统计制程管理SPC於SPI应用

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何謂製程能力指數(Cp)?
表示製程特性的一致性程度,值越大越集中 ,越小越分散。
顧名為製程能力指數,其公式定義如下:
Cp = USL-LSL 6 Sigma
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何謂製程精確度(Ca)?
表示製程特性中心位置的偏移程度,值等於 零,即不偏移。值越大偏移越大,越小偏移 越小
名稱
優點
缺點
X-R Chart
平均數/全距管制圖
○ 計算不困難 ○ 較能推定製程
製程推定比 X-s Chart差
X-R Chart 中位數/全距管制圖 ○ 計算簡單
X-s Chart
平均數/標差管制圖 ○ 最能推定製程
X-Rm Chart
個別值/移動全距管 制圖
○ 計算簡單 ○ 適用於破壞性、溶
劑比重檢驗或量測 不易等之製品
○可直接檢視不良數趨勢 能造成不良漏檢。
u Chart
○檢查數不同時採用
單位缺點數 ○可直接檢視單位缺點發
管制圖
生之趨勢
管制界限計算繁瑣,且每點皆 須計算。
c Chart
缺點數管制 圖
○檢查數相同時採用 ○可直接檢視缺點發生之 趨勢
如刻意規定相同之檢查數,可 能造成不良件漏檢。
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SPI常用的SPC管制手法?
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規格 VS 管制上下限
規格上限- Upper Spec Level,產生的程序 是經由各樣品的平均值,依統計方法加以整 理,定出能否出貨的規格上限. (規格下限同 理之)
管制上限-Upper Control Limit,產生的程 序乃是經由取樣檢查產品的平均值,加上分 佈離散程度的標準差.
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為何我們需要SPC?
經濟學家”梭羅”曾經說過: 『要弄清楚一件事情,是要花時間和
金錢的。』 無法找到對的、有效的、並落實持
續改善的精神.
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SPC對你們的改變?
宣告 …… “經驗”掛帥時代的結束
代表「品質公共認證時代」的來臨 最重要的還是養成“持續不斷改善
的觀念、態度、行動、習慣 ”
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簡易標準差計算
標準差定義為方差的平方根 例如,兩組數的集合 {0, 5, 9, 14} 和 {5,
6, 8, 9} 其平均值都是 7 ,但第二個集合具 有較小的標準差(5.1478/1.5811) 公式如下:
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最佳的標準差應該是多少??
除品質外, 成本也是企業生存的考量重點
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SPC與SQC之差別?
SPC與傳統SQC的最大不同點,就在於由 Q至P的這兩個字轉換
SQC是著重買賣雙方可共同評斷與鑑定的 一種「既成事實」── 品質(Quality)
SPC是希望將努力的方向更進一步的放在 品質的源頭──製程(Process)
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管制特性(手法)分類
製程推定比 X-R Chart差 計算繁瑣
抽樣數少,最不 能推定製程
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常用計“數”值管制圖
種類 名稱
優點
缺點
不良率管制 ○檢查數不同時採用
管制界限計算繁瑣,且每點皆
p Chart 圖
○可直接檢視不良率趨勢 須計算。
不良數管制 ○檢查數相同時採用
如刻意規定相同之檢查數,可
np Chart 圖
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Cpk如何判定優劣?
當Cpk值愈大,代表製程綜合能力愈好,等級判 定:依Cpk值大小可分為五級
等級 A+ A B C
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SPC之主體為何?
傳統上,品管使用正負3 SIGMA﹝標準差 ﹞,它是假設量產產品的品質特性值遵 守常態分配,而中心值加減 3 SIGMA的 界線,一般稱之為管制上限和管制下限 ,產品品質特性值出現在管制上下限內 的機率值為99.73%,這個部分構成品質 管制中所謂統計製程管制─SPC的主體
Sigma 水準 + - kσ 1σ 2σ 3σ 4σ 5σ 6σ
Cp Cpk
0.33 0.67 1.00 1.33 1.67 2.00
良率 %
68.27% 95.45% 99.73% 99.9937% 99.999943% 99.9999998%
不良率 ppm
317,400 45,600 2,700
SPI標準是3個SIGMA.
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何謂標準差?
標準差,在機率統計中最常使用做為統計分 析程度(statistical dispersion)上的測 量
簡單來說,標準差是一組數值自平均值分散 開來的程度的一種測量觀念。一個較大的標 準差,代表大部分的數值和其平均值之間差 異較大;一個較小的標準差,代表這些數值 較接近平均值。
管制圖分為計量值與計數值兩大類,其中 每一類又各有四種方法可運用
如今以預防的眼光來看,並不建議使用計 數值管制圖
計量值管制圖卻不同,它們不但可以幫助 我們在發現管制圖異常時及時實施製程管 制,也可以在製程能力不足時採取製程改 善行動,以防止不良品的產出
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常用計“量”值管制圖
種類
統計製程管理-
SPC於SPI應用
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何謂SPC?
SPC為Static Process Control之縮 寫,即所謂之統計製程管理
深藍區域是距平均值小於一個 標準差之內的數值範圍。在常 態分佈中,此範圍所佔比率為 全部數值之 68% 。 根據常態 分佈,兩個標準差之內(深藍 ,藍)的比率合起來為 95% 。
平均數管制圖(X Bar Chart) . 全距管制圖(R Chart) 標準差管制圖(S Chart). 製程能力指數,Cp 製程精確度,Ca (or K) 製程綜合能力指數,Cpk
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Hale Waihona Puke 重要名詞解釋規格上限/規格下限(USL/LSL) 管制上限/管制下限(UCL/LCL) 標準差(Sigma) 製程能力指數-Cp 製程精確度-Ca 製程綜合能力指數-Cpk
顧名為製程精確度,其公式定義如下:
|Ca| = k =
| (USL+LSL)/2 – μ | (USL-LSL)/2
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製程綜合能力指數(Cpk)
表示製程精確度與能力特性的一致性程度, 值越大管理越佳,越小越差(沒有負值)
顧名為製程精確度綜合能力指數,其公式定 義如下:
Cpk =(1-K) X Cp Or MIN { CPU, CPL }
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