布鲁克XRF荧光光谱仪说明书 3-Getting Started-总体介绍
XRF(SOP操作指导书)
置狀態轉至ON位置狀態。
7.X-RAY鑰匙向右旋轉後，軟體的左下方會出現可以測量，此時X射線到達安
定狀態需等待約30分鐘。
二．量测：
1.点击應用選单，再选择金属为塊體分析(FP)，塑胶为塊體分析（检量线）。
2.点影像视窗。
XRF仪器操作作业指导书
仪器名称
桌上型X射线荧光光谱仪（XRF）
厂商/型号
Seiko / SEA1000A
操作步骤
一.开机：
1.打開位於儀器測量系統主機右後方的電源開關ON。
2.請按在測量系統的右下方的Power綠色開關，請確認開關確實變成綠色。
3.打開電腦螢幕和電腦的電源。
4.打開印表機的電源。
5.啟動X-ray軟體。
線關閉）訊號，此時X射線已關閉。
2.按測量系統的右上角的（結束軟體）按鈕，關閉X-ray軟體。
3.關閉電腦主机電源。
四.维护与保养：
1.每周进行对过滤棉清洗，能量校正，強度校正，分辨率校正。
2.每天进行对第二片塑胶标准片校正，误差应在范围内（“Cd、Pb 100正负15，Hg、Br、Cr 100正负30”）如超出此范围内，就必须对四片塑胶标准片重新校正。
3.按樣品室OPEN按鈕(正面的圓形按鈕)Байду номын сангаас以打開樣品室蓋。
4.將樣品放置在測量區域的中央位置，然后用手將台蓋往下壓，直到台蓋聽到卡的一声為止。
5.点击开始进行测试。
6.测试完后左下角会出现可以进行量测时，点击分析报告就会出现成份的数据作成Word档案，并且保存。
三.關機：
1.X-ray鑰匙向左旋轉後，使其成縱方向狀態OFF，軟體的左下方會出現（X射
布鲁克XRF荧光光谱仪说明书 2-应用SPECTRA plus作你的第一条回归曲线
应用SPECTRA plus作你的第一条校准曲线目录应用SPECTRA plus作你的第一条校准曲线简介建立校准曲线了解校准曲线工具箱开始作校准曲线Si KA1 HS-Min的校准曲线如何检查计算的浓度是否被接受P KA1-HS-Min 的校准曲线S KA1 HR-Min的校准曲线V KA1-HS-Min的校准曲线Cr KA1-HS-Min的校准曲线Mn KA1-HR-Min的校准曲线V KA1 HS-Min的校准曲线Ni KA1-HS-Min的校准曲线Cu-KA1-HS-Min的校准曲线漂移校正/重校正低合金未知样品的测量使用Results Monitor功能监视分析结果查询结果转移结果再评估测量数据结论简介本教学课程包括下列内容，以便使你熟悉制作校准曲线的过程：l建立校准曲线l组织材料l输入标准浓度到数据库l定义测量方法l了解校准曲线工具l校准已测量的低合金样品l用低合金曲线测量未知样品l使用结果管理器按照这一部分的介绍，你可以一步一步地制作你的第一条校准曲线。
使用一套BCS低合金标样，SPECTRA plus谱线库中预定义的谱线及扫描测量模式，你的任务是绘制低合金样品的校准曲线。
由于所有的样品已经在德国Bruker AXS 公司测量过，不需要在你的仪器上进行实际的测量。
为了得到所显示的相同结果，必须仔细地按照所有步骤进行。
建立校准曲线从SPECTRA plus程序或桌面打开Quantification Editor (FQuant) 程序。
图 1 桌面上的Spectra Plus程序文件夹选择 File > New.选择左侧（引导窗口一侧） "Materials" 。
在右侧出现一个对话框，并列出一个或多个预定义的材料。
图 2 材料页在"Material Groups" 材料组窗口中，选择"Tutorial"教学材料组(如果它不存在的话，请输入Tutorial并且点击新文件按钮(红圈), 见下面注解)。
X射线荧光光谱仪介绍
X-射线荧光光谱仪(XRF)1、仪器介绍X-射线荧光光谱仪(XRF)，现有日本Rigaku公司生产的ZSX primus波长色散型XRF一台，及配套所必须的电源设备、冷循环水设备和前处理熔样机等。
X射线荧光光谱分析技术制样简单、分析快速方便、应用广泛，可用于测定包括岩石、土壤、沉积物等在内的各种地质样品的化学组成。
分析元素范围从Be(4)到U(92)，最常见的是用于主量元素分析，如SiO2、Al2O3、CaO、Fe2O3T、K2O、MgO、MnO、Na2O、P2O5、TiO2、LOI等元素。
2、仪器功能和技术参数：(1) 功能：定性分析、半定量分析和定量分析；(2) X射线管：4KW超薄端窗型(30μm)、铑靶X射线管；(3) 分光晶体：LiF(200)、Ge(111)、PET、RX25、LiF(220)；(4) 进样器：48位自动样品交换器；(5) 测角仪：SC：5-118度(2θ)；PC：13-148度(2θ)；(6) 分析元素范围：Be4-U92；(7) 线性范围：10-2 - 10-6；(8) 仪器稳定度：≤0.05%；(9) 测量误差：<5%。
3、应用和优势：XRF应用广泛，可用于岩石、矿物、土壤、植物、沉积物、冶金、矿业、钢铁、化工产品等样品中常量和痕量的定量分析。
具有快速方便、制样简单、无损测量、分析元素宽、灵敏度高等优点。
X-ray Fluorescence Spectrometer (XRF)1、I nstrument Introducation:The wavelength dispersion X-ray fluorescence spectrometer (XRF) is ZSX primus, made by Rigaku, Japan, with a set of instruments of electrical power unit, cold circulating water equipment and automatic fusion machine. XRF is widely used for geological element analysis, including rocks, soils, sediments, etc, which is simplicity and convenience of operation. Its analyzable elements range is from Be (4) to U (92). XRF is most common for the analysis of major elements, such as SiO2, Al2O3, CaO, Fe2O3T, K2O, MgO, MnO, Na2O, P2O5, TiO2 and LOI.2、Instrument Technical Parameters:(1) Fucation: qualitative analysis, semi-quantitative analysis and quantitative analysis;(2) X-ray tube: 4KW ultrathin end-window (30μm) Rh target X-ray tube;(3) Analyzing crystals: LiF(200), Ge(111), PET, RX25, LiF(220)；(4) Sample injector: 48-bit automatic sample changement;(5) Angular instrument: SC: 5-118°(2θ); PC: 13-148°(2θ).