测厚仪内校规范
漆膜测厚仪校验规程
XXXXXXX有限公司文件编号QC/LY-3-82-20-09
版次 A 品保部工作文件修改状态0
漆膜测厚仪校验规程页数第1页共1页1 校验条件
1.1温度20±5℃，相对湿度50%-80%。
1.2标准箔片47.8μm±1%、98.6μm±1%、257.2μm±1%、489μm±1%、1002μm±1%厚。
2校验过程
2.1取以上各种厚度的校准箔片在未涂层的基体上，各测量5次，计算出测量平均值。
2.2显示值与标准箔片厚度值不符，用“Δ”和“▽”键改变显示值直到显示值与标准箔片厚度一致。
2.3按CAL键，校正结束。
4 判定示值误差，在±1%范围内为合格。
5对校验过程进行记录并将记录填写在《监视和测量设备校验记录》上。
6对校验合格的漆膜测量仪贴合格证标签，不合格的则进行修理、调试，完后重新校验。
7校验周期为一年。
涉及表单：监视和测量设备校准记录。
测厚仪操作规程
测厚仪操作规程标题：测厚仪操作规程引言概述：测厚仪是一种用于测量物体厚度的仪器，广泛应用于工业生产、建造工程、航空航天等领域。
正确操作测厚仪对于准确测量物体厚度至关重要，下面将介绍测厚仪的操作规程。
一、仪器准备1.1 确保测厚仪处于正常工作状态，检查仪器外观是否有损坏。
1.2 检查测厚仪的电池电量，确保电量充足。
1.3 准备好校准块或者标准样品，用于校准仪器。
二、测量准备2.1 将测厚仪放置在平稳的工作台上，避免受到外界干扰。
2.2 将测厚仪的传感器头对准待测物体表面，确保传感器与物体垂直接触。
2.3 调节仪器的参数，如声速、频率等，以适应待测物体的特性。
三、测量操作3.1 按下测厚仪上的测量按钮，开始进行测量。
3.2 保持传感器头与物体表面接触，直到测量完成。
3.3 记录测量结果，并及时处理数据，如保存、打印或者传输至电脑。
四、校准和维护4.1 定期对测厚仪进行校准，以确保测量结果的准确性。
4.2 清洁测厚仪的传感器头和外壳，避免灰尘或者污垢影响测量精度。
4.3 注意测厚仪的工作环境，避免高温、潮湿或者腐蚀性气体的影响。
五、安全注意事项5.1 使用测厚仪时，避免将传感器头对准眼睛或者其他人体部位。
5.2 在测量过程中，注意避免将测厚仪摔落或者碰撞到硬物。
5.3 在测量结束后，及时关闭测厚仪的电源，避免电池耗尽或者损坏。
总结：遵循以上测厚仪操作规程，可以确保测量结果的准确性和仪器的长期稳定工作。
同时，注意安全操作和定期维护，可以延长测厚仪的使用寿命，提高工作效率。
希翼以上内容对您有所匡助。
橡胶、塑料薄膜测厚仪校准规范
橡胶、塑料薄膜测厚仪校准规范编制说明稿件阶段：征求意见稿上海市计量测试技术研究院二○一三年二月橡胶、塑料薄膜测厚仪校准规范编制说明一、任务来源及计划要求1.1 任务来源：根据国质检办量函（2012）203号“关于做好国家计量技术法规制（修）定计划的通知”要求，由全国几何量工程参量计量技术委员会下达的任务。
1.2 计划要求：2013年7月完成送审稿。
1.3 主要意义：随着机械工业的发展，橡胶、塑料薄膜测厚仪的应用也日益广泛。
作为保障产品质量及量值传递的重要仪器，标定与校准橡胶、塑料薄膜测厚仪至关重要。
目前我国省市级以上的计量检测机构、生产科研单位、橡胶、塑料薄膜测厚仪的生产厂家都在使用橡胶、塑料薄膜测厚仪，存在着橡胶、塑料薄膜测厚仪的计量和使用问题，有相应的校准需求，而我国没有相关的国家校准规范，给橡胶、塑料薄膜测厚仪的使用和校准带来不便，所以制订该规范，使其满足目前的需求。
因此橡胶、塑料薄膜测厚仪校准规范的制定有着重大意义。
二、编制过程2.1 编制原则：2.1.1 校准规范的整个内容应与现行有效相关标准相协调，技术内容应具有先进性、科学性和可操作性。
使本规范适用范围广，具有通用性。
2.1.2在充分调研的基础上，根据实际情况，确定橡胶、塑料薄膜测厚仪的计量特性、校准条件、校准项目、校准方法等。
2.1.3规范中的校准方法应通过实验验证，力求方法简单科学，准确可靠。
2.1.4规范中的文字表述力求层次分明，语句简明，公式表达准确，量和单位使用规范。
