波动光学习题测试
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波动光学习题测试
1．测量薄膜厚度。图示欲测定 SiO2的厚度，通常将其磨成图 示劈尖状，然后用光的干涉方 法测量。若以λ=590nm光垂直 入射，看到7条暗纹，且第7条 位于N处，问该膜厚为多少？
n1
Baidu Nhomakorabea
N
M
SiO2
n2 1.5 n3 3.4
2、双缝干涉实验中，缝距 b b 0.4mm ，缝宽 b 0.08mm ，即双缝(N=2)的衍射，透镜焦距 f=2.0m，求当 480nm光垂直入射时： （1）条纹的间距； （2）单缝中央亮纹范围内的明纹数目。