(6) Analyzable elements range: Be4-U92;(7) Linear range: 10-2 - 10-6;(8) Stability: ≤0.05%;(9) Analysis error: <5%.3、Application and advantageXRF is widely used to analy major elements and trace elements in geological rocks, minerals, soils, plants, sediments, metallurgy, mining industry, steel, chemical products, etc. It is fast, convenient, simple, nondestructive, widely used and high sensitivity.。
布鲁克XRF荧光光谱仪说明书 8-MeasPara-测量参数
1.5
打开 MEASPARAMETERS 文件
在 MEASPARAMETERS 里工作，可以打开默认谱线库或已有的测量方法 （.MM 文件）
打开默认谱线库： 在工具栏，单击 Open default line library （此按钮是绿色）
在 MEASPARAMETERS 打开 MM 文件： 1 在工具栏，单击 Open 显示打开对话框； 2 选择需要打开的测量方法（MM 文件），然后单击 Open。
后两级权限需要在进入时就输入密码。
1 在 View 菜单，单击 Access Rights 显示选择所需进入权限对话框； 2 执行下列操作之一：
·
如果需要改变被保护谱线的峰位和背景位置：
a)
在 Password 项输入密码；
b)
单击 Change peak and background position 选项；
5
MEASPARAMETERS 脉冲高度分析
6 6.1 6.1.1 6.1.2
设置总体重校正条件 重校正原理 漂移校正 测量模式补偿
1
SPECTRAplus MEASPARAMETERS
6.1.3 6.1.4 6.2 6.3 6.4 6.5 6.5.1 6.5.2
总体重校正 兼容谱线 总体重校正逻辑 查看总体重校正条件 总体重校正选项栏里的管理参考样品 重校正数据的废除与净化 废除重校正数据 净化重校正数据
a)
在 Password 项输入密码；
b)
单击 Full control 选项；
c)
单击 OK。
注意： 最高权限的密码，在 SPECTROMETERCONFIGURATION 程序里的“Global Settings Password“里设置。
XRF--操作步骤--2009-12-17(SOP操作指导书)
3.皮革或布料样品，样品厚度或密度不够时，可以将几块订起来测试。
4.样品应置于样品腔的正中间，样品杯不够时，可以用小的无污染的PE样品袋代替。在排除干扰因素的前提下，测试结果异常时，应采用化学方法分析，或送第二方或第三方实验室检测。测试完每份样品，需对测试区进行无污染清洁。
3.按樣品室OPEN按鈕(正面的圓形按鈕)，以打開樣品室蓋。
4.將樣品放置在測量區域的中央位置，然后Байду номын сангаас手將台蓋往下壓，直到台蓋聽到卡的一声為止。
5.点击开始进行测试。
6.测试完后左下角会出现可以进行量测时，点击分析报告，就会出现成份的数据作成Word档案，并且保存。
三．注意事项
1.金属和塑料样品，样品厚度最好为1-2mm。塑胶颗粒最好是放在样品杯中测试。
XRF操作指导书
仪器名称
桌上型X射线荧光光谱仪（XRF）
厂商/型号
Seiko / SEA1000A
操作步骤
一.开机操作
1.打開位於儀器測量系統主機右後方的電源開關ON。
2.請按在測量系統的右下方的Power綠色開關，請確認開關確實變成綠色。
3.打開電腦螢幕和電腦的電源。
4.打開印表機的電源。
5.啟動X-ray軟體。
5.测试结束后，需参考《干扰元素分析表》，排除外界混入的理论上讲不该含有的元素后，方可输出报告。
四.關機程序
1.X-ray鑰匙向左旋轉後，使其成縱方向狀態OFF，軟體的左下方會出現（X射線關閉）訊號，此時X射線已關閉。
2.按測量系統的右上角的（結束軟體）按鈕，關閉X-ray軟體。
布鲁克XRF荧光光谱仪说明书 7-MeasMethod-测量方法
MeasMethod测量方法目录1 开始1.1 MEASMETHOD 的目标1.2 屏幕导向1.3 管理MEASMETHOD 文件1.3.1 启动MEASMETHOD 和创建新的测量方法1.3.2 打开和保存测量方法2 设置测量方法2.1 设置测量参数2.2 选择测量的元素2.2.1 在无标样方法2.2.2 在定量方法2.3 选择分析谱线2.4 查看和管理需要测量的谱线2.5 设置测量模式和时间2.5.1 理论知识介绍2.5.2 设置测量模式时需考虑的事项2.5.3 设置测量时间2.5.4 设置峰位测量2.5.5 设置背景测量2.5.6 设置死时间校正模式2.5.7 Scan-扫描选项的说明2.5.8 Fixed-固定选项的说明2.5.9 Optimized –优化选项的说明2.6 重校正选项索引MeasMethod1 开始1.1 MEASMETHOD 的目标MEASMETHOD保存和编辑MM文件，即定义用光谱仪测量样品时的测量参数。
这些参数包括：・光谱仪模式（vacuum-真空；vacuum with seal，真空并有真空封档，helium-氦气）・样品是否旋转・准直器面罩型号・测量模式・测量的元素及谱线・测量时间和步长・重校正样品谱线是保存在谱线库（S4-LineLibrary.fll1），并在MEASPARAMETERS 程序里编辑。
谱线由下列参数定义：X-射线管的管压、滤片、所用的准直器、分光晶体，2θ测量位置，所用的探测器、及对应的脉冲高度分析器(PHA)的窗口。
根据Siegbahn命名法则，谱线名称反映了电子的跃迁和产生（如 Fe KA1 是铁的Ka1 谱线）。
因此，同一条谱线可用于多个测量方法；可以在不同的条件（如：气氛模式、测量时间、面罩…）的测量，并可用于不同定量程序的校准。
测量条件在MEASMETHOD里定义，并补充该谱线的测量参数。
1.2 屏幕导向MEASMETHOD 屏幕包括：・标题内容有：项目说明Elements 当前方法测量的元素数Lines: Total 当前所选元素在谱线库可选的谱线总数（注意，如果没有元素被选时，也包括Compton 谱线）Total Time 如果测量是设置为Fixed，测量总时间Active 测量的谱线数Created 创建日期Last Change 最后修改・可进入6个设置选项栏。
XRF分析器用户手册说明书
