ATE测试系统
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用以於測試種中調整待測物的內部電路以達到正確的電壓輸 出和電流輸出。
资料仅供参考
測試中朮語簡介4/6
13. External Wave Test :
用以量測以外加信號變化負載大小時待測物的輸出特性。
14. Static Test :
用以量測在靜態負載條件下待測物的輸出特性。
15. Extra Timing Test :
资料仅ቤተ መጻሕፍቲ ባይዱ参考
ATE (Auto test equipment)
自動測試設備
资料仅供参考
ATE的組成(架構)1/4
AC SOURCE (ATE最底層﹐提供 測試用之各種形態 交流電壓)
资料仅供参考
ATE的組成(架構)2/4
Power analyzer(功率分析儀)
Model:6632
Model:6630
资料仅供参考
軟體設置注意事項(EXTRA TIMING TEST)
在測試流程中“REAPPLY LOADING WITH Von CONTROL”的意義,係指若輸出電壓低於Von時 Switcher Analyzer會停止拉載，當輸出電壓回升到 Von時Switcher Analyzer會自動依測試檔案設定的 “RISE”值拉載。
本項測試係專為有些待測物的某些輸出只有外加遙控 信號才能控制其送出輸出而設計的。
對那些不受遙控信號控制的輸出組，雖然並不需要這 些輸出組的相關讀值，也必須指定起始觸發準位及終 了觸發準位，以使Switcher Analyzer可以完成時序的 量測。
本項測試不可作為第一個程序。
资料仅供参考
軟體設置注意事項(SET UP FUNCTION) 1
當測試程序結束時，系統將會把所有的Relay及TTL狀 態歸零。
若使用AC Source的auto-range 功能時，當其在自動 切換時，由於其暫態反應可能造成待測物損壞或輸出 關閉。在切換檔位時，插入本項功能可以消除此類問 題。
測試按"F11"鍵.
资料仅供参考
ATE測試步驟2/2
5) 正在測試的項目會顯示為黃色﹐測試通 過顯示為綠色, 不良顯示紅色
6) 當測試結果且通過所有測試項目﹐顯示 器上顯示"PASS"
7) 當測試過程中有項目不良時, 顯示器上 會顯示"FAIL“
8) 按下 “F3”鍵,可查看測試結果﹐并記 錄在檢驗報告中
本項測試過程中，只有按下Carriage Return鍵才會繼續執行下一步驟，否則 一直停留下調整的迴圈內，使操作者有 足夠的時間來進行調整。
资料仅供参考
軟體設置注意事項(EXTERNAL WAVE TEST)
進行本項測試加於一個負電壓輸出的時候， 若其地線接錯可能會導致對自動測試系統 及待測物嚴重損壞。
當檢測自動恢復功能時，系統將重置Von的控 制線路以移除過載條件。當待測物的輸出電壓 恢復到Von值時，負載會再次加上，所以Von 必須大於Volp。
軟體設置注资料仅供意参考 事項 (OVER POWER PROTECTION TEST)
本項測試不得做為第一個測試程序。 在UUT OFF TIME之後，要再加載“I/R
4. Load Regulation Test :
用以量測在負載改變時對於待測物該組輸出電壓所產生的影響
资料仅供参考
測試中朮語簡介2/6
5. Cross Regulation Test :
用以量測在他組輸出電源之負載改變時，對於某組輸出電壓所 產生的影響
6. Line Regulation Test :
用以量測自選的特定點的直流電壓，或交流電壓(Vrms)
18. Short Circuit Test :
用以量測待測物的一組輸出短路到地的整體輸出入反應特性
19. OVP/UVP Test :
用以量測待測物的過電壓或低電壓保護點
20. Total Regulation Test :