2.1.5规范编写格式及要求严格按照国标《JJF1071-2010国家计量校准规范编写规则》要求进行。
2.2 具体工作：该规范的编写工作主要由上海市计量测试技术研究院与安徽省计量科学研究院承担。
同时邀请橡胶、塑料薄膜测厚仪生产厂家上海六菱仪器厂技术人员共同参与。
本规范编写小组主要编写人姜志华、王昕歌、马琳，参加编写人余国安、唐冬梅。
具体实施过程如下：2012年06月开始收集国内外有关标准，进行细致分析研究，按标准的要求制定测试方法，对测试方法进行试验，并做出试验总结，提出改进措施，确保试验方法科学，易操作。
土工布测厚仪校准规范
土工布测厚仪校准规范1范围本规范适用于土工布测厚仪的校准。
2引用文件本规范引用下列文件：GB/T 13761.1 土工合成材料规定压力下厚度的测定第1部分：单层产品厚度的测定方法SL 235-2012 土工合成材料测试规程JTG E50-2006 公路工程土工合成材料试验规程凡是注日期的引用文件，仅注日期的版本适用于本规范；凡是不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改单）适用于本规范。
3概述土工布测厚仪（以下简称测厚仪）应用于水利、公路、铁路、水运等行业，是测定土工布和土工膜厚度的必备仪器。
主要由测杆、指示器、基准板、压脚、加压砝码、杠杆平衡锤及必要的附件等部分组成（如图1所示）。
图1 测厚仪结构示意图1—杠杆平衡锤；2—压脚；3—指示器；4—基准板；5—测杆；6—加压砝码测厚仪采用杠杆原理，测试时将试样放置于基准板，用与基准板平行的表面平整光滑的圆形压脚对试样施加规定压力一定时间后，测量两块板之间的垂直距离，即土工布厚度。
4 计量特性4.1 压脚面积标称面积：25 cm2，最大允许误差：±0.2 cm24.2 指示器示值分辨力：0.01 mm，最大允许误差：±0.03 mm4.3 输出压力压脚应能提供垂直于试样表面2 kPa、20 kPa、200 kPa的压力，最大允许误差：±0.5 %5 校准条件5.1环境条件5.1.1 室温应控制在（20±10）℃，相对湿度≤80 %。
5.1.2 测厚仪应置于平稳的工作台上，周围无影响校准的振动、电磁场或其他干扰源。
5.2测量标准及其他设备5.2.1 标准测力仪，测量范围为（50~500）N，准确度等级为0.3级；5.2.2 数显卡尺，测量范围为（0~200）mm，最大允许误差为±0.03 mm；5.2.3 5等量块。
6 校准项目和校准方法6.1 校准前准备仪器清晰标明其名称、型号、出厂编号、制造厂名以及出厂日期等。
X-Ray测厚仪操作校验规程
（
1.目的
保证FischerX-Ray测厚仪的正确操作，以有效控制产品镀层厚度。
2.范围
公司FischerX-Ray测厚仪的操作和校正工作。
3.职责
品质部负责本文件的制定和修改。
4.工作内容。
4.1设备连线。
4.1.1连接应急电源至三相电源。
4.1.2组装电脑，并将电脑和屏幕的电源连接至应急电源。
4.9.4仪器存放地点应保持：温度20℃±5，湿度30－60﹪RH。
4.9.4每天擦拭仪器表面、测试箱内外和计算机显示器、主机等。
4.9.5每天使用标有厚度的样品，进行预防性测量，监控设备测量精度。
2
Ni/Cu3.81/9.3
3.81um镍标准片+9.3um铜标准片+素材样品
3
Ni/Cu3.81/9.3
3.81um镍标准片+9.3um铜标准片+素材样品
程序名
132-启基Au/Ni/Cu/D15
1
元素Au
金元素片
2
元素Ni
镍元素片
3
元素Cu
铜元素片
4
Al：ABS（校正标准）
素材样品
5
Al：ABS（样品）
4.4基准测量
4.4.1预热完成后，进入菜单[一般]中的“测量基准”。
4.4.2聚焦调整位置后按“开始基准测量”键。
4.4.3先测量Ag（银）元素片，再测量Cu（铜）元素片。
4.4.4待显示为完成时，按“确定”完成基准测量。
4.4.5不得使用其它元素片，进行“基准测量”，以免造成测试程序错乱。
