膜厚计(高度规)校验规范
马尔高精度薄膜测厚仪的测试标准
马尔高精度薄膜测厚仪的测试标准在当今社会，科技的不断发展给我们的生活带来了许多便利，其中高精度薄膜测厚仪便是其中之一。
作为表面分析和薄膜测量领域中的重要仪器，马尔高精度薄膜测厚仪在许多领域中得到了广泛的应用。
然而，要想保证该仪器的准确性和可靠性，就需要有一套完善的测试标准来进行检验。
本文将就马尔高精度薄膜测厚仪的测试标准进行深入探讨，希望能给您带来新的见解。
一、测试标准的制定马尔高精度薄膜测厚仪的测试标准是由相关的技术标准委员会或专业机构进行制定的。
这些标准通常会包括对仪器的性能、精度、稳定性、重复性等方面的要求，以及对测试过程和结果的评定方法。
制定标准的过程需要充分考虑到使用者的需求和实际应用情况，尽量保证标准的全面性和合理性。
二、测试标准的内容测试标准通常包括以下内容：1. 仪器性能测试：包括仪器的分辨率、测量范围、稳定性等性能的测试，以及对测试结果的准确性要求。
2. 测试方法：对使用马尔高精度薄膜测厚仪进行测试的具体方法和步骤进行规定，以保证测试的准确性和可重复性。
3. 结果评定：对测试结果的评定标准和方法进行规定，包括数据处理的要求和标准。
4. 校准要求：规定了仪器的校准周期、方法和标准，以保证仪器的准确性和可靠性。
5. 使用和维护：对仪器的日常使用和维护的要求进行规定，以延长仪器的使用寿命。
三、测试标准的重要性测试标准的制定和遵守对于保证马尔高精度薄膜测厚仪的准确性和可靠性至关重要。
只有严格按照标准进行测试和使用，才能保证测试结果的准确性和可靠性，进而保证产品质量和生产效率。
在实际应用中，如果没有严格的测试标准，就很难保证测试结果的准确性。
如果测试结果不准确，就会给产品的研发和生产带来麻烦，甚至导致产品质量的问题。
制定和遵守严格的测试标准是非常重要的。
四、个人观点作为我的文章写手，我深切地理解和认同马尔高精度薄膜测厚仪的测试标准对产品质量和生产效率的重要性。
只有严格按照标准进行测试和校准，才能保证仪器的准确性和可靠性，从而保证产品的质量和生产的效率。
测厚规校准方法
测厚规校准方法下载温馨提示：该文档是我店铺精心编制而成，希望大家下载以后，能够帮助大家解决实际的问题。
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测厚规检定规程
测厚规检定规程测厚规是一种用于测量物体厚度的工具，广泛应用于工业生产和科学研究领域。
为了保证测厚规的准确性和可靠性，需要进行检定。
本文将介绍测厚规检定的规程和步骤。
测厚规的检定主要包括以下几个方面：准确度、重复性、线性度、分辨力、稳定性和环境适应性等。
首先是准确度的检定。
准确度是指测厚规所测得的数值与被测物体的实际厚度之间的偏差。
为了检验准确度，需要选取一组已知厚度的标准样品进行比对。
将测厚规放置在样品上，记录测量结果，并与标准样品的厚度进行比较。
如果测量结果与标准值相差较大，则说明测厚规存在准确度问题。
其次是重复性的检定。
重复性是指在相同的条件下，重复进行多次测量得到的结果之间的偏差。
为了检验重复性，可以选择一个标准样品，重复进行多次测量，并记录测量结果。
然后计算这些测量结果之间的偏差，如果偏差较大，则说明测厚规存在重复性问题。
第三是线性度的检定。
线性度是指测厚规在不同厚度范围内测量结果与实际值之间的偏差。
为了检验线性度，需要选择不同厚度的标准样品进行测量，并记录测量结果。
然后将测量结果与标准值进行比较，如果存在较大偏差，则说明测厚规存在线性度问题。
第四是分辨力的检定。
分辨力是指测厚规能够区分的最小厚度差。
为了检验分辨力，可以选择一组具有不同厚度差的标准样品进行测量，并记录测量结果。
然后观察测厚规是否能够准确地区分这些不同厚度差的样品。
第五是稳定性的检定。
稳定性是指测厚规在长时间使用过程中，测量结果是否稳定不变。
为了检验稳定性，可以选择一个标准样品，连续多次进行测量，并记录测量结果。
然后观察测量结果是否有较大的变化，如果变化较大，则说明测厚规存在稳定性问题。
最后是环境适应性的检定。
环境适应性是指测厚规在不同温度、湿度和压力等环境条件下，测量结果是否稳定。
为了检验环境适应性，可以在不同的环境条件下进行测量，并记录测量结果。
然后观察测量结果是否受到环境条件的影响，如果受到影响，则说明测厚规存在环境适应性问题。
膜厚仪操作规范
指导文件膜厚仪操作规范REV 版本A
PAGE页码 2 of 2 (6).校准：通过、、键切换到菜单的CAL位置→按OK键屏幕上显示Base→在Fe片或AI片上测量
量几次→按OK键屏幕上显示STDI→将标准片放在底材上测量几次，按或键将测量值调
整为标准片的标准值→按OK键校准完成，仪器返回RES测量状态.
