溅射工艺

合集下载

溅射工艺技术

溅射工艺技术

溅射工艺技术溅射工艺技术(sputtering technology)是一种常用的薄膜沉积技术,其主要原理是利用离子轰击的方式将靶材表面的原子或分子“溅射”到基板上,形成一层薄膜。

溅射工艺技术具有高成膜速率、材料利用率高、膜层均匀性好等优点,因此在很多领域被广泛应用。

溅射工艺技术的主要设备包括溅射源、真空系统、控制系统等。

其中,溅射源是实现薄膜溅射的核心部件。

溅射源由靶材与阳极构成,在高真空环境中,通过外加直流或射频功率使靶材电离,离子束将溅射靶材的原子或分子带向基板。

溅射源的结构和材料对沉积薄膜的性质有很大影响,不同材料的靶材可以实现对不同材料的薄膜溅射。

溅射工艺技术主要有直流溅射和射频溅射两种形式。

直流溅射是利用直流电源提供电离所需的电压和电流,实现靶材表面的离子轰击;射频溅射则是利用射频电源提供高频电压和电流,使靶材表面的电子在高频场的作用下电离。

射频溅射由于电离效率高,成膜速率更快,因此在工业上得到广泛应用。

溅射工艺技术的应用领域非常广泛。

首先,它被广泛应用于光学薄膜的制备。

通过控制溅射过程中参数的变化,可以得到不同材料的多层或复合膜,用于制备反射膜、透明导电膜等光学器件。

其次,溅射工艺技术在电子器件领域也有重要应用,如制备集成电路中的金属互连、磁存储介质等。

另外,溅射工艺技术还被广泛应用于石油化工、航空航天、医药等领域的涂层制备。

溅射工艺技术在薄膜制备中具有许多优势。

一方面,溅射工艺技术可以制备多种材料的薄膜,包括金属、合金、氧化物等;另一方面,溅射工艺技术的成膜速率较高,可以在较短的时间内制备较厚的薄膜,提高工作效率;此外,溅射工艺技术制备的薄膜较为均匀,具有较好的附着力和致密性。

然而,溅射工艺技术也存在一些挑战和问题。

首先,溅射工艺技术对设备的要求较高,包括加热控制、真空度维持等;其次,溅射工艺技术中的离子轰击会导致靶材的加热和烧蚀,影响溅射过程的稳定性和靶材的寿命;此外,溅射工艺技术在制备复杂结构薄膜时存在工艺调控的难度。

溅射

溅射

溅射(sputtering)是PVD(物理气相沉积)薄膜制备技术的一种,主要分为四大类:直流溅射、交流溅射、反应溅射和磁控溅射。

原理如图:原理:用带电粒子轰击靶材,加速的离子轰击固体表面时,发生表面原子碰撞并发生能量和动量的转移,使靶材原子从表面逸出并淀积在衬底材料上的过程。

以荷能粒子(常用气体正离子)轰击某种材料的靶面,而使靶材表面的原子或分子从中逸出的现象,同时由于溅射过程含有动量的转换,所以溅射出的粒子是有方向性的。

方法:溅射薄膜通常是在惰性气体(如氩)的等离子体中制取。

特点:采用溅射工艺具有基体温度低,薄膜质纯,组织均匀密实,牢固性和重现性好等优点以一定能量的粒子(离子或中性原子、分子)轰击固体表面,使固体近表面的原子或分子获得足够大的能量而最终逸出固体表面的工艺。

