XRF(X荧光光谱仪)便携式土壤重金属分析仪技术参数

XRF(X荧光光谱仪)便携式土壤重金属分析仪技术参数：
1. X射线荧光分析仪可用于土壤环境，底泥以及沉积物中的无机元素分析，至少包含
以下元素：Ti, V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, W, Zn, Hg, As, Pb, Bi, Se, Th, U, Rb, Sr, Y, Zr, Nb, Mo, Ag, Cd, Sn, Sb.
2.激发源：大功率微型直板X射线管，W靶材，4W大功率X射线管，管电压小于或
等于35KV，管电流最大可达200μA；
3.采用最新Axon技术，更高X射线计数率，超低电子噪声设计。

每次测试前，不需
要外部标样，自动能量校准核查；
4.探测器：高性能Si-PIN探测器，可同时记录分析数据和光谱图；
重量：仪器净重小于1.5kg，外形尺寸达到或优于：242mm x 289mm x 83mm；
电源：14.4V可充电锂电池或18V电源变压器，100~240 VAC，50~60 Hz，最大70W；
5.运算方法：基本参数法，支持经验系数法修正；
6.气压计：内置气压计，用于因海拔和空气密度的变化对测试结果影响的自动校准。

7.GPS功能：内置GPS/Glonass接收器；
8.产品认证：通过CE、IEC61010-1认证；
9.自诊断功能：仪器可自动对硬件、软件、网络、电池等进行诊断，并会生成日志，
便于快速排查出故障；
10.IP防护等级：符合IP 65评级要求，防尘、防止来自各个方向的水喷。