(7).设定/删除上下限和偏差补偿值：通过、键切换到菜单TOL位置→按OK键，屏幕上显示
MIN，按、输入最小值→按OK键，屏幕上显示MAX，按|、}键输入最大值→按OK键，屏幕上显示OFFS，按、键输入偏差补偿值→按OK键，完成设定，仪器返回RES测量状态.
a.如果要跳过某一项，比如不需要OFFS，直接按OK键跳过.
b.将最小值设为0即可删除上、下限.
c.设定下下限后，如果测量数据小于最小值，仪器将响两声且屏幕上显示MIN及q符号；
如果测量数据大于最大值，仪器也将响两声且屏幕上显示MAX及p符号.
五、注意事项.
1、因仪器小巧，请防止跌落.
2、不要用手触摸显示屏，以保持清洁要防止其受到撞击.
3、请保持被测工件的干燥，防止弄脏损坏探头，影响测量的精度和稳定性.
4、若发生故障请及时与仪校单位或厂商联系处理.
显示灯
LCD
ESC
OK。
厚薄规校验规范
5.4.4校验结果记录于<<检测设备内部校验报告>>
5.4.5将千分尺及厚薄规擦拭干凈并防锈后归位.
6.0参考数据
厚薄规说明书,检测设备校验/管理作业办法.
7.0附件:
无
0.10mm – 0.30mm ±0.005mm
0.30mm – 0.60mm ±0.007mm
0.60mm – 1.00mm ±0.010mm
5.2校验设备:
校验合格的千分尺,精度要求在±0.001mm.
5.3准备事项:
5.3.1工业酒精,无尘擦拭纸及纯绵套.
5.3.2用无尘擦拭纸沾工业酒精将厚薄规及千分尺擦拭干凈,置于仪校室4小时以上.
5.3.3把千分尺归零,装夹在千分尺专用钳台上.
5.3.4熟读整个校验程序.
5.4校验:
5.4.1外观检查:
无锈蚀,刮伤,碰伤,折断,尺寸标注清晰.
5.4.2厚度校验:
5.4.2.1每片厚薄规至少取两端和中间三个点进行检测并记录.
5.4.3校验结果判定:
5.4.3.1测得值的最大值或最小值减去标示值为误差值.
5.4.3.1.1当厚薄规尖端测得值超出容许误差而中间及根部值在容许误差范围之内
时,可截断尖端超出容许误差的部分并写仪器故障评估报告.
5.4.3.1.2.当厚薄规根部厚度超出容许误差,则用标签封住根部超出容许误差部分并
贴限用标签并写仪器故障评估报告.
5.4.3.1.3当厚薄规中间段厚度或两端厚度超出容许误差时,则判为不合格并写仪
1.0目的:
为使本公司厚薄规校验规范化,保证厚薄规校验的准确性,可靠性,制定此规范.
2.0范围:
本公司所有检测用厚薄规均适合.
