一次元电子测高仪操作说明
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3、使用职责
3.1第一次使用人员必须认真阅读完此使用规程方可进行测量操作。
3.2任何使用人员都必须严格按照规程的要求进行使用和保养。
4、测量范围及项目
4.1测量范围
4.1.1 TESA-Hite 400型一次元电子高度仪的测量高度或直径范围为≤400mm。
4.1.2根据大理石平台的规格可测量长≤500mm零件的直线度、平行度误差及断面跳动量等。
TESA-Hite一次元电子高度仪操作说明
编号：
版本/修改：A/0
页码：2/4
生效日期：
5.1.2配套的标准校验块，主要用于完成测头直径的测量，并将测头的直径补偿进后续测
量。
5.2检测测头
5.2.1测量垂直度的电感测头、杠杆表或千分表（暂时都未配备）。
5.2.2各种长度不一的检测测头：前端是球形、平面形的测头、L形测头等。
TESA-Hite一次元电子高度仪操作说明
编号：
版本/修改：A/0
页码：4/4
生效日期：
8、注意事项
8.1此一次元电子高度仪用于测量精密零件或高要求的样品，常用测量器具就能够满足零件或样品技术要求的，请勿使用此数显高度仪测量。
8.2被测零件或样品的粗糙度值不能过大，粗糙度Ra值应≤3.2，避免零件或样品太粗糙磨损大理石平台及检测测头，降低检测测头的测量精度及检测测头的使用寿命和磨损大理石平台。
6.5.2开机，慢慢旋转驱动轮将千分表测头移动到最低点。
6.5.3将零件或样品垂直放置于大理石平台上，推动零件接触千分表测头后继续推进0.4—0.5mm左右，使千分表指针对准零位。
6.5.4执行测量；慢慢旋转驱动轮使千分表测头上下移动。
6.5.5观察千分表指针的移动量即垂直度误差值。
6.6测量完毕后，请关闭一次元电子高度仪电源，按照下列规程做好维护保养工作。
8.10使用过程中发现大理石平台原有损坏或使用人员不小心碰伤、刮花要及时上报。
8.11使用过程中发现一次元电子高度仪有问题、损坏或因使用人员不按此规程和说明书操作发生问题及损坏要及时上报。
9、其它
9.1本规程只讲解了单向测量、双向测量、垂直度测量、平面度及平行度这几种常用测量项目。因其它测量项目内容过多并且不常使用，所以本规程将未讲述。
6.1.4安装相应检测测头，并安装到位且锁紧。
6.1.5开机，轻轻按一下电源开关（ON/OFF）键。
6.2单向测量流程
6.2.1开机后，向左慢慢旋转驱动轮使检测测头向下通过补偿点。
6.2.2按F1键，进入单项测量模式。
6.2.3使用驱动轮触测零点，即大理石平台。
6.2.4执行测量；旋转驱动轮触测对零件或样品需要测量的尺寸。对有台阶的零件旋转驱动轮进行逐一测量。
8.6测量孔径、轴径、平行度或需使用到驱动轮固定钮时，严禁过度用力向左或向右旋转，以免损坏驱动轮固定钮。
8.7在平移一次元电子高度仪时，应先按住气源开关再推动数显高度仪，严禁不按住气源开关就移动一次元电子高度仪。
8.8一次元电子高度仪的各项系统参数均已设置好，请勿私自随意更改系统设定好的系统参数。
8.9请勿私自调节支撑大理石平台四个支承点的高度调节螺母。
7.1.4电量用完后只能用配套的专用充电器进行充电，充电时间8—12为宜，不能充电时间过长。
7.2大理石平台的维护保养
7.2.1每次测量完毕后，将所有零件或样品拿走，擦拭干净各种辅助及各类检测测头放入相应专用盒内，并把盒子放到指定位置放好。
7.2.2使用布沾上少许高浓度酒精（酒精浓度≥95%）擦拭大理石平台工作表面及各个侧面。
6.3测圆流程
6.3.1开机，向左慢慢旋转驱动轮使检测测头向下通过补偿点
6.3.2将测头放入标准校验块中，下上下上触测后进入双向测量模式。
6.3.3选择零点，连续触测两次归零。
6.3.4执行测量；测头触测零件或样品孔径后，继续旋转驱动轮，听见Beep一声为止。
6.3.5将将驱动轮固定，零件或样品平移，使测头通过圆弧极点后，会出现黑色三角形符号，一次元电子高度仪自动记录极点位置。
4.2.3双向测量，在上下方向进行长度测量，如板类零件上的孔、沟槽或轴的内、外径、孔内沟槽直径等尺寸。