xrf(x荧光光谱仪)技术指标

xrf(x荧光光谱仪)技术指标XRF 技术指标基本性能参数分辨率：能量分辨率，以电子伏特 (eV) 表示，描述仪器区分不同能量 X 射线的能力。

灵敏度：检测下限，以质量浓度或计量单位表示，描述仪器检测特定元素的最低水平。

稳定性：仪器在一段时间内保持稳定测量结果的能力，通常用计数率的变化表示。

重复性：相同样品在相同测量条件下多次测量的结果一致性，通常用相对标准偏差 (RSD) 表示。

线性范围：仪器测量结果与样品中元素浓度之间保持线性关系的浓度范围。

激发源：产生 X 射线辐射的组件，可以是 X 射线管或放射性同位素。

光学元件：柱状准直器、单色器和探测器，用于处理来自激发源的 X 射线，以提高分辨率和信噪比。

探测器：光电倍增管或半导体探测器，用于检测 X 射线并将其转换为电信号。

数据处理参数分析软件：用于处理和分析 XRF 谱数据的软件，包括定性和定量分析功能。

校准：使用已知浓度的标准样品建立测量结果与元素浓度之间的关系。

定量方法：用于计算样品中元素浓度的算法，例如基本参数法和校准曲线法。

尺寸：仪器的物理尺寸和重量。

功耗：仪器在运行期间消耗的电力。

工作温度：仪器正常运行所需的温度范围。

环境要求：仪器正常运行所需的相对湿度、气压和振动水平等环境条件。

其他考虑因素应用：仪器的适用范围，例如元素分析、材料表征或环境监测。

样品类型：仪器可以分析的样品类型，例如固体、液体或气体。

自动化程度：仪器自动执行测量、处理和分析的能力。

用户界面：仪器操作的难易程度和直观性。

技术支持：制造商提供的技术支持水平，例如维护、维修和软件更新。

XRF在环境重金属检测的最新方法研究--吴升海

建立工作曲线
测定标准样品
标样 ScF3(Sc) Ti V Cr Mn Fe Co Ni Cu ZnTe(Zn) …… 标样1含量 (μg/cm2) 6.66 16.9 17.1 16.3 20.7 19.0 14.9 16.7 16.5 5.25 …… 标样2含量 (μg/cm2) 19.3 54.3 42.6 52.3 19.4 45.2 49.3 49.6 51.4 16.8 ……
价格低低浓度检测多元素检测同位素分析无损检测线性范围宽预处理简单价格高单元素检测有损检测元素干扰背景不纯基底不匹配问题需要核反应装置测量范围受限分析种类受限
√ √ √ √ √ √ √ √ √ × × × × × × × × × × × × × × × × × × × √ √ √ √ √ √ √
ห้องสมุดไป่ตู้携式XRF仪器的工作原理
USB 口无线
存储器
信号处理
X光源探测器 X光闸电子跃迁
电子
影响便携式XRF测试结果的因素
1、工作曲线选错或工作曲线内选用的标样缺少。 2、未进行初始化，峰谱有飘移。 3、样品的不均一性或物理形态也会对样品的含量造成不确定性。 4、样品量过小，而测试时间比较短的情况下。 5、表层不平，如每次受到激发的效果也不是很好，不是很稳定。这是由于虽然同测一个点，但是受到激发的程度会不同，有变化。 6、外部有强磁场、强电流、谐波干扰或者电流不稳，温度高湿度大的情况下都有可能测试不准。 7、元素与元素之间的荧光干扰。
土壤重金属常用分析方法
1.传统的分析方法—化学滴定、比色法。 2.新型的分析方法—光谱法。包括原子吸收分光光度法（AAS）、电感耦合等离子体发射光谱发（ICP）、原子荧光光谱仪（AFS）、质谱仪。 3.快速的分析方法—X荧光法（XRF）。

x射线荧光光谱基本参数法

x射线荧光光谱基本参数法
X射线荧光光谱法（XRF）是一种常用的元素分析方法，其基本原理是利用X射线激发样品，使样品发出荧光，然后通过检测荧光的信号来定性和定量元素。