光学干涉式薄膜测厚仪校准规范
光学干涉式薄膜测厚仪校准规范1 范围本校准规范适用于测量范围为（10-300）μm 、分辨力为0.01μm 光学干涉式薄膜测厚仪的校准。
2 引用文件本规范引用了下列文件：GB/T 14847-2010 重掺杂衬底上轻掺杂硅外延层厚度的红外反射测量方法 JJF 1306-2011 X 射线荧光镀层测厚仪校准规范使用本规范时，应注意使用上述引用文献的现行有效版本。
3 概述光学干涉式薄膜测厚仪是一种基于光学干涉方法的非破坏性分析仪器，主要用于薄膜厚度的测量，在微电子、半导体、液晶显示等领域中具有广泛的应用。
光学干涉式薄膜测厚仪测量原理为由光源发出的光经由光纤通过探头入射到薄膜样品的表面，经由薄膜样品的上、下表面与参考面反射光相干涉形成的干涉信号由探头接收传送到解调仪；解调仪将其测量数据传输到计算机后进行运算得到待测薄膜样品的厚度测量结果。
图1 光学干涉式薄膜测厚仪工作原理框图4 计量特性4.1 厚度测量重复性薄膜厚度测量相对重复性不超过2%。
4.2 厚度测量示值稳定性在1h 内其示值变化不超过仪器相对示值最大允许误差。
4.3 厚度测量示值误差薄膜厚度测量相对示值最大允许误差不超过6%。
光源薄膜样品解调仪计算机探头注：由于校准工作只给出测量结果，不判断合格与否，上述计量特性仅供参考。
5校准条件5.1环境条件a)校准室环境温度：（20±5）℃；b)相对湿度：≤75%RH；c)校准室内无影响测量的振动或噪音，无影响测量的气流扰动，放置被校仪器的工作台稳固、可靠。
5.2校准所用标准器光学干涉式薄膜测厚仪校准用标准器为厚度标准片，厚度标准片标准厚度值的相对扩展不确定度应不大于2%（k=2）。
厚度标准片的技术要求见附录C。
6校准项目和校准方法6.1校准前准备校准前应目视观察及开机运行检查，包括光源、探头、解调仪、计算机等机构的功能可靠性。
在确保没有影响校准计量特性的因素后方可进行校准。
仪器开机预热不少于20min。
电解式膜厚测定器操作与校正工作规范
为使本仪器之操作与校正明确化，让操作者有所遵循之依据规范的操作本仪器，减少人为之误差，以确保检测之准确与有效性。
2.适用范围适用于凡电解式膜厚测定器操作与校正或其它类型号之使用。
3.定义 略 4.权责4.1本办法由制造部电镀课负责制订及修订。
4.2使用单位负责维护与保管。
5.作业程序 5.1操作程序5.1.1第一次使用膜厚机时，先设定正确的时间。
5.1.2时钟设定程序，先开机到下列“Menu”视窗。
5.1.3使用功能键上〔▲〕〔▼〕键将游标移动到5.Clock set 并按下ENTER5.1.4使用功能键，〔▲〕〔▼〕将游标移动到我们所要设定时间的区域，使用〔+〕〔-〕功能键，让时间改变。
5.1.5修改完成按下ENTER 键约两秒以上，即可完成设定。
5.1.6按下BACK 键，可回到“Menu”书面。
5.1.7择我们所测定材料的最外层电镀，如Cr ，Ni ，Cu…等。
按下〔▲〕〔▼〕键在Substrate 处用〔+〕〔-〕键选定我们的次层。
5.1.9按下ENTER 之后，即出现下面书面Enter conditions ，使用〔▲〕〔▼〕键来移动游标，用〔+〕〔-〕来修改资料。
5.1.105.1.115.1.12按下START 键，测定开状直到蜂鸣声响起，则测定完成。
5.1.13﹙测电位差﹚倒入多层镍药水MULTICKEL PLATING 入电解液槽，再将银电极放入电解液槽后，将记录器上记录红笔压在记录纸上。
再将记录器面板上MARKER ，INPUT 及START 键分别顺序按下，先调整起始电位0mv。
再按TH-10P 膜厚机上START 键，此时电位开始读取。
﹙记录纸上每一条粗线代表上下每格电位差为200mv 。