溅射只能在一定的真空状态下进行。

溅射用的轰击粒子通常是带正电荷的惰性气体离子,用得最多的是氩离子。

氩电离后,氩离子在电场加速下获得动能轰击靶极。

当氩离子能量低于5电子伏时,仅对靶极最外表层产生作用,主要使靶极表面原来吸附的杂质脱附。

当氩离子能量达到靶极原子的结合能(约为靶极材料的升华热)时,引起靶极表面的原子迁移,产生表面损伤。

轰击粒子的能量超过靶极材料升华热的四倍时,原子被推出晶格位置成为汽相逸出而产生溅射。

对于大多数金属,溅射阈能约为10~25电子伏。

溅射产额,即单位入射离子轰击靶极溅出原子的平均数,与入射离子的能量有关。

在阈能附近溅射,产额只有10-5~10-4个原子/离子,随着入射离子能量的增加,溅射产额按指数上升。

当离子能量为103~104电子伏时,溅射产额达到一个稳定的极大值;能量超过104电子伏时,由于出现明显的离子注入现象而导致溅射产额下降。

溅射产额还与靶极材料、原子结合能、晶格结构和晶体取向等有关。

一般说来,单金属的溅射产额高于它的合金;在绝缘材料中,非晶体溅射产额最高,单晶其次,复合晶体最低。

用途:利用它可使他种基体材料表面获得金属、合金或电介质薄膜。

磁控溅射工艺简介

磁控溅射工艺简介

四、反应溅射
四、反应溅射
四、反应溅射
五、常见薄膜
五、常见薄膜
六、影响薄膜质量的因素
请批评指正,谢谢!
一、名词解释



等离子体:
将气体加热,当其原子达到几千甚至上万摄氏度时,电子就会被原 子“甩”掉,原子变成只带正电荷的离子。此时,电子和离子带的电 荷相反,但数量相等,这种状态称做等离子态 。大家常见的霓虹灯, 在它点亮以 后,灯管里的气体就被电离了,成为电子与离子的混合 物——等离子体。极光,是我们看见的大自然里的等离子体。
二、溅射原理解释
二、溅射原理解释
二、溅射原理解释
二、溅射原理解释
三、磁控溅射原理解释
三、磁控溅射原理解释
三、磁控溅射原理解释
三、磁控溅射原理解释
三、磁控溅射原理解释
三、磁控溅射原理解释
使靶材原子或分子等溅射出来并在管面经过吸附、凝结、 表面扩散迁移、碰撞结合形成稳定晶核。然后再通过吸 附使晶核长大成小岛,岛长大后互相联结聚结,最后形 成连续状薄膜。
磁控溅射镀膜工艺简介
2014.6.6
一、名词解释
尖端放电:
通常情况下空气是不导电的,但是如果电场特别强,空气分子中的正负 电荷受到方向相反的强电场力,有可能被“撕”开,这个现象叫做空气的电 离。由于电离后的空气中有了可以自由移动的电荷,空气就可以导电了。空 气电离后产生的负电荷就是电子,失去电子的原子带正电,叫做正离子。 由于同种电荷相互排斥, 导体上的静电荷总是分布在表面上,而且一般说来 分布是不均匀的(图2),导体尖端的电荷特别密集, 所以尖端附近空气中的电 场特别强, 使得空气中残存的少量离子加速运动。这些高速运动的离子撞击 空气分子,使更多的分子电离。这时空气成为导体,于是产生了尖端放电现 象.

溅射工艺原理

溅射工艺原理

溅射工艺原理
溅射工艺是利用电弧或电子束等能量源,将靶材表面的原子或离子击出并沉积在基材上的一种表面处理技术。

其基本原理是,利用电子束或电弧等能量源加热靶材,使其表面的原子或离子被击出,经过平行于基材表面的方向传输后,沉积在基材上形成薄膜。

具体来说,溅射工艺的原理包括以下几个方面:
1.靶材击出:在电弧或电子束的作用下,靶材表面的原子或离子被击出并向基材方向运动。

2.沉积:被击出的原子或离子通过惯性运动,沿着靶材到基材的直线方向运动,并在基材表面形成薄膜。

3.成膜速率:膜厚是由沉积速率控制的,溅射过程中,原子或离子的沉积速率取决于靶材到基材的距离、靶材表面的吸附和反弹等多种因素。

4.光学性质:溅射薄膜的光学性质与沉积材料和沉积条件有关,可以通过调整沉积条件来控制薄膜的光学性质。

5.多层薄膜:通过在溅射过程中改变靶材的种类或沉积条件,可以制备多层薄膜,实现更复杂的功能结构。

太阳膜纳米陶瓷工艺和磁控溅射工艺

太阳膜纳米陶瓷工艺和磁控溅射工艺

太阳膜纳米陶瓷工艺和磁控溅射工艺太阳膜纳米陶瓷工艺和磁控溅射工艺太阳膜在现代汽车上扮演着重要的角色,不仅能有效阻挡紫外线的侵害,还能提供更好的隐私和保护车内物品。

而在太阳膜的制造过程中,纳米陶瓷工艺和磁控溅射工艺被广泛应用,为太阳膜的质量和性能提供了重要保障。

纳米陶瓷工艺纳米陶瓷工艺是一种将纳米材料应用于太阳膜制作过程中的技术。

其主要原理是将纳米颗粒均匀地分散在太阳膜涂料中,使得涂料具备更好的光学性能和耐候性。

纳米颗粒具有非常小的尺寸,因此在太阳膜涂料中添加纳米颗粒可以提高涂料的透光率,并有效地阻挡紫外线的穿透。

此外,纳米颗粒还能够提升太阳膜的耐候性,延长其使用寿命。

磁控溅射工艺磁控溅射工艺是一种将金属材料沉积在太阳膜上的技术。

在磁控溅射工艺中,首先将金属材料制成极细的颗粒,然后通过高能离子轰击的方式将颗粒沉积在太阳膜上。

磁控溅射工艺能够制造出具有良好机械性能和光学性能的太阳膜。

金属颗粒的沉积可以增加太阳膜的硬度和耐磨性,使其能够更好地抵抗刮擦和撞击。

同时,金属颗粒还能够反射部分紫外线和热能,提高太阳膜的遮阳效果。

太阳膜制作的优势太阳膜纳米陶瓷工艺和磁控溅射工艺的应用,使得太阳膜具备了以下优势:•高透光率:纳米陶瓷工艺能够提高太阳膜的透光率,使驾驶者在车内仍然能够享受良好的视野。