以下是一些基本的参数：
1. 激发源：X射线荧光光谱法的激发源通常是X射线管，可以产生高能量的X 射线。

2. 荧光探测器：荧光探测器用于检测样品发出的荧光。

常见的荧光探测器有闪烁计数器、半导体探测器等。

3. 分析器：分析器用于改变X射线的传播方向，使X射线通过样品的不同部分，以便于检测样品不同深度的元素。

4. 扫描速度：扫描速度是指在单位时间内样品扫描的范围，扫描速度越快，扫描的范围越大。

5. 分辨率：分辨率是指能够区分两个相邻元素的能力。

6. 灵敏度：灵敏度是指检测到的荧光信号与元素含量之间的关系，灵敏度越高，检测到的荧光信号越强，能够检测到的元素含量越低。

7. 线性范围：线性范围是指元素含量在什么范围内时，荧光信号与元素含量成线性关系。

以上只是一般的情况，具体的参数可能会因实验条件、仪器设备、样品特性等因素而有所不同。

土壤重金属元素的测定能量色散X射线荧光光谱法地方标

土壤重金属元素的测定能量色散X射线荧光光谱法地方标土壤中的重金属元素是指相对原子质量较重且相对稳定的金属元素，如铜、铅、锌、镉、铬、镍等。

这些重金属元素在土壤中的含量通常很低，但由于其毒性较强，可能对生态系统和人类健康造成不良影响。

因此，准确测定土壤中重金属元素的含量是非常重要的。

目前，能量色散X射线荧光光谱法（EDXRF）是一种常用的测定土壤中重金属元素含量的方法。

该方法通过测量荧光X射线的能量和强度，可以定量分析样品中不同元素的含量，包括重金属元素。

下面将详细介绍EDXRF在土壤重金属元素测定中的应用。

首先，EDXRF测定土壤中重金属元素的原理是利用样品被入射X射线激发发射X射线的特性。

当入射X射线能量足够大时，样品中的电子被激发至高能级状态，然后返回低能级时会发射荧光X射线。

不同元素的原子核结构不同，发射的荧光X射线的能量也不同，因此可以通过测量荧光X射线的能量来判断样品中的元素种类和含量。

为了保证测定结果的准确性，需要地方标准样品作为参照物。

地方标准样品是由国家或地方认可的实验室制备的，其元素含量已经被认证和确认。

通过与地方标准样品的对比，可以确定所测样品中的重金属元素的含量。

在进行EDXRF测定前，需要对土壤样品进行前处理。

通常包括样品的干燥、研磨和筛分等步骤。

干燥的目的是去除样品中的水分，以免对测定结果造成影响。

研磨和筛分能够使土壤样品更加均匀，确保测定结果的准确性。

在实际测定中，首先需要根据地方标准样品制备EDXRF分析所需的参考曲线。

参考曲线是一种使用一系列已知浓度的标准样品绘制的曲线，可以将不同元素的荧光X射线强度与元素浓度之间的关系表示出来。

通过测量标准样品的荧光X射线强度，并与其浓度进行对比，可以获得测定元素浓度与荧光X射线强度之间的关系。

在进行土壤样品的测定时，将已经进行前处理的样品放置在EDXRF仪器中进行测量。

仪器将发射一束X射线，并测量荧光X射线的能量和强度。

通过测量出的荧光X射线能量和强度，可以使用参考曲线进行反演计算，得到土壤样品中各种元素的含量。

土壤中重金属检测方法

土壤中重金属检测方法土壤中重金属是指地壳中含有一定量的稀有金属元素，具有较高的密度和相对较高的毒性。

由于人类活动的不当和工业排放等原因，土壤中重金属污染已成为全球环境问题之一。

为了保护土壤质量和人类健康，需要进行重金属的检测。

下面将介绍几种常见的土壤中重金属检测方法。

1. 原子吸收光谱法（AAS）原子吸收光谱法是一种常用的重金属检测方法。

该方法通过测量样品中重金属元素的吸光度，来分析重金属元素的含量。

首先，将土壤样品化学分解，提取重金属元素，然后将提取液用比色皿放入原子吸收光谱仪中进行测量。

该方法对于多种重金属元素的检测都具有较高的灵敏度和准确性。

