非晶硅薄膜晶体管

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薄膜晶体管(tft)作用 工作原理 材料工艺

薄膜晶体管(tft)作用 工作原理 材料工艺

薄膜晶体管(tft)作用工作原理材料工艺薄膜晶体管(Thin-Film Transistor,简称TFT)是一种用于电子显示器和面板的非晶硅制造技术。

它是一种重要的半导体器件,用于控制显示像素的亮度和颜色。

TFT晶体管的作用、工作原理和材料工艺会在下文中详细阐述。

一、薄膜晶体管的作用薄膜晶体管作为电子显示器的关键组件,主要用于控制每个像素的亮度和颜色。

在液晶显示器(LCD)和有机发光二极管显示器(OLED)等显示技术中广泛应用。

TFT晶体管类似于一个电子开关,可以打开和关闭每个像素的电流,从而控制其亮度。

TFT晶体管还可以精确地控制每个像素的亮度,使得显示器能够产生清晰、细腻和真实的图像。

二、薄膜晶体管的工作原理TFT晶体管的工作原理可以简单地理解为:通过控制栅极电压来控制漏极和源极之间的电流流动,进而控制每个像素的亮度。

TFT晶体管由四个主要部分组成:栅极、源极、漏极和沟道。

当栅极电压为低电平时,沟道中的导电层不会被激活,从而阻断了源极到漏极之间的电流。

当栅极电压为高电平时,控制电压作用于沟道中的导电层,使它导电,从而允许电流流动。

三、薄膜晶体管的材料工艺1. TFT的制造材料主要的材料是非晶硅(a-Si)或多晶硅(poly-Si)薄膜。

非晶硅具有较高的电子迁移率,且制备过程相对简单,适用于较低分辨率的液晶显示器。

而多晶硅具有更高的电子迁移率,适用于高分辨率和高速刷新率的显示器。

2. TFT的制造过程(1)基板清洗:通过清洗去除基板表面的杂质、油脂和顶层材料等。

(2)锗沉积:在基板表面沉积一层锗,提供后续的结合层。

(3)透明导电氧化锌(TCO)沉积:沉积一层透明导电氧化锌薄膜,用于制作栅极。

(4)非晶硅或多晶硅沉积:在TCO层上沉积非晶硅或多晶硅薄膜,用于制作薄膜晶体管的主体部分。

(5)金属电极沉积:用金属沉积技术在非晶硅或多晶硅层上制作源极和漏极。

(6)栅极沉积:利用光刻和蒸发技术将栅极沉积在金属电极上。

tft 原理

tft 原理

tft 原理TFT 原理解析1. 什么是 TFT?TFT(Thin Film Transistor)即薄膜晶体管技术,是一种常用于显示器的技术。

它由许多非晶硅或多晶硅制成的薄膜晶体管组成,通过控制这些晶体管的导通和截断,来调节显示器中每个像素的亮度和颜色。

2. TFT 的工作原理TFT 液晶显示器主要由以下几个部分组成:•玻璃基板:作为显示器的基础,上面覆盖着液晶层。

•液晶层:由液晶分子构成,具有特殊的光学性质。

•偏振片:位于液晶层的两侧,用于控制光线的传递方向。

•薄膜晶体管阵列:作为电路驱动层,控制每个像素点的亮度和颜色。

•后光源:位于显示器的背后,为显示器提供光线。

下面是 TFT 显示原理的工作流程:1.输入信号:将需要显示的信息输入至电路驱动层,通常是通过显卡发送信号。

2.液晶分子排列:液晶层中的分子会随着所加电压的不同而变化,由无序排列转变为有序排列。

3.导电膜激活:电路驱动层会向薄膜晶体管阵列中的导电膜加上适当的电压,激活液晶分子的排列变化。

4.光线调节:根据导电膜的导通情况,液晶分子的排列会使光线通过或阻挡,从而调节像素点显示的亮度和颜色。

5.提供光源:后光源向显示器背面提供光线,通过有序的液晶分子排列,光线会经过液晶层的调节,最终形成清晰的图像。

6.显示效果:调节每个像素点的亮度和颜色,将图像显示在屏幕上。

3. TFT 相对于其他技术的优势相比于传统的液晶显示器,TFT 技术具有以下优势:•快速响应:TFT 液晶显示器的刷新率较高,可以实现快速响应,降低运动模糊现象。

•节能环保:TFT 液晶显示器使用非常低的电流,相比于CRT 显示器,能够显著降低能耗。