4.5测量
4.3.4转动焦距旋钮到测量点在视频中的聚焦，移动Ag（银）元素片使测量点位于十字线中心。
测厚仪 操作规程
测厚仪操作规程
《测厚仪操作规程》
一、目的
本规程的目的是为了规范测厚仪的操作流程，确保测量结果的准确性和可靠性。
二、适用范围
本规程适用于所有使用测厚仪进行材料厚度测量的人员。
三、操作前的准备
1. 确保测厚仪处于正常工作状态，无损坏和缺陷。
2. 准备所需的校准块和标准样本。
3. 保证测量场地通风良好，避免粉尘和污垢对测量结果的影响。
四、操作步骤
1. 将测厚仪放置在待测材料表面，并确保传感器与表面垂直接触。
2. 打开测厚仪，并将其校准到所需的工作模式。
3. 按下测量按钮进行测量，确保传感器与表面完全贴合，避免晃动或移动。
4. 测量完成后，记录测得的厚度数值，并进行数据处理和分析。
五、注意事项
1. 使用测厚仪时要谨慎操作，避免对仪器造成损坏。
2. 定期对测厚仪进行校准和维护，保证其测量准确性。
3. 在使用过程中如发现仪器故障或异常，应及时停止使用并进
行维修。
六、操作结束
1. 清洁测厚仪和传感器表面，避免积聚杂质。
2. 关闭测厚仪，并将其放置在干燥通风的地方。
3. 将测量结果保存和归档，以备日后参考。
以上就是《测厚仪操作规程》的内容，希望所有使用测厚仪的人员能按照规程进行操作，确保测量结果的准确性和可靠性。
超声波测厚仪校准操作规程
1目的本规程用于超声波测厚仪的检定和校准。
2适用范围本规程适用于新制的、使用中和修理后的数显式超声波测厚仪的校准。
3 依据技术规范JJF 1126-2004《超声波测厚仪校准规范》。
4 技术要求及检定/校准条件室内温度为（20±10）℃；仪器预热时间：分辨率为0.1mm的仪器为15min，分辨率为0.01mm的仪器为30min。
5 使用的仪器设备超声波测厚仪用标准厚度块和标准圆筒进行校正。
6 操作方法与步骤：6.1 打开被检仪器预热不少于30min。
6.2 检查仪器外观和相互作用。
6.3 将仪器的声速设置为5900m/s。
6.4 检定仪器的示值变动性：将探头接插到仪器本体上，再将耦合剂（如医用甘油、机油）涂敷在9.99mm标准厚度块的被测端面，用探头测量标准厚度块测量面中心位置的厚度。
重复对该位置连续测量10次，记下每次的示值，其最大值与最小值之差即为示值变动性。
6.5 示值误差首先根据说明书要求选用适当的标准厚度块对仪器进行示值校正，如无说明书则选择一块9.99mm和一块为仪器测量上限1/2的标准厚度块作仪器高低两端的示值校正。
测量范围分为若干档的仪器，其示值校正应在每档分别进行。
校正完毕后，按表1规定的受检点检定仪器的示值误差。
检定时，将探头放置在标准厚度块的中心位置上连续测量三次。
取算术平均值作为仪器在该点的示值。
表1 （mm）注：测量范围细分为若干档的仪器，没档按相应段的受检点进行检定。
示值误差δH按下式计算：δH=H′- H式中：H′——仪器示值；H ——标准厚度块的标称值。
各点的示值误差应符合表2的规定。
表2 (mm)注：表中H为被测厚度，单位mm。
6.6 曲面壁厚测量的下限及准确度按检定示值误差的方法将仪器校正好,然后根据表3的规定，测量与其尺寸相对应的标准圆管的壁厚。
测量时,手持探头以圆管表面任一素线为轴轻微摆动并观察示值，取最小的稳定的示值为测量结果，其准确度应符合表3的规定。
超声波测厚仪校验规程
超声波测厚仪校验规程
（ISO9001-2015）
1.0适用范围：
对新购或年检的超声波测厚仪进行校验。
2.0技术要求
精度：1.2mm～200mm ±（0.5%厚度值+0.1mm）
3.0校验用器材
3.1 标准试块
4.0校验方法
4.1 外观检查
配件齐全，外观不得有硬碰伤和变形，所有紧固件及接口件不得松脱和脱落。
4.2 测量精度
取最大误差. ︱仪器示值-标称值︱=误差
5.0校验报告
5.1 最大误差在允许值范围内，则该超声波测厚仪合格;
最大误差超出说明书要求则为不合格;
校验合格的仪器,应出具校验报告，校验不合格的仪器不得使用.