﹚5.2校正程序5.2.1使用〔▲〕〔▼〕键将游标移动到2.Calibration 校正选项5.2.35.2.4使用〔▲〕〔▼〕键将游标移动到要修改项目5.2.55.2.6按下ENTER，表示已经在待测状态。
膜厚仪作业指导书
膜厚仪作业指导书引言概述:膜厚仪是一种用于测量薄膜材料厚度的仪器，广泛应用于材料科学、化学工程、电子工程等领域。
本文将为您介绍膜厚仪的操作指南，帮助您正确并高效地使用膜厚仪进行测量。
一、准备工作1.1 仪器检查在开始使用膜厚仪之前，首先要进行仪器检查。
检查仪器是否完好，各个部件是否正常运转，如光源、探测器等。
确保仪器的正常运行是准确测量的前提。
1.2 校准膜厚仪在使用之前需要进行校准，以确保测量结果的准确性。
校准的方法通常是使用已知厚度的标准样品进行比对。
校准过程中要注意仪器的稳定性和环境的干净程度，以避免外界因素对校准结果的影响。
1.3 样品准备在进行测量之前，需要准备待测样品。
样品应该被清洁干净，并且表面应该平整，无明显的缺陷。
如果样品表面有杂质或污渍，可能会影响测量结果的准确性。
二、测量步骤2.1 打开仪器在进行测量之前，首先要打开膜厚仪的电源开关，并等待仪器启动。
在仪器启动的过程中，要确保仪器处于稳定状态，以免影响后续的测量。
2.2 放置样品将样品放置在膜厚仪的测量台上，并确保样品与测量台接触良好。
在放置样品的过程中要注意轻拿轻放，避免对样品造成损坏。
2.3 开始测量在样品放置好之后，可以开始进行测量。
根据膜厚仪的操作界面，选择相应的测量模式和参数，并开始测量。
在测量过程中要保持稳定，避免外界因素对测量结果的影响。
三、数据处理3.1 数据记录在测量完成后，要及时记录测量结果。
可以使用膜厚仪自带的数据记录功能，或者将数据导出到电脑进行保存。
确保数据的准确性和完整性，以备后续的分析和研究。
3.2 数据分析根据测量结果，可以进行数据分析。
可以计算样品的平均厚度、厚度分布等参数，并进行统计和比较。
通过数据分析，可以更好地了解样品的特性和性能。
3.3 结果解读在数据分析的基础上，对测量结果进行解读。
根据测量结果，可以判断样品的质量、工艺的合理性等。
结果解读的准确性和科学性对于后续的研究和应用具有重要意义。
漆膜测厚仪校验规程
漆膜测厚仪校验规程
XXXXXXX有限公司文件编号QC/LY-3-82-20-09
版次 A 品保部工作文件修改状态0
漆膜测厚仪校验规程页数第1页共1页1 校验条件
1.1温度20±5℃，相对湿度50%-80%。
1.2标准箔片47.8μm±1%、98.6μm±1%、257.2μm±1%、489μm±1%、1002μm±1%厚。
2校验过程
2.1取以上各种厚度的校准箔片在未涂层的基体上，各测量5次，计算出测量平均值。
2.2显示值与标准箔片厚度值不符，用“Δ”和“▽”键改变显示值直到显示值与标准箔片厚度一致。
2.3按CAL键，校正结束。
4 判定示值误差，在±1%范围内为合格。
5对校验过程进行记录并将记录填写在《监视和测量设备校验记录》上。
6对校验合格的漆膜测量仪贴合格证标签，不合格的则进行修理、调试，完后重新校验。
7校验周期为一年。
涉及表单：监视和测量设备校准记录。
测厚规内校标准
测厚规内校标准
1.目的
建立本公司测厚规校验操作程序，通过对测厚规的内部校准，确保测量结果准确可
靠。
2.范围
适用于本公司内的测厚规内校作业。
3.内校标准器具
量块
4. 校验环境
温度：25±3℃相对湿度：25%RH~75%RH
5. 检验项目和步骤
5.1外观和功能检查：
5.1.1 检查仪器测量用工作面和测量杆无损伤、外观有无损伤、腐蚀、碰撞、LED 显示屏是否缺划, 显示是否正常. 按键功能是否正常，检准前测厚规与量块在室平衡温度时间不小于2h.