用以量測在改變測待物輸入電源及負載大小，至最壞狀況時 之輸出特性
在測試過程中若Switcher Analyzer的工作模式改 變時，首先會將負載降為0，然後再拉至指定的負 載大小，某些待測物在無負載的狀況下，會關閉 其輸出，在這種狀況下，可以插入本項功能使待 測物再度送出輸出，繼續進行下一程序。
资料仅供参考
軟體設置注意事項(SET UP FUNCTION) 2
资料仅供参考
軟體設置注意事項(LOAD REGULATION TEST )
當系統安裝E M U時本項測試不得放在 第一個測試程序
如果待測物在4秒內輸出電壓無法達到 Von，系統將停止本項測試，並輸出 “Von not reached” 的訊息。
在本項測試時只針對待測物某一特定的 輸出給予三種不同的負載量，其他各組 輸出的負載保持固定
资料仅供参考
軟體設置注意事項(Input/Output Test1)
Input/ Output測 試必須使 用Power Analyzer (PA)﹐圖 示選擇為 2
资料仅供参考
軟體設置注意事項(Input/Output Test2)
Power Saving測 試時間必 須在2秒以 上﹐建議 設置為3秒
當系統未安裝EMU時所有輸入端的讀值為 “-----”。
资料仅供参考
軟體設置注意事項(DYNAMIC TEST )
當系統安裝Extended Measurement Unit時本項 測試不得放在第一個測試程序
如果待測物在4秒內輸出電壓無法達到Von，系統 將停止本項測試，並輸出“Von not reached”的 訊息。
待測物關機時間須大於100ms，以利輸 入電壓由正半週到負半週零電位之偵測 及關機延遲時間之準確性。
開機時間(Ton)係自起始觸發點起至終了 觸發點止，最長等待觸發時間為16秒， 若超過此值，會顯示“No Start Trigger” 或“No End Trigger”的訊息。
軟體設置资料仅供注参考 意事項
在圖示位 置設置3秒
资料仅供参考
軟體設置注意事項(Input/Output Test3)
如果待測物在4秒內輸出電壓無法達到Von，系統將 停止本項測試,並輸出 “Von not reached”訊息。
EMU延遲時間係自本項測試開始起即計算，而 Switcher Analyzer係自待測物電壓達到Von時開始 計算。所以若待測物有Soft Start的功能時,建議要 設定較長的Delay time，以確保EMU可以得到精確 的量測值。
资料仅供参考
測試中朮語簡介6/6
21. Cycle Dropout :
用以量測在中斷待測物輸入電源㆒段時間對輸出電壓的影響
22. Voltage Ramp Up/Down :
用以量測在待測物輸入電源電壓逐步增加或減少時對其輸出電壓的影響
23. Frequency Ramp Up/Down :
(OVER LOAD PROTECTION TEST)
本項測試一次只能量測一組輸出的過載保護跳 脫點(OLP Trip Point)及跳脫時間(Trip Time Tolp)。
由於過載保護測試加載量係一個差量向上遞增 的所以量測到的跳脫點會比實際值略高，若要 提昇其解析度，可以降低每次增加的值。
測試之“PERIOD-1(mS)”及“PERIOD-2(mS) ” 係用Switcher Analyzer內的振盪器產生的，其誤 差為100 ppm，所以任何兩部Switcher Analyzer 間的偏差有可能到200ppm，因此對多組輸出的 電源供應器若需要負載同步變化時，須使用同步 動態特性測試(Sync Dynamic Test)。
资料仅供参考
測試中朮語簡介3/6
9. Hold up & Seq. Test :
用以量測在關機瞬間待測物的各組輸出電壓的時序關係，及穩 定時間等特性。
10. OLP Test :