5.2 超声波测厚仪校验周期为1年。
当测厚仪存放时间超过1年时，使用前必须重新校验。
当被测量材料的声速与普通钢声速（5900m/s）不同时,应用已知厚度的被测材料重新校验。
6.0参考文件
6.1《量规仪器管理校验程序》
6.2《超声波测厚仪使用手册》
JJF 1071国家计量校准规范编写规则
JJF 1001 通用计量术语及定义
GBT/T 8170 数值修约规则与极限数值的表示和判定7.0记录表格
《超声波测厚仪校验记录》。
CMI-700铜厚测试仪操作规范
TECH ELECTRONICS CO., LTD.人事行政部H R （ ）品质部Q A （√）信息部M I S （ ）管理者代表M R ( )文件修改履历 D O C U M E N T A M E N D M E N T H I S T O R Y (版本I S S U E ：A 0)A-0首次发行刘贤强制定人E D I T O R 标题：C M I -700铜厚测试仪操作规范编号R E F ：Q A W I -028文件状态D O C .S t a t u s 2011-1-5修订R E V 更改简述C O N C I S EDE S C R I P T I O N OF C H A NG E生效日期E F F E C T I V E D A T E彭定胜在以下（ ）中打√选择审批部门经理Choose the approving department manager in ( ) below with √生产部PROD ( )产品工程部P E ( )计划部P P C （ ）财务部F I N ( )物控部P M C （ ）工艺总监E D （ ）维修P M ( )市场部M K T （ ）工艺部M E （ ）总经理G M ( )市场副总M D ( )1.0 目的:2.0 适用范围：页 数编 号Q A W I -028版 本A -O p a g e 2 o f 15C M I -700铜厚测试仪操作规范适用于板厚≥1.0M M ,钻孔孔径≥0.8M M 之板，蚀刻后电/化金板不可用此设备测量。
为C M I 铜厚测试仪建立一份操作指引，依此对图镀后之板铜厚（表铜和孔铜）起着监控作用。
3.0 职责设置校准测量置手处C M I铜厚测试仪操作规范5.2工艺操作过程及操作要求POWER ON打开电源开机画面Bypass……设定、校正、测量、修改等选项Language…语言选择1 English ‚ñe‡2 Spanish ‰•s按下B y p a s s下方按键，进入主画面Mon May 13,2002 15:49:55CALIBRATION LISTNO Name ldentity MainMenuSort选择测试控针种类：UnideFor Currentÿ mil 0 Or0 Select Number （E T P型式）需选择探针种类（过电流式需选择镀层种类）选择测量单位选择小数点位数测试时感应次数，一般皆设定为：1C M I铜厚测试仪操作规范Low LimitFor Currentÿ Off ke骤8f/T&输入下限？Off储存测试值数量非统计时使用时设定0C M I铜厚测试仪操作规范Maximum Saved Readings For Currentÿ 0(T R P型式)最大储存测試值数量非统计使用时设定0是否将以前的统计与图表数据列入C M I铜厚测试仪操作规范Calibration Settings StoredT R P&E T P型式Use Edit Softkey For Changes是否为蚀刻后板完成操作跳回主要选择画面C M I铜厚测试仪操作规范Calibration Settings Storedke骤★2Use Edit Softkey For Changes输入标准片厚度SRPÿ c¢针放置于—bg•c键Q A W I -028A -O p a g e 10 o f 15C M I 铜厚测试仪操作规范编 号版 本页 数Edit 