4.1covered by the warranty.•Identify the flanged side of a sample cup ring.Flanged edge of the sample cup ringLift front end of retaining plate using a small screwdriver and hinge backwards.Cut a square of Mylar film from the roll provided and rest it gently over the aperture.Making a measurementDepress the oval silver button to open the lid and replace the copper target with the sam-ple of interest (prepared according to the instructions in section 10.2). Place the sample centrally over the detector before closing the lid.Press the PLAY button on START screen to reveal SAMPLE ID screen.Press the ENTER key on the keyboard to complete any changes and then press OK to begin the test. The screen will show the time elapsed since starting the measurement during the following 130 seconds.User settingsStarting from the HOME page, press the SETTINGS button to reveal the SETTINGSBluetooth printingPlug the XRF printer into a local power supply and hold down the power button for a second or two until it lights up green.Press the SCAN button and wait until “Qsprinter” appears as a local Bluetooth device. Press “Qsprinter” to highlight the device and then press CONNECT. Once the XRF unit and printer are connected, a blue tick will appear next to Qsprinter.Press PRINT to print out the results of the most recent test or press RETURN to go back to the USER SETTINGS page. Once the printer and XRF Analyser have been connected by Bluetooth, it is possible to print out results by pressing the blue icon that appears on the RESULTS page of every subsequent test.Touchscreen calibrationUnder normal circumstances there is no need to adjust the screen calibration. However, if finger presses do not correspond with activation of the underlying button, recalibration may be worthwhile.From USER SETTINGS page, press TOUCH SCREEN CALIBRATION.Carefully press and briefly hold finger on the centre of the target (cross). Repeat this process until the target disappears; press the screen once again to return to the USER SETTINGS page.A bell will sound after a few seconds to confirm successful re-initialisation.Time settingFrom the USER SETTINGS screen, press the TIME SETTING option to reveal a calendar/Use upward or downward finger strokes to highlight the desired year, month, day, hour and minutes and press OK to return to the USER SETTINGS screen.HistoryFrom the USER settings screen, press the HISTORY option to reveal the HISTORY screen. The HISTORY screen lists out all of the test result files stored by the instrument. If you wish to export the contents of all files as a .CSV spreadsheet, simply press EXPORT and then OK on the displayed confirmation dialogue box.After a few seconds the instrument will report that the files have been successfully exported.Connect the XRF Analyser to a laptop or PC using the USB port on the rear of the instrument (see Section 3). Windows will recognise the XRF Analyser as a USB mass storage device.Open the Test history folder to reveal a file entitled All_HistoryRecord.csv. Double click on the All_HistoryRecord.csv file to open