用以量測在過載保護點瞬間待測物的輸出特性。
11. OPP Test :
用以量測在過功率保護點瞬間待測物的輸出特性
12. Hold on Adjust :
RECOVERY”時，若待測物的輸出電壓 低於Von時Switcher Analyzer不對待測 物拉載，直到待測物的輸出電壓恢復到 Von時，自動對待測物拉載其大小為 “ I/R RECOVERY”。
軟體設置注资料仅供意参考 事項 (HOLD ON ADJUST TEST)
當系統裝有Extended Measurement Unit時，本項測試不能做為第一個測試 程序。
资料仅供参考
軟體設置注意事項(CROSS REGULATION TEST)
當系統安裝Extended Measurement Unit時本項測試系統不允許第四個輸入 埠和第1、2、3輸入埠一起使用，當發 生這種狀況時，系統會有警示訊息告知。
资料仅供参考
軟體設置注意事項(TURN ON & SEQUENCE TEST)
用以量測在待測物輸入電源頻率逐步增加或減少時對輸出電壓的影響
24. Noise Carry Through :
用以量測在待測物輸入電源外加雜訊時對其輸出電壓的影響
25. Sync Dynamic :
在和Sync Dynamic Test 相同測試過程中量測輸出電壓因負載變動 產生的spike 值
资料仅供参考
測試中朮語簡介1/6
1. Input / Output Test :
用以量測在靜態負載條件下待測物輸入端及輸出端的特性
2. Dynamic Test :
用以量測在動態負載條件下待測物輸出端的特性
3. Sync Dynamic Test :
用以量測在同步動態負載條件下待測物輸出端的特性
资料仅供参考
ATE的組成(架構)3/4
Extended Measurement Unit (EMU擴展測試單元)
资料仅供参考
ATE的組成(架構)4/4
Switch Analyzer(開關分析儀)相當于精密負載機
開/關機
资料仅供参考
為減低開機瞬間湧浪電流(Inrush Current) 對ATS產生的衝擊效應，開機的先後順序 建議為交流或直流輸入電源供應器 (AC/DC Source),Power Analyzer, EMU, 各Switcher Analyzer，最後再開啟個人電 腦及其週邊設備。
资料仅供参考
軟體設置注意事項(SYNC DYNAMIC TEST)
當系統安裝Extended Measurement Unit時本 項測試不得放在第一個測試程序
如果待測物在4秒內輸出電壓無法達到Von， 系統將停止本項測試，並輸出“Von not reached”訊息。
第一組Switcher Analyzer背板25Pin D-Type接 頭的Pin 1要接到所有其他Switcher Analyzer 背板同一接點的Pin 14，以達到各部Switcher Analyzer的負載同步變化的效果。
本項功能可以選擇待測物輸入電源的型態及輸入 埠位址，所以在系統安裝EMU時，可為第一個測 試程序。
本項功能輸入電源型態限定為AC或DC，輸入電 壓為0伏特，若為AC型態，頻率為60HZ。
對於輸入電源有110/220Vac選擇開關的待測物， 本項功能的“PAUSE FUNCTION”可改變開關的 設定。
用以量測在改變輸入電源電壓時，對於輸出電壓所產生的影響
7. Combine Regulation :
用以量測在負載大小及輸入電源之電壓同時改變時對於待測物 輸出電壓所產生的影響
8. Turn on & Seq. Test :
用以量測在開機瞬間待測物的各組輸出電壓的時序 關係，過衝電壓值(Overshoot)，及穩定時間等特性。
關機則反之.
资料仅供参考
待測物連接方式
先將待測物輸出端連接到測試治具﹐再連 接測試電源線.