•优质隐私保护:太阳膜的纳米陶瓷工艺可以阻挡他人从外部窥探车内情况,提供更好的隐私保护。

•防紫外线和隔热保护:纳米陶瓷工艺和磁控溅射工艺可以有效阻挡紫外线的侵害,并降低车内温度,提供更好的驾驶体验。

•耐磨性和耐候性:磁控溅射工艺的应用使太阳膜具备了较高的硬度和耐磨性,能够长时间保持较好的性能和外观。

结语太阳膜纳米陶瓷工艺和磁控溅射工艺的发展,为太阳膜的制作提供了更多的选择和技术支持。

这些工艺的应用使得太阳膜具备了更好的光学性能、耐候性和机械性能,为驾驶者提供更好的驾驶体验和隐私保护。

随着技术的不断进步,太阳膜的质量和性能将会得到进一步的提高。

溅射工艺流程

溅射工艺流程

溅射工艺流程
《溅射工艺流程》
溅射工艺是一种常用的薄膜沉积技术,用于在半导体、显示器、光学器件和其他电子器件中制造金属薄膜。

这种工艺可以通过将固态材料加热至高温,使其蒸发并沉积在基板上,来实现对金属薄膜的制备。

溅射工艺的流程一般包括几个关键步骤。

首先是准备目标材料,即将要被蒸发的金属材料,将其装入溅射靶材中。

然后是在真空室中建立真空环境,以确保在蒸发过程中没有氧气等杂质影响薄膜的质量。

接下来是加热溅射靶材,使材料蒸发并沉积在基板上。

最后是对沉积的薄膜进行表征和测试,以确保其满足要求的薄膜厚度和质量标准。

溅射工艺流程的成功实施需要精确控制多个参数,包括溅射靶材的温度、真空室的压力、沉积速率等。

此外,还需要对基板进行合适的预处理,以确保薄膜能够与基板牢固结合。

这种工艺通常需要设备精密且耗时较长,但可以制备出厚度均匀、结合紧密的金属薄膜,因此在电子工业中被广泛应用。

总的来说,《溅射工艺流程》是一种重要的薄膜制备技术,通过对金属材料的蒸发和沉积,可以实现对薄膜质量和厚度的精确控制,为电子器件的制造提供了关键的技术支持。

石墨靶溅射工艺-概述说明以及解释

石墨靶溅射工艺-概述说明以及解释

石墨靶溅射工艺-概述说明以及解释1.引言1.1 概述石墨靶溅射工艺是一种常用的薄膜制备技术,通过在真空环境中利用高能粒子轰击石墨靶材料,使其蒸发并沉积在基底上形成薄膜。

这种工艺具有高成膜速率、良好的膜质和化学纯度等优点,被广泛应用于光学薄膜、电子器件、光学镀膜等领域。

本文将重点介绍石墨靶溅射工艺的原理、步骤、应用及发展方向,旨在为相关领域的研究人员提供参考和指导。

1.2 文章结构文章结构部分主要包括以下内容:1. 概述:介绍石墨靶溅射工艺的基本概念和作用,引出本文的主题。

2. 正文:详细介绍石墨靶溅射工艺的原理、步骤以及应用和发展情况。

3. 结论:总结本文的主要内容,展望石墨靶溅射工艺未来的发展趋势,提出一些个人见解和建议。

4. 结束语:对整篇文章进行总结和结束的话语,呼应文章标题,使整篇文章更加有结尾和亮点。

1.3 目的本文的目的主要是介绍石墨靶溅射工艺的基本原理、工艺步骤以及其在应用和发展方面的情况。

通过对这一先进工艺的深入了解,可以帮助读者更好地掌握石墨靶溅射工艺的技术特点和优势,以及在不同领域的应用情况。

同时,也可以为相关领域的研究人员提供参考和启发,促进该工艺的进一步发展和应用。

希望本文能够为大家对石墨靶溅射工艺有一个全面的了解,为相关研究和实践工作提供有益的参考。

2.正文2.1 石墨靶溅射工艺介绍石墨靶溅射工艺是一种常用的薄膜制备工艺,特别适用于制备具有高硬度、高耐磨、高抗腐蚀等特性的功能性薄膜。

该工艺通过将石墨靶与惰性气体置于真空室中,利用高能离子轰击石墨靶表面,使得石墨靶表面原子或分子蒸发并沉积到基底材料表面上,形成所需的功能性薄膜。

石墨靶溅射工艺具有操作简单、成本较低、薄膜均匀性好、沉积速率高等优点。

此外,石墨靶溅射工艺还可以在不同的工艺参数下,调控所得到的薄膜的性能和微观结构,因此被广泛应用于光学膜、防护膜、导电膜等领域。

总的来说,石墨靶溅射工艺是一种非常有效的薄膜制备技术,通过不断的技术改进和创新,相信在未来会有更广泛的应用和发展。

磁控溅射镀膜工艺

磁控溅射镀膜工艺

[整顿版]磁控溅射镀膜工艺大面积磁控溅射工艺1、简介在玻璃或卷材上制备旳用于建筑、汽车、显示屏和太阳能应用旳光学多层膜是运用反应磁控溅射以具有可反复旳稳定旳高沉积率进行生产旳。

