壓力過大或是roller上沾附異物， 造成panel經過roller後而產生丸狀或條狀mura。 Stage—因機台stage吸力過大而造成吸附後形成stage mura ， 或stage的平整度不佳當經過製程機台後， 亦 有可能產生相關性的mura。
mura补偿原理
mura补偿原理
MURA是指液晶面板在制造过程中所产生的不均匀性，导致
显示屏在显示画面时出现不均匀的亮度、色彩等现象。
MURA补偿原理是通过调整液晶显示面板的电压和光栅结构，以消除或减小MURA现象的方法。
MURA补偿原理主要包括以下几个方面：
1.电压分配补偿：根据液晶面板上各个像素单元的电压特性，
对电压进行精确分配，以消除不同区域之间的亮度差异。
通过调整电压曲线，使得所有像素单元的亮度尽量趋于一致。
2.光栅结构调整补偿：通过调整液晶分子的排列方式和光栅结构，使得光线在液晶面板上的传输更加均匀。
这样可以减小或消除因光线传输不均匀而导致的MURA现象。
3.背光源调整补偿：背光源是液晶显示屏的主要光源，其均匀
性直接影响显示效果。
通过调整背光源的亮度、色温等参数，以达到均匀照明液晶面板的效果。
通过以上方法的组合应用，可以有效地减小或消除MURA现象，提高液晶显示屏的显示品质。
彩色滤光片外观Mura简介
彩色滤光片外观 Mura简介摘要：彩色滤光片（Color Filter）是LCD液晶显示器的重要部件之一，其生产过程中外观Mura管控是品质质量管控的重要环节。
本文针对彩色滤光片外观mura的形貌、产生原因分析及处理对策简单介绍，本文介绍只针对Macro设备（宏观检查机）内不同光源下肉眼观察外观不良，可以对显示行业或者半导体行业的外观品质管控提供参考借鉴。
关键词：彩色滤光片；外观MURA前言：彩色滤光片是LCD颜色产生的重要部件，通过光的三原色（RGB）加法混合原理显示颜色。
三原色叠加能形成1670万种色彩，色彩有三种特性：明亮、色度、彩度。
本文介绍的mura则对明亮度有很大的影响，外观mura指的是显示器亮度不均、造成各种痕迹的现象。
Mura的产生影响CF的品质及客户的满意度。
文章主要介绍四种外观不良：点状、线状、膜面污染及镀膜色差。
一、点状Mura下面简单介绍五类CF场内常见的点状mura。
一、Stage Pin MURA一般是设备机台上有异物导致，整面大板位置固定，常见设备是涂布机和曝光机，如果是连续发生和涂布机Stage关联较大，而曝光机Stage上异物产生点状MURA不良会呈奇偶分布，背白灯光下可见，绿灯下观察形态似山丘，随着光源移动光晕会呈现大小变化；设备平台上沾附异物灰尘或者清洁作业时带入或者异常基板流片是带入等。
二、Lift Pin MURA常见设备有VCD和HPCP，呈现片间差异性，上白灯和上钠灯光源下外观检查可见，呈圆点状有规律等间距排布，存在设备单元集中性，主要原因是光阻未固化前VCD真空和HP预烘烤对玻璃基板造成影响。
三、手指纹mura一般是显影机腔室内显影液滴落导致，分布无规律，macro外观上白、上钠、绿灯、手持荧光灯均可见发亮不规则状或者类似拇指按压状。
四、背污mura一般是基板在传输过程中与滚轮摩擦产生的不良。
常见设备有显影机和清洗机。
绿灯下可见发亮。
五、光阻残MURA 导致光阻残出现的设备比较多且不规则、位置也不固定。
Mura产生原因解读
Defect photo：
Updated：4/11/2021 Printed Date：4/11/2021 Rev.1.0
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各種 Mura
Symptom：Circle Mura
Description：可分較畫面深的黑丸mura及 較畫面淡的白丸mura。
不當拿取—因拿取Panel方式不當，手指按壓到面板的 力量過大，易造成丸狀mura。
Updated：4/11/2021 Printed Date：4/11/2021 Rev.1.0
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Mura的判定
Mura的判定通常於50%Gray pattern 畫 面判定，其judge的方式可採用limit sample or ND filter。
造成mura的原因：【1】CF製程
【2】TFT製程
【3】LCD製程
【4】LCM製程
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Mura的成因
為何會有Mura產生—就CF製程而言
膜厚—因為膜厚的Coating不均，導致產 生色不均之現象。
Stage—因機台stage吸力過大而造成吸附後形成stage mura ， 或stage的平整度不佳當經過製程機台後， 亦 有可能產生相關性的mura。
Updated：4/11/2021 Printed Date：4/11/2021 Rev.1.0
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液晶的mura介绍及资料
• Defect photo：
• Defect photo：
各種 Mura
• Symptom：Corner Mura
• Description：5%&50% gray scale pat tern 可見角落處mura。
• Symptom：Diagonal Mura
Description：位置於邊框四周或任一 側色差。
• Defect photo：
Defect photo：
各種 Mura
• Symptom：Circle Mura
• Description：可分較畫面深的黑丸mu ra及較畫面淡的白丸mura。
• Symptom：Cloud Mura • Description：局部區域雲狀不均。
Mura的成因
為何會有Mura產生—就LCD製程 而言
Cell gap—cell gap的不均，偏高或偏低階會造成m ura的現象。
Spacer—spacer散佈的均勻性及spacer本身原材料 的均勻性都有可能影響mura的產生。
Roller—因機台roller的壓力過大或是roller上沾附 異物，造成panel經過roller後而產生丸狀或條狀m ura。
• Mura的產生理由主要是因為視覺上對於感受 到的光源有不同的頻率響應而感覺到顏色的差 異。
• 造成mura的原因：【1】CF製程 【2】TFT製 程 【3】LCD製程 【4】LCM製程
為何會有Mura產生—M就uraC的F成製因程而 言
• 膜厚—因為膜厚的Coating不均，導致 產生色不均之現象。
Mura Introduction
LCD的mura介绍及资料
02
Mura产生的原因
材料原因
液晶材料
液晶材料的特性是影响Mura的重要因素。液晶分子的排列、取向和流动性等 特性，可能导致光线散射和干涉，从而产生Mura现象。
彩色滤光片
彩色滤光片的颜色不纯或厚度不均，可能导致光线散射或干涉，进而产生Mura 现象。
工艺原因
像素制作
像素制作过程中，如果像素结构 不均匀或尺寸不精确，可能导致 光线散射或干涉，从而产生Mura 现象。
优化物流管理
通过合理的库存管理和物流安排，可以确保原材料和半成 品的质量稳定，进一步降低Mura的风险。
05
Mura的案例分析
案例一
总结词：亮度不均
详细描述：某品牌手机LCD屏幕出现明显的亮度不均，表现为屏幕中央区域比四周亮，影响用户观看 体验。
案例二
总结词：色彩偏差
详细描述：某品牌电视LCD屏幕出现色彩偏差，表现为屏幕不同区域颜色不一致，影响画面整体效果。
现象的严重程度。
Mura的等级划分
轻微Mura
LCD屏幕亮度、色彩和对比度的不均匀性较小，人眼不易察觉。
中等Mura
LCD屏幕亮度、色彩和对比度的不均匀性较为明显，但不会对正常 观看产生明显影响。
严重Mura
LCD屏幕亮度、色彩和对比度的不均匀性较大，人眼能够明显感知， 且可能对正常观看产生干扰或影响。
04
Mura的改善方法
材料改善
选择高品质的原材料
使用高纯度、高均匀性的液晶材料和 其他关键组件，可以降低Mura出现的 概率。
优化配比
通过对原材料的配比进行精细调整， 可以改善液晶的流动性和取向，从而 减少Mura。