the spreadsheet.Selected files can be deleted from the HISTORY screen list by ticking them and pressing delete. Press OK when the unit asks for confirmation. Similarly, all of the listed files can be removed from the HISTORY screen by pressing CLEAR.It is possible to return to the USER SETTINGS from the HISTORY screen at any point by pressing RETURN.Expert settingsThe SETTINGS screen has the option to select EXPERT SETTINGS (besides the USER SETTINGS displayed in section 11.3). However, access to the EXPERT SETTINGS menu screen is restricted by password and intended for factory diagnostic use only.15The key elements of an X-ray tube.Energy-dispersive XRF spectrometers usually incorporate either a silicon drift (SDD) or silicon pin (Si-PIN) detector. The substantially greater cost of an SDD is justified in higher end units, such as the Parker Kittiwake XRF Analyser, by better resolution and sensitivity.。
xrf操作规程
xrf操作规程XRF（X射线荧光光谱仪）是一种常用的无损分析技术，可以用于快速、准确地分析各种材料的元素成分。
为了保障操作的安全性和分析结果的准确性，使用XRF仪器的操作人员需要遵守一定的操作规程。
以下是XRF操作规程的一些建议，供参考。
1. 实验前准备：- 确保工作区域整洁，无杂物和尘土。
- 检查XRF仪器的运行状态，确保其正常工作。
- 确保配备必要的安全设施，如防护眼镜、手套、防护衣等。
2. 样品准备：- 根据实验需求，选择适当的样品制备方法，并确保样品制备过程符合标准操作规程。
- 严格控制样品的尺寸和形状，以确保分析结果的准确性。
- 要小心处理易燃、易爆和有毒物质，采取相应的安全措施。
3. 仪器操作：- 按照仪器的使用说明书进行仪器开启和关闭的步骤和操作。
- 仪器操作人员应接受专业培训，熟悉XRF仪器的操作系统和各项功能。
- 在操作过程中，要轻拿轻放，避免对仪器造成不必要的损害。
- 严禁操作人员以外的人员接触X射线仪器，并确保工作区域的人员安全。
4. 标样校准和质量控制：- 使用标准测试样品进行校准，确保分析结果的准确性和可靠性。
- 定期检查和校正仪器的校准曲线，以确保其准确性和稳定性。
- 使用定期检测的质量控制样品进行仪器性能验证，以确保仪器处于良好状态。
5. 分析操作：- 根据实验需求选择适当的分析模式和参数设置，确保分析结果的准确性。
- 保持仪器和样品的稳定温度和湿度，以减少因环境因素引起的测试结果误差。
- 仔细记录和标记每个样品的相关信息，以便后续的数据分析和处理。
6. 实验后处理：- 在实验结束后，彻底清洁和维护XRF仪器，确保其正常工作和寿命。
- 保存样品数据和分析结果，进行数据分析和比较。
- 及时处理发现的问题和异常情况，如仪器故障或测试结果异常，确保问题得到妥善解决。
总之，遵守XRF仪器的操作规程是确保实验结果准确性和人员安全的重要措施。
操作人员应严格按照规程要求进行操作，并在操作过程中保持高度的警惕性和责任心，以确保实验的顺利进行和结果的可靠性。
xrf荧光光谱分析仪的使用流程
xrf荧光光谱分析仪的使用流程英文回答：XRF fluorescence spectroscopy is a widely used analytical technique for the qualitative and quantitative analysis of various materials. The instrument used for XRF analysis is called an XRF fluorescence spectrometer. Here is a step-by-step guide on how to use an XRF fluorescence spectrometer:1. Sample preparation: Prepare the sample by grinding it into a fine powder. The sample should be homogeneous and representative of the material being analyzed.2. Instrument setup: Turn on the XRF fluorescence spectrometer and allow it to warm up for the recommended time. Ensure that the instrument is properly calibrated and all necessary safety precautions are followed.3. Sample loading: Carefully load the prepared sampleinto the sample cup or tray of the XRF fluorescence spectrometer. Ensure that the sample is evenly distributed and covers the entire surface area of the cup or tray.4. Measurement configuration: Select the appropriate measurement configuration based on the nature of the sample and the elements of interest. This includes selecting theX-ray tube voltage, current, and filter settings.5. Measurement procedure: Start the measurement procedure by initiating the X-ray source. The X-ray beam