•视角广:TFT 液晶显示器具有较大的视角范围,可以在不同角度下保持图像的清晰度。

•色彩还原好:TFT 液晶显示器能够准确还原图像的色彩,显示效果更为逼真。

•尺寸轻薄:由于薄膜晶体管阵列的设计,TFT 液晶显示器可以制造得非常轻薄,适合各种场合的使用。

tft 工作原理

tft 工作原理

tft 工作原理
TFT(Thin Film Transistor,薄膜晶体管)是一种用于液晶显
示器的关键技术,其工作原理主要涉及薄膜晶体管的操作方式和液晶分子的取向控制。

在TFT液晶显示器中,每个像素点都对应着一个薄膜晶体管,这种晶体管一般采用非晶硅或多晶硅材料制成。

晶体管的作用是根据控制信号来控制液晶分子的排列方式,从而实现像素点的亮度和颜色的改变。

薄膜晶体管由四个主要部分组成:源极、栅极、漏极和薄膜。

液晶显示器中的每个像素点都有一个对应的薄膜晶体管,通过控制这些晶体管的开关状态,可以控制液晶分子的取向。

具体来说,液晶分子可以根据电场的方向调整自身的取向。

当薄膜晶体管处于导通状态时,电流会流过源极和漏极之间的通道,形成一个电场。

这个电场会使得液晶分子排列成垂直于平面的方式,从而使得光无法通过液晶分子。

当薄膜晶体管被关闭时,通道中的电流停止流动,液晶分子会逐渐恢复到一种可以让光通过的排列方式。

通过控制晶体管的开关状态,可以改变液晶分子的排列方式,进而实现对像素点亮度和颜色的控制。

除了薄膜晶体管,TFT液晶显示器中还包括其他关键元件,如面板基板、扫描电路和数据电路等。

这些元件共同作用,使得TFT液晶显示器能够准确地显示出图像和文字。

总的来说,TFT液晶显示器的工作原理是通过控制薄膜晶体管的开关状态来调整液晶分子排列方式,从而实现像素点的亮度和颜色的改变。

基于柔性衬底非晶硅(aSi)薄膜晶体管(TFT)制备技术研究

基于柔性衬底非晶硅(aSi)薄膜晶体管(TFT)制备技术研究

图1-3几种硅结构的网络卧1司制备非晶硅的方法主要有化学气相沉积法(CVD)和物理溅射法。

物理溅射法工艺简单,薄膜中硅的悬挂键密度较高,质量较差。

PECVD是一种常用的制各非晶硅的CVD法,它可以制各出质量较高的氢化非晶硅fa.Si:H)。

例如Dundee小组在用场效应法研究a.Si能隙中的态密度分布的基础上,率先进行了a-Si:H场效应器件的原理和结构的开发工作【懈。

目前,a-Si:HTFT-LCD已经大量市场化,给人们的生活带来了很大的方便。

近年来,a.SiTFT_LCD的研究主要集中在TFT结构的优化和像素开口率的提高上面,但是由于非晶硅(a.si)固有的载流子迁移率低导致的器件工作速度慢的问题还没有得到根本解决,所以a.SiTFT-LCD需要配有专用的驱动电路来驱动各个像素。

目前大都采用专门设计的CMOS集成电路芯片,利用TCP和COG技术,把专用驱动电路芯片与a.SiTFT阵列的行与列的引出电极连接起来。

这种连接方法,会降低产品的合格率,增加成本。

因此,需要将驱动电路和像素单元集成在同一块基板上。

集成化电路中通常的驱动电路的工作频率在几到几十兆赫,而a—SiTFT中的电子迁移率仅有零点几cm2/v-s,不能满足工作频率的需要。

另外由于a—Si中电子和空穴的迁移率有数量级的差别,一般实际应用中往往采用n沟道模式,而不制作P型的TFT。

因此a.Si不能用来制作TFT-LCD的驱动电路。

为了解决a.SiTFT的上述问题,研究人员发展了多晶硅(p.S-)技术n7l。

多晶硅的网络结构如图1-3所示。

p.si材料的载流子迁移率可以高达几百cm2 ̄·S,所以p—SiTFT的速度可以满足驱动电路的要求,并且p.SiTFT能够实现n+、P+两种类型的掺杂,能制作NMOS和PMOS两种类型的TFT,即P—SiTFT能制6中山大学硕士学位论文图1_4TFT原理图如图1-4(b)所示,TFT应用时一般需要在栅源、源漏问分别加激励电压Vcs和Vos。