2. X射线荧光光谱法（XRF）X射线荧光光谱法是一种无损检测方法，不需要样品的前处理，可以直接对土壤样品进行分析。

该方法通过射线照射样品，激发样品中的原子，使其发射特定的荧光光谱。

通过测量荧光光谱的强度和能量，可以确定样品中的重金属元素含量。

X射线荧光光谱法具有快速、准确和非破坏性等优点。

3. 电感耦合等离子体质谱法（ICP-MS）电感耦合等离子体质谱法是一种高灵敏度、高分辨率的分析方法。

它通过将土壤样品中的重金属元素离子化，然后通过质谱仪进行离子计数，从而确定重金属元素的含量。

ICP-MS可以同时测定多种元素，具有较高的灵敏度和准确性。

该方法适用于多元素分析，对于研究土壤中不同重金属元素的迁移和积累具有重要意义。

4. 石墨炉原子吸收光谱法（GFAAS）石墨炉原子吸收光谱法是一种分析重金属元素含量的常见方法。

该方法通过将土壤样品化学分解后进样到石墨炉中，然后加热石墨炉，使样品中的重金属元素蒸发和原子化，进而进行光谱测量。

石墨炉原子吸收光谱法具有较高的灵敏度和准确性，特别适用于低浓度、微量重金属元素的测定。

以上是几种常见的土壤中重金属检测方法，它们在实际应用中可以互相结合，以提高分析结果的准确性和可靠性。

在进行土壤重金属检测时，应根据具体情况选择适当的方法，并在实验过程中注意标准操作规程和安全措施，以保障检测结果的准确性和人员安全。

xrf重金属报告

XRF重金属报告1. 引言重金属是一类具有高密度和毒性的金属元素，常见的重金属包括铅、汞、镉、砷等。

这些重金属在环境中的积累会对人类健康和生态系统造成严重危害。

为了评估环境中的重金属含量，科学家们发展了许多方法和技术，其中一种常用的方法是采用X射线荧光光谱仪（XRF）进行分析。

本报告将介绍XRF分析重金属的步骤和相关注意事项。

2. XRF分析步骤XRF分析是一种非破坏性的分析方法，可以快速准确地确定样品中的重金属含量。

以下是XRF分析重金属的步骤：2.1 样品准备首先，需要准备待测样品。

样品通常是固体物质，可以是土壤、岩石、水、植物组织等。

在准备样品时，需要注意避免样品受到污染，以确保测试结果的准确性。

2.2 仪器校准在进行XRF分析之前，需要对X射线荧光光谱仪进行校准。

校准过程包括使用特定浓度的标准物质进行一系列测量，以建立分析仪器的响应曲线。

校准过程的准确性对于获得可靠的测试结果至关重要。

2.3 测量样品校准完成后，可以开始测量待测样品。

将样品放置在XRF仪器的测量台上，确保样品与仪器的接触良好。

XRF仪器会向样品发射X射线，通过测量样品返回的荧光辐射来确定样品中重金属的含量。

2.4 数据处理测量完成后，需要对得到的荧光辐射数据进行处理。

XRF仪器会将数据转换为重金属元素的浓度，通常以重量百分比或毫克/升为单位。

可以使用计算机软件或手动计算来完成数据处理过程。

2.5 结果解读最后，根据测量结果进行结果解读。

将样品中重金属的含量与相关标准进行比较，评估其对环境和人类健康的潜在影响。

如果样品中的重金属含量超过了允许的限值，可能需要采取相应的措施来减少其对环境和人类的危害。

3. 注意事项在进行XRF分析时，需要注意以下事项以确保测试结果的准确性：3.1 样品准备样品准备过程中，应避免使用污染的仪器和容器。

使用干净的工具和材料来收集、保存和处理样品，以避免样品污染和数据偏差。

3.2 仪器校准仪器的准确性和稳定性对于获得可靠的测试结果至关重要。

X荧光光谱、XRF(能量色散型X荧光光谱仪)设备安全技术措施

X荧光光谱、XRF(能量色散型X荧光光谱仪)设备安全技术措施近年来，随着科技的不断发展，X荧光光谱及XRF(能量色散型X荧光光谱仪)设备在工业、环保、矿业等领域被广泛应用。