编辑T|S뉕编辑的测试组C o p y 复制D e l e t e 删除C h a n g e 修改键確定o r 按 键取消回前页储存修改内容下一页C M I 铜厚测试仪操作规范S c t C l o c k 时间、日期设定U s e r C o n t r o l 使用权限设定P r i n t e r O p t i o n s S e r i a l O p t i o n s S y s t e m O p t i o n s B A C K 回主画面T e s t O p t i o n s 机台內部测試C a l & T u n i n g 校正F a c t o r y O p t i o n s Change 1ÿ TRP1Select Numberÿ 1ÿ High Limit Change 1ÿ Select Numberÿ 1ÿ Head TypeC M I铜厚测试仪操作规范BACKEMX Prb Tuningc¢Car LVDTMeasureETPc§针是否校正完成C M I铜厚测试仪操作规范E T P T m p C m p温度补偿ETP Temperature CompensationFor Current ÿ OnC M I铜厚测试仪操作规范Place Probe On Standard #1For Pass #1p ag e15 o f 15C M I 铜厚测试仪操作规范页 数7.0 日常管理与故障排除7.１ 在校正时发现测试结果超出要求范围时，需再次进入校正程序进行校正。
超声波测厚仪校准方法
超声波测厚仪校准方法嘿，你要是在工业检测或者材料测量领域混过，那肯定听说过超声波测厚仪这玩意儿。
这就好比医生的听诊器，是我们了解材料厚度的得力助手呢。
今天呀，我就来给你唠唠这超声波测厚仪的校准方法，这可重要得很呐！咱先得知道，为啥要校准这测厚仪呢？你想啊，如果这个测厚仪不准，就像你拿了个不准的秤去称东西，那得出的结果肯定是错得离谱啊。
在工业生产里，材料厚度的数据不准确，那可能就会导致整个工程出大问题，这可绝不是闹着玩的！那校准这超声波测厚仪得有些啥准备呢？首先得有标准试块。
这标准试块就像是一把标准的尺子，专门用来衡量测厚仪准不准的。
而且这试块的厚度得是精确知道的，就像我们知道1米到底有多长一样精确。
我有个朋友小李，他刚开始搞这个超声波测厚仪校准的时候，就没太重视标准试块，随便拿了个不太靠谱的试块，结果校准出来的数据那叫一个乱啊，自己还纳闷儿怎么回事呢。
这就是告诉我们，标准试块可是校准的关键，可不能马虎对待。
拿到标准试块后，就开始动手校准啦。
把测厚仪的探头擦干净，这就好比你要写字，得先把笔擦干净一样。
要是探头上有脏东西，就像有东西挡着眼睛一样，那测出来的数据肯定不准啊。
然后在标准试块上涂上适量的耦合剂。
耦合剂这东西就像是一个桥梁，把探头和试块连接起来，让超声波能顺利地在它们之间传播。
你要是耦合剂涂得太多或者太少，就像桥修得歪歪扭扭的，超声波传输就会受影响。
我记得有次和老张一起校准的时候，他就涂耦合剂涂得太多了，结果测出来的数据波动很大。
老张还嘟囔着：“这是咋回事啊？”我就跟他说：“你看你，耦合剂都快成糊了，能测准才怪呢！”探头放在标准试块上的时候也要注意姿势哦。
要放得平稳、垂直，就像盖房子打地基得打得平平整整一样。
要是探头歪了，那超声波传播的路径就不对了，就像你开车走歪路一样，肯定到不了正确的目的地。
我有次看到一个新手小王校准的时候，探头就没放好，测出来的数据跟标准值差了好多。
我就跟他说：“小王啊，你这探头放得就像个醉汉似的，怎么能测准呢？”接下来就是调整测厚仪的参数了。
测厚仪操作规程作业指导书
测厚仪操作规程作业指导书
1.范围
1.1 本规程适用于TT-100超声波测厚仪的操作步骤、校准方法、维护保养等注意事项。
1.2TT-100超声波测厚仪，只适用于钢、不锈钢、铁、
铜等，不适用于铸铁、铸铁等。
1.3测量范围：厚度1.2~225mm；管不小于φ20×3mm