非晶硅薄膜晶体管模型的分析和研究的开题报告

非晶硅薄膜晶体管模型的分析和研究的开题报告

非晶硅薄膜晶体管模型的分析和研究的开题报告一、选题背景及意义非晶硅薄膜晶体管(a-Si TFT)是一种新型平面显示器件,广泛应用于液晶显示器、有机发光二极管等电子产品中。

非晶硅薄膜晶体管具有制造工艺简单、面积大、成本低等优点,但是其具有漏电流大、温度稳定性差等缺点,影响其稳定性和可靠性。

因此,对非晶硅薄膜晶体管的模型分析和研究具有重要意义。

目前,国内外对非晶硅薄膜晶体管的研究主要集中在器件结构设计、表征方法以及制造工艺等方面。

而针对非晶硅薄膜晶体管的模型分析和研究相对较少,如何建立和改进非晶硅薄膜晶体管的模型,提高器件的性能和可靠性,是近年来一个重要的研究方向。

二、主要研究内容本课题主要研究内容包括以下几个方面:1.分析非晶硅薄膜晶体管的物理模型,建立相应的模型方程,探究器件运行特性的规律。

2.通过数值计算和仿真模拟,分析非晶硅薄膜晶体管在不同工艺条件下的电学参数,同时评估其性能和可靠性。

3.结合实验数据对模型进行验证,并对模型进行改进和优化。

三、预期研究结果本研究预计取得以下研究成果:1.建立非晶硅薄膜晶体管的物理模型,分析器件运行特性的规律。

2.数值计算和仿真模拟结果,发现不同工艺条件下非晶硅薄膜晶体管的电学参数,并评估其性能和可靠性。

3.模型验证结果,优化模型,并提高模型的预测能力。

四、研究实施与进展计划1.文献调研和阅读,建立非晶硅薄膜晶体管的物理模型,初步验证模型,并进行相关的仿真分析。

2. 设计实验程序,对器件进行实验测试,获取关键电学参数。

3.利用MATLAB进行数据分析与处理,改进和优化模型。

4.编写科研论文和报告。

本课题计划在两年内完成。

第一年主要进行理论分析、计算和仿真模拟;第二年将针对实验数据进行分析和验证,并对模型进行改进和优化。

同时,及时向导师进行汇报,进一步改善研究计划。

基于柔性衬底的非晶硅(a-Si)薄膜晶体管(TFT)制备技术的研究的开题报告

基于柔性衬底的非晶硅(a-Si)薄膜晶体管(TFT)制备技术的研究的开题报告

基于柔性衬底的非晶硅(a-Si)薄膜晶体管(TFT)制备技术的研究的开题报告
一、研究背景
非晶硅(a-Si)薄膜晶体管(TFT)是一种重要的电子器件,广泛应用于显示器、平板电视、智能手机等电子设备中,因其制造工艺简单、成本低、耗电低等优点而备受青睐。

然而,传统的a-Si TFT在某些方面存在局限性,如响应速度慢、温度稳定性差、电流稳定性差等问题。

为了解决这些问题,近年来,研究者们开始通过构建柔性衬底,改进非晶硅薄膜的生长方法,提高电路性能。

二、研究内容
本研究计划采用柔性衬底技术,研究嵌入复合介质层的非晶硅薄膜晶体管的制备方法,并探究其电学特性和稳定性。

研究内容包括以下几个方面:
1、采用化学气相沉积(CVD)技术在柔性衬底上生长非晶硅薄膜;
2、设计并制备嵌入复合介质层的非晶硅薄膜晶体管;
3、测试电学特性,包括开关特性、场效应迁移率、亚阈值摆幅等;
4、研究柔性衬底的压力、弯曲等应力对电路稳定性的影响;
5、比较新制备的薄膜晶体管与传统的a-Si TFT的性能差异。