5.2示值误差
5.2.1依仪器量程按表一选择对应的校准受检点，指示表上的计数与量块尺寸之差即为该受检点的示值误
表一单位：mm
5.2.3校正结果判定：根据测厚规之允许偏差作出判定合格或不合格并记录在校验记录表上；
5.2.4校正周期：一年一次
6. 相关文件和表单：
6.1《监视与测试装置管理程序》
6.2《测厚规内校记录表》。
国标膜厚测试规范
国标膜厚测试规范随着国民生活水平的提高，人们对于生活和工作中的各种标准和规范要求也越来越高。
而这些标准和规范的制定和执行则对于各行各业的发展和成长至关重要。
国标膜厚测试规范即是其中之一，下文将从背景介绍、规范内容、应用范围、测试方法、注意事项等多个维度全面阐述国标膜厚测试规范。
背景介绍在许多行业中，如汽车、建材、塑料制品等领域，薄膜厚度的精度和准确性对于产品质量和性能的保证至关重要。
然而，在这些行业中，很多企业往往缺乏一套完整的、标准化的薄膜厚度测试流程，导致检测结果存在不确定性和误差。
为了统一薄膜厚度测试标准，国际标准化组织ISO制定了《塑料材料薄膜厚度的测量》的国际标准ISO 4593，而国内也相应出台了国标膜厚测试规范GB/T 6672。
规范内容国标膜厚测试规范GB/T 6672的内容主要分为四个部分：一、标准规范；二、术语和定义；三、试验方法；四、测试结果报告。
其中，标准规范部分详细规定了测试的样品数量、测试环境、测试仪器规范和精度等，以确保测试的准确性和可重复性。
应用范围国标膜厚测试规范适用于测量各种薄膜材料、塑料袋、瓶盖膜、复合膜等薄膜材料的厚度。
而各行各业中对于薄膜厚度的要求也不尽相同。
例如，建材领域中主要用于检测封闭式气凝胶保温材料的薄膜厚度，而汽车制造领域则常用于检测轮胎的胎面厚度和压花深度等。
测试方法国标膜厚测试规范GB/T 6672规定了两种常用的测试方法：A方法和B方法。
A方法适用于薄膜厚度在0.015mm以下的材料测量，该方法使用的测试仪器为自重式厚度计，测试时将材料贴于测试平台上，利用仪器的自身重力和重力感应器测量膜厚。
B方法适用于薄膜厚度在0.015mm以上的材料，该方法使用的测试仪器为电子厚度计，测试时需将材料夹在两个发光二极管之间，仪器便可通过红外线测量厚度值。
注意事项在进行国标膜厚测试规范GB/T 6672的测试时，需注意以下事项：一、测试之前应先对测试仪器进行校准，以确保准确度。
膜厚计操作规程(新3.21日)
管理文件
膜厚计操作规程
文件编号
发行日期
版别
共2页
HY/PG-15
2010-3-15
A
1/2
批准
审核
编制
制定单位
品管部
宁波环瀛工具有限公司管理文件
文件编号
HY/PG-15
膜厚计操作规程
版本编号
A
修改状态
0
1目的
加强对膜厚计的管理，确保正确、安全、有效的使用。
2．适用范围
适用于试验室内膜厚计的管理、维护。
3．职责
品管部是膜厚计的主管部门，负责膜厚计的维护和保养。
4工作程序
4．1待测工件处理
4.1.1选择比较平整的面作为测量面，用绘图橡皮清洁测量面（测镀锌层时尤其要擦除钝化层）。
4.1.2下降橡皮垫圈压住测量面，压力的大小以不漏液，橡皮垫圈不变形为准。。
4.1.3注入电解液，并随即用吸管吹去电解面上的气泡（有气泡会阻断电流通过，仪器会发出间歇报警声）。
4.1.4放入气体搅拌头或搅拌电机（测铬不用）。
4.4.5恒流电缆的红夹头夹住电镀待测件，黑夹子夹住支架后上的不锈钢电极上。
4．2仪器操作
4.2.1接入交流220V电源，打开电源开关，按复位键。
4.2.2按“打印”，打Байду номын сангаас窗上的红灯亮，先把打印纸纸张剪平，把纸头送进打印窗口（左右摇动赛到底），再按住送纸键，完成送纸。
4.5.3.测量按近终点显示指示灯向右逐只点亮，最后自动结束测量，然后显示（打印）测量结果。
5.操作技巧
5.1通电开机输入系数“0150”之后，只要不断电、不按“复位”键，系数0150就始终保留，不必每次输入系数。
膜厚仪使用操作规范
1.0目的确保膜厚仪的正确使用及保养，提高测量的准确度。
2.0使用范围适用于CM-8822膜厚仪的整个使用过程。