；声速调节范围1000~9999。
2.测量前的准备工作
2.1 被测工件表面要打磨出大于测厚仪探头直径面积的光滑表面。
2.2 有麻点腐蚀坑的被测工件表面，要用砂轮机磨平后，再用砂纸打磨至测厚要求。
2.3 被测工件表面要光滑、平整、不得有阻碍影响测厚数值的油漆、氧化物等。
涂层测厚仪校准规范
1、涂层测厚仪校准条件：
检测室内温度: 20℃±2℃；厚度片与量块温度平衡时间: 2h；检测室内湿度:≤65% ；立式光学计预热时间:不少于15min ；仪器所用电源:220 (1±10%) V, 50Hz。
2、涂层测厚仪校准要求：
（1）外观
要求:厚度片两表面应无划痕、凹凸点等缺陷。
校准方法:目测观察。
（2）有效面积
要求:不均匀表面应标注半径大于5mm的圆面积,均匀表面厚度片面积应不小于20mm×20mm。
校准方法:钢直尺测量。
（3）数的平均值
校准方法:用三等量块和立式光学计,用直接法或比较法测量标准厚度片的厚度,测量前应用航空汽油清洁量块、厚度片、光学计测砧、测头,校准时所用测帽的曲率半径不小于20mm,测杆下降时应通过拨杈使测帽轻轻与标准厚度片接触,以防止对标准厚度片的撞击,校准点为有效面积内均匀分布的5点(包括中心点),对无有效面积标记的标准厚度片规定其有效面积在以中心为圆心半径不小于10mm的圆内。
（4）均匀性误差
要求:标准厚度片均匀性误差。
校准方法：取各点厚度读数与厚度平均值的最大差值为标准厚度片的均匀性误差,其值不得超过表2要求。
厚度仪内校作业指导书
6.2 校验不合格，如需维修，由采购联系供应商返修，不能返修的作报废处理；
6.3 校验不合格的测厚仪，需马上更换，并对之前的测量结果进行追溯。
6.4 将校验结果记录在“测厚仪校准记录表上”；
6.5 校验完成。
4.3 戴好手套，逐一取用标准量块，并防止量块掉落，摔坏；
4.4 用需校正的厚度仪逐一测试标准量块，每块测2次，记下读数；
4.5 将用完后的标准量块用软布擦拭干净，涂上防锈油，放回固定位置保存。
五、判定标准
5.1 取2次测量的实测值，减去标准量块值，即为误差值；
5.2 我公司的厚度仪标准误差范围为±0.2 mm。
一、结构概述
厚度仪由测砧、指示表、按键、测杆、支架等组成。
二、校验基准
使用外校合格的标准量块：1.5mm、2.0mm、2.5mm进行校正。
三、校准周期
厚度仪的校准周期为30天。
四、校正步骤
4.1 检查量测端面是否有明显破损或损坏；
4.2 检查按键下压时是否顺畅、指针运转是否灵活，指示表旋转不可太紧，也不可太松；
测厚仪校正的使用方法_概述说明以及解释
测厚仪校正的使用方法概述说明以及解释1. 引言1.1 概述本篇文章旨在介绍测厚仪校正的使用方法，解释其重要性，并提供详细的步骤和注意事项。
测厚仪是一种用于测量物体厚度的仪器，广泛应用于工业生产、质量控制以及材料研究等领域。
为了确保测量结果的准确性和可靠性，对测厚仪进行校正是必不可少的。
通过本篇文章的阅读，读者将能够全面了解如何正确地进行测厚仪校正，避免误差和干扰因素对测量结果产生影响。
1.2 文章结构本文分为五个主要部分，包括引言、测厚仪校正的使用方法、正文部分一（例如测厚仪校正步骤详解）、正文部分二（例如测厚仪常见问题及解决办法）以及结论。
引言部分将对本篇文章进行概述并给出文章结构说明。
1.3 目的本篇文章的目的在于：- 提供一个全面且清晰的指南，介绍测厚仪校正的使用方法；- 解释为何测厚仪校正对于保证测量准确性的重要性；- 提供详细的步骤和注意事项，以帮助读者正确进行测厚仪校正；- 解答常见问题，并给出相应的解决办法；- 结论部分总结文章内容，探讨主题意义和使用前景展望，并指出未来进一步研究的方向。
2. 测厚仪校正的使用方法2.1 什么是测厚仪校正测厚仪校正是指通过对测厚仪进行一系列的操作和调整，使其能够准确地测量物体的厚度，并保证测量结果与实际情况相符。
校正过程通常需要使用专门的校准块或标准样品来验证和调整测厚仪的性能。