资料仅供参考
ATE測試步驟1/2
1) 選擇檢驗機種對應的預設測試程式. 2) 先按下GO/NOGO TEST鍵, 進入測試
操作介面. 3) 把待測物輸出端連接到測試治具﹐再連
接測試電源線. 4) 按下“F10”鍵,幵始測試;如機台為再次
以外加信號控制待測物的輸出Enable/Disable ，並量測待測 物各組輸出電壓的時序關係，過衝電壓值(Overshoot),及穩定時間 等特性
16. Set Up Function :
用以設定自動測試系統各模組的硬體初始狀態或測試條件
资料仅供参考
測試中朮語簡介5/6
17. Extended Measurement Test :
资料仅供参考
測試中朮語簡介4/6
13. External Wave Test :
用以量測以外加信號變化負載大小時待測物的輸出特性。
14. Static Test :
用以量測在靜態負載條件下待測物的輸出特性。
15. Extra Timing Test :
资料仅ቤተ መጻሕፍቲ ባይዱ参考
ATE (Auto test equipment)
自動測試設備
资料仅供参考
ATE的組成(架構)1/4
AC SOURCE (ATE最底層﹐提供 測試用之各種形態 交流電壓)
资料仅供参考
ATE的組成(架構)2/4
Power analyzer(功率分析儀)
Model:6632
Model:6630
资料仅供参考
軟體設置注意事項(EXTRA TIMING TEST)
在測試流程中“REAPPLY LOADING WITH Von CONTROL”的意義,係指若輸出電壓低於Von時 Switcher Analyzer會停止拉載，當輸出電壓回升到 Von時Switcher Analyzer會自動依測試檔案設定的 “RISE”值拉載。
本項測試係專為有些待測物的某些輸出只有外加遙控 信號才能控制其送出輸出而設計的。
對那些不受遙控信號控制的輸出組，雖然並不需要這 些輸出組的相關讀值，也必須指定起始觸發準位及終 了觸發準位，以使Switcher Analyzer可以完成時序的 量測。
本項測試不可作為第一個程序。
资料仅供参考
軟體設置注意事項(SET UP FUNCTION) 1
當測試程序結束時，系統將會把所有的Relay及TTL狀 態歸零。
若使用AC Source的auto-range 功能時，當其在自動 切換時，由於其暫態反應可能造成待測物損壞或輸出 關閉。在切換檔位時，插入本項功能可以消除此類問 題。
測試按"F11"鍵.
资料仅供参考
ATE測試步驟2/2
5) 正在測試的項目會顯示為黃色﹐測試通 過顯示為綠色, 不良顯示紅色
6) 當測試結果且通過所有測試項目﹐顯示 器上顯示"PASS"
7) 當測試過程中有項目不良時, 顯示器上 會顯示"FAIL“
8) 按下 “F3”鍵,可查看測試結果﹐并記 錄在檢驗報告中
本項測試過程中，只有按下Carriage Return鍵才會繼續執行下一步驟，否則 一直停留下調整的迴圈內，使操作者有 足夠的時間來進行調整。
资料仅供参考
軟體設置注意事項(EXTERNAL WAVE TEST)
進行本項測試加於一個負電壓輸出的時候， 若其地線接錯可能會導致對自動測試系統 及待測物嚴重損壞。
當檢測自動恢復功能時，系統將重置Von的控 制線路以移除過載條件。當待測物的輸出電壓 恢復到Von值時，負載會再次加上，所以Von 必須大於Volp。
軟體設置注资料仅供意参考 事項 (OVER POWER PROTECTION TEST)
本項測試不得做為第一個測試程序。 在UUT OFF TIME之後，要再加載“I/R
4. Load Regulation Test :
用以量測在負載改變時對於待測物該組輸出電壓所產生的影響
资料仅供参考
測試中朮語簡介2/6
5. Cross Regulation Test :
用以量測在他組輸出電源之負載改變時，對於某組輸出電壓所 產生的影響
6. Line Regulation Test :
用以量測自選的特定點的直流電壓，或交流電壓(Vrms)
18. Short Circuit Test :
用以量測待測物的一組輸出短路到地的整體輸出入反應特性
19. OVP/UVP Test :