4.2.4垂直度测量，可测出零件垂直度误差值。
4.2.5平面度测量，可测量出平面度误差值。
4.2.6平行度测量，可测量出平行度误差值。
5、辅助测量工具及检测测头
5.1辅助测量工具
5.1.1便于放置零件的大理石V形块（暂时未配备），主要用于测量轴类零件或样品内外圆使用。不推荐使用V形铁，因为使用过程中要经常移动容易磨损大理石平台。降低测量精度及大理石平台使用寿命。
TESA-Hite一次元电子高度仪操作说明
编号：
版本/修改：A/0
页码：1/4
生效日期：
1、目的
指导使用人员正确使用及维护保养测高仪及大理石平台，避免因不按正确操作流程使用，而影响测量数据的准确性及损坏测高仪和大理石平台，提高测量精度及使用寿命，特制定本规程。
2、适用范围
适用于生产部、质量部品质控制，TESA-Hite400型一次元电子高度仪和大理石平台的正确使用及维护保养。
9.2如需要进行其它测量请仔细参阅TESA-HITE 400型一次元电子高度仪操作说明书。
10、相关资料
《TESA-Hite 400一次元电子高度仪操作说明书》
编制
审核
批准
7、日常维护保养
7.1一次元电子高度仪的维护保养
7.1.1每次测量完毕关闭电源后，用无尘布认真仔细擦拭干净检测测头、测臂、驱动轮、防尘皮带及控制面板。
7.1.2擦拭干净后，使用布套把测高仪整体遮盖起来并整理平整，防止灰尘进入一次元电子高度仪气浮孔，影响测量精度或损坏测高仪。
7.1.3每月用无尘布沾少许防锈润滑剂擦拭保养仪身，不可用其它化学溶剂擦拭。
4.1.3根据此一次元电子高度仪规格可测量≤400mm的垂直度误差。
4.2测量项目
4.2.1一次元电子高度仪只能准确测量出平面类零件长、宽、高度和孔径、沟槽的位置和轴类零件的内外圆直径及内孔沟槽直径。不能准确测量出有倾斜度、锥度、曲面等零件。
4.2.2单向测量，在同一个方向进行长度测量。如平面类零件高度、轴类零件的长（高）度、梯形台阶高度等尺寸。
5.2.3双向球形检测测头（暂时未配备），用于测量内孔沟槽的直径。
6、常用测量
6.1测量前准备
6.1.1请将符合一次元电子高度仪测量范围及项目的零件或样品认真仔细擦拭干净，不得用此一次元电子高度仪测量带有油污的零件或样品。
6.1.2根据零件或样品ቤተ መጻሕፍቲ ባይዱ状尺寸，准备好各种辅助测量工具及检测测头。
6.1.3揭开测高仪和大理石平台的保护装置，并叠好放置。
编号：
版本/修改：A/0
页码：3/4
生效日期：
6.4双向测量流程
6.4.1开机，向左慢慢旋转驱动轮使检测测头向下通过补偿点。
6.4.2将测头放入标准校验块中，上下上下触测后进入双向测量模式。
6.4.3选择零点，连续触测两次归零。
6.4.4执行测量；对零件上的槽或孔进行上下触测。
6.5零件垂直度测量
6.5.1将千分表安装在测臂上且锁紧。
7.2.3擦拭完毕后等待1—2分钟酒精挥发干后，使用保护板把大理石平台全部遮盖起来整理平整，防止灰尘落入平台。
7.2.4考虑到支承轴长期受到平台重量压力变形的可能或者意外振动、高度调节螺母意外松动等自然原因，每个月应该用水平仪对大理石平台进行一次平面校验。
7.2.5每个季度使用防锈油对支撑架进行防锈，避免高度调节支承轴及螺母生锈。
6.3.6触测零件相反方向，将6.3.2、6.3.3、6.3.4、6.3.5重复执行一次，取得另一方向的极点位置。
6.3.7松开驱动轮固定钮，显示数值为圆心高度，按F4键，便可得出直径数值。
6.3.8注：测量轴径时，旋紧驱动轮固定钮后须按下功能键；一次元电子高度仪将按测轴寻找极点值。
TESA-Hite一次元电子高度仪操作说明
8.3测量零件时摇动测头驱动轮的速度不能太快，测头的最快移动速度≤30mm／s，测量垂直度时移动速度≤20mm／s。测量平行度时零件的移动速度≤20mm／s。
8.4测量零件时，越接近零件或样品测头移动速度越慢，严禁快速移动测头触测零件或样品。以免损坏测头测臂及数显高度仪。
8.5测量前应将零件仔细擦拭干净，被测零件不得有油渍和污垢，测量时注意轻拿轻放，严禁零件或样品碰撞或在大理石平台上快速移动。以免影响测量数据和弄脏及损坏大理石平台。