在整个基底宽度上旳良好膜厚均匀性和合适旳工艺长期稳定性是为了满足生产规定所必须旳。

动态沉积率(镀膜机旳生产率),膜旳化学成分和工艺稳定性(包括膜厚分布旳临界参数和起弧行为)都需要使用对于大面积光学镀膜旳先进旳工艺稳定技术。

这意味着对于研制旳高规定存在于大面积反应磁控溅射工艺。

对于把在试验室条件下开发旳工艺转移到大规模工业镀膜机这个过程存在着很大旳风险性。

为了克服这个升级问题,研制生产安装了一台工业规模试验型设备。

该设备可以处理旳基底宽到达3.2m。

除了对于反应溅射旳工艺稳定性方面旳简朴旳简介外,本文还包括了一种对于我们这台用于磁控溅射研究和开发旳工业规模试验型镀膜机旳简介。

这将使用有关在该设备中获得旳氧化锌和二氧化钛工艺旳改善旳成果来进行阐明。

2、反应溅射旳工艺稳定性反应溅射工艺是以滞后现象作为表征旳。

自稳定工作点只存在于金属模式和反应模式。

存在旳自稳定范围必须扩大到过渡范围以保证工业镀膜设备旳生产运作。

下面将简介等离子体发射控制器旳在这方面旳使用。

一种控制电路用于现场测定溅射靶材料旳光谱线旳强度。

在保证考虑了边界条件旳状况下,这可以用于测量靶上实际靶材溅射率。

反应气体输入量可以根据一种设定点测量得到旳信号强度旳偏差来进行控制。

这样就有也许根据材料、靶长和抽速把几乎每个工作点都稳定在过渡范围。

反应溅射旳工作点位置取决于对沉积率、化学成分和反射率等参数旳规定。

为了在过渡模式下得到宽度起过一米旳有效膜厚分布旳镀膜,需要进行特殊旳研究。

众所周知,在反应磁控溅射旳状况,只有当进行气体流量旳动态修正以稳定一种平衡状态时展宽式直磁控溅射源就可以长期稳定地工作。

已经为反应沉积旳生产安装了合适旳系统。

某些PEM控制电路彼此独立地进行工作。

硅靶预溅射工艺

硅靶预溅射工艺

硅靶预溅射工艺
硅靶预溅射工艺是一种常用的溅射工艺,主要用于制备薄膜材料。

该工艺利用高能粒子轰击靶材表面,使靶材原子获得足够的能量,从而克服表面势垒,逸出靶材表面,并在基材表面沉积形成薄膜。

硅靶预溅射工艺的原理是基于物理气相沉积(PVD)技术。

在溅射过程中,高能粒子(如氩离子)通过辉光放电获得能量,并撞击硅靶表面。

硅靶原子从表面逸出后,在基材表面沉积形成薄膜。

硅靶预溅射工艺具有许多优点。

首先,该工艺可以制备出高质量的薄膜材料,具有高纯度、高致密性和高附着力等特点。

其次,溅射过程中可以精确控制薄膜的厚度和成分,实现批量生产。

此外,硅靶预溅射工艺还具有设备简单、操作方便、易于实现自动化等优点。

在实际应用中,硅靶预溅射工艺广泛应用于电子、光学、机械等领域。

例如,在半导体器件制造中,可以利用该工艺制备高纯度、高导电性的铜薄膜;在光学领域,可以制备高硬度、高耐磨性的氮化硅薄膜;在机械领域,可以制备具有优异力学性能的硬质合金薄膜。

薄膜制备技术-溅射法

薄膜制备技术-溅射法
溅射法具有沉积温度低、薄膜成分和 厚度易于控制、适合大面积均匀成膜 等优点,广泛应用于电子、光学、机 械等领域。
溅射法的原理
当高能粒子(如惰性气体离子)轰击固体靶材表面时,会使得靶材表面的原子或分 子获得足够的能量,克服与基材之间的引力,从靶材表面溅射出来。
溅射出来的原子或分子在真空中飞行,并沉积在基材表面,形成薄膜。
薄膜制备技术-溅射法
目 录
• 溅射法简介 • 溅射法制备薄膜的工艺流程 • 溅射法制备薄膜的特点与优势 • 溅射法制备薄膜的挑战与解决方案 • 溅射法制备薄膜的发展趋势与展望
01
溅射法简介
溅射法的定义
溅射法是一种物理气相沉积技术,利 用高能粒子轰击固体靶材,使靶材表 面的原子或分子被溅射出来,并在基 材表面沉积形成薄膜。
技术创新与突破
为了进一步提高溅射法制备薄膜的性能和效率,未来将不断涌现技 术创新和突破,推动该领域的技术进步。
智能化与自动化
随着工业4.0和智能制造的兴起,溅射法制备薄膜技术将朝着智能 化与自动化方向发展,实现高效、精准和可靠的薄膜制备。
THANKS FOR WATCHING
感谢您的观看
溅射法可以用于制备各种金属、半导体、绝缘体 等材料,具有较广的适用范围。
工艺简单
溅射法制备薄膜工艺相对简单,操作方便,适合 于大规模生产。
环境友好
溅射法在制备过程中不需要使用有害气体或液体, 对环境友好。
溅射法制备薄膜的应用领域
电子器件
01
溅射法制备的金属薄膜、半导体薄膜等广泛应用于集成电路、
电子元件等领域。
溅射法中,基材的温度较低,一般在室温至数百摄氏度之间,因此特别适合于在塑 料、玻璃等不耐高温的基材上制备薄膜。

sputter工艺技术

sputter工艺技术

sputter工艺技术Sputtering (溅射)工艺技术是一种常用的薄膜制备方法,它通过在目标材料表面施加高能粒子,使得目标材料中的原子或分子溅射出来,并沉积在基底材料表面上,形成所需的薄膜。

这种技术可以用于制备各种金属、合金、氧化物、硝酸盐、氮化物等不同类型的薄膜。

Sputtering工艺技术的基本原理是利用高能粒子轰击目标材料表面,使其内部的原子或分子脱离,然后以雾化状态沉积在基底材料上。

这些高能粒子一般是氩气离子,通过施加高压电场使其加速,当氩离子轰击目标材料表面时,会发生碰撞而溅射出目标材料的原子或分子。

Sputtering工艺技术有多种类型,包括直流磁控溅射(DC sputtering)、射频磁控溅射(RF sputtering)、磁控溅射(Cosputtering)等。