工艺改善
1 2
改进涂布工艺
液晶显示器Mura缺陷及测量方法浅析
液晶显示器 Mura缺陷及测量方法浅析摘要：近年来，液晶显示器迎来一定的快速发展，使得相关显示器应用范围明显扩大。
但与此同时，发生Mura缺陷的几率明显增大。
为了使设备应用水平得到全面提升，要对影响其质量的因素加强重视。
同时在合理分析处理机制的前提下，来对液晶显示器Mura缺陷进行科学判断。
另外在科学有效的测量方法的基础上，使Mura缺陷发生几率得到有效控制。
本文将液晶显示器Mura缺陷的内涵以及种类当成切入点，对Mura缺陷的成因进行详细阐述，同时提出相关的测量方法，进而为液晶显示器的质量提供保障。
关键词：液晶显示器；Mura缺陷；测量方法引言液晶显示器自身具有明显的复杂性，不仅生产流程复杂程度较高，还对生产环境有较高的要求，即生产车间需要保持无尘状态。
但生产出来的液晶显示器中依然存在Mura缺陷，因此，要利用科学有效的测量方法来对其进行合理化的测定，从而使Mura缺陷导致的经济损失得到全面控制。
本文从以下方面对Mura缺陷和测量方法进行研究。
一、液晶显示器Mura缺陷简述1.1内涵Mura缺陷指的是污点或色差问题，这属于平板显示器领域中的专有名词。
从国外相关研究资料中可知，国外提出的液晶显示器Mura缺陷定义是不完美的显示结构出现在显示器之中，虽然显示器依然处于正常工作的状态，但显示屏中的颜色或亮度等参数都会出现明显的斑点或分布不均匀等问题。
另外，液晶显示器Mura缺陷能够大幅度降低显示屏中的信息数据对比度，并且明显的模糊问题出现在整体边缘中。
由于形状无法保持固定状态，从而导致图像亮度无法保持均匀性。
但需注意的是，所有显示器生产完成之后都会出现一定的显示不均匀问题，但Mura缺陷会使相关设备体验度显著降低，使得用户出现明显的视觉疲劳，严重时相关设备无法进行应用。
因此，商家要对系统化处理机制进行合理化构建，这样可以对设备全面分析和判断，并使Mura缺陷可以得到统一的检测，以此来使系统化划分工作有效完成[1]。
ADS液晶面板划痕Mura研究
第３５卷㊀第１期２０２０年１月㊀㊀㊀㊀㊀㊀㊀液晶与显示㊀㊀㊀C h i n e s e J o u r n a l o fL i q u i dC r y s t a l s a n dD i s p l a ys ㊀㊀㊀㊀㊀V o l ．３５㊀N o ．１㊀J a n ．２０２０㊀㊀收稿日期:２０１９Ｇ０６Ｇ０６;修订日期:２０１９Ｇ１０Ｇ２９．㊀㊀基金项目:北京市科委首都科技领军人才培养工程应用技术研究与开发项目(N o ．２０１８０７)S u p p o r t e db y B e i j i n g M u n i c i p a l S c i e n c e&T e c h n o l o g y C o mm i s s i o n :A p p l i c a t i o nT e c h n o l o g y R e s e a r c h a n d D e v e l o p m e n tP r o j e c t s o fC a p i t a l S c i e n c e a n dT e c h n o l o g y L e a d i n g T a l e n t sT r a i n i n g P r o je c t (N o ．２０１８０７)㊀㊀∗通信联系人,E Ｇm a i l :l i x i a o ji ＠b o e ．c o m．c n 文章编号:１００７Ｇ２７８０(２０２０)０１Ｇ００３１Ｇ１０A D S 液晶面板划痕M u r a 研究李晓吉∗,赵彦礼,栗㊀鹏,李㊀哲,辛㊀兰,朴正淏,廖燕平,李承珉,闵泰烨,邵喜斌(重庆京东方光电科技有限公司,重庆４００７００)摘要:手指滑动A D S (A d v a n c e dS u p e rD i m e n s i o nS w i t c h )液晶面板的L ２５５画面时,由于按压导致的液晶分子形变和电场作用,滑动位置亮度会降低,表现为留下发暗的按压的痕迹.如果该痕迹在按压５s 后不能恢复,我们称之为划痕M u r a (T r a c eM u r a ).本文通过对比５种不同像素设计的液晶面板的滑动按压实验的结果,得到了像素电极设计㊁驱动电压对T r a c eM u r a 的影响;进一步模拟分析液晶分子状态,得到判断不同像素设计的T r a c eM u r a 风险的模拟方法.主要结论如下:首先,像素电极尾部设计对于T r a c eM u r a 改善方面,弧角设计优于切角设计,切角设计优于开口设计;像素电极间距(S p a c e )越小,T r a c eM u r a 风险越小.其次,T r a c e M u r a 需要在高灰阶电压下按压划动液晶面板才能发生;而发生T r a c eM u r a 的液晶面板,可以通过降低液晶面板的电压灰阶来消除按压痕迹.最后,对比液晶分子状态模拟结果,确认在电极末端的液晶分子方位角会发生突变(即向相反方向偏转),模拟的突变角度在－１５ʎ以上,预测有T r a c e M u r a 风险.关㊀键㊀词:液晶显示面板;按压痕迹;方位角;突变角度中图分类号:T N １４１．９㊀㊀文献标识码:A㊀㊀d o i :１０．３７８８/Y J Y X S ２０２０３５０１．００３１S t r a c eM u r a o fA D SL C DL IX i a o Ｇj i ∗,Z H A O Y a n Ｇl i ,L IP e n g ,L I Z h e ,X I N L a n ,P I A OZ h e n gＧh a o ,L I A O Y a n Ｇp i n g ,L IC h e n g Ｇm i n ,M I N T a i Ｇy e ,S H A O X i Ｇb i n g(C h o n g q i n g B O EO p t o e l e c t r o n i c sT e c h n o l o g y C o ．,L T D ．,C h o n g q i n g ４００７００,C h i n a )A b s t r a c t :A s f o r a d v a n c e ds u p e rd i m e n s i o ns w i t c h (A D S )L C D ,u s i n g f i n g e r t os l i d e t h es u r f a c eo f L C Dl i g h t i n g o n L ２５５i m a g e ,t h el u m i n a n c eo fs l i d i n g a r e a so n L C Dr e d u c e so w i n g t ot h el i qu i d c r y s t a lm o l e c u l e s d e f o r m a t i o na n de l e c t r i c a l f i e l d ．U s u a l l y ,t h e l i q u i dc r y s t a l o f s l i d i n g ar e a r e c o v e r s d u e t o e l e c t r i c a l f i e l d ,a n da l s o t h e l u m i n a n c eo f t h o s e s l i d i n g a r e a r e c o v e r s ．W h i l e t h ed a r ka r e a c a n n o t r e c o v e r i n ５s ,t r a c eM u r a o c c u r s ．I n t h i s p a p e r ,b y v a l i d a t i n g t h e r e c o v e r y t i m e a f t e r f i n g e r s l i d i n g５k i n d s o f p a n e l sw i t hd i f f e r e n t s l i te n dd e s i g na n ds l i t s p a c ev a l u e s ,t h e i m p a c to f p i x e ld e s i gno n t r a c eM u r a i s i n v e s t i g a t e d ．