3.1第一次使用人员必须认真阅读完此使用规程方可进行测量操作。
3.2任何使用人员都必须严格按照规程的要求进行使用和保养。
4、测量范围及项目
4.1测量范围
4.1.1 TESA-Hite 400型一次元电子高度仪的测量高度或直径范围为≤400mm。
4.1.2根据大理石平台的规格可测量长≤500mm零件的直线度、平行度误差及断面跳动量等。
TESA-Hite一次元电子高度仪操作说明
编号：
版本/修改：A/0
页码：2/4
生效日期：
5.1.2配套的标准校验块，主要用于完成测头直径的测量，并将测头的直径补偿进后续测
量。
5.2检测测头
5.2.1测量垂直度的电感测头、杠杆表或千分表（暂时都未配备）。
5.2.2各种长度不一的检测测头：前端是球形、平面形的测头、L形测头等。
TESA-Hite一次元电子高度仪操作说明
编号：
版本/修改：A/0
页码：4/4
生效日期：
8、注意事项
8.1此一次元电子高度仪用于测量精密零件或高要求的样品，常用测量器具就能够满足零件或样品技术要求的，请勿使用此数显高度仪测量。
8.2被测零件或样品的粗糙度值不能过大，粗糙度Ra值应≤3.2，避免零件或样品太粗糙磨损大理石平台及检测测头，降低检测测头的测量精度及检测测头的使用寿命和磨损大理石平台。
6.5.2开机，慢慢旋转驱动轮将千分表测头移动到最低点。
6.5.3将零件或样品垂直放置于大理石平台上，推动零件接触千分表测头后继续推进0.4—0.5mm左右，使千分表指针对准零位。
6.5.4执行测量；慢慢旋转驱动轮使千分表测头上下移动。
6.5.5观察千分表指针的移动量即垂直度误差值。
6.6测量完毕后，请关闭一次元电子高度仪电源，按照下列规程做好维护保养工作。
8.10使用过程中发现大理石平台原有损坏或使用人员不小心碰伤、刮花要及时上报。
8.11使用过程中发现一次元电子高度仪有问题、损坏或因使用人员不按此规程和说明书操作发生问题及损坏要及时上报。
9、其它
9.1本规程只讲解了单向测量、双向测量、垂直度测量、平面度及平行度这几种常用测量项目。因其它测量项目内容过多并且不常使用，所以本规程将未讲述。
6.1.4安装相应检测测头，并安装到位且锁紧。
6.1.5开机，轻轻按一下电源开关（ON/OFF）键。
6.2单向测量流程
6.2.1开机后，向左慢慢旋转驱动轮使检测测头向下通过补偿点。
6.2.2按F1键，进入单项测量模式。
6.2.3使用驱动轮触测零点，即大理石平台。
6.2.4执行测量；旋转驱动轮触测对零件或样品需要测量的尺寸。对有台阶的零件旋转驱动轮进行逐一测量。
8.6测量孔径、轴径、平行度或需使用到驱动轮固定钮时，严禁过度用力向左或向右旋转，以免损坏驱动轮固定钮。
8.7在平移一次元电子高度仪时，应先按住气源开关再推动数显高度仪，严禁不按住气源开关就移动一次元电子高度仪。
8.8一次元电子高度仪的各项系统参数均已设置好，请勿私自随意更改系统设定好的系统参数。
8.9请勿私自调节支撑大理石平台四个支承点的高度调节螺母。
7.1.4电量用完后只能用配套的专用充电器进行充电，充电时间8—12为宜，不能充电时间过长。
7.2大理石平台的维护保养
7.2.1每次测量完毕后，将所有零件或样品拿走，擦拭干净各种辅助及各类检测测头放入相应专用盒内，并把盒子放到指定位置放好。
7.2.2使用布沾上少许高浓度酒精（酒精浓度≥95%）擦拭大理石平台工作表面及各个侧面。
6.3测圆流程
6.3.1开机，向左慢慢旋转驱动轮使检测测头向下通过补偿点
6.3.2将测头放入标准校验块中，下上下上触测后进入双向测量模式。
6.3.3选择零点，连续触测两次归零。
6.3.4执行测量；测头触测零件或样品孔径后，继续旋转驱动轮，听见Beep一声为止。
6.3.5将将驱动轮固定，零件或样品平移，使测头通过圆弧极点后，会出现黑色三角形符号，一次元电子高度仪自动记录极点位置。
4.2.3双向测量，在上下方向进行长度测量，如板类零件上的孔、沟槽或轴的内、外径、孔内沟槽直径等尺寸。
4.2.4垂直度测量，可测出零件垂直度误差值。
4.2.5平面度测量，可测量出平面度误差值。