这类设备在各行各业中扮演着举足轻重的作用。

然而，由于X荧光光谱及XRF设备的高能射线和高电压的存在，这些设备也存在一定的安全隐患。

为了维护工作场所和工作人员的安全，需要采取一系列安全技术措施。

X荧光光谱设备安全技术措施1. 设备防护措施X荧光光谱设备具有较高的能量，辐射量较大，因此在使用过程中需要采取防护措施。

一般情况下应保持设备正常运行状态，使用时保持间隔距离，并使用专门的防护屏幕来隔离辐射源和人员。

同时，在对样品进行分析时，还应尽量将样品放置在透射材料下或采用样品配件进行防护。

2. 人员防护在进行样品分析时，人员必须配备专业的防护设备，如带顶盔、防射线眼镜、防辐射手套等。

操作人员应接受培训并获得相应的资格证书，了解操作规程和安全注意事项，确保安全使用设备。

在使用X荧光光谱设备的工作场所，应明显标识辐射危险区域和安全禁止区。

同时，对设备也应设置相应的警示标识，以便人员随时了解到设备的安全状态。

4. 检修维护设备在长期的使用过程中需要进行检修维护，确保设备的完好性和稳定性。

检修维护工作应由专业技术人员进行，以确保设备的可靠性和安全性。

XRF设备安全技术措施1. 安全训练必须在设备操作前，对相关操作人员进行安全培训，确保操作人员熟悉设备使用规程，并能够正确操作设备。

2. 样品准备样品准备过程中需要注意将样品放入密封容器中进行加工，以防止辐射物质的释放。

同时，操作人员在样品处理过程中应该尽量少接触样品。

3. 设备安装和检修对于XRF设备的安装和检修，需要由专业技术人员进行。

在设备的安装和检修过程中，操作人员必须佩戴防护用品，严格按照安全规定操作。

对于XRF设备，需要设置相应的警示标识，提醒人员随时了解设备的安全状态。

结论X荧光光谱及XRF设备在各领域均扮演着重要的角色，但在设备的应用过程中安全问题必须引起我们的重视。

土壤快速检测 xrf和pid标准

土壤是地球表面的重要组成部分，其质量直接关系到植物的健康生长和环境的保护。

土壤的快速检测和分析显得尤为重要。

而XRF和PID 技术正是当前土壤快速检测的两种常用标准，其快速、准确和可靠的特点使其在土壤检测领域得到广泛应用。

一、XRF技术1. XRF技术介绍XRF（X射线荧光）技术是一种非破坏性的检测方法，通过测定物质吸收X射线后放出的荧光射线能量来分析样品中的元素成分，其检测速度快、准确度高。

XRF仪器可以对土壤中的多种元素进行快速检测，包括但不限于铅、镉、铬等重金属元素。

2. XRF技术在土壤快速检测中的应用XRF技术在土壤快速检测中得到了广泛的应用，可以用于土壤中重金属元素的检测，以及土壤中各种元素的含量分析。

XRF技术的高灵敏度和准确性，使其成为土壤污染和环境监测的重要手段。

3. XRF技术的优势XRF技术具有快速、准确、无需样品处理等优势，且不会产生有害废物，对环境友好。

因此在实际应用中，XRF技术被广泛应用于土壤环境检测、农田土壤肥料的质量检测等方面。

二、PID技术1. PID技术介绍PID（光电离检测）技术是一种适用于挥发性有机化合物检测的快速检测方法。

它利用紫外光电离原理来检测气相样品中的挥发性有机物质。

2. PID技术在土壤快速检测中的应用在土壤快速检测中，PID技术可以用于检测土壤中的挥发性有机物，如苯、甲苯、乙苯等有机物质的含量。

PID技术具有快速、准确、灵敏度高等特点，可用于地下水和土壤中挥发性有机物质的快速检测。

3. PID技术的优势PID技术对挥发性有机物质具有很高的检测灵敏度，且检测速度快，无需复杂的样品处理过程。

因此在土壤环境监测和土壤污染物快速检测领域得到了广泛的应用。

三、XRF和PID在土壤快速检测中的应用案例1. 以XRF技术为主的土壤重金属元素快速检测采用XRF技术对某市区农田土壤中的重金属元素进行了快速检测，发现了土壤中铅、镉等重金属元素超标的问题，为土壤污染防治和土地利用提供了重要参考。

XRF分析仪元素精度的要求

XRF分析仪元素精度的要求X射线荧光分析仪（XRF）是一种非破坏性的化学分析方法，它能够对样品中的元素进行准确、快速的分析。

XRF分析仪正逐步代替传统的化学分析方法，成为广泛应用的实验室分析仪器。

在实际应用中，XRF分析仪元素精度是非常重要的一个指标，本文将从什么是XRF分析仪、XRF分析仪的工作原理、XRF分析仪元素精度的影响因素以及XRF分析仪元素精度的要求等方面进行探讨。