C o m p a r i n g w i t hs i m u l a t e dL Ct w i s t a n g l e ,am e t h o d f o r e v a l u a t i n g tr a c e M u r a o f p a n e l i s f o u n d ．T h e r e s u l t s a r ea s f l o w :F i r s t l y ,f o r s l i t e n dd e s i g n ,p a n e lw i t ha r c a n g l e i s t h eb e s t f o r t r a c eM u r a p r e v e n t i o n ,a n d p a n e lw i t ho p e n t i l t i s t h ew o r s t ,o f c o u r s e ,pa n e lw i t h t a n Ｇ. All Rights Reserved.g e n t t i l t d e s i g na p p e a r sm i d d l e r i s kf o r t r a c e M u r a．S i m u l t a n e o u s l y,n a r r o w e rs l i t s p a c ed e s i g na l s o a p p e a r s f a s t e r r e c o v e r y t i m e a n da l s o i sb e n e f i c i a l t o t r a c e M u r a p r e v e n t i o n．S e c o n d l y,r e d u c i n gg r a y l e v e l o f p a n e l b y s e t t i n g a l o w e r d r i v i n g v o l t a g e i s b e n e f i c i a l t o t r a c eM u r a a n d a l s o a g o o dm e t h o d f o r e r a s i n g t r a c e M u r a．F i n a l l y,t h er e s u l t s o fr e c o v e r y t i m e a f t e rs l i d i n g a n d s i m u l a t e d L C t w i s t v a r i a t i o n s a t s l i te n ds h o wt h a t p a n e lw i t hl a r g e r t h a n－１５ʎL Ct w i s tv a r i a t i o nh a sh i g h e rr i s kf o r t r a c eM u r a,w h i c hc o u l db e am e t h o d f o r e v a l u a t i n g t r a c eM u r a r i s ko fA D SL C D．K e y w o r d s:T F TＧL C D;t r a c eM u r a;t w i s t a n g l e;d i s c o n t i n u o u s１㊀引㊀㊀言㊀㊀薄膜晶体管液晶显示(T h i nF i l m T r a n s i s t o rＧL i q u i dC r y s t a lD i s p l a y,T F TＧL C D)面板在大尺寸电视(T V)领域仍占据主要的市场[１Ｇ２].高级超维场转换技术(A d v a n c e d S u p e r D i m e n s i o n S w i t c h,A D S)显示模式具有宽视角,快速响应和高对比度等优势,成为T V产品的主流显示模式.对于A D S液晶(L C)面板,其透过率的提升依然为永恒的主题,同时对画质的要求仍在不断提升.画质的好坏决定了终端客户的竞争力水平.对于T V产品,力学方面画质评价包括按压测试,拍击测试,及滑动按压测试等[２Ｇ６].这些严苛的测试用来模拟生产㊁运输㊁使用过程中遇到碰撞㊁挤压时液晶面板的显示状态,以提前得知液晶面板的不良缺陷,并通过设计㊁工艺㊁包装㊁运输等相关措施降低不良发生率,或者完全规避不良,以保证终端客户能够有更好的使用体验[７Ｇ９].本文通过对比５种不同像素设计的A D S液晶面板的滑动按压结果,得到了像素末端设计㊁电极间距设计㊁驱动电压对划痕M u r a(T r a c e M u r a)的影响;同时通过模拟软件模拟５种面板的液晶分子排列,对比试验结果,分析T r a c e M u r a发生的理论机理,得出模拟判定T r a c e M u r a的参考依据.２㊀滑动按压测试方法和判定标准滑动按压测试方法为:在液晶显示面板的白态电压(L２５５),用手指在液晶面板上滑动,见图１(左).由于按压导致的液晶分子形变,与电场的共同作用,使得手指按压位置发暗,那么手指滑动过的位置,会在液晶面板上留下发暗的按压痕迹,我们称之为T r a c e M u r a[１０Ｇ１２].以按压痕迹消失的快慢程度,来判断液晶显示面板的抗压能力.若液晶显示屏不能显示痕迹,或者显示痕迹后,能在５s内消失,则认为该显示屏无T r a c e M u r a.若手指按压的痕迹不能够在５s内消失则认为该显示屏有T r a c eM u r a,见图１(右).对于按压划痕在５s内不能恢复正常,即发生T r a c eM u r a的液晶屏,现象轻微的液晶屏需要几分钟可以恢复到正常画面,现象严重的液晶屏永久不能恢复到正常的画面,需要手动切换到低灰阶画面,划痕才能消失.为了不影响终端客户的使用体验,行业内通常以５s内作为观察时间,作为判定T r a c eM u r a不良的标准.图１㊀T r a c eM u r a按压手法及不良显示屏(L２５５) F i g．１㊀P r e s s i n g m e t h o da n d p h e n o m e n o no ft r a c eM u r a(a tL e v e r２５５)３㊀液晶面板A D S模式的像素设计本文所采用的液晶面板均为A D S显示面板[１３Ｇ１４],其显示示意图见图２,图３为A D S显示面板俯视示意图.A D S显示面板通常采用氧化铟锡(I T O)作为透明电极.第一层氧化铟锡金属(１I T O)为整面设计;第二层氧化铟锡电极(２I T O)为条状设计,其中W为条状电极的宽度, S为状电极的间距,P为W与S的和代表条状电极的节距.１I T O&２I T O之间的边缘电场驱动液晶分子转动.我们选取了５种不同像素设计的液晶显示面板进行测试,见图４.２３㊀㊀㊀㊀液晶与显示㊀㊀㊀㊀㊀㊀第３５卷㊀. All Rights Reserved.图２㊀A D S 显示电极示意图(P ＝W ＋S )F i g ．２㊀A D SD i s p l a y e l e c t r o d e d i a gr a m (P ＝W ＋S)图３㊀A D S 显示面板俯视示意图F i g ．３㊀A D Sd i s p l a y e l e c t r o d e d i a g r a ma t o v e r l o o k i n g图４㊀面板a (a )㊁面板b (b )㊁面板c (c )㊁面板d (d )㊁面板e (e ),５种面板的电极设计图.F i g ．４㊀P a n e l a (a ),P a n e l b (b ),p a n e l c (c ),pa n e l d (d )a n d p a n e l e (e )e l e c t r o d e d e s i g n ,r e s p e c t i v e l y ．