4.2.6平行度测量，可测量出平行度误差值。
5、辅助测量工具及检测测头
5.1辅助测量工具
5.1.1便于放置零件的大理石V形块（暂时未配备），主要用于测量轴类零件或样品内外圆使用。不推荐使用V形铁，因为使用过程中要经常移动容易磨损大理石平台。降低测量精度及大理石平台使用寿命。
TESA-Hite一次元电子高度仪操作说明
编号：
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生效日期：
1、目的
指导使用人员正确使用及维护保养测高仪及大理石平台，避免因不按正确操作流程使用，而影响测量数据的准确性及损坏测高仪和大理石平台，提高测量精度及使用寿命，特制定本规程。
2、适用范围
适用于生产部、质量部品质控制，TESA-Hite400型一次元电子高度仪和大理石平台的正确使用及维护保养。
9.2如需要进行其它测量请仔细参阅TESA-HITE 400型一次元电子高度仪操作说明书。
10、相关资料
《TESA-Hite 400一次元电子高度仪操作说明书》
编制
审核
批准
7、日常维护保养
7.1一次元电子高度仪的维护保养
7.1.1每次测量完毕关闭电源后，用无尘布认真仔细擦拭干净检测测头、测臂、驱动轮、防尘皮带及控制面板。
7.1.2擦拭干净后，使用布套把测高仪整体遮盖起来并整理平整，防止灰尘进入一次元电子高度仪气浮孔，影响测量精度或损坏测高仪。
7.1.3每月用无尘布沾少许防锈润滑剂擦拭保养仪身，不可用其它化学溶剂擦拭。
4.1.3根据此一次元电子高度仪规格可测量≤400mm的垂直度误差。
4.2测量项目
4.2.1一次元电子高度仪只能准确测量出平面类零件长、宽、高度和孔径、沟槽的位置和轴类零件的内外圆直径及内孔沟槽直径。不能准确测量出有倾斜度、锥度、曲面等零件。
4.2.2单向测量，在同一个方向进行长度测量。如平面类零件高度、轴类零件的长（高）度、梯形台阶高度等尺寸。
5.2.3双向球形检测测头（暂时未配备），用于测量内孔沟槽的直径。
6、常用测量
6.1测量前准备
6.1.1请将符合一次元电子高度仪测量范围及项目的零件或样品认真仔细擦拭干净，不得用此一次元电子高度仪测量带有油污的零件或样品。
6.1.2根据零件或样品ቤተ መጻሕፍቲ ባይዱ状尺寸，准备好各种辅助测量工具及检测测头。
6.1.3揭开测高仪和大理石平台的保护装置，并叠好放置。
编号：
版本/修改：A/0
页码：3/4
生效日期：
6.4双向测量流程
6.4.1开机，向左慢慢旋转驱动轮使检测测头向下通过补偿点。
6.4.2将测头放入标准校验块中，上下上下触测后进入双向测量模式。
6.4.3选择零点，连续触测两次归零。
6.4.4执行测量；对零件上的槽或孔进行上下触测。
6.5零件垂直度测量
6.5.1将千分表安装在测臂上且锁紧。
7.2.3擦拭完毕后等待1—2分钟酒精挥发干后，使用保护板把大理石平台全部遮盖起来整理平整，防止灰尘落入平台。
7.2.4考虑到支承轴长期受到平台重量压力变形的可能或者意外振动、高度调节螺母意外松动等自然原因，每个月应该用水平仪对大理石平台进行一次平面校验。
7.2.5每个季度使用防锈油对支撑架进行防锈，避免高度调节支承轴及螺母生锈。
6.3.6触测零件相反方向，将6.3.2、6.3.3、6.3.4、6.3.5重复执行一次，取得另一方向的极点位置。
6.3.7松开驱动轮固定钮，显示数值为圆心高度，按F4键，便可得出直径数值。
6.3.8注：测量轴径时，旋紧驱动轮固定钮后须按下功能键；一次元电子高度仪将按测轴寻找极点值。
TESA-Hite一次元电子高度仪操作说明
8.3测量零件时摇动测头驱动轮的速度不能太快，测头的最快移动速度≤30mm／s，测量垂直度时移动速度≤20mm／s。测量平行度时零件的移动速度≤20mm／s。
8.4测量零件时，越接近零件或样品测头移动速度越慢，严禁快速移动测头触测零件或样品。以免损坏测头测臂及数显高度仪。
8.5测量前应将零件仔细擦拭干净，被测零件不得有油渍和污垢，测量时注意轻拿轻放，严禁零件或样品碰撞或在大理石平台上快速移动。以免影响测量数据和弄脏及损坏大理石平台。