用以量測待測物的過電壓或低電壓保護點
20. Total Regulation Test :
用以量測在改變測待物輸入電源及負載大小，至最壞狀況時 之輸出特性
在測試過程中若Switcher Analyzer的工作模式改 變時，首先會將負載降為0，然後再拉至指定的負 載大小，某些待測物在無負載的狀況下，會關閉 其輸出，在這種狀況下，可以插入本項功能使待 測物再度送出輸出，繼續進行下一程序。
资料仅供参考
軟體設置注意事項(SET UP FUNCTION) 2
资料仅供参考
軟體設置注意事項(LOAD REGULATION TEST )
當系統安裝E M U時本項測試不得放在 第一個測試程序
如果待測物在4秒內輸出電壓無法達到 Von，系統將停止本項測試，並輸出 “Von not reached” 的訊息。
在本項測試時只針對待測物某一特定的 輸出給予三種不同的負載量，其他各組 輸出的負載保持固定
资料仅供参考
軟體設置注意事項(Input/Output Test1)
Input/ Output測 試必須使 用Power Analyzer (PA)﹐圖 示選擇為 2
资料仅供参考
軟體設置注意事項(Input/Output Test2)
Power Saving測 試時間必 須在2秒以 上﹐建議 設置為3秒
當系統未安裝EMU時所有輸入端的讀值為 “-----”。
资料仅供参考
軟體設置注意事項(DYNAMIC TEST )
當系統安裝Extended Measurement Unit時本項 測試不得放在第一個測試程序
如果待測物在4秒內輸出電壓無法達到Von，系統 將停止本項測試，並輸出“Von not reached”的 訊息。
待測物關機時間須大於100ms，以利輸 入電壓由正半週到負半週零電位之偵測 及關機延遲時間之準確性。
開機時間(Ton)係自起始觸發點起至終了 觸發點止，最長等待觸發時間為16秒， 若超過此值，會顯示“No Start Trigger” 或“No End Trigger”的訊息。
軟體設置资料仅供注参考 意事項
在圖示位 置設置3秒
资料仅供参考
軟體設置注意事項(Input/Output Test3)
如果待測物在4秒內輸出電壓無法達到Von，系統將 停止本項測試,並輸出 “Von not reached”訊息。
EMU延遲時間係自本項測試開始起即計算，而 Switcher Analyzer係自待測物電壓達到Von時開始 計算。所以若待測物有Soft Start的功能時,建議要 設定較長的Delay time，以確保EMU可以得到精確 的量測值。
资料仅供参考
測試中朮語簡介6/6
21. Cycle Dropout :
用以量測在中斷待測物輸入電源㆒段時間對輸出電壓的影響
22. Voltage Ramp Up/Down :
用以量測在待測物輸入電源電壓逐步增加或減少時對其輸出電壓的影響
23. Frequency Ramp Up/Down :
(OVER LOAD PROTECTION TEST)
本項測試一次只能量測一組輸出的過載保護跳 脫點(OLP Trip Point)及跳脫時間(Trip Time Tolp)。
由於過載保護測試加載量係一個差量向上遞增 的所以量測到的跳脫點會比實際值略高，若要 提昇其解析度，可以降低每次增加的值。
測試之“PERIOD-1(mS)”及“PERIOD-2(mS) ” 係用Switcher Analyzer內的振盪器產生的，其誤 差為100 ppm，所以任何兩部Switcher Analyzer 間的偏差有可能到200ppm，因此對多組輸出的 電源供應器若需要負載同步變化時，須使用同步 動態特性測試(Sync Dynamic Test)。
资料仅供参考
測試中朮語簡介3/6
9. Hold up & Seq. Test :
用以量測在關機瞬間待測物的各組輸出電壓的時序關係，及穩 定時間等特性。
10. OLP Test :
用以量測在過載保護點瞬間待測物的輸出特性。
11. OPP Test :
用以量測在過功率保護點瞬間待測物的輸出特性
12. Hold on Adjust :