面板a :亚像素的条状电极宽度为W ＝２．６μm ,节距P ＝８．０μm ,电极末端为切角设计,见图４(a).面板b :亚像素的条状电极宽度为W ＝２．６μm ,节距P ＝８．０μm ,电极末端为弧角设计,见图４(b).面板c :亚像素的条状电极宽度为W ＝２．２μm ,节距P ＝６．６μm ,电极末端为切角设计,见图４(c).面板d :亚像素的条状电极宽度为W ＝２．２μm ,节距P ＝６．６μm ,电极末端为开口设计,见图４(d).面板e :亚像素的条状电极宽度为W ＝２．９μm ,节距P ＝７．８μm ,电极末端为切角设计.见图４(e).４㊀不同像素设计的A D S 面板的按压结果㊀㊀对以上５种面板分别在L ２５５灰阶下进行滑动按压测试,观察有无T r a c e M u r a .同时,为了更好地了解按压前后的像素变化细节,我们将５种面板点亮,在L ２５５灰阶画面下,用尼康(N i c o n )显微镜,在１０倍放大镜头下,按压液晶显示面板,记录按压前后像素的微观变化情况.面板a 用手指滑动后痕迹５s 不能消失,即判定为有T r a c eM u r a ,见图５;面板b 用手指滑动后痕迹不显示滑动痕迹,即判定为无T r a c eM u r a ,见图６;面板c 用手指滑动后痕迹不显示滑动痕迹,即判定为无T r a c eM u r a ,见图７;面板d 用手指滑动后痕迹不能消失,即判定为有T r a c e M u r a ,见图８;面板e 用手指滑动后痕迹不显示滑动痕迹,即判定为无T r a c eM u r a,见图９.图５(a)为面板a 滑动按压测试５s 后的宏观图,我们可以见到在面板a 宏观画面中,L ２５５灰阶下用手指按压滑动过的局部区域,画面偏暗,即存在T r a c eM u r a 风险.图５(b)为面板a 滑动按压测试的微观图,其中图５(b )Ｇ１为按压前的微观图,图５(b )Ｇ２为按压５s 后的微观图.在微观画面下图(b )Ｇ１,面板a 单个像素在按压前为正常驱动画面和排布;按压后,部分亚像素的液晶分子由于压力和电场的共同作用发生偏转,在压力消失后液晶分子不能回转到原有电场驱动下的排布,导致部分条状电极区域亮度偏低,从而导致按压后宏观画面局部３３第１期㊀㊀㊀㊀㊀㊀㊀李晓吉,等:A D S 液晶面板划痕M u r a 研究. All Rights Reserved.图５㊀面板a 的滑动按压测试结果宏观(a)及微观图(b ).(b )Ｇ１为按压前的微观图,(b )Ｇ２为按压５s 后的微观图.F i g ．５㊀M a c r o (a )a n d m i c r o (b )d i a g r a m o fs l i d i n gpr e s s u r e t e s t r e s u l to f p a n e l a ．(b )Ｇ１i s m i Ｇc r o g r a m b e f o r et h e p r e s s i n g;(b )Ｇ２i s m i Ｇc r o g r a ma f t e r p r e s s i n g ５s．偏暗,而被人眼所观察到.图６为面板b 的滑动按压测试宏观图和微观图,图６(a )Ｇ１为面板b 手指滑动按压中的宏观图,(a )Ｇ２为手指滑动按压５s 后的宏观图,(b )Ｇ１为滑动按压中的微观图,(b )Ｇ２为滑动按压５s 后的微观图.在宏观画面下,可以看到面板b (在L ２５５灰阶下)在用手指按压滑动过的局部区域,按压痕迹图６㊀面板b 的滑动按压测试结果宏观图(a)及微观图(b ).(a )Ｇ１为面板b 手指滑动按压中的宏观图,(a )Ｇ２手指滑动按压５s 后的宏观图,(b )Ｇ１为滑动按压中的微观图,(b )Ｇ２为滑动按压５S 后的微观图.F i g ．６㊀M a c r o (a )a n d m i c r o (b )d i a g r a m o f s l i d i n gpr e s s u r e t e s t r e s u l t o f p a n e l b ．(a )Ｇ１i sm a c Ｇr o g r a p ho n t h e p r e s s i n g ;(a )Ｇ２i sm a c r o g r a ph a f t e r p r e s s i n g ５s ;(b )Ｇ１i sm i c r o gr a mo n t h e p r e s s ;(b )Ｇ２i sm i c r o g r a ma f t e r p r e s s i n g ５s．出现后在５s 内消失,即无T r a c eM u r a 风险.在微观画面下,面板b 单个像素在按压中,像素的小部分像素条状电极上的液晶分子,由于压力和电场的共同作用发生偏转,在压力消失５s 后液晶分子回转到原有电场驱动下的排布.图７为面板c 的滑动按压测试宏观图和微观图,图７(a )Ｇ１为面板c 手指滑动按压中的宏观图,(a )Ｇ２为手指滑动按压５s 后的宏观图,(b )为滑动按压５s 后的微观图.在宏观画面下,可以看到面板c (在L ２５５灰阶下)在用手指按压滑动过的局部区域,按压痕迹出现后在５s 内消失,即无T r a c eM u r a 风险.在微观画面下,面板c 在压力消失５s 后大部分的液晶分子能回到原有状态,只有小部分液晶分子不能回到原有状态,但是由于这部分占有比例较小,不能被人眼所察觉.图８为面板d 的滑动按压测试宏观图和微观图,图８(a)为面板d 手指按压滑动５s 后的宏观４３㊀㊀㊀㊀液晶与显示㊀㊀㊀㊀㊀㊀第３５卷㊀. All Rights Reserved.图,(b)为滑动按压５s 后的微观图.图７㊀面板c 的滑动按压测试结果宏观(a)及微观图(b ).(a )Ｇ１为面板c 手指滑动按压中的宏观图;(a )Ｇ２手指滑动按压５s 后的宏观图;(b)为滑动按压５s 后的微观图.F i g ．７㊀M a c r o (a )a n d m i c r o (b )d i a g r a m o fs l i d i n gpr e s s u r e t e s t r e s u l t o f p a n e l c ;(a )Ｇ１i sm a c Ｇr o g r a p h o n t h e p r e s s i n g ;(a )Ｇ２i s m a c r o g r a p ha f t e r p r e s s i n g ５s;(b )i sm i c r o Ｇg r a ma f t e r p r e s s i n g ５s．图８㊀面板d 的滑动按压测试结果宏观(a )及微观图(b)F i g ．８㊀M a c r o (a )a n d m i c r o (b )d i a g r a m o fs l i d i n gp r e s s u r e t e s t r e s u l t o f p a n e l d ㊀㊀在宏观画面下,可以看到面板d (在L ２５５灰阶下)在用手指按压液晶显示面板时,按压痕迹出现且５s 后不消失,即有T r a c eM u r a 风险.在微观画面下,面板d 的单个像素在按压压力消失５s 后,像素的大部分㊁甚至整个像素条状电极上的液晶分子,由于压力和电场的共同作用发生偏转,不能回到原有状态,且这部分占有比例较高,被人眼所察觉,即形成了按压的痕迹.图９为面板e的滑动按压测试宏观图和微观图９㊀面板e 的滑动按压测试结果宏观(a)及微观图(b ).(a )Ｇ１为面板e 手指滑动按压中的宏观图;(a )Ｇ２手指滑动按压５s 后的宏观图;(b )Ｇ１为滑动按压中的微观图;(b )Ｇ２为滑动按压５s后的微观图.F i g ．９㊀M a c r o (a )a n d m i c r o (b )d i a g r a m o fs l i d i n gpr e s s u r e t e s t r e s u l t o f p a n e l e ．(a )Ｇ１i sm a c r o Ｇg r a p h o n t h e p r e s s i n g ５s ;(a )Ｇ２i sm a c r o g r a p h a f t e r p r e s s i n g ５s ;(b )Ｇ１i s m i c r o gr a m o nt h e p r e s s i n g ;(b )Ｇ２i sm i c r o g r a ma f t e r p r e s s i n g５s ．