其中,直流磁控溅射是最常用的一种方法。

在直流磁控溅射中,目标材料被置于真空室中,加上较高的直流电压和磁场。

氩离子在磁场的作用下旋转并加速,然后轰击目标材料表面,溅射出来的原子或分子沉积在基底材料上,形成薄膜。

Sputtering工艺技术具有一些优点。

首先,制备的薄膜质量好,具有均匀的化学组成和良好的结晶性。

其次,可以制备多种类型的薄膜,包括金属、合金、氧化物等,可以满足不同的研究和应用需求。

此外,制备过程中可以通过调节施加的电压、磁场和气体流量等参数来控制薄膜的性质,如厚度、成分和晶体结构等。

Sputtering工艺技术在许多领域有着广泛的应用。

在微电子领域,它被用于制备电子器件中的金属导线、电阻和接触材料等。

在太阳能电池领域,它被用于制备电池中的透明电极、吸光层和隔离层等。

在光学领域,它被用于制备镀膜镜面和滤光片等。

在生物医学领域,它被用于制备生物传感器、DNA芯片和药物控释器件等。

需要注意的是,Sputtering工艺技术虽然具有许多优点,但也存在一些限制。

首先,制备过程中可能会引入杂质和晶体缺陷。

其次,目标材料溅射速率较低,制备较厚的薄膜通常需要较长的时间。

磁控溅射工艺用处

磁控溅射工艺用处

磁控溅射工艺用处
磁控溅射是一种物理气相沉积技术,它利用磁场控制等离子体中的电子运动,使其在靶材表面产生溅射效应,从而将靶材原子或分子沉积到基材表面形成薄膜。

这种工艺具有许多优点,例如:
1. 制备的薄膜具有高纯度、高密度、高附着力和良好的结晶性能。

2. 可以在低温下进行,避免了高温对基材的损伤。

3. 可以控制薄膜的厚度、组成和结构,实现对薄膜性能的精确调控。

4. 适用于制备各种材料的薄膜,如金属、合金、半导体、氧化物等。

因此,磁控溅射工艺被广泛应用于许多领域,例如:
1. 电子学:用于制备集成电路、半导体器件、太阳能电池等。

2. 光学:用于制备光学薄膜、反射镜、滤光片等。

3. 机械工程:用于制备耐磨涂层、防腐涂层、超导材料等。

4. 生物医学:用于制备生物传感器、药物释放系统等。

总的来说,磁控溅射工艺是一种非常重要的薄膜制备技术,它的应用领域非常广泛,对于现代科技的发展起到了重要的推动作用。

集成电路工艺第八章:蒸发与溅射

集成电路工艺第八章:蒸发与溅射


磁控溅射系统的组成 磁控溅射设备非常复杂,系统主要由7个部分组成:
1. 高压射频电源及电气系统
2. 真空系统 3. 工艺腔 4. 靶组水冷系统 5. 传片系统 6. 载片架 7. 氩气供给系统

磁控溅射系统
磁控溅射系统

磁控溅射靶组件
8.4 蒸发和溅射的比较
特点 优 点 缺 点 电子 1.成膜速率高(能蒸发5微米 1.台阶覆盖差 束蒸 厚的铝膜) 2.不能沉积合金 发 材料 1.能沉积复杂的合金材料 1.成膜速率适中 磁控 2.能沉积难熔金属和非金属 2.设备复杂昂贵 溅射 3.台阶覆盖好 4.很好的均匀性控制 5.能多腔集成去除表面沾污 (原位反溅刻蚀)
热并使之变成气态原子沉积到硅片上的物理过程。

工艺目的
在IC晶片上形成金属互连结构

成膜材料的加热方式:蒸发器分为电阻加热、电
子束加热、高频感应加热等三种

蒸发的本底真空通常低于 10-6Torr。

简单的蒸发系统

电子束蒸发的概念:
电子束蒸发是电子束加热方式的蒸发,是在高真
空中,电子枪发出电子经系统加速聚焦形成电子

RF(射频)溅射系统

磁控溅射的概念 磁控溅射是一种高密度等离子体溅射,是利用靶 表面附近的正交电磁场使电子平行靶表面做回旋 运动,从而大大增加了与氩原子的碰撞几率,显 著地提高了等离子体区的Ar离子密度,使溅射速 率成倍增加。

在溅射技术中,磁控溅射占主流。

磁控溅射的优点:
1. 比普通溅射的溅射速率提高了5~40倍 2. 使用射频电源,能溅射介质 3. 溅射时基片温升低(基本上不受电子轰击,二次电 子损伤小)
线断裂、空洞。

材料的溅射工艺探究

材料的溅射工艺探究

材料的溅射工艺探究随着科技的发展,材料的溅射工艺已经成为了一种重要的表面处理工艺。

溅射工艺能够使得材料表面具有更好的物理和化学性能,从而在各个领域得到了广泛的应用。

本文将就材料的溅射工艺探究这一主题展开讨论。

一、溅射工艺的基本原理溅射工艺是一种利用物理或化学方法,将材料原子或分子从固体靶材的表面剥离,然后沉积在待处理物体的表面上的一种工艺。

其基本原理是靶材表面的原子或分子被电离、激发或加热后,通过惯性力作用,发生溅射,最终沉积在待处理材料的表面。

二、溅射工艺的分类根据溅射的方式和材料的性质,溅射工艺可分为多种类型。

其中一些比较常见的包括:1. 直流磁控溅射工艺(DC Sputtering):直流磁控溅射是最常见的溅射工艺之一。

靶材被连接到丁烷或氩气的负极,待处理物体则作为正极。

靶材被加热或电离,靶上的原子或分子被溅射,随后沉积在正极表面。

2. 射频磁控溅射工艺(RF Sputtering):射频磁控溅射与直流磁控溅射的原理类似,只是在此过程中,靶材被连接到高频电源的负极上,以产生更高的能量。

3. 电弧离子镀工艺(Arc Ion Plating):电弧离子镀工艺也被称为电弧离子溅射。

这种工艺主要是通过放电,在靶材和基底材料之间产生等离子体,从而对基底表面进行溅射。

三、溅射工艺的优点和应用1. 原子级别表面处理:由于溅射工艺处理材料的原子或分子是在基底表面附近发生的,因此其能够得到比其他工艺更好的精度和均匀性,达到原子级别的表面处理效果。