RECOVERY”時，若待測物的輸出電壓 低於Von時Switcher Analyzer不對待測 物拉載，直到待測物的輸出電壓恢復到 Von時，自動對待測物拉載其大小為 “ I/R RECOVERY”。
軟體設置注资料仅供意参考 事項 (HOLD ON ADJUST TEST)
當系統裝有Extended Measurement Unit時，本項測試不能做為第一個測試 程序。
资料仅供参考
軟體設置注意事項(CROSS REGULATION TEST)
當系統安裝Extended Measurement Unit時本項測試系統不允許第四個輸入 埠和第1、2、3輸入埠一起使用，當發 生這種狀況時，系統會有警示訊息告知。
资料仅供参考
軟體設置注意事項(TURN ON & SEQUENCE TEST)
用以量測在待測物輸入電源頻率逐步增加或減少時對輸出電壓的影響
24. Noise Carry Through :
用以量測在待測物輸入電源外加雜訊時對其輸出電壓的影響
25. Sync Dynamic :
在和Sync Dynamic Test 相同測試過程中量測輸出電壓因負載變動 產生的spike 值
资料仅供参考
測試中朮語簡介1/6
1. Input / Output Test :
用以量測在靜態負載條件下待測物輸入端及輸出端的特性
2. Dynamic Test :
用以量測在動態負載條件下待測物輸出端的特性
3. Sync Dynamic Test :
用以量測在同步動態負載條件下待測物輸出端的特性
资料仅供参考
ATE的組成(架構)3/4
Extended Measurement Unit (EMU擴展測試單元)
资料仅供参考
ATE的組成(架構)4/4
Switch Analyzer(開關分析儀)相當于精密負載機
開/關機
资料仅供参考
為減低開機瞬間湧浪電流(Inrush Current) 對ATS產生的衝擊效應，開機的先後順序 建議為交流或直流輸入電源供應器 (AC/DC Source),Power Analyzer, EMU, 各Switcher Analyzer，最後再開啟個人電 腦及其週邊設備。
资料仅供参考
軟體設置注意事項(SYNC DYNAMIC TEST)
當系統安裝Extended Measurement Unit時本 項測試不得放在第一個測試程序
如果待測物在4秒內輸出電壓無法達到Von， 系統將停止本項測試，並輸出“Von not reached”訊息。
第一組Switcher Analyzer背板25Pin D-Type接 頭的Pin 1要接到所有其他Switcher Analyzer 背板同一接點的Pin 14，以達到各部Switcher Analyzer的負載同步變化的效果。
本項功能可以選擇待測物輸入電源的型態及輸入 埠位址，所以在系統安裝EMU時，可為第一個測 試程序。
本項功能輸入電源型態限定為AC或DC，輸入電 壓為0伏特，若為AC型態，頻率為60HZ。
對於輸入電源有110/220Vac選擇開關的待測物， 本項功能的“PAUSE FUNCTION”可改變開關的 設定。
用以量測在改變輸入電源電壓時，對於輸出電壓所產生的影響
7. Combine Regulation :
用以量測在負載大小及輸入電源之電壓同時改變時對於待測物 輸出電壓所產生的影響
8. Turn on & Seq. Test :
用以量測在開機瞬間待測物的各組輸出電壓的時序 關係，過衝電壓值(Overshoot)，及穩定時間等特性。
關機則反之.
资料仅供参考
待測物連接方式
先將待測物輸出端連接到測試治具﹐再連 接測試電源線.
资料仅供参考
ATE測試步驟1/2
1) 選擇檢驗機種對應的預設測試程式. 2) 先按下GO/NOGO TEST鍵, 進入測試
操作介面. 3) 把待測物輸出端連接到測試治具﹐再連
接測試電源線. 4) 按下“F10”鍵,幵始測試;如機台為再次
以外加信號控制待測物的輸出Enable/Disable ，並量測待測 物各組輸出電壓的時序關係，過衝電壓值(Overshoot),及穩定時間 等特性
16. Set Up Function :
用以設定自動測試系統各模組的硬體初始狀態或測試條件
资料仅供参考
測試中朮語簡介5/6
17. Extended Measurement Test :