５３第１期㊀㊀㊀㊀㊀㊀㊀李晓吉,等:A D S 液晶面板划痕M u r a 研究. All Rights Reserved.图,图９(a)Ｇ１为面板e手指按压滑动中的宏观图,(a)Ｇ２为面板e手指按压滑动５s后的宏观图,(a)Ｇ１为滑动按压中的微观图,(b)Ｇ２为滑动按压５s后的微观图.可以看到,在宏观画面下面板e(在L２５５灰阶下),用手指按压液晶显示面板时,痕迹较小,且按压压力消失５s后,面板无按压痕迹留下,即无T r a c eM u r a风险.在微观画面下,面板e的像素在按压时,像素的小部分条状电极上的液晶分子,由于压力和电场的共同作用发生偏转,在压力消失后,液晶分子均能回到原有状态,即无T r a c eM u r a风险.５㊀A D S模式不同面板滑动按压结果分析㊀㊀通过对比分析５种A D S液晶显示面板的滑动按压结果,我们从以下３个方面考虑A D S液晶面板影响T r a c e M u r a的关键因素及其发生机理.５．１㊀像素电极末端设计对T r a c eM u r a的影响从面板a和面板b㊁面板c和面板d两组的滑动按压测试可以看到(表１):在相同的宽度(W)㊁节距(P)条件下,弧角设计优于切角设计(面板a 与b对比),而切角设计优于开口设计(面板c与d对比),即得出以下结论:对于T r a c eM u r a风险的防范设计,在考虑电极末端设计时,弧角设计优于切角设计,切角设计优于开口设计.表１㊀不同像素末端设计的按压结果对比T a b．１㊀S l i d i n gp r e s s u r e t e s t r e s u l t so f d i f f e r e n t e l e c t r o d ee n dd e s i g n p a n e l sI t e m末端设计T r a c eM u r a结果W＝２．６μm P＝８．０μm 面板a切角有面板b弧角无W＝２．２μm P＝６．６μm 面板c切角无面板d开口有５．２㊀像素电极的间距对T r a c eM u r a的影响㊀㊀我们选取条状电极末端设计为切角设计的面板,从面板a㊁c和面板e的滑动按压测试结果可以看到(表２):从模拟a㊁c㊁e面板的电极末端的液晶分子可以看到,见图１０,对于切角设计,其间距(S p a c e)越大,则紊乱区域越大,即液晶分子的突变区域长度越大,越不利于液晶分子在末端的连续分布,故在受压力变形后,容易和电场的共同作用发生偏转,不能回到原有状态,被人眼所察觉,即形成了按压的痕迹.由此得出结论,条状电极的间距(S p a c e)越大,越不利于T r a c e M u r a风险设计.图１０㊀面板a㊁c㊁e不同电极间距设计的模拟突变区域长度.(a)面板a突变区域长度为２．４μm;(b)面板c突变区域长度为２．０μm;(c)面板e突变区域长度为２．１μm.F i g．１０㊀S i m u l a t i o na z i m u t hm u t a t i o na n g l e o f d i f f e r e n ts p a c e d e s i g n．(a)T h e l e n g t ho f t h ed i s o r d e r e dr e g i o n i s２．４μmo f p a n e l a;(b)T h e l e n g t h o ft h e d i s o r d e r e d r e g i o n i s２．０μmo f p a n e l c;(c)T h e l e n g t ho f t h ed i s o r d e r e dr e g i o n i s２．１μmo f p a n e l e．６３㊀㊀㊀㊀液晶与显示㊀㊀㊀㊀㊀㊀第３５卷㊀. All Rights Reserved.表２㊀不同间距设计的按压结果对比T a b ．２㊀S l i d i n gpr e s s u r e t e s t r e s u l t so f d i f f e r e n t e l e c t r o d e s pa c e p a n e l s I t e m W /μm S /μm 突变区域/μm T r a c e M u r a结果电极末端切角设计面板a ２．６５．４２．４有面板c ２．２４．４２．０无面板e２．９４．９２．１无５．３㊀电压对T r a c eM u r a 的影响对于面板d ,其T r a c e M u r a 的现象最为明显,我们对其增加了电压对T r a c e M u r a 的影响实验.实验１,见图１１:我们在正常的灰阶画面下,用手指划动液晶显示面板,发现在L ２５５~L ２４０灰阶下均能划出T r a c eM u r a ,而在低于L ２４０灰阶时,则不能划出T r a c eM u r a.图１１㊀面板d 不同电压下滑动按压测试结果.(a)L ２５５灰阶,发生按压痕迹,现象明显;(b )L ２４５灰阶,发生按压痕迹,按压痕迹轻;(c )L ２４０灰阶,按压不出痕迹.F i g ．１１㊀S l i d i n gpr e s s u r e t e s t r e s u l t o f P a n e l d a t d i f Ｇf e r e n t v o l t a g e ．(a )A tL ２５５g r a y,t h e r ea r e o b v i o u s t r a c e M u r aa f t e r p r e s s i n g;(b )A t L ２４５g r a y ,t h e r ea r es l i g h t l y tr a c e M u r a a f t e r p r e s s i n g ;(c )A tL ２４０g r a y ,t h e r ea r e n o t r a c eM u r a a f t e r p r e s s i n g．实验２,见图１２:我们在L ２５５灰阶电场下,在面板d 上划出T r a c eM u r a 后,逐步降低液晶面板d 的灰阶电压,发现T r a c eM u r a 会随着电压下降而消失.图１２㊀有按压划痕的面板d,逐步降低电压的结果.(a )在电压L ２５５灰阶按压后,像素变暗明显;(b )降低电压到L ２４５灰阶,之前的按压痕迹现象减轻;(c )降低电压到L ２４０灰阶,之前的按压痕迹现象消失.F i g ．１２㊀P a n e l dw i t h o b v i o u s t r a c eM u r a a f t e r g r a d u a l l yr e d u c i n g t h ev o l t a g e ．(a )A tL ２５５g r a y ,t h e r e a r e o b v i o u s t r a c eM u r a ;(b )R e d u c e t h ev o l t a g e t oL ２４５g r a y,t h e p r e v i o u st r a c e M u r a i sr e Ｇd u c e d ;(c )R e d u c e t h e v o l t a g e t oL ２４０g r a y ,t h e p r e v i o u s t r a c eM u r a d i s a p pe a r s ．由于设备条件限制,每次灰阶电压调整为２．５个灰阶.在L ２５５灰阶,受压力影响,液晶分子偏转后与电场达成平衡态,形成T r a c e M u r a,见图１２(a ).当降低面板d 的灰阶电压到L ２４５灰阶时,电压变化导致平衡态被打破,发暗的像素减７３第１期㊀㊀㊀㊀㊀㊀㊀李晓吉,等:A D S 液晶面板划痕M u r a 研究. All Rights Reserved.小,见图１２(b ).当继续降低面板d 的灰阶电压到L ２４０灰阶时,液晶分子受力场影响的作用完全消失,液晶面板恢复正常,见图１２(c).