什么是XRF分析仪X射线荧光分析仪是一种非破坏性的化学分析仪器，它能够对样品中的元素进行快速、准确的分析。

通常情况下，XRF分析仪通过射入样品的X射线，激发样品中的原子，使原子跃迁到高能级并发射出特定波长的X射线，从而达到分析样品中元素组成的目的。

XRF分析仪的工作原理在XRF分析仪中，X射线由X射线管产生，经过一定的分束系统后投射到样品上。

样品中的原子受到X射线的激发后，会跃迁到高能态，并发射出特定波长的X 射线。

这些X射线被XRF仪器中的探测器收集，并测量其能量和强度。

根据X射线的能量和数量，可以确定样品中各元素的含量。

XRF分析仪元素精度的影响因素影响XRF分析仪元素精度的因素有很多，主要的因素有以下几个：样品制备样品制备对XRF分析仪元素精度有很大影响。

对于不同的样品，需要使用不同的制备方法和仪器。

例如，对于固体、液体和气态样品，需要使用不同的制备方法和分析策略。

样品状况样品状况对XRF分析仪元素精度的影响也很大。

对于不同的样品，需要分别采取不同的样品制备方法，以达到准确的分析结果。

X射线的能量和质量X射线的能量和质量对XRF分析仪元素精度的影响也很大。

不同的元素需要不同的X射线能量和质量才能准确分析，否则会影响到分析结果的准确性。

XRF分析仪元素精度的要求在实际应用中，XRF分析仪元素精度是非常重要的一个指标。

一般来说，XRF 分析仪元素精度的要求主要包括以下几个方面：准确性XRF分析仪的准确性是指分析结果与标准值的比较。

X荧光光谱、XRF(波长色散型X荧光光谱仪)设备安全技术措施

X荧光光谱、XRF(波长色散型X荧光光谱仪)设备安全技术措施
前言
XRF设备是一种非常重要的科学仪器，主要用于分析物质的成分和结构，可以广泛应用于材料科学、地球科学、化学、生物学以及环境监测等领域。

然而，由于其所具备的放射性成分，特殊的操作环境和高风险特征，XRF设备的使用和管理需要充分重视安全问题。

本文将从设备的特点、安全措施以及设备维护等方面来介绍XRF设备的安全技术措施。

XRF设备的特点
X荧光光谱(XRF)是一种非常重要的化学分析技术，其特点是非常快速、准确并且无需样品的特殊处理。

XRF设备是离子辐射仪器，它运用了X光线的能量，用来分析样品的结构和成分。

一般来说，XRF设备可以分为两种类型，即便携式XRF设备和台式XRF设备。

做为一种离子辐射仪器，XRF设备具有以下的特点：
•高风险。

X光线是剂量增强的电磁辐射，对于人体来说危害较高。

•放射性。

XRF设备中透射窗和射线管等部件都含有放射性材料，使用者需要严格按照指南运用，并进行安全处理。

•机械结构复杂。

XRF设备的内部构造复杂，维护需要专业人员。

XRF X荧光光谱仪

XRF X荧光光谱仪简介XRF X荧光光谱仪是一种分析仪器，被广泛应用于金属分析、地球化学分析、环境监测、建筑材料检测等领域。

它具有分析速度快、精度高等优点，在现代技术应用中扮演着不可或缺的角色。

原理XRF X荧光光谱仪的分析原理是荧光光谱分析法。

它利用样品中元素的原子吸收X射线的特性，进而激发出来自于样品中的原子的荧光发射，通过检测荧光信号的能量和强度，对样品组成进行快速、准确的分析。

在操作过程中，XRF X荧光光谱仪的电子束照射到样品上，样品产生的原子被激发，产生荧光，荧光的能量和强度都会指示元素的化学成分。

荧光发射的能量与荧光所包含的原子的化学成分有关，因此可以通过荧光分析来确定样品的组成和它们的精确数量。

优点XRF X荧光光谱仪具有以下特点和优点：•操作便捷：由于XRF X荧光光谱仪采用非破坏性分析，可避免人员暴露于污染物或其他有毒有害气体，操作程序也非常简单。

•分析速度快：一般情况下，在应用XRF X荧光光谱仪对样品进行分析时，测量时间只需要几分钟就能完成。

•精度高：XRF X荧光光谱分析法由于实验操作简单，进样快速，能够准确快速地研究样品的组分及其含量，一般可以满足普通分析的要求。

•覆盖范围广：XRF X荧光光谱仪不仅适用于分析金属材料，还可以应用于土壤分析、岩石分析、水质分析等许多领域。

应用领域XRF X荧光光谱仪被广泛应用于各领域的化学分析，包括但不限于：金属工业、建筑材料、地球化学、环境监测、冶炼、矿物勘探等。

在具体应用过程中，XRF X荧光光谱仪可针对不同的实验要求，配备不同的探头和滤光镜，提供光滑测量范围、更精确的测量结果，并能用于分析样品中的不同元素，提高分析的准确性。