三、研究意义
本研究的发现将为新型柔性TFT的制备提供重要的支持,也将有助于推动非晶硅薄膜晶体管的应用领域拓展。

此外,研究过程中也可以探讨其他晶体管的制备技术,拓宽相关技术的应用范围。

tft器件的4种结构

tft器件的4种结构

tft器件的4种结构
TFT(薄膜晶体管)器件的常见结构包括:
1. a-Si TFT(非晶硅薄膜晶体管):这种结构使用非晶硅材料作为半导体层,可在玻璃或塑料基板上制造。

它具有较低的生产成本和较好的稳定性,但响应速度较慢。

2. LTPS TFT(低温多晶硅薄膜晶体管):这种结构使用低温多晶硅材料作为半导体层,通过高温退火使其结晶化。

LTPS TFT具有较高的电子迁移率,可以实现更快的响应速度和较高的分辨率。

3. IGZO TFT(铟镓锌氧薄膜晶体管):这种结构使用铟镓锌氧化物(IGZO)作为半导体材料,具有高电子迁移率和较好的电学性能。

IGZO TFT可以实现更高的分辨率、更快的响应速度和较低的功耗。

4. Oxide TFT(氧化物薄膜晶体管):这种结构使用氧化物材料(如氧化铟锡)作为半导体层,具有较高的电子迁移率和较好的稳定性。

Oxide TFT可以实现高分辨率、高刷新率和低功耗的显示效果。

非晶氧化物半导体材料及薄膜晶体管的研究进展

非晶氧化物半导体材料及薄膜晶体管的研究进展

非晶氧化物半导体材料及薄膜晶体管的研究进展◎马梦阳明雪梅张鑫王超*一、引言近年来,显示技术快速更新换代,相关产品如平板电脑、智能手机、高清电视等随技术发展向更加便携、集成化、智能化趋势发展。

目前,传统主流的平板显示技术包括有源矩阵液晶显示(AMLCD )及有源矩阵有机发光二极管显示(AMOLED ),而在这两大显示技术中,薄膜晶体管(Thin Film Transistor,TFT )背板技术都是其核心关键技术。

而新兴技术micro-LED 也可以使用TFT 进行驱动。

因此可以说,在迅速发展的显示技术中,薄膜晶体管TFT 技术占有重要地位,作为显示驱动的关键器件,薄膜晶体管的性能将影响着整体的显示质量和性能。

薄膜晶体管(TFT )广泛应用在大尺寸液晶平面显示。

目前,商业化的TFT 主要包括以下几类:一是传统硅基TFT,包括氢化非晶硅(a-Si:H TFT )、低温多晶硅(LTPS TFT,二是有机材料TFT,三是金属氧化物TFT,主要是非晶氧化物(AOS )TFT。

其中,传统非晶硅薄膜晶体管工艺虽已比较成熟,但由于其迁移率较低(不到1cm 2/Vs )、电学可靠性较差等原因,已不能满足新型显示技术的需求。

多晶硅TFT 相对而言,迁移率较高(50~100cm 2/Vs )、稳定性好,可以满足高端显示器的要求,但是生产工艺复杂、成本高、薄膜均一性差、原材料要求较高,且制备温度较高,大大限制了其商业化应用;有机薄膜晶体管具有制备均一性好、柔性强等优点,但是其稳定性极差;而非晶氧化物半导体材料(AOS )由于具有较高的载流子迁移率、对可见光的透过率高、大尺寸均匀性、良好的电学稳定性和制备工艺相容性,为超高清大屏显示、透明电路、柔性显示等新一代显示技术带来了发展契机,受到越来越多的关注。

相应地,AOS-TFT 具有很多优越的性能如较高的迁移率、良好的偏压和光稳定性、易于低温制备等,成为TFT 领域的研究热点。

薄膜晶体管研究进展

薄膜晶体管研究进展

薄膜晶体管研究进展许洪华1,徐 征2, 黄金昭2,袁广才2,孙小斌2,陈跃宁1(1.辽宁大学 物理系,沈阳 110036 ; 2.北京交通大学 光电子技术研究所,发光与光信息技术教育部重点实验室,北京 100044 )摘 要:薄膜晶体管是液晶显示器的关键器件,对显示器件的工作性能具有十分重要的作用。

本文论述了薄膜晶体管的发展历史,描述了薄膜晶体管的工作原理,分析了非晶硅薄膜晶体管、多晶硅薄膜晶体管、有机薄膜晶体管、ZnO活性层薄膜晶体管的性能结构特点与最新进展,并展望了薄膜晶体管的应用。