will excite the atoms in the sample, causing them to emit characteristic X-ray fluorescence radiation.6. Data acquisition: The XRF fluorescence spectrometer will detect and measure the intensity of the emitted X-ray fluorescence radiation. This data is then used to determine the elemental composition and concentration of the sample.7. Data analysis: Analyze the acquired data using specialized software or algorithms. The software will compare the measured intensities with a calibration curveor a pre-determined database to determine the elemental composition and concentration of the sample.8. Interpretation and reporting: Interpret the results obtained from the analysis and report the elemental composition and concentration of the sample. Thisinformation can be used for quality control, material identification, or research purposes.中文回答：XRF荧光光谱分析仪是一种广泛应用于各种材料的定性和定量分析的分析技术。
XRF操作指引
XRF操作指引X射线荧光光谱仪（XRF）是一种非破坏性的分析仪器，广泛应用于材料分析、环境检测、地质勘探、工业生产等领域。
本文将为您介绍XRF 操作指引，以帮助您正确、高效地操作这一仪器。
一、准备工作1.确认XRF仪器的工作状态，检查电源和仪器各部件是否正常。
2.准备待分析的样品，并将其拆解成小颗粒。
如果样品是固体，可使用研磨机对其进行研磨；如果样品是液体，可进行溶解处理。
3.初始化仪器并校准。
校准仪器前需要使用标准样品进行测试，确保仪器能够准确分析样品。
二、操作步骤1.打开XRF仪器电源，等待仪器初始化完成后，将待测试样品放入样品槽中。
2.选择合适的分析程序，不同样品需要选择不同的程序，确保分析的元素和参数正确。
3.根据样品类型和尺寸，调整XRF仪器的参数，如电压、电流、分析时间等。
确保参数的选择足够精确，以保证测量结果的准确性。
4.点击“开始测量”按钮，仪器开始工作。
这个过程中需要保持样品的稳定性，避免样品的颗粒移动或高温熔化等情况发生。
5.等待测量过程完成，仪器会自动显示分析结果，包括样品中各元素的含量及相对误差。
根据实际需要，可将结果存储到计算机或打印出来。
三、注意事项1.在操作XRF仪器前，必须佩戴防护眼镜、手套等个人防护设备，以确保使用安全。
2.仪器需要定期维护和保养，及时清理样品槽和探测器表面等部件，防止杂质积聚影响测量结果。
3.在使用XRF仪器时，应避免将样品暴露在高温、高湿度等环境下，以免对样品造成损害。
4.样品的制备过程需要注意，避免样品中掺杂杂质对测量结果的干扰。
若样品复杂，建议进行预处理，如溶解、稀释等。
5.长时间连续使用仪器会产生一定的热量，为避免过热，应定时进行冷却、休息。
四、故障处理1.若XRF仪器出现异常，如无法正常启动、测量结果异常等，应首先检查仪器电源、参数设置等是否正确。
总结：通过正确操作XRF仪器，我们可以得到准确的样品分析结果，为科研、生产等领域提供有力的数据支持。
布鲁克傅里叶变换红外光谱仪显微镜说明书
简介 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 25 冷却探测器 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 25 检查信号强度 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 27 观察模式下样品的摆放 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 29 透过模式下的测量 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 31 反射模式下的测量 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 32 使用 FPA 探测器进行测量 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 33
对该仪器的任何部件所做的任何维修调整和校准都必须严格按照当地国家的相关安全标准进行
布鲁克手持式光谱仪说明书
布鲁克手持式光谱仪说明书
1 TITAN手持式X荧光光谱仪重量轻（1.23kg，测量范围Mg-U）、是基于X射线管技术的手持式XRF分析仪。
快速的分析速度和准确性是S1 TITAN 的两大特性。
其他功能包括集成的彩色触摸屏、50kV X 射线管、SMART®Grade 计时、SharpBeam®优化X射线几何形状、硅漂移探测器，以及坚固的外壳，该外壳经过密封，可以防潮防尘。
S1 TITAN系列都采用了布鲁克公司的SharpBeam®技术，并配置了布鲁克技术X-Flash®SDD探测器，向您提供快速分析时间。
S1 TITAN可以配备各种校准装置，这些装置经过优化，适用于
各种样品材料—包括各种合金、不同的采矿与环境样品，以及受限制材料。
布鲁克手持式荧光光谱仪应用领域，QA/QC分析，材质识别(PMI) ，工厂/精炼厂PMI检测，废金属回收，航空航天用合金，金及贵金属
检测，矿山，矿石品位控制，岩芯分析，探矿，地质图，土壤分析，玩具中的铅，ASTM-F963，RoHS，包装中的毒物分析(TPCH)，儿童服
装中的铅筛查，提议65承诺。
布鲁克XRF荧光光谱仪说明书Loader进样器
1.4
启动 LOADER
1.4.1 启动 LOADER 和连接测量服务器
如其它 Windows 的应用功能，可从下列启动 LOADER： · 从任务栏的 Start 按钮：
1 单击 Start 按钮，然后指向 Programs； 2 指向 SPECTRAplus，然后单击 XRF Loader。
· 从 Windows Explorer 或 My Computer： 可从 Windows Explorer 或 My Computer 启动 LOADER，双击 LOADER.EXE 图标。