总结XRF X荧光光谱仪是一种分析金属材料、地球化学、环境监测等领域化学成分的重要仪器，在现代技术应用中具有不可替代的作用。

随着技术的不断发展，XRF X荧光光谱仪将在更多的领域得到应用，并为我们带来更多的实用价值。

XRF选择

XRF（RoHS检测仪器）选择经典能测RoHS指令的仪器很多，而且这些仪器无论是国产的还是进口的，都是属贵重仪器。

如何选择不光是费用问题，更主要的使用问题。

对六种有害物质总量的定量检测：一、按日本商会欧盟分部的''依照RoHS指令的检测方法〃。

方法详另见附件。

该方法建议对来料先便携式（手持式）荧光光谱仪检测，能通过的就算合格，遇到不合格的就算不合格品。

对灰色区域的，需要最终判断，要用台式仪器。

对于不同材料，使用的台式仪器各不相同.二、台式X射线荧光光谱仪的选择。

早期的台式荧光光谱仪使用液氮（LN）致冷探测器Si（Li）LN,每次使用要消耗液氮，也不方便。

电致冷硅漂探测器SiPIN出现后，就成为侧RoHS光谱仪探测器的主流。

液氮致冷灵敏度较容易达到要求，成本比电致冷的稍微低点，所以现在个别品牌还有液氮的。

但现有的电致型都能达到RoHS要求，且有的品牌用Si （Li）PCD电致冷探测器几乎达到的ppb级水平。

实际上，在有RoHS之前早就有X射线荧光光谱仪，测RoHS的要求相对来说要求并不太高，所以就派上用场了。

以上两种探测器对测轻元素的灵敏度都不理想（所以美国NITON便携式荧光光谱仪不能测铝等轻元素）。

出现了SDD电致冷探测器，提高了对轻金属元素的灵敏度，还能测硅等非金属元素，但价格相对来说又贵了许多，如国产的BXE-50DR，美国热电元素的ARLQUANT'X。

三、X射线荧光光谱仪的种类。

X射线荧光光谱仪有多种，以能量色散和波长色散为主。

1．能量色散荧光光谱仪能量色散型仪器最大的优点是不破坏被测的材料或产品，也不需要专业人员操作，缺点是对铬和溴是总量测定（一般不影响使用，因为很多情况可以判定，如测铬总量超标，常可知是不是六价铬超标，特别是溴，如被作为阻燃剂加入，不管是那种溴，总量超标就不合格）。

进口或国产的各种能量色散荧光光谱仪技术水平虽有差别，但已够应对RoH S检测，用户应根据自己的能力来选购国产或进口的。

土壤xrf标样

土壤 xrf 标样
步骤 1：引言土壤 X 射线荧光光谱仪（XRF）是一种非破坏性分析技术，用于快速分析土壤中的元素含量。它可以提供准确和可靠的分析结果，因此在农业、环境科学和地质学等领域得到了广泛应用。本文将以土壤 XRF 标样为例，介绍如何使用土壤 XRF 仪器进行分析，并解释如何解读分析结果。
步骤 2：准备标样首先，需要准备一些已知元素含量的土壤标样作为参照物。这些标样应该涵盖通常在土壤中存在的关键元素，如氮、磷、钾、钙、镁、铁等。标样应该经过严格的质量控制，以确保其准确性和可靠性。
步骤 3：仪器校准在进行土壤 XRF 分析之前，需要对仪器进行校准。校准过程涉及使用已知元素含量的标样进行
分析，并与其它准确方法（如化学分析）的结果进行比较。通过比较，可以调整仪器的参数，以确保在分析中获得准确的结果。
步骤 4：样品准备在分析之前，需要将土壤样品进行准备。首先，样品应该被干燥和研磨成细粉末。然后，将土壤粉末填充到 XRF 仪器的分析室中。为了提高分析的准确性，可以将样品进行压制，以确保样品的均匀性和紧密度。
量数据。这些数据通常以相对百分比的形式呈现。解读数据时，可以将其与已知标样进行比较，以了解土壤中不同元素的相对含量。此外，还可以将结果与土壤质量标准进行对比，以判断土壤是否存在污染或营养不良等问题。
步骤 7：结果分析与应用最后，可以根据土壤 XRF 分析的结果进行进一步分析和应用。例如，可以识别土壤中的污染物，评估土壤的肥力或了解土壤中元素的分布情况。这些信息对于农业管理、环境保护和地质研究等领域都具有重要意义。
步骤 5：分析操作接下来，可以开始进行土壤 XRF 分析。将仪器打开，并选择正确的分析模式和参数设置。将样品放入分析室，并启动分析过程。仪器将使用 X 射线辐射样品，并测量返回的 X 射线荧光信号。这些信号与样品中的元素含量相关联，仪器将自动计算并记录结果。