3.0技术参数（以CM-8822膜厚仪为例）型号：CM-8822测量量程：0-1000 um读数精度：0.1 um (0~99.9 um )1 um(超过100 um)测量精度 :±1~3%n or或2.5um (甚至更高)电源：4节1.5AA3号电池显示屏：4指宽，10MM的液晶显示器温\湿度范围：0-50℃低于80%相对湿度尺寸（宽×高×深）：161×69×32m m重量：260g（不包含电池）标准附件 : 主机 1台操作手册 1份F探头 1件 NF探头 1件标准试片 1套铝基样板 1片铁基样板 1片4.0功能键：探头 : F系列的用于测量导磁的原材料（例：铁、镍等）表层上的涂层（例：油漆、塑料、搪瓷、铜、锌、铝、铬等）可应用于测量电镀层，油漆层，搪瓷层、磷化层、铜瓦、铝瓦、一些合金瓦（巴氏合金）、纸等。
N系列探头用于不导磁基层上的不导磁的表层厚度。
常应用于铝、黄铜、无磁不锈钢表层上的阳极氧化层、涂腊层、油漆层、搪瓷层、塑料层、粉层等。
显示屏 : 用于显示测量数据对零按钮 : 用于校对时归零(ZERO键)加数键：用于对试片时进行数值的调整减数键：用于对试片时进行数值的调整抄送：□总经理□市场部□工艺技术部□计划部□采购部□生产部□品质部□人力资源部□财务部□文控中心电源键：长按可以开关电源（ON/OFF键）单位转换键：进行计量单位的转换（um/mil）电池盒：安装电池的空间5.0使用程序1、根据检测对象的不同，装上F或NF探头。
2、打开电源开关，屏幕显示为0。
仪器进行了自我检测，检测探头的类型（N或NF），并在屏幕上显示。
3、按单位转换键选择计量单位，并在屏幕上显示。
4、将探头按在样板上，屏幕上显示的为0。
根据被测对象的不同，选择合适的试片放在基材样板上，并进行测量。
膜厚测试标准方法与标准
膜厚测试标准方法与标准膜厚测试在工业生产和科学研究中具有重要的应用价值。
通过对薄膜厚度的准确测量，可以帮助生产厂家控制产品质量，提高生产效率，降低生产成本。
同时，薄膜厚度的测试也是科研工作者研究材料特性和性能的重要手段之一。
针对不同的薄膜材料和应用领域，对膜厚测试的标准方法和标准也有所不同。
首先，膜厚测试的标准方法包括非接触式和接触式两种主要方式。
非接触式方法主要包括光学干涉法、X射线荧光法、激光干涉法等，这些方法不需要直接接触样品表面，在不破坏样品的前提下可以快速准确地测量薄膜厚度。
接触式方法主要包括扫描探针显微镜、原子力显微镜等，这些方法需要直接接触样品表面，可以实现更高的分辨率和测量精度。
根据不同的应用需求和实验条件，可以选择合适的膜厚测试方法进行测试。
其次，膜厚测试的标准主要包括ISO、ASTM、GB等国际标准组织发布的标准。
这些标准规定了膜厚测试的基本原理、测试方法、仪器设备、数据处理等方面的要求，对于确保测试结果的准确性和可比性具有重要意义。
在实际的膜厚测试过程中，遵循相关的标准是确保测试结果准确可靠的关键。
在膜厚测试过程中，需要注意一些影响测试结果准确性的因素。
首先是样品表面的准备和处理，必须保证样品表面光洁平整，避免表面粗糙度、不均匀性等因素对测试结果的影响。
其次是仪器设备的选择和校准，不同的膜厚测试方法需要不同的仪器设备，必须校准仪器设备以确保测试结果的准确性。
最后是数据处理和分析，对测试得到的数据进行合理的处理和分析，可以帮助提高测试结果的准确性和可靠性。
梳理一下本文的重点，我们可以发现，膜厚测试的标准方法和标准对于保证测试结果的准确性和可比性具有重要意义。
在进行膜厚测试时，需要选择合适的测试方法和遵循相关的测试标准，同时注意样品表面的准备和处理、仪器设备的选择和校准、数据处理和分析等方面的工作，以确保测试结果的准确性和可靠性。
希望本文对膜厚测试方法与标准的研究能够有所帮助，促进膜厚测试技术的进一步发展和应用。
高度规校验规范
高度规校验规范
1.0目的:
为使本公司高度规校验规范化, 保证高度规校验的准确性, 可靠性, 制定此规范.
2.0范围:
本公司生所有检测用高度规均适合.
3.0定义:
无
4.0权责:
由仪校人员负责制定和执行此规范.
5.0 作业流程:
5.1误差允收标准:
5.2校验设备:
校验合格的三次元测定机.