可选择： · 重试连接测量服务器：单击：Retry； · 放弃并退出 LOADER 程序：单击：Abort · 离线工作：单击 Ignore。离线工作在没有连接服务器仍可以编辑进样器。在此情形下，
稍后在 File 菜单单击 Connect to Server 再试连接测量服务器。
当其他终端已连接测量服务器时，监测栏里的 RD/WR 灯会亮，在测量过程中进行读写。
在 LOADER 创建新样品 在 LOADER 创建新样品 选择正确的方法 在 LOADER 编辑样品组位置 在 LOADER 选择几个位置 显示样品编辑界面 使用与预设不同的 DEF 文件 从样品编辑界面新建样品 在样品编辑界面输入数据 把样品编辑界面的内容输出到文本文件 查看 LOADER 里样品的属性 同一样品进行多次测量 改变在样品定义界面里的字体 使用 LOADER 图形工具创建新样品 使用 LOADER 图形工具创建新样品 从 LOADER 模拟进样器删除样品 设置其他属性 测量标准样品 测量重校正样品 复制样品 从 LOADER 模拟进样器中删除新样品
2 在水平和垂直方向相应的格子里输入放大的倍数； 3 单击 OK，关闭对话框并保存更改：程序重新布置模拟进样器。 连接到另一台测量服务器 如果希望把进样器连接到另一台测量服务器，而不是安装时的电脑，操作如下： 1 单击 Start 按钮，然后单击 Run； 2 在 Run 对话框，在下列行输入指令：
布鲁克XRF荧光光谱仪说明书 3-Getting Started-总体介绍
目录1 安装SPECTRA plus2 使用 SPECTRA plus第一步2.1 连接2.2 无标样测量2.2.1 预装的测量方法2.2.2 特殊测量方法2.2.3 分析结果的重新评估2.3 绘制校准曲线2.4 特殊应用3 登录3.1 登录的目的3.2 操作人员管理3.3 登录和退出3.4 在不同的Windows 用户中登录1 安装SPECTRA plus安装必须在管理员界面里进行。
安装程序需以管理员权限进入，以安装某些动态资料库（DLL 文件），特别是这关系到数据库的管理，和某些注册钥匙，如在.DEFAULT 文件夹。
如果没有进入管理员界面，请询问网络管理员取得此资格。
安装时，请参考”Installation notes”（它是与SPECTRA plus分开的另一文件），和安装光盘里的READMEFIRST.TXT 文件、INSTALLATION.PDF 文件。
安装术语・ Recalibration data diskette 重校正数据软盘：是随光谱仪一起交付的软盘，包括与用户光谱仪相对应的特定文件：硬件配置文件和谱线库。
在首次安装时必须安装，但不要用于升级：因为在使用了一段时间后，谱线库里会加进用户自己定义的谱线，硬件配置文件也可能进行了修改，如果重新安装时再使用重校正数据软盘里的数据，仪器就回到了出厂时的状态，用户加进去的内容会被删除，。
・ Master diskette 母盘：是随初始SPECTRA plus软件包一起交付的软盘，内有信用证。
在第一次安装时信用证被转移到硬盘。
如果您想卸载软件，如，将软件安装至另一台电脑或其他目录，不要忘了把信用证转移回母盘，然后再转安装至其他地方。
如果只是软件升级，没有改变目录，建议把信用证留在硬盘以避免误操作。
信用证的管理，见L_WIZARD程序。
快捷键图标程序手册・章无L_WIZARD.EXE 11只是在安装或卸载SPECTRA plus软件时才需要转移信用证，在通常情况下不要安装或卸载SPECTRA plus软件，也就不要用L_WIZARD去转移信用证。
XRF光谱分析仪作业指导书
制訂日期：2008/08/08 版本：AXRF光譜分析儀作業指導書一．目的：為了使操作人員更好的了解掌握XRF光譜分析儀的使用方法，對有害物質做到有效的的監測，防止含有HS的外購成品、半成品、原材料流入工廠和防止制程中的半成、成品受到污染流入客戶端。
二.范圍：XRF系列光譜分析儀均適用之三.權責：1.本文件制定與修訂:品管部2.本文件執行: 品管部3.本文件需經本公司環境管理物質技術委員會核準四.術語和定義：4.1. X-射线荧光光谱：作为一种比较分析技术，在较严格的条件下用一束X射线或低能光线照射样品材料，致使样品发射特征X射线。
这些特征X射线的能量对应于各特定元素，样品中元素的浓度直接决定射线的强度。
该发射特征X射线的过程称为X射线荧光或XRF。
4.2.X-射线激发源：通常是X-射线管或放射性同位素。
4.3X-射线探测器：检测X射线光子的装置，并能把它的能量按照光子的振幅比例来转化为具有电子能量的脉冲。
X-射线荧光光谱仪用的探测器必须满足所有波长谱线的需要才能达到表1中列出的测量样品的极限。
4.4XRF谱图的推荐分析谱线表1：单个分析物的特性X-射线五.校驗及點檢設備：5.1.打開XRF光譜分析儀，先熱機30分鐘，按《Xlt-797Wz重金屬元素分析儀操作手冊》對設備進行自檢，然後使用塑膠標準片點檢設備，並把測試數據記錄與“點檢記錄表”，對比測試數據是否在可接受范圍內。
5.2.若測試數據超過標準范圍，用酒精清洗設備測試窗口，然後再測試塑膠標準件。
5.3.設備測試窗口要定期(1禮拜/次)使用酒精清洗，使窗口保持清潔，以免影響設備的準確性。
審核：制訂：22mm12mm圖1：測量窗口圖2：樣品杯。
XRF光谱仪操作指导书
2）、单击菜单“参数设置”中的“初始化”。系统会自动提示“请放入Ag校正片，换好后按确定”，放入银校正片，点击“确定”。初始化成功后，状态栏的峰通将显示1105道，否则，重新进行初始化。
3）、为了保证测量的效果，一般将初始化的过程进行2至3遍。
4、设置测量时间
2、使用、保存和搬动中，要特别小心，以免磕碰、损伤外表、损坏内部线路。
3、为使仪器能长期工作正常，需定期对各项参数进行测试，并进行调整。
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三、操作使用方法：
1、首先确定仪器和计算机以及电源之间的边线正确无误。
2、开机预热
打开总电源后，先开光谱仪主机电源，然后打开计算机主机电源。预热30分钟或任意放入一个样品，将测量时间设定为2000秒。（刚打开仪器状态还不稳定，测量的结果不可靠）。
预热完之后，仪器即可正常工作。
3、初始化Байду номын сангаас
初始化可以让仪器的各方面的设置都恢复到位，各元素回到正确轨道上。下面介绍自动初始化：
选择菜单“参数设置”下的“测量时间”项，在出现的对话框中输入预时间，按下“OK”即可。根据经验，RoHS测试时间一般设置为：200秒。
5、选择测量曲线（测试类型）
点击“工作曲线”中的“选择工作曲线”，在出现的对话框中进行选择，然后“确定”即可。
6、测量开始
点击工具栏的开始图标，会弹出一个提示窗口：“请更换X号准直器”按照这个提示换上合适的准直器。（准直器的选定，由选择工作曲线确定）点击“OK”即可。
然后，系统会出现提示“请输入样品名称”的窗口，输入样品名称，点击“OK”即可。（样品名称可以为空格，但不要选择“cancel”，因为这样系统会拒绝测量）此时系统即开始自动按照选定的工作曲线测试样品。（样品名称不能与已存在的谱线重名，否则会覆盖）