2. 减少材料浪费:溅射过程中,靶材被剥离的原子或分子会沉积在待处理材料的表面,因此能够节约材料,避免浪费。

3. 提高材料的化学稳定性:溅射工艺能够预先处理待处理材料的表面,使得其表面具有更好的物理和化学性能,并且能够增加材料的化学稳定性。

4. 应用广泛:溅射工艺在钢铁、航空、电子、医药等领域都得到了广泛的应用,在提高产品质量和性能方面都有很好的表现。

总之,材料的溅射工艺是一个十分热门的话题。

溅射背金工艺

溅射背金工艺

溅射背金工艺溅射背金工艺是一种常用于制备光学膜和薄膜材料的工艺方法。

该工艺通过将金属或化合物材料溅射到基材表面,形成一层金属膜或合金膜,具有优异的光学性能和机械性能。

溅射背金工艺在光学透镜、显示器件、太阳能电池等领域有着广泛的应用。

溅射背金工艺的基本原理是利用高能量粒子轰击金属或化合物目标材料,使其表面原子或分子脱离并沉积在基材上,形成金属膜或合金膜。

在溅射背金工艺中,通常会使用高能量的离子束或电子束作为轰击源,使目标材料表面原子具有足够的能量可以脱离并沉积在基材上。

溅射背金工艺的工艺参数对最终膜层的性能具有重要影响。

例如,溅射功率、溅射时间、基材温度等参数会影响金属膜或合金膜的结晶度、结构和厚度。

通过合理调控这些工艺参数,可以获得具有良好光学性能和机械性能的膜层。

溅射背金工艺在光学膜的制备中有着重要的应用。

光学膜通常用于增强光学元器件的性能,例如增透膜、反射膜、滤波器等。

溅射背金工艺可以制备出高透过率、低反射率的光学膜,提高光学元器件的传输效率和光学性能。

除了光学膜,溅射背金工艺还在其他领域有着广泛的应用。

例如,在显示器件制备中,溅射背金工艺可以制备出具有高对比度和亮度的显示屏;在太阳能电池制备中,溅射背金工艺可以制备出高效率的吸收层。

这些应用表明了溅射背金工艺在现代科技领域的重要性和广泛应用性。

让我们总结一下本文的重点,我们可以发现,溅射背金工艺是一种重要的薄膜制备工艺方法,具有优异的光学性能和机械性能。

通过研究和优化溅射背金工艺的工艺参数,可以制备出具有良好性能的膜层,满足不同领域光学元器件的需求。

随着科技的不断发展,相信溅射背金工艺在未来会有更广阔的应用前景。

溅射工艺流程

溅射工艺流程

溅射工艺流程溅射工艺流程介绍溅射工艺是一种常见的表面处理工艺,广泛应用于金属、陶瓷、玻璃等材料的表面涂层。

它通过将固态材料熔化成粉末或液体,然后以高速喷射到待涂层物体的表面上,形成均匀而致密的涂层。

下面将详细介绍溅射工艺的基本流程。

首先,准备工作是溅射工艺流程的重要一环。

需要将待涂层物体进行表面清洁处理,以保证涂层的附着力。

通常使用酸洗、研磨等方法进行清洗,去除物体表面的氧化物和污垢。

同时,还需要对溅射材料进行预处理,将其制备成适合喷射的形式。

通常可以将固态材料研磨成粉末,或者熔化成液体。

第二步是选择合适的溅射设备。

常见的溅射设备有真空溅射设备和气体溅射设备。

真空溅射设备适用于金属和陶瓷溅射,能够在真空环境下进行溅射,可以提高溅射涂层的致密性。

气体溅射设备则适用于玻璃等非金属材料的溅射,通过气体的切割力将材料喷射到物体表面。

接下来,进行溅射涂层。

在溅射过程中,溅射材料被加热并熔化,然后喷射到物体表面。

溅射涂层的厚度可以通过溅射时间和喷射速度来控制。

通常要求涂层均匀、密实而光滑,这需要溅射设备具备较高的控制能力,可以调整喷射的角度和速度。

最后,完成涂层后,需要进行后续处理。

通常情况下,溅射涂层的附着力很强,但为了进一步增强附着力,可以对涂层进行热处理。

热处理能够使得涂层与基体之间的界面更加牢固。

此外,还可以对涂层进行抛光、抛光和加工等后续处理,以满足不同需求。

总结起来,溅射工艺流程主要包括准备工作、选择溅射设备、进行溅射涂层和后续处理等步骤。

通过这一流程,可以获得具有高附着力和良好性能的涂层。

溅射工艺被广泛用于各个领域,如汽车工业、电子产业、航空航天等,为产品提供了优良的表面保护和装饰性能。

封装溅射工艺流程

封装溅射工艺流程

封装溅射工艺流程
1. 晶圆切割
- 将经过制程加工后的晶圆切割成单个芯片。

2. 芯片装盒
- 将切割好的芯片装入专用的芯片载体或焊框中。

3. 芯片键合
- 将装有芯片的载体或焊框与基板进行键合,使芯片和基板紧密连接。

4. 等离子清洗
- 对键合后的基板进行等离子清洗,去除表面污染物。

5. 溅射金属
- 在基板表面溅射金属层,作为后续焊线的粘附层。

6. 电镀导线
- 在金属层上电镀出导线,将芯片和基板的焊盘连接起来。

7. 焊球植球
- 在焊盘位置植入焊球,作为后续焊接的焊料。

8. 划片成型
- 将整个基板划分成单个芯片尺寸。

9. 成品检测
- 对成品芯片进行电性能测试和外观检查,确保质量合格。

10. 包装出货
- 将合格产品进行包装,准备出货给客户。

以上是封装溅射工艺的主要流程,具体工艺细节和参数根据不同产品和制程要求会有所调整。

  1. 1、下载文档前请自行甄别文档内容的完整性,平台不提供额外的编辑、内容补充、找答案等附加服务。
  2. 2、"仅部分预览"的文档,不可在线预览部分如存在完整性等问题,可反馈申请退款(可完整预览的文档不适用该条件!)。
  3. 3、如文档侵犯您的权益,请联系客服反馈,我们会尽快为您处理(人工客服工作时间:9:00-18:30)。