2.2 测厚仪校正的重要性测厚仪的校正是确保其精确度和可靠性的关键步骤。
由于时间、环境等因素可能导致测厚仪产生偏差，未经过及时和准确的校正将会导致误差累积，并对测量结果产生不可忽视的影响。
适时对测厚仪进行校正可以提高测试结果的精度，确保测试数据与实际情况相符，从而为科学研究、工程设计以及质量控制提供可靠依据。
2.3 测厚仪校正的步骤和注意事项测厚仪校正通常包括以下步骤：首先，确认所用校准块或标准样品与被测物体具有相似的特性和材质。
如果可能，最好使用与实际应用相同或更接近的样品进行校准。
测厚仪操作规程
测厚仪操作规程引言概述：测厚仪是一种用于测量物体厚度的仪器，广泛应用于工业领域。
正确的操作测厚仪对于保证测量结果的准确性至关重要。
本文将详细介绍测厚仪的操作规程，帮助读者正确使用测厚仪。
一、准备工作1.1 校准测厚仪在使用测厚仪之前，首先需要进行校准。
校准测厚仪可以确保其测量结果的准确性。
校准过程需要使用标准样品，按照测厚仪的使用说明书进行操作。
校准完成后，应及时记录校准结果，并在使用测厚仪时参考。
1.2 检查测厚仪的状态在使用测厚仪之前，需要检查其外观是否完好无损，是否有损坏或松动的零部件。
同时，还需要检查测厚仪的电池电量是否充足，以确保正常的使用。
1.3 准备工作场所在进行测量之前，需要确保工作场所的环境适宜。
应选择无风、无震动的环境进行测量，以避免外界因素对测量结果的影响。
同时，还需要确保工作场所的温度和湿度稳定，以保证测量结果的准确性。
二、测量操作2.1 放置测厚仪将测厚仪放置在待测物体表面上，确保与物体表面接触良好。
在放置测厚仪时，应尽量避免手部接触测厚仪，以免产生额外的测量误差。
2.2 调整测厚仪参数根据待测物体的特性，调整测厚仪的参数。
一般来说，测厚仪的参数包括声速、传感器类型等。
根据物体的材料和形状，选择合适的参数设置，以确保测量结果的准确性。
2.3 进行测量按下测厚仪上的测量按钮，开始进行测量。
在进行测量时，应保持测厚仪与物体表面的接触，稳定测量位置，避免晃动或移动测厚仪。
同时，还应注意避免外界干扰，如电磁场、振动等。
三、测量结果处理3.1 记录测量结果在完成测量后，应及时记录测量结果。
可以使用纸质记录表格或电子记录方式，将测量结果准确地记录下来。
同时，还应标明测量时间、测量位置等相关信息，以便后续分析和比对。
3.2 分析测量结果对测量结果进行分析，判断其是否符合预期。
可以将测量结果与标准要求进行对比，评估物体的厚度是否在允许范围内。
如发现测量结果异常或不符合要求，应及时进行排查和修正。
超声波测厚仪标准操作规程
目录【目的】--------------------------------------------------------------------2 【适用范围】----------------------------------------------------------------2 【职责】--------------------------------------------------------------------2 【内容】--------------------------------------------------------------------2 【相关文件/记录】-----------------------------------------------------------3 【历史修订记录和原因】------------------------------------------------------4【目的】建立超声波测厚仪使用标准操作规程，确保正确进行厚度测定。
【适用范围】超声波测厚仪。
【职责】操作工负责按照操作规程进行超声波测厚仪的操作。
【定义】超声波测厚仪：根据超声波脉冲反射原理来进行厚度测量的。