X荧光光谱仪使用方法
S1 TURBOSD 用户手册
手持式X荧光光谱仪 S1 TURBOSD
用户操作手册
适用于： S1 TURBOSD S1 TURBOSD LE S1 TURBOSDR
中国总代理 北京华欧世纪光电技术有限公司
地址：北京海淀区西三环北路 72 号世纪经贸大厦 B 座 1808 室 (100048) 电话： （010）88820040/41/42/43 传真： （010）88820045 E-mail： volwin@
S1 TURBOSD 用户手册
用户说明
布鲁克S1 TURBOSD为便携手持式X射线分析设备。在美国食品药物管理局（FDA）注册，注册编号0191097-01。 任何购买使用X射线分析仪的用户都可获得用户使用说明。
每台S1 TURBOSD仪器箱中都配有用户手册，以对常规操作提供必要指导。手册包含六个章节，对如何安全使用 （操作）做了重要说明。第2章是对操作者的具体安全要求。
S1 TURBOSD 用户手册
2
安全条款和符号
一定要花一点时间来阅读如下安全条款和符号，以防因误操作而损坏仪器，伤害自己或他人。这些符号可能出 现在这本手册或设备中。
注意：表示何种情形或做法可能会导致本产品损坏或其他财物损坏。
重要声明：表示对故障自由处理办法及提供给您的信息。 注意：识别其他有用信息或外部参考。
第6章 故障诊断-------------------------------------------------------------------28
x射线荧光光谱仪 理学 布鲁克 赛默飞
文章标题：探索x射线荧光光谱仪在布鲁克理学中的应用在现代科学领域中，仪器设备的先进性和精准性对于科研工作者来说至关重要。
其中，x射线荧光光谱仪（XRF）作为一种分析仪器，在布鲁克理学领域中扮演着重要的角色。
本文将深入探讨XRF的原理、应用以及在布鲁克理学中的具体作用，为读者呈现一幅全面、深入的科学画卷。
1. XRF技术概述X射线荧光光谱是借助样品受X射线激发后发射的荧光X射线，通过光子计数测定样品中元素种类和含量的一种无损测定方法。
XRF技术因其快速、准确、非破坏性的特点，被广泛应用于地质、化工、环境、材料等领域。
2. XRF在布鲁克理学中的应用布鲁克理学是研究物质的基本结构和性质的科学，涉及到原子、分子、晶体结构等方面。
而XRF作为一种优秀的元素分析仪器，可在布鲁克理学研究中发挥重要作用。
通过XRF技术，可以快速准确地分析样品中各种元素的含量及其在晶体结构中的分布情况，为布鲁克理学研究提供了重要的实验手段。
3. XRF在布鲁克理学中的实践应用以布鲁克实验室为例，XRF在布鲁克理学研究中的应用已经取得了许多重要成果。
研究人员通过XRF技术，对材料的成分和结构进行了深入的分析，揭示了许多物质的微观性质，为理论研究和实际应用提供了有力支持。
4. 个人观点与总结作为XRF技术在布鲁克理学中的应用者，我深切认识到了这一先进技术的重要性。
其快速、准确的分析功能，为我们解开物质的奥秘提供了强有力的支持。
我也认为在XRF技术的应用过程中，我们需要不断提高自身的技术水平，保证分析结果的准确性和可靠性。
5. 知识文章格式按照非Markdown格式的普通文本撰写，遵循知识文章格式，让读者在轻松阅读的同时能够深入了解XRF技术在布鲁克理学中的应用。
总结回顾：通过本篇文章，我们深入探讨了XRF技术在布鲁克理学中的重要应用。
文章从XRF技术的基本原理开始介绍，然后详细阐述了它在布鲁克理学研究中的实际应用情况。
我们也共享了个人对XRF技术的理解和使用体会。
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目录1 安装SPECTRA plus2 使用 SPECTRA plus第一步2.1 连接2.2 无标样测量2.2.1 预装的测量方法2.2.2 特殊测量方法2.2.3 分析结果的重新评估2.3 绘制校准曲线2.4 特殊应用3 登录3.1 登录的目的3.2 操作人员管理3.3 登录和退出3.4 在不同的Windows 用户中登录1 安装SPECTRA plus安装必须在管理员界面里进行。
安装程序需以管理员权限进入，以安装某些动态资料库（DLL 文件），特别是这关系到数据库的管理，和某些注册钥匙，如在.DEFAULT 文件夹。
如果没有进入管理员界面，请询问网络管理员取得此资格。
安装时，请参考”Installation notes”（它是与SPECTRA plus分开的另一文件），和安装光盘里的READMEFIRST.TXT 文件、INSTALLATION.PDF 文件。
安装术语・ Recalibration data diskette 重校正数据软盘：是随光谱仪一起交付的软盘，包括与用户光谱仪相对应的特定文件：硬件配置文件和谱线库。
在首次安装时必须安装，但不要用于升级：因为在使用了一段时间后，谱线库里会加进用户自己定义的谱线，硬件配置文件也可能进行了修改，如果重新安装时再使用重校正数据软盘里的数据，仪器就回到了出厂时的状态，用户加进去的内容会被删除，。
・ Master diskette 母盘：是随初始SPECTRA plus软件包一起交付的软盘，内有信用证。
在第一次安装时信用证被转移到硬盘。
如果您想卸载软件，如，将软件安装至另一台电脑或其他目录，不要忘了把信用证转移回母盘，然后再转安装至其他地方。
如果只是软件升级，没有改变目录，建议把信用证留在硬盘以避免误操作。
信用证的管理，见L_WIZARD程序。
快捷键图标程序手册・章无L_WIZARD.EXE 11只是在安装或卸载SPECTRA plus软件时才需要转移信用证，在通常情况下不要安装或卸载SPECTRA plus软件，也就不要用L_WIZARD去转移信用证。
2 使用 SPECTRA plus第一步这部分是使用SPECTRA plus软件的指引。
下面，我们假设新的X-射线荧光光谱仪在您的实验室刚安装完毕，您需要进行第一个分析任务。
2.1 连接安装SPECTRA plus后的第一个步骤是建立SPECTRA plus的操作人员注册表（至少有一人），此注册操作是在SPECTRALOGON，在后面论述。
快捷键图标程序手册・章Logon SPECTRALOGON.EXE 在introduction 后2.2 无标样测量2.2.1 预装的测量方法SPECTRA plus交付时包含有在原厂预校准的X-射线谱线库，并在安装时由Bruker-AXS公司的工程师现场校准2。
籍此功能，您可以根据样品中存在的元素，选择与之对应的预校准谱线，建立测量方法，就得出定量分析结果。
SPECTRA plus交付时预装了一些无标样测量方法，下表是其中几个例子：测量方法说明Fast-He34.MM ・测量（几乎）全部元素・仅HS(高灵敏度)谱线・氦气模式・ 10 秒/谱线Fast-V a34c.MM ・测量（几乎）全部元素・仅HS（高灵敏度）谱线・真空模式・ 10 秒/谱线・常用的测量方法方法之一，用于快速无标样分析，约需12分钟MultiRes-He34.MM ・测量（几乎）全部元素・测量HR(高分辨率) 和KB 谱线（每元素多至3条谱线）・氦气模式・10 秒/谱线MultiRes-Vac34.MM ・测量（几乎）全部元素・测量HR(高分辨率) 和KB 谱线（每元素多至3条谱线）・真空模式・10 秒/谱线・常用的测量方法方法之一，用于样品较复杂，谱线重叠严重的情况，测量时间较长。