由以上两个实验可知:首先,需要在高灰阶电压下(即较大的液晶偏转角度)按压划动液晶面板才能发生T r a c eM u r a ;其次,发生T r a c eM u r a 的液晶面板,可以通过降低液晶面板的灰阶电压来消除按压痕迹.５．４㊀A D S 模式液晶面板T r a c eM u r a 模拟判定方法㊀㊀通过模拟５种面板液晶分子排布,我们发现,A D S 面板,在高灰阶(L ２５５)电压下,在条状电极中部,液晶分子受电场作用,其方位角约为４０ʎ~６５ʎ,排列有序.但是到了条状电极末端,由于电场的终止,导致末端液晶分子排列紊乱,出现了局部的方位角突变,即向相反方向偏转,这个局部区域在受力按压后,扩大到条状电极中部,导致按压地方出现了局部发暗,形成痕迹,并与电场形成了稳定的排列,不能恢复,被人眼观察到,即形成了T r a c eM u r a.图１３㊀面板a 在L ２５５灰阶的液晶分子模拟方位角,俯视图(a )和０．５μm 深度的切面图(b).F i g ．１３㊀S i m u l a t e d a z i m u t h o f p a n e l a a t L ２５５g r a yv o l t Ｇa g e (a )a n d s e c t i o n a l v i e wa t ０．５μmd e pt h (b )以面板a 为例,图１３为面板a 在L ２５５灰阶的液晶分子模拟方位角,其中(a )为俯视图,(b )为图(a )中沿电极方向不同位置(如图(a )中黑色箭头线所示)深度为０．５μm 切面图的方位角.图１３中分为３个位置:①表示电极中部,②表示电极末端,③表示为电极结束.在①位置,电极中部,电场驱动,液晶分子偏转４０ʎ~６５ʎ;在②位置,条状电极末端,电场紊乱区域,出现了局部的方位角突变,面板a 向相反方向偏转了约１５ʎ;在③位置,电极结束,无电场,液晶分子不转动.对比５种面板液晶分子在电极末端位置突变的角度与T r a c e M u r a 的现象,由表３可知,模拟实验a ~e 面板的液晶分子在条状电极末端的方位角的最大突变角度,发现突变的偏转角度大于１５ʎ时,液晶面板有T r a c eM u r a 风险,且该角度越大,则T r a c eM u r a 越严重.表３㊀不同面板在L ２５５灰阶模拟最大突变方位角T a b ．３㊀I nL ２５５g r a yＧs c a l e ,s i m u l a t e d m a x i m u m m u t a t i o n s a z i m u t ho f d i f f e r e n t p a n e l s ．I t e m s T r a c eM u r a现象最大方位角偏转模拟值面板a 有－１５．１ʎ面板b 无－９．６ʎ面板c无－８．７ʎ面板d 有,最严重－３６．９ʎ面板e无－１０．３ʎ图１４㊀面板d 电极末端不同电压的液晶分子模拟最大突变方位角F i g ．１４㊀S i m u l a t e dm a x i m u ma z i m u t hm u t a t i o n a n gl e o fP a n e l da t d i f f e r e n t v o l t a ge s 对于T r a c eM u r a 与电压的关系,通过模拟,见图１４,以面板d 为例.我们发现在不同电压下,液晶分子的局部突变方位角度,会随电压的提高而逐渐增加,０~４V 下,液晶分子不发生突变;４~６．３V 时,液晶分子发生突变,但是向相反８３㊀㊀㊀㊀液晶与显示㊀㊀㊀㊀㊀㊀第３５卷㊀. All Rights Reserved.方向偏转角度较小,即在０~６．３V 时不发生T r a c eM u r a ;大于６．３V 时,突变角度大于１５ʎ,与实验１的高电压灰阶下发生T r a c eM u r a 相符,说明在较大的液晶突变偏转角度时,更容易发生T r a c eM u r a.６㊀结㊀㊀论本文通过对比５种不同像素设计的A D S 液晶面板的按压划痕,得到了像素条状电极末端设计㊁条状电极间距设计㊁驱动电压对T r a c e M u r a 的影响:对于T r a c eM u r a 风险的防范设计,在考虑像素电极末端设计时,弧角设计优于切角设计,切角设计优于开口设计;像素条状电极的间距越小,T r a c eM u r a 风险越小;T r a c e M u r a 需要在高灰阶电压下(即较大的液晶偏转角度)按压划动液晶面板才能发生;发生T r a c eM u r a 的液晶面板可以通过降低液晶面板的电压灰阶来消除按压痕迹[１,８].本文模拟了L ２５５电压下像素电极末端的液晶分子状态.在末端的液晶分子方位角会发生突变,向相反方向偏转角度越大,T r a c e M u r a 风险越大,以现有模拟数据认为,模拟偏转角度在１５ʎ以上,有T r a c eM u r a 风险.该方法与实验有较好的符合,为以后产品开发时,通过模拟分析评判T r a c eM u r a 风险提供了参考依据.参㊀考㊀文㊀献:[１]㊀马群刚．T F T ＧL C D 原理与设计[M ]．北京:电子工业出版社,２０１１:２１６Ｇ２５５．MA Q G．P r i n c i p l e a n dD e s i g n o f TF TL C D [M ]．B e i j i n g :P u b l i s h i n g H o u s e o f E l e c t r o n i c s I n d u s t r y ,２０１１:２１６Ｇ２２５．(i nC h i n e s e)[２]㊀刘同海,高章飞,孙国防,等．A D S模式T F T ＧL C D 的显示原理研究[J ]．电子世界,２０１７(２０):３３Ｇ３４．L I U T H ,G A OZF ,S U N GF ,e t a l ．R e s e a r c ho nd i s p l a yp r i n c i pl eo fA D ST F T ＧL C D [J ]．E l e c t r o n i c sW o r l d ,２０１７(２０):３３Ｇ３４．[３]㊀Y O UJ ,J I A Q ,Y A N G YF ,e t a l ．P Ｇ１０３:I m p r o v e m e n t o f d a r k s t a t e l i g h t l e a k a g e i nA D Sm o d eL C D s [J ]．S I D S y m p o s i u m D i g e s t o f T e c h n i c a lP a pe r s ,２０１５,４６(１):１５４４Ｇ１５４７．[４]㊀熊奇,毕芳,王耀杰,等．T F T ＧL C D 黑G a p 分析及改善研究[J ]．液晶与显示,２０１８,３３(７):５６８Ｇ５７４．X I O N G Q ,B IF ,WA N G YJ ,e t a l ．R e s e a r c ha n d i m p r o v e m e n t o fT F T ＧL C Db l a c k g a p [J ]．C h i n e s eJ o u r n a l o fL i q u i dC r y s t a l s a n dD i s p l a y s ,２０１８,３３(７):５６８Ｇ５７４．(i nC h i n e s e )[５]㊀桑胜光,车晓盼,王嘉黎,等．高P P IA D S 产品白M u r a 不良产生原理及改善研究[J ]．液晶与显示,２０１６,３１(５):４３５Ｇ４４１．S A N GSG ,C H EXP ,WA N GJL ,e t a l ．P r i n c i p l e a n d i m p r o v i n g r e s e a r c ho fw h i t eM u r a d e f e c t i nh i ghP P IA D S p r o d u c t [J ]．C h i n e s eJ o u r n a l o f L i q u i dC r y s t a l s a n dD i s p l a ys ,２０１６,３１(５):４３５Ｇ４４１．