波长色散xrf荧光光谱仪技术参数

波长色散xrf荧光光谱仪技术参数
波长色散XRF荧光光谱仪是一种非破坏性的分析方法，可用于快速分析各种化合物的成分和含量。

其技术参数如下：
1. 测量范围：从镁到铀元素的所有元素。

2. 测量精度：能够达到0.01%的高精度分析。

3. 分辨率：最大分辨率可达到0.01eV。

4. 采样方式：可用于样品表面分析、光学纤维分析、液体分析等多种采样方式。

5. 数据处理：可进行定量和定性分析，并能够自动生成分析报告。

6. 软件支持：配备了专业的分析软件，可进行多元素分析、谱线拟合、拟合精度评估等功能。

7. 仪器型号：常用的波长色散XRF荧光光谱仪型号包括Rigaku ZSX Primus II、Thermo Scientific ARL 9900等。

波长色散XRF荧光光谱仪广泛应用于金属、矿物、环境、制药、食品等领域，具有快速、高效、准确的分析优势。

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岛津 X 射线萤光分析仪 (XRF) 规格说明

Si 漂锂检测器分辨率比较高，达 150eV(数值越大,分辨率越差)。而他牌的 pin 检测大多数用于比较低級的膜厚检测，分辨率为 220－260eV。
1.
偵測器型式
Si(Li)檢測器
2. 3.
解析度最小分析尺寸
150eV 或更低 1mm 1.铅（Pb）2.9 ppm 2.镉（Cd）:2.5 ppm PVC & PE 3.汞（Hg）:4.2 ppm 4.铬（Cr）:10.9 ppm 5.溴（Br）:1.2 ppm 鋁合金 1.铅（Pb）:3.3 ppm 2.镉（Cd）:2.2 ppm 1.铅（Pb）:35.5 ppm C PVC (1) 他牌在 PE 与 PV 低浓度检测有害物质具有意义，而在高浓度或成分不单一物质中做检测时数据仅供参考！例 Cu、如在金属比如： Al 中侦测有害物质 ”。 ND” 能力为”ND (2) 在未说明侦测物质的基材与成分而給出做浓度侦测极限的數據是不可信無鉛焊錫铅（pb）:24.8 ppm 的，毫无实际意义！因為不同基材的檢出下限是不同的。无卤素氯（Cl）:23ppm 完全应对无卤检测要求
直接激发新式 X-ray tube / 平行光输出 X-ray Rh 靶材对应不同的輕、重元素要选择不同的电压来激发。(針對不同的元素使用不
4.
輸出管電壓
5KV-50 KV,可做 1KV 多段任意選擇
同的電壓和電流來突顯被測物的有害元素的實際含量) 。
5.
輸出管電流
共 6 种) Al(P〜Cr,Zr〜Nd) Ti(Cr〜Zn,Pm〜Re)
6.
濾光器 (Primary Filter)
Zr(Tc〜Ba) Mo（Pd〜Ba) Ni(Zn～Mo,Re～U)