______________________________________________________________________________2光谱仪的调整包括：2θ峰位校准，每块晶体/探测器 偶合的探测器高压校准，PHA 峰的选择，强度的校准。
可从LOADER 开始这些程序的测量。
快捷键 图标程序 手册・章LoaderLOADER.EXE2这程序可在摸拟的进样器里设置样品。
您需要做的是根据样品属性表的第一行的提示输入与样品有关的参数及测量方法。
样品属性表的结构可根据样品类型或实验室习惯编排。
表的结构是一个文件，后缀是.DEF 。
SPECTRA plus 随交付有几个DEF 文件，在下表说明。
在LOADER ，在Samples 菜单使用 Definition File 指令，调出DEF 文件。
DEF 文件名样品参数MeasurementMethods 日常测量（定量分析） AXS-28, AXS-34等 半定量测量OrigLOI玻璃融片，包括已知烧失量（样品未灼烧）Orig-g （样品重量，克） added-g （熔剂重量，克） LOI （烧失量）IgnitedOrigLOI玻璃融片，包括已知烧失量（样品已灼烧）IgnitedOrig-g （已灼烧样品重量，克） added-g （熔剂重量，克） LOI （烧失量）IgnitedTotal玻璃融片包括在融片过程中的烧失量Orig-g （样品重量，克） added-g （熔剂重量，克）ignitedTotal-g(已灼烧总重量，克) Liquid液体或松散粉末样品，需在液体样品杯里测量，需要校正厚度Total-g(总重量，克)Diameter-cm （直径-cm ） LiquidDilution稀释液体或松散粉末Orig-g （样品重量，克） added-g （熔剂重量，克） total-g (总重量，克)Diameter-cm （直径-cm ） LowMass 固体样品，需不饱和厚度校正，如聚合物total-g (总重量，克)Diameter-cm （直径-cm ）参数定义如下：参数 参数说明Orig-g样品重量，克IgnitedOrig-g 已灼烧样品原始重量，克 Added-g 添加剂（如：熔剂），克Total-g 制备样品质量（样品重量+添加剂重量），克 LOI灼烧减量，%Diameter-cm样品/液体杯直径，cm当然，必须确认模拟进样器里的样品与样品的实际放置一致（需测量的样品必须在正确的位置，正确地定义）。
样品放好并检查无误后，就可以从LOADER 开始测量。
测量当前的样品测量所有已定义的样品2.2.2 特殊测量方法如果您想创建更多的测量方法，请运行MEASMETHOD 。
快捷键 图标程序手册・章MeasMethod ProgramMEASMETHOD.EXE6使用QUERYRES 程序查看并打印保存在Measure.mdb 测量数据库里的结果。
在RESULTS ＭANAGER 程序中，可以定义打印格式。
在RESULTS MONITOR 程序中，在QUERYRES 的监控模式是在线的：样品测量完成后，QUERYRES 在屏幕上自动显示所选结果，并可选是否打印出来。
此外，QUERYRES 可同时在网络上的多台电脑上运行，这样在任何地方都可以监控实验结果。
快捷键 图标程序手册・章Results MonitorQUERYRES.EXE/RESULTS MONITORResults Manager QUERYRES.EXE/RESULTS MANAGER32.2.3 分析结果的重新评估由于某些原因，分析结果有时需要重新处理，如：・您想观察一下谱线，检查是否有谱线重叠・想输入一些样品的化学或物理信息，以改善分析结果这些功能在EVAL（定量和定性交互评估程序）中实现。
2.3 绘制校准曲线到目前，我们只应用了预校准谱线。
对特定的材料和您所拥有的标准样品还可以建立定量分析程序。
使用合适的标准样品，可以提高分析的准确性。
这个绘制校准曲线的程序是FQUANT，软件里这部分的功能非常强大，只需用鼠标进行有限的操作，就可以提高校准曲线的质量。
快捷键图标程序手册・章QuantificationFQUANT.EXE 5Editor另一有趣的独特功能，您甚至可以在FQUANT绘制校准曲线时应用预校准谱线。
试想，公司里有某材料已建立定量分析曲线，但被要求分析一个或数个额外的元素。
通常，管理层需要立即进行分析，而不理会实验室有没有相应的标准样品。
得益于此功能，您只需加入新增元素的预校准谱线，就可以分析新元素而不需要相应的标准样品。
日后得到合适的标准样品时，再改善预校准谱线，进行新的校准。
全部预校准谱线（波长大于6？除外）采用了基于XRF基本参数法理论的变动α系数法进行计算。
对于您自己建立的校准曲线，您可以用变动α系数法（当您的所分析的成分的含量范围较大时，建议用此方法），也可以用固定α系数法（也是基于ＸＲＦ基本参数法），但只适用含量范围较小的情况。
为了与ＳＰＥＥＣＴＲＡ ３０００和其他方法兼容，也包括经验α系数和内标法。
用前面已提及的ＭＥＡＳＭＥＴＨＯＤ程序选择测量谱线。
您可能还需要检查某些谱线的设置（角度设置、探测器的脉冲高度分析器设置等）。
这工作在MEASPARAMETERS 进行。
有时候您可能需要对测量结果进行计算，如希望输出各成分的含量比、计算总量等等。
这个计算称Module（模块），在程序MODULES 里进行。
2.4 特殊应用第九部分以后的程序很少使用，是用于满足一些特殊应用：・在LOADER 程序，可把样品送至测量。
因此，需要指定样品在进样器中确定位置、测量方法、样品名、以及保存数据的地方。
需要指出的是，指定样品的这些属性有不同的方法，实验室可用最好及最习惯的方法，采用SAMPLEDEF程序可以对样品的属性对话框可以新建和修改，使样品信息的输入更有效率。
快捷键图标程序手册・章无SAMPLEDEF.EXE 9在软件中，必须给出光谱仪完整和准确的配置，这个配置可以检查，也可以更改。
这个设置程序是SPECTROMETERCONFIGURATION。
在这里才予以说明是因为Bruker-AXS工程师在安装时已给您设好。
以后，如果您对光谱仪硬件有任何改变（例如：更换了更薄的流气计数器窗膜），必须运行SPECTROMETERCONFIGURATION。
3 登录3.1 登录的目的SPECTRA plus把分析结果与操作人员的姓名一起保存，以便数据追溯。
因此，在操作前，操作人员需要“Log on”（登录），以表明正在电脑上操作的操作人员。
在离开前，“Log off ”（退出），以表示该操作人员已退出操作。
如没有操作人员登录时，SPECTRA plus不能工作。
如果不需要此功能，如只有一个操作人员，就在安装时登录，并永远不退出，这个登录者的姓名就一直保存在计算机里。