关键词:薄膜晶体管;液晶显示;ZnO薄膜中图分类号:TN304;TQ050;TB742 文献标识码:AResearch Progress on Thin Film TransistorXU Hong-hua1, XU Zheng2, HUANG Jin-zhao2, YUAN Guang-cai2, SUN Xiao-bin2, CHEN Yue-ning1(1. Department of Physics, Liao-ninUniversity, Shenyang 110036 ; 2. Key Laboratory of Luminescence and OpticalInformation , Ministry of Education Institute of Optoelectronics Technology, Beijing Jiaotong University , Beijing 100044 ) Abstract: Thin film transistor(TFT)which is of great importance in the properties of display devices is the key device of liquid crystal display. In this paper, the research history and the operating principles of TFT are described, meanwhile, the outstanding properties and recent research progress on thin film transistor such as amorphous silicon TFT, polycrystalline silicon TFT, organic TFT and ZnO-Based TFT are analyzed. At last, the development trends of thin film transistor are forecasted.Key Words: thin film transistor; liquid crystal display; zinc oxide thin film1 引言纵观信息时代迅猛发展的各项技术,不论网络技术与软件,还是通信技术、计算机技术,如果没有TFT-LCD 为代表的平板显示技术做人机交互界面,就构不成现在的信息社会。

低温氢化非晶硅薄膜晶体管研究

低温氢化非晶硅薄膜晶体管研究

第31卷 第3期2008年6月电子器件Chinese J ournal Of Elect ron DevicesVol.31 No.3J un.2008R esearch on Low T emperature a 2Si :H Thin Film T ransistorY I M ao 2x i ang3,M A O J i an 2bo ,C H EN X i ang 2dong(S chool of Science ,Hef ei Universit y of Technology ,Hef ei 230009,China )Abstract :Developing flexible substrate integrated circuit is based on developing low temperature thin film tran 2sistors (TFT s ).Using bottom 2gate construct ,we design the layout and process parameters of hydrogenated amor 2phous silicon (a 2Si :H )TFT that are fabricate under low temperature of 100℃.The etch 2stopper and passivation layers are introduced and the technological parameters and process are designed.We measure the properties of thin films such as the a 2Si :H active layer and SiN x dielectric layer ,which are deposited under 100℃low temperature.We also measure the properties of the TFT.The fabricated TFT has an on 2off current ratio of 106and the field effect electron carrier mobility of 0.825cm 2/Vs.The results show the effectiveness of implementing TFT down to under 100℃that is adequate to most of flexible substrates.K ey w ords :TF T ;low temp rat ure deposition ;bottom 2gate ;etch 2stopper ;carrier mobility EEACC :2560;2550低温氢化非晶硅薄膜晶体管研究易茂祥3,毛剑波,陈向东(合肥工业大学理学院,合肥230009)收稿日期:2007206201作者简介:易茂祥(19642),男,硕士,副教授,主要研究方向为微电子器件、VL SI 测试等,mxyi126@.摘 要:低温薄膜晶体管(TFT )的研究是开发大面积柔性衬底集成电路的基础。

非晶硅薄膜晶体管PECVD成膜工艺的优化探析

非晶硅薄膜晶体管PECVD成膜工艺的优化探析

非晶硅薄膜晶体管PECVD成膜工艺的优化探析摘要:现阶段科学技术飞速发展,信息化技术在人们日常生活中取得有效应用,高分辨率、低功耗成为了现阶段技术人员追逐的方向。