目录1.0标题 (03)2.0目的 (03)3.0范围 (03)4.0参考文件 (03)5.0定义 (03)6.0责任 (03)7.0内容 (03)7.1接传片 (03)7.2准备 (03)7.3 3190溅射台操作内容 (03)7.3.1准备 (03)7.3.2开电源 (04)7.3.3检查控制面板各键位置 (04)7.3.4调程序 (04)7.3.5开气阀 (04)7.3.6执行程序 (04)7.3.7出片 (04)7.3.8关闭功率电源 (04)7.3.9关闭A r气阀 (04)7.3.10注意事项 (04)7.3.11冷泵再生后工艺条件 (05)7.3.12换靶材以及换靶材后的验证 (05)7.3.13溅射功率的调整 (05)7.3.14溅射时间的调整......................................................................... . (05)7.3.15程序转换调整 (05)7.3.16换靶后参照做片 (05)7.3.17记录填写......... . (05)7.3.18清洗液定额 (05)7.3.19片筐清理 (05)7.3.20测量......... .. (05)7.3.21溅射前清洗测试规范 (06)7.4样片、假片使用规范 (05)7.4.1溅射样片 (05)7.4.2溅射假片 (05)7.4.3溅射样片的处理方法 (06)7.4.4样片、假片清洗周期………….……………………………………………….…..… .067.4.5颗粒度 (06)7.4.6颗粒度样片定额 (06)7.5MOS产品溅射金属检验规范 (06)7.5.1溅射金属检验方法和判定标准……………………………………………………… .067.5.2.异常处理 (06)7.6验证溅射靶工艺规范 (06)7.7.1准备 (06)7.6.2工艺验证硅片打标 (06)7.6.3工艺验证硅片的存放 (06)7.6.4做片过程 (06)7.6.5结果反馈及确认 (06)7.6.6做过的验证硅片的处理 (06)7.6.7验证硅片定额 (07)7.74400溅射台操作 (07)7.7.1做片前确认 (07)7.7.2 入片 (07)7.7.3 如何溅射 (09)7.7.4设备日常测试要求 (10)7.7.5 故障以及保养后如何恢复 (11)7.7.6 档片、样片和大盘的清洗 (11)7.8紧急避险规范 (11)7.8.1溅射台紧急避险规范 (11)8.0附录 (13)附录一:4400溅射台操作导引流程图 (14)附录二:3190溅射台程序表单 (15)附录三:3190溅射台验证靶材投片流程单 (16)附录四:溅射台紧急处理流程图 (17)附录五:有预见性的停动力条件流程图 (18)附录六:3190溅射台程序表单 (19)附录七:3190溅射台验证靶材投片流程单 (20)附录七:3190溅射台验证靶材金属验证流程单 (23)附表一:4400溅射台验证表单 (25)附表二:4400溅射台设备状态记录 (26)附表三:4400溅射台工艺记录 (27)附表四:4400溅射台真空抽速记录 (28)附表五:MOS溅射台工艺状态检查表 (29)附表六:MOS溅射工艺记录 (30)9.0有效期 (31)10.0机密等级 (31)1.0 标题:溅射台操作规范。

2.0 目的:提供操作者设备操作的指导,为保证能够正确操作3190溅射台而拟制的操作导引。

3.0 范围:适用于吉林麦吉柯半导体有限公司生产课薄膜工序。

4.0 参考文件:无;5.0定义无;6.0 责任:6.1 由工艺工程师根据需要提出,并拟制符合实际设备操作要求的操作导引;6.2 工艺工程师对操作导引的可执行性负责;6.3 生产工艺技术课课长对操作导引进行审核;6.4 操作人员负责机器的日常操作;如有异常,通知设备工程师。

6.5 溅射台操作人员对设备操作时必须按此规定执行。

6.6 薄膜工序管理人员有责任对违反操作规定者进行纠正。

6.7 质量管理人员有权对文件执行进行审核。

6.8溅射台操作规范包括3190溅射台和4400溅射台两种设备的操作规范。

7.0 内容:7.1 接、传片7.1.1接片:7.1.1.1双手托住片盒两端放到操作台上,打开盒盖;7.1.1.2目检硅片片数是否与随工单相符;用倒角器检查批号、片号及目视硅片表面;7.1.1.3注意事项:如果硅片片数、批号、片号都与随工单相符、硅片表面没有任何异常,随工单进行扫条码,将硅片放到片架相应位置。

如果硅片片数、批号、片号三者有任何一项与随工单不相符或硅片表面有沾污或划伤等异常,拒绝接片。

7.1.2传片:7.1.2.1确认本工序工艺已经完成并且合格,随工单已经填写完毕,硅片标记与数量与随工单相符。

7.1.2.2将要下传的硅片放入传片盒中,盖上盖,传片盒放到传片车上,将传片车推到随工单要求的下道工序;和下道工序人员进行面对面的交接;下道工序正常接收后,将传片车推回本工序,放到指定位置。

7.2准备:7.2.1在进行前处理之前,确认该设备的运行状态,以确保在两小时内把漂过酸的硅片入腔。

7.2.2该设备为“IDLE”状态,则可进行生产;若为“UP”需进行等待;若为“PM”或“DOWN”则不能进行生产,且通知生产组长。

7.3 3190溅射台操作内容7.3.1准备:7.3.1.1在进行前处理之前,首先确定设备无异常,根据溅射台抽到预真空值(入腔时的真空值必须在2E-6Torr以上)的时间来判断,再进行前处理,以确保间隔做片和需溅射的硅片在两小时内入腔。