(i nC h i n e s e )[６]㊀肖洋,周鹏,闫润宝,等．T F T ＧL C DS t a geM u r a 的研究与改善[J ]．液晶与显示,２０１７,３２(４):２６９Ｇ２７４．X I A O Y ,Z HO U P ,Y A N RB ,e t a l ．R e s e a r c ha n d i m p r o v e m e n t o fT F T ＧL C DS t a geM u r a [J ]．C h i n e s eJ o u r n a l o f L i q u i dC r y s t a l s a n dD i s p l a ys ,２０１７,３２(４):２６９Ｇ２７４．(i nC h i n e s e )[７]㊀毕昕,丁汉．T F T ＧL C D M u r a 缺陷机器视觉检测方法[J ]．机械工程学报,２０１０,４６(１２):１３Ｇ１９．B IX ,D I N G H．M a c h i n e v i s i o n i n s p e c t i o nm e t h o d o fM u r a d e f e c t f o rT F T ＧLCD [J ]．J o u r n a l o f M e c h a n i c a lE n gi Ｇn e e r i n g ,２０１０,４６(１２):１３Ｇ１９．(i nC h i n e s e )[８]㊀张鹏,马婷婷,杨叶花,等．液晶显示器M u r a 缺陷及测量方法浅析[J ]．电子测试,２０１７(６):５０Ｇ５２．Z HA N GP ,MATT ,Y A N GY H ,e t a l ．M u r a d e f e c t a n dm e a s u r e m e n tm e t h o d o f l i q u i d c r y s t a l d i s p l a y [J ]．E l e c Ｇt r o n i cT e s t ,２０１７(６):５０Ｇ５２．(i nC h i n e s e )[９]㊀刘毅,郑学仁,王亚南,等．MA T L A B 在T F T ＧL C D 屏显示MU R A 缺陷检测的应用[J ]．液晶与显示,２００７,２２(６):７３１Ｇ７３６．L I U Y ,Z H E N G XR ,WA N G Y N ,e t a l ．A p pl i c a t i o no fMA T L A Bi nT F T ＧL C D ＇s MU R Ad e f e c t d e t e c t i o n [J ]．C h i n e s eJ o u r n a l o f L i q u i dC r y s t a l s a n dD i s p l a ys ,２００７,２２(６):７３１Ｇ７３６．(i nC h i n e s e )９３第１期㊀㊀㊀㊀㊀㊀㊀李晓吉,等:A D S 液晶面板划痕M u r a 研究. All Rights Reserved.０４㊀㊀㊀㊀液晶与显示㊀㊀㊀㊀㊀㊀第３５卷㊀[１０]㊀佟泽源,韩锐,龙斌,等．泡棉压缩对液晶模组漏光的影响分析[J]．液晶与显示,２０１７,３２(８):６０１Ｇ６０６．T O N GZY,HA N R,L O N GB,e t a l．E f f e c t a n a l y s i so f f o a mc o m p r e s s i o no n t h e l i g h t l e a k a g eo fL C D m o d u l e[J]．C h i n e s eJ o u r n a l o f L i q u i dC r y s t a l s a n dD i s p l a y s,２０１７,３２(８):６０１Ｇ６０６．(i nC h i n e s e)[１１]㊀解会杰,穆树祥,范志新．降低小尺寸液晶显示模组漏光不良[J]．现代显示,２０１０,２１(１１):２３Ｇ２６．X I E HJ,MUSX,F A NZX．R e d u c e t h e l i g h t l e a k a g e o f s m a l l s i z eT F TＧl i q u i d c r y s t a l d i s p l a y m o d u l e s i n p r o d u cＧt i o n[J]．A d v a n c e dD i s p l a y,２０１０,２１(１１):２３Ｇ２６．(i nC h i n e s e)[１２]㊀李兴华,暴军萍,徐兵,等．液晶显示器模组黑态均匀性改善研究[J]．液晶与显示,２０１８,３３(４):２７１Ｇ２７６．L IX H,B A OJP,X UB,e t a l．I m p r o v e m e n t r e s e a r c ho fT F TＧL C D m o d u l e b l a c ku n i f o r m i t y[J]．C h i n e s eJ o u rＧn a l o f L i q u i dC r y s t a l s a n dD i s p l a y s,２０１７,３３(４):２７１Ｇ２７６．(i nC h i n e s e)[１３]㊀见帅敏,解洋,夏高飞,等．T F TＧL C D边角漏光不良机理分析及改善研究[J]．液晶与显示,２０１７,３２(６):４５５Ｇ４６０．J I A NS M,X I EY,X I A GF,e t a l．A n a l y s i s a n d i m p r o v e m e n t o fT F TＧL C De d g e l i g h tＧl e a k i n g m e c h a n i s m[J]．C h i n e s eJ o u r n a l o f L i q u i dC r y s t a l s a n dD i s p l a y s,２０１７,３２(６):４５５Ｇ４６０．(i nC h i n e s e)[１４]㊀S HA O XB,L I A O YP,WA N GFF,e t a l．８１Ｇ１:I n v i t e dP a p e r:A D Sw i d e v i e w i n g a n g l eT F TＧL C D m a n u f a cＧt u r i n g f o rT V p r o d u c t s[J]．S I DS y m p o s i u m D i g e s t o f T e c h n i c a lP a p e r s,２０１６,４７(１):１０８７Ｇ１０９０．作者简介:㊀李晓吉(１９８９－),女,湖北襄阳人,高级研究员,２０１５年于河北工业大学获得硕士学位,主要从事C e l l设计方面的工作.EＧm a i l:l i x i a o j i＠b o e．c o m．c n. All Rights Reserved.。
mura检测中的影像色度亮度计
mura检测中的影像色度亮度计成像亮度色度计的LCD检测1、概述液晶缺陷Mura测试原理–测试标准–算法概述WP600 Series Colorimeter解决方案WP214概述与测试方案2、液晶缺陷Zara—漏光，漏光就是屏幕液晶跟框架吻合不紧密导致灯管光直接透射出来。
Zure—错误对位，指液晶屏的滤光单元与TFT对位出现错误导致的缺陷SIMI—基板上有污渍Mura—是指显示器亮度不均匀造成各种痕迹的现象，最简单的判断方法就是在暗室中切换到黑色画面以及其它低灰阶画面，然后从各种不同的角度用力去看，随着各式各样的制程瑕疵，液晶显示器就有各式各样的mura。
3、SEMI-D31测试Mura原理SEMI针对Mura测试建立了一个标准。
定义：JND — Just Noticeable Difference公式：Cjnd是mura 缺陷最小可觉察的对比度差异Sjnd为C jnd下的mura 缺陷面积。
可见，每一个Sjnd都有一个固定的Cjnd对应。