非晶硅薄膜晶体管PEVCD成膜技术的应用,需要技术人员对其工艺不断优化,提高自身性能。

本文主要介绍了非晶硅薄膜晶体管制备与表现,提出了四点有效策略,优化PECVD成膜技术。

关键词:薄膜晶体管;非晶硅;等离子处理;退火引言:液晶技术在人们生活中得到了有效应用,但是随着时间的推移,液晶工艺已经逐步淘汰。

目前智能手机已经成为了人们生活中不可缺少的一部分,消费者更加注重大屏与高清。

为满足消费者的需求,对显示面板展开有效处理,使用非晶硅薄膜作为现阶段TFT有源层材料,提高整体建设工艺。

一、非晶硅薄膜晶体管制备与表现特征薄膜晶体管的制备涉及到很多过程,才能满足现阶段设备的需要。

工作人员在制备薄膜晶体管的时候,一般采用清洗、镀膜、涂光阻、曝光、显影、蚀刻、去光阻和清洗几个部分,来制作相关TFT基板。

等TFT基板制作完成之后,采用物理气相沉积技术,来实现薄膜晶体管成膜工艺。

在具体操作中,首先利用真空腔将气体电离成plasma,然后施加电场,在电场的作用下电离的Ar离子与阴极上的靶材有效结合,在物理气相沉积技术的作用下,不断沉积在基板上,形成薄膜晶体管。

PECVD技术是等离子体增强式化学气相沉积技术的简称,在这个反应过程中,工作人员将反应气体顺利导入反应器中,在物理变化下形成等离子气体,通过电场的作用,来实现整体薄膜晶体管的制备。

在薄膜晶体管制备过程中,充分考虑器件的性能,及时参考相关参数。

在测量的时候,将扫描线通电后,可以实现电子在有源层的运动。

由于材料的自身特性,在电场不够大的时候不会发生定向移动,但是随着电场加大,打破了内部平衡之后,部分载流子将会开展定向移动,造成整体器件响应速度变慢,这便是薄膜晶体管场效应迁移率的含义。

同时薄膜晶体管依旧存在其他特征,比如开关电流比与阈值电压等。

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CVD:两种或两种以上的气态原材料导入到一个反应室中,以某种方 法激活后相会之间发生化学反应生成一种新的材料,沉积到基板表面上。 光刻:利用光学-化学反应原理和化学、物理刻蚀方法,将图形转移 到要加工材料的表面,形成功能图形的工艺技术。 刻蚀:材料的刻护的区域除去的过程。
a-Si TFT制备工艺流程
四、a-Si TFT应用
1.平板彩色液晶显示:
开关性能好、能够大面积沉积、再现性好、制备温度 低。大多用反向交叉型(IS),少数用正向交叉型(NS)。 2.红外探测器: 非晶硅薄膜晶体管由于其较高的沟道电流温度系数而 被用于非致冷型红外探测器。 3.集成电路 4.电子印刷机 5.图像传感器
三、a-Si TFT制备工艺流程
TFT制备过程实际上是各种薄膜沉积和成型的过程。以a-Si TFT为例,产业化的工艺流程如下:
玻璃基板处理→栅电极沉积(溅射法)→光刻和刻 蚀→ 栅绝缘膜SiNx (CVD法)→a-Si 膜沉积(CVD法)→ 光刻和刻蚀→沟道保护层SiNx (CVD法)→光刻和刻蚀→n+ a-Si 膜(CVD法)→光刻和刻蚀→源漏金属电极沉积(溅射 法)→光刻和刻蚀→钝化膜(CVD法)
a-Si TFT有许多种结构,基本的有四种,称为 正向交叉型、反向交叉型、正向共面型和反向共面 型。其中,反向交叉型结构最为常用。该种结构中, 厚度为数十至数百纳米的氢化非晶硅膜用作活性层。
二、a-Si TFT制备原理
在栅极电压的调制下,与 绝缘层形成界面的非晶硅膜的 一侧诱生载流子,使源极和漏 极之间通过电流。绝缘层通常 采用氧化硅膜或氮化硅膜。作 为源极-漏极电流对栅极电压的 特性,通路电流和断路电流之 比可高达10G以上,由于非晶硅膜 可在小于350℃的较低温度下形 成,因此衬底可以采用廉价的 玻璃,从而使a-Si TFT不但性 能优异,而且成本较低,成为 大面积微电子器件中优良的驱 动电路开关元件。
非晶硅薄膜晶体管
201402060230
黄颖
一、什么是a-Si TFT
α -Si 又称无定形硅。单质硅的一种形态。棕黑 色或灰黑色的微晶体。硅不具有完整的金刚石晶胞,纯 度不高。熔点、密度和硬度也明显低于晶体硅。 非晶硅薄膜晶体管(简称a-Si TFT)是利用氢化 非晶硅具有敏感的场效应特性制备的薄膜场效应晶体管。 它具有很低的关断电流和很高的开关电流比,广泛用于 液晶显示屏和平面摄像器件的地址矩阵。
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