5.3准备事项:
5.3.1准备工业酒精及无尘擦拭纸.
5.3.2 用无尘擦拭纸沾工业酒精将三次元三轴导轨,三次元平台及高度规擦拭干凈.
5.3.3 调出三次元测头自动更正程序将校验所需用到的测头姿势作测头校正 5.3.4 熟读整个校验程序与使用说明书
5.4 注意事项:
5.4.1搬动高度规时不可用手抓住导轨, 应双手托住高度规底座, 轻放于三
次无平台上, 搬动过程中谨防掉落.
5.5 校验:
5.5.1 外观检查:
无锈蚀,划伤,碰伤, 双导轨上刻度不得有异物阻塞, 数字显示清晰, 无黑斑和闪跳现象.
5.5.2 各部分相互作用: 移动顺畅平稳.
5.5.3 高度尺寸误差校验:
5.5.3.1把高度规依次调到5mm, 10mm, 20mm, 50mm, 100mm, 200mm, 300mm, 400mm, 500mm, 600mm.
5.5.3.2 用三次元依次测量上述所调的高度.
5.5.4 校验结果记录于<<检测设备内部校验报告>>
5.5.5 将三次元及高度规归位.
5.5.6 校验结果判定:
5.5.
6.1用测得值减去高度规示值为精度误差.
6.0 参考数据
高度规使用说明书, 检测设备校验/管理作业办法.
7.0附件:
无。
PU膜厚计操作标准（请按我司三级文件格式整理后,再打印,谢谢）[小编推荐]
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PU膜厚计操作标准（请按我司三级文件格式整理后,再打印,谢
谢）[小编推荐]
第一篇：PU膜厚计操作标准(请按我司三级文件格式整理后,再打印,谢谢)[小编推荐]
膜厚计操作标准
一.操作步骤
1.1首先将洁净双手拿住膜厚计,按电源符号”“,即开机.1.2按左右键”“““,指”设定”,按”ENT”;
1.3接着按上下键,查找”简易调整”,再按”ENT”返回开机画面;
1.4按左右键,选择”调整”,按”ENT”;
1.5显示”NFE校零
1.6两手水平垂直拿住膜厚计下方,垂直接触标准铝板(铝板表面需干净, 整洁),连续测量5次,看:目”栏是否归零后,按”ENT”;
1.7接着显示”标准片校准”,事先准备与所测的实际标准片接近的厚度值,连续水平垂直测量5次后,看”目”栏读数,若与标准值有误差,需按左右上下键进行调整标准值后,再按”ENT”,返回测量状态,简易校准结束,可以开始测量.1.8测量值读数,将PU后测量读数减PU前膜厚读数差,即为实际膜后值.1.9.按电源开关即关机.二.注意事项:
2.1电池使用7号电池,正常使用60小时(若频繁使用，一般两天更换);
2.2测量时,注意必须保持水平垂直;
2.3所需测量的膜纸面积必须大于测头的面积,以便保证测量精度准确;
2.4测量时,所有物品保持洁净;
2.5取拿膜厚纸必须拿上端;
2.6用完后,请放回盒子.。
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文件编号：SCTQC-32版本：1.0发行日期：页数：1/1器具名称
膜厚计校正环境温度：25±5℃湿度：45-80%RH 校正方式直接校正校正部门实验室作业序号
作业名称1作业准备2作业程序3判定4注意事项审核：制定：颖都电子有限公司
SC
（2）待校膜厚计
一.外观检查：无损伤，变形，测量平面无划痕.
品管部膜厚计（高度规）校验规范作业内容SMART CITY ENTERPRISES
LIMITED
核准：工艺简图(2)当误差在最大允许误差值之内则判合格，反之则判不合格.
量块和测量面应保持清洁，无颗粒状异物.
三.示值误差检查：
（1）检验工具：外校合格量块.检验平台.手套.
二.各部分相互作用，高度杆移动灵活，无卡死现象.
（3）外校合格量块为标准值，膜厚计指示值为测试值.
(1)最大允许误差为±0.01mm
机密等级：一般（2）用千分尺测厚仪分别测量1mm,1.005mm.1.01mm.1.02mm.1.05mm标准量块，记录实测值.
（4）测试值减去标准值即为仪器误差值.
（1）将膜厚计置于水平平台上调整后归零
使用前确认标准件是否有校验合格。