7.3.1.2排序和装片:用倒角器将硅片进行倒角。

确认抛光面与专用筐字母一侧方向一致,缺口(标记处)向上,确认无误后进行7.4.2操作。

7.3.2开电源:打开功率电源,将CONTROL开关打到ON位置,按下POWER RESET按钮,观察POWER灯及INHIBIT OFF灯亮,表示电源工作正常。

7.3.3检查控制面板各键位置:真空系统控制V ACUUM SYSTEM CONTROL打到REMOTE位置,硅片装载控制面板WAFER LOAD CONTROL打到SESTEM及 SIMI 位置,硅片程序控制面板WAFER PROCESS CONRTOL打到SYSTEM及SIMI-AUTO 位置。

7.3.4调程序:7.3.4.1在显示器显示KEYMODE样式下,输入密码1,按ENTER确认,进入SERVICEMODE面板。

7.3.4.2按SELEC RECIPE键,再按EXECUTE后,面版显示所有的程序代码,轻按代码。

7.3.4.3按照RECIPE输入相应的程序代码,按ENTER键,进入程序界面(3180溅射台使用“UP”和“DOWN”进行程序选择)。

按NEXT STATION,检查RECIPE#X(X为程序代码),STATION#1到STATION#4,看各参数是否是规定的参数,如果是,检查完毕后按YES键。

如果不是,找工程师确认。

7.3.4.4在显示RECIPE TRANSMITTED AND CHECKED TOUCH SCREEN TOCONTINUE后按一下屏幕。

7.3.4.5 确定所选程序代码,如需加热则按下ENABLE HEATERS键,再按EXECUTE,相应STAION的HEATER灯亮,表示正在加热,等待温控面板达到设定值±10摄氏度时可执行以下程序。

7.3.5开气阀:打开气源柜中Ar气阀,逆时针旋转气源瓶阀门,再打开设备后面Ar气截止阀,观察压力值在0.35--0.45MPa。

7.3.6执行程序:7.3.6.1等到温度控制面版的温度显示值稳定后,方可执行程序。

7.3.6.2 按下BEGIN ANTO键,再按EXECUTE键,机器进行自检。

7.3.6.3 待机器自检完毕后,LOAD键闪烁,这时按一下LOAD键,等待铃声信号。

7.3.6.4听到铃声后打开装载门,将装有硅片的专用片筐放到传动链条上,片筐卡槽与链条定位销吻合,然后关闭装片门,程序将自动进行,做片过程中的真空度要求为1E-3Torr~1E-4Torr的数量级,并作记录,否则,暂停下批入片,通知工艺工程师。

7.3.7出片:7.3.7.1待程序运行结束后,会有报警提示,打开取片门,将装有做完硅片的专用片筐取出,关闭取片门。

7.3.7.2出片检查:操作人员倒筐后对溅射硅片进行检查,如有未溅射上金属的硅片,经工艺人员确认后,清洗未超时的可重新进行溅射;清洗超时的,询问工艺工程师如何做清洗返工,进行清洗返工,然后再溅射。

7.3.8关闭功率电源:将CONRTOL打到OFF位置。

7.3.9关闭Ar气阀:关闭Ar气截止阀,再关闭气源柜中截止阀,顺时针旋转为关闭。

标题:溅射台操作规范编号:WS-750717.3.10注意事项:将硅片专用筐(生产的硅片用“B”筐,样片、假片用“C”筐)放到溅射台传动条后,专用筐卡位朝向操作者,硅片待溅射面朝右,硅片从右第一位放起,中间无空位;只允许溅射单倒角的硅片;工艺进行中注意触摸屏上的提示,如有异常报警请通知设备工程师。

7.3.11冷泵再生后工艺条件:真空达到在2E-6Torr后,冷泵温度在15K以下,溅射假片10~25片以上。

电阻值和反射率在规范限内,才能做生产片。

7.3.12换靶材以及换靶材后的验证:换靶在白班进行,之前的零点班在06:30分钟时就不允许做片,同时给3190降温。

工艺验证:分别对2#和4#靶进行单靶打靶(做片前的真空必须达到-6的量级),然后做一批双靶(两微米)打靶(做片前真空必须达到5E-6),再做一批双靶打靶(做片前真空必须达到3E-6),等真空值达到2E-6时将验证实验片做完(2#和4#靶的都做),冷泵再生,验证靶实验片回来并合格后,再做2~25片假片(选择哪个靶就走哪个靶的假片)反射率、厚度、颗粒度都合格后才可以做正式片。

当累计片量在250片之前、1500片之后,不允许做工程批、PMOS、高压等产品。

VDMOS只能用60%功率溅射。

7.3.13溅射功率的调整:换靶后的溅射功率为70%,随着做片片量的累计,电流会上升,当电流值接近14.5时降功率,时间延长10秒左右,当电流再次达到14.5时将功率降到50%(现行工艺最低功率),每次换功率,时间相对延长10±2秒左右。

每次换功率后先做一片样片(可不用等真空),确定所调时间与要求膜厚匹配,然后再做5~25片陪片(含1或2片测试样片,可不用等真空),验证整批膜厚的均匀性和设备的稳定性。

工艺人员和操作人员都可操作,每次调功率的测试样片的膜厚测量值要达到控制范围中心线或附近(即厚度的平均值为26.8+/-0.6)方可做正式片。

相关文档
最新文档