当探头发射的超声波脉冲通过被测物体到达材料分界面时，脉冲被反射回探头，通过精确测量超声波在材料中传播的时间来确定被测材料的厚度。
凡能使超声波以一恒定速度在其内部传播的各种材料均可采用此原理测量。
【内容】1 准备：此仪器可对各种钢制板材和各种加工零件做厚度测量，另一方面可以对生产设备中各种钢制管道和压力容器进行监测，监测它们在使用过程中受腐蚀的减薄程度。
若被测体表面很粗糙或锈蚀严重，用以下方法处理：1.1 在被测体表面使用耦合剂。
1.2 利用除锈剂、钢丝刷或砂纸处理被测体表面。
1.3 在同一点附近多次测量。
2 使用：2.1 仪器开关机将探头插头插入仪器探头插座中按下ON/OFF键，仪器屏幕显示开机画面后自动进入测量界面，并显示当前仪器中设置的声速值，此时仪器的各参数为上次关机前使用的参数。
涂层测厚仪校准方法 测厚仪常见问题解决方法
涂层测厚仪校准方法测厚仪常见问题解决方法注意传感器插头的方法.开机后将探头压到铁基上,轻按校零键（ZERO）.校零，校好零后把探头提起来，将标准膜片（127um左右）放到铁基上,把探头压在上面测量，如测量结果不在127um左右,可通过加减键调整.127um左右膜片调整后,分别测量52um和420um左右的膜片,看是否在允许误差范围内.假如发觉全部膜片值基本正确,则校准成功.假如在校按时发觉膜片测量误差大或不能测量时,请按下例步骤操作:按住开关机键不松手直到显示器显现”CAL”（此过程大约需要4秒钟）,显示器会显示”F:H”,此时轻按校零键确认（探头确定要悬空）按住开关机键不松手直到显示器显现”Ln” （此过程大约需要9秒钟）显示器会显现”0.8XX”的数字,假如在测试中发觉数据偏大,也就是说127um正确,而420um左右的膜片偏大,可将该数字加大（用”+”键）,反之将该数字减小（用”—“键）.大约该数字每加大0.001,420um左右会相应减小2um.然后按校零键确认. （探头确定要悬空）无论是操作步和第二步结束后,均应在操作结束后重新校零.镀层测厚仪的相关选择介绍镀层测厚仪是一种专业检测金属表面镀层厚度的仪器。
镀层测厚仪接受的霍尔效应和电涡流效应原理，可以精准测量出铁磁性金属基体上的非磁性涂镀层厚度。
如铁镀锌、铁镀铬、铁镀铝、铁镀银等。
精准、牢靠的分析对各行各业生产工艺特别紧要。
尤其是五金件行业，无论是镀层合金符合质量掌控标准还是评估五金的价值，选择一款合适的镀层测厚仪对生产工艺和盈利率影响特别大。
镀层测厚仪作为一款高科技仪器，能够精准测量出铁磁性金属基体上的非磁性涂镀层厚度，可实现同类产品中的较佳精准度。
除了精准度外，选择镀层测厚仪，紧要有以下几个原因。
一是直观的软件。
镀层测厚仪作为一个便携式工具，其操作特别简单，旨在简化日常分析流程，使得经过简单培训的人也能轻松上手，像专业人员那样有所收获。
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范 围
XULM X-Ray测厚仪。
校准用
基准物质
0.104µm、5.2µm薄片，1.85µm、5.30µm、11.4µm、23.1µmFe/Ni标准片及纯元素片。
环境条件
温度：10～40℃，湿度：0～95%。在操作过程中保持环境温度和湿度恒定。
校正步骤
1)校正前确保仪器预热30分钟（在子程序“光谱”连续测量半小时，按停止按钮中止测量）。
2)选择菜单“校正”以打开“校正”应用窗口。指令窗口出现操作指示,依次为：纯元素片Ni、Fe，标准片Ni/Fe 0.104、Ni/Fe 1.85、Ni/Fe 5.30、Ni/Fe 11.40。
3)放好标准片后开始测量，测量结束，读数显示在测量数据区。
4)校正结束时，“校正结果”窗口出现，选择“确定”确认校正结束。“测量”应用窗口重新出现。仪器回到测量状态。
5)校正完成后，连续测量任意标准片5～10次，计算均值和标准偏差，当∣X1-XVP∣<4S 时则判定仪器可正常使用；否则需重新调校，校正无效时联系仪器供应商。
相关记录
《测厚仪校准记录表》