4、S jnd与C jnd关系Sjnd与C jnd是递减关系?面积越大，人眼对对比度低的mura更敏感下图三个点可以说明Sjnd与C jnd的关系箭头所指的点两两灰度一样，但面积不一样，从而引起视觉敏感性不同5、Mura的算法1、分割——把图像分割成若干个区域，对每个区域算出平局对比度C x，分割算法很重要，各个厂家对此都有专门的算法设计。
2、SEMI定义了Mura的值，如下公式：Semu就是该区域的Mura值根据该标准，目标区域的SEMU 数值高于1 的，就可判定为mura 缺陷。
但是，在实际应用中，平板显示器的制造商一般会根据企业的自身情况和产品特点相应地调整具体的判定指标。
6、Westboro Photonics解决方案Westboro Photonics通过WP640/690成像式色度亮度计能精确得到被测屏幕的亮度色度分布图。
相较于一般厂商的三片滤光片的方案，WP产品具有四个滤光片，能更准确测出三基色刺激值，在色度方面精度更高。
一种彩色mura的补偿方法
一种彩色mura的补偿方法【引言】随着显示技术的发展，彩色显示屏已广泛应用于各种领域，如手机、电视、电脑等。
然而，在实际使用过程中，彩色显示屏容易出现彩色mura现象，严重影响显示效果。
本文针对这一问题，提出一种彩色mura的补偿方法。
【彩色mura补偿方法原理】1.彩色mura现象概述彩色mura是指显示屏上出现的彩色不均匀现象，通常表现为某些区域色彩失真、渐变不自然等。
其主要原因是显示屏制造过程中存在的工艺瑕疵、材料差异等。
2.补偿方法的提出为了解决彩色mura问题，本文提出一种基于色彩平衡调整和图像处理算法的补偿方法。
该方法通过对显示屏的色彩分布进行校正，使其达到均匀状态，从而消除彩色mura现象。
【彩色mura补偿方法具体实现】1.色彩平衡调整通过采集显示屏各个区域的色彩信息，计算色彩偏差，并根据偏差调整相应区域的色彩平衡，使整个显示屏的色彩分布趋于均匀。
2.图像处理算法采用一种针对彩色mura现象的图像处理算法，对输入图像进行处理，使其在显示过程中能够适应显示屏的色彩分布特性，从而降低彩色mura 现象的影响。
3.参数设置与优化为了获得更好的补偿效果，需要对算法中的参数进行设置与优化。
通过大量实验数据分析，找到合适的参数范围，使补偿效果达到最佳。
【实验与结果分析】1.实验设置选用一款具有彩色mura现象的显示屏进行实验，采用本文提出的补偿方法进行处理，并与未处理前进行对比。
2.补偿效果评价通过专业色彩测试仪器和主观评价方法，对补偿后的显示屏进行评估。
实验结果表明，补偿方法能够显著改善彩色mura现象，提高显示效果。
3.对比实验为了验证补偿方法的有效性，与其他现有方法进行对比实验。
实验结果显示，本文提出的补偿方法在色彩均匀性和显示效果方面具有优势。
【结论与展望】本文提出了一种彩色mura的补偿方法，通过色彩平衡调整和图像处理算法，有效改善了显示屏的显示效果。
在今后的工作中，将进一步优化算法和参数设置，提高补偿方法的实用性和普适性。
【mura深度篇】mura的常见种类、检测以及常见鉴本及解决方法大全
【mura深度篇】mura的常见种类、检测以及常见鉴本及解决⽅法⼤全任何颜⾊，明暗不均的现象都称为MuraMura产⽣的原因包括制程异常，膜厚差异，CD变异，Pattern偏移，异物等OLEDindustry君之前已经为⼤家推送过关于Mura⾮常基础的内容今天则是要把Mura⼀点点剖析看⼀看更深层次的东西OLEDindustry群技术咖谈Mura“Mura判定有些⿇烦，有些Mura很轻微，有些⼈可以看得到，有些⼈看不到··· ···这个没有标准没有国际规范，主要看经验和视觉。
但是⽤机器判定的话，必须给⼀个确切的界限，否则也⽆法判定。
这也是各个公司AOI 和demura 参差不齐的原因所在～⼀般明显的还好判定。
但有的时候是在特定光源下显现出来，有时还需⽔雾⽓⽅式显现，判定⽬前多是经验传承。
有些mura当时有，但是到后⾯却消失不见了，具有鲜明特征的应该算是lens mura,这个公认的Limit sample 或者ND filter 如何判定mura ，这个标准不会统⼀的，每个⼈看到的视觉程度会有差异。
每当出现这种不良时，只能现场去订，和赌博有点像，重点是看终端客户接受的程度。
终端如果不接受，都是免谈。
之前的情况是⽤5%的ND来判，有的企业⽤JND值在判。
台湾友达⼚内是⽤JND值来分等级，但给客户的IIS标准是⽤5%的ND来遮的，⽤ND也有要求的。
终端没标准，标准取决于各家⼚内⾃⼰制定。
每⼀段⼯艺都有可能会产⽣mura，⽽消费者的要求也在不断提⾼。
⽔雾⽓式就不适⽤前段，⼀般cell 才会⽤，array 不会⽤。
前⾯可以卡的曝光机跟涂布显影mura⼀般调整对应机台参数当站可以解掉没解就报废或流⼏⽚给后段验证其他的都是做⾼风险⽚验证看后段反馈具体的mura类型搞PIE的应该了解。
lens mura，stage mura，BF mura，Arc mura，Lips震动mura，roller mura，Pin mura，好多··············只要叫不出名字的，都可以归为mura~~不同公司还有属于⾃⼰的独特的mura~~沙沙mura,⿊雾mura············Tcon的存储空间增加，做demura 时间导致的产能损失。
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Mura Introduction
Content:
1.何謂Mura
2.Mura的成因
3.Mura的檢驗方法
4.各種Mura
何謂Mura？
¡在同一光源且相同底色之畫面下，因視覺感受到不同程度之顏色差異稱之為
Mura。
為何會有Mura產生？
¡LCD Monitor主要的：由一薄膜電晶體
【TFT】來控制液晶【LC】旋轉的角度，再經由光源【B/L 】透過不同角度排列之液晶所穿透之光源透過彩色濾光片【CF】顯示出不同的顏色組
合。
¡Mura的產生理由主要是因為視覺上對於感受到的光源有不同的頻率響應而感覺到顏色的差異。
¡造成mura的原因：【1】CF製程【2】TFT製程
【3】LCD製程【4】LCM製程
為何會有Mura產生—就CF製程而言¡膜厚—因為膜厚的Coating不均，導致產生色不均之現象。
¡Coating—光阻於coating時若噴嘴有阻塞的情況，即會造成vertical mura。
為何會有Mura產生—就TFT製程而言¡Over-lap—TFT的主要構成為層與層之間的關關相連，若某一層當中有shift的情況產生就會產生異常，可能影響TFT的特性而造成Mura。
為何會有Mura產生—就LCD製程而
言
¡Cell gap—cell gap的不均，偏高或偏低階會造成mura 的現象。
¡Spacer—spacer散佈的均勻性及spacer本身原材料的均勻性都有可能影響mura的產生。
¡Roller—因機台roller的壓力過大或是roller上沾附異物，造成panel經過roller後而產生丸狀或條狀mura。
¡Stage—因機台stage吸力過大而造成吸附後形成stage mura ，或stage的平整度不佳當經過製程機台後，亦
有可能產生相關性的mura。
為何會有Mura產生—就LCM製程而
言
¡Roller—因機台roller的壓力過大或是roller上沾附異物，造成panel經過roller後而產生丸狀或條狀mura。
¡Vacuum—因機台stage吸力過大而造成吸附後形成
stage mura。
¡Black-light—B/L本身Film材不良或其他來料造成異常亦會形成mura現象，通常以交叉驗證等方式確認B/L是否有異常現象。
¡Polarizer—偏光板本身來料不良，造成偏貼後形成
Mura，通常更換偏光板後即OK。
為何會有Mura產生—就人為因素而
言
¡不當拿取—因拿取Panel方式不當，手指按壓到面板的力量過大，易造成丸狀mura。
Mura的判定
¡Mura的判定通常於50%Gray pattern 畫面判定，其judge的方式可採用limit sample or ND filter。
¡ND Filter--ND為在可見光波常範圍下能提供相當穩定平穩的響應，主要功能在於降低光源之透光率。
ND的使用
各種Mura
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