可靠性寿命试验

t = Θ 1n n /（n —— r）
Θ——平均寿命（ Θ= 1/ ‫） ג‬
n————样品数
n
r——失效数
2.失效率鉴定试验 根据GB 1772试验时间可由式~式计算：
t =2.3 / ‫（ ג‬置信度90%，失效数为0） n t = 3.89 / ‫（ ג‬置信度90%，失效数为1 ） n t = 0.916 / ‫（ג‬置信度60%，失效数为0 ） n t = 2.02 / ‫（ ג‬置信度60%，失效数为1 ）
估计：根据观测值确定总体分布参数值或数值范围。
置信概率（置信度、置信系数）：表示数1—a。其中a称为置信水平。 置信限：置信区间的两个界限Θ L及ΘU 称为未知参数Θ的（ 1—a ）置信限。 Θ L称为置信下限， ΘU称 为置信上限。 置信水平a（显著水平）：犯第一类错误的概率，生产方承担的风险。
定时截尾试验：试验达到规定的试验时间就停止的试验。
检验批：为判定产品质量而进行检验的一批单位产品。 缺陷：产品质量特性与规定要求不符。 平均寿命（平均无故障工作时间MTBF）：产品发生故障后，经检查修复后再投入工作，这时在两次故 障间的平均工作时间就称为该产品的平均寿命（平均无故障工作时间）。 参数的区间估计：是研究怎样用一个数值来估计位置参数的一种方法，这种估计方法简便合理，又避免 过大的误差。 参数：用于描述总体分布特征的数值。
是服从威布尔分布的，但当形状参数m =1时，威布尔分布就变成指数分布了，该元件的寿命近似 服从指数分布。 3.当产品服从指数分布时，产品的可靠性特征量表达式很简单，只要掌握了产品的失效率 ‫ג‬ 就可以计算出产品的全部可靠性指标。因此，可以利用指数分布近似作为产品的实际分布。 二、常用的寿命试验方法 （一）贮存寿命试验 电子产品在规定的环境条件下，非工作状态的存放试验，称为贮存寿命试验。贮存时间在 1000h以上称为长期贮存寿命试验。 长期贮存寿命的目的是了解产品在特定的环境下贮存的可靠性。
六、数据记录和处理 可靠性寿命试验中通过测试周期失效数据的记录，得到失效数据后，要对所记录的失效数据 进行分析，分析的方法有两种：一种是图估计法（或称直接打点法），另一种是利用公式进行计 算的方法，称为数值分析法。 图估法是将所测到数据进行直接打到概率纸上，用目测的方法进行直观判断，估计出产品的 可靠性指标来。 优点：简单直观，容易掌握，分析也快； 缺点：误差太大；
三、定数截尾寿命试验的试验时间 1.定数截尾寿命试验的试验时间 即规定一定的试验时间（或出现一定数量的失效样品后）就停止试验，然后通过数理统计计 算求出平均寿命，失效率等有关的可靠性特征量。寿命试验大部分是采用定时截尾（或定数截尾） 试验方法。若产品服从指数分布，则试验时间大约为： 式中Fra Baidu bibliotek t ——试验截止时间
2.高温工作试验 高温工作试验的目的是为了确定元器件在承受规定的条件下是否符合规定的失效率 ‫。 ג‬
3.间断工作寿命试验（或称间歇寿命试验） 间歇工作寿命试验的目的是在规定的条件下测定元器件的典型失效率，或证实元器件的质量 与可靠性。
第四节 指数分布寿命试验的设计
一、对试验样品的要求 1.试验样品必须选择本产品型号中具有代表性的规格。同时试验样品应在本质上是同一设计 和同一条件下（人、机、料、法、环等条件）生产的批产品，并建立了可靠性质量管理和连续生 产的产品中一次随机抽取（抽取方法可采用简单抽样、系统抽样、分层抽样），抽样的原则应客 观、公正、均匀分散。抽取样品的时间可以在批的形成过程中，也可以在批组成之后。 2.周期检查的样品应以本周期制造的，并经逐批检查合格的某个批或若干批中抽取。抽取的 样品要保证所得到的样本能代表本周期的制造技术水平。方便时，最好从本周期各个不同时间里 分散抽取样本单位组成周期检查的样品；若必须固定时间集中抽取样品时，也最好在本周期应制 造的单位产品数量超过一半之后进行。 3.在使用二次和五次抽样方案时，样品要同时取足。 4.在确定试验样品的数量时，一方面要考虑到试验结果统计分析的精确性，另一方面要考虑 试验的经济性，即样品的价格、试验设备的数量和测试工作量的大小。进行综合权衡，选择合适 的抽样方案。 5.样品数量，每个应力水平下的样品数不少于10只，特殊产品不少于5只。 二、试验条件的确定 1.测试和室温寿命试验的条件 2.试验的标准大气条件 3.仲裁试验的标准大气条件 4.恢复条件
（二）工作寿命试验 电子产品在规定条件下施加规定的应力的试验称为工作寿命试验。试验周期在1000h以上称 为长期工作寿命试验。 1.室温工作寿命试验 室温工作寿命试验的目的是为了确定元器件在承受规定的条件下是否符合规定的失效率 ‫。ג‬ 室温工作寿命试验目前采用以下两种试验方法： （1）定时截尾 即规定一定的试验时间，就停止试验，然后通过数理统计方法，计算出产品的平均寿命、失 效率等有关的可靠性特征量。 定时截尾试验分无替换和有替换两类。 （2）定数截尾 定数截尾试验是在出现规定数量的失效后，就停止试验。 定数截尾试验也分无替换和有替换两类。具体情况要根据不同样品类型、型号选择的抽样方 案、试验方法来决定。
定数截尾试验：试验达到规定 的失效数就停止的试验。 随机现象：在一定条件下，并不总是出现相同结果的现象称为随机现象。 随机变量：表示随机现象结果的变量称为随机变量。
随机事件：随机现象的某些样本点的集合称为随机事件。
第二节 寿命试验的目的及分类
一、寿命试验目的： 可靠性寿命试验的目的是了解产品的寿命特征量、失效规律、平均寿命以及在寿命过程中可 能出现的各种失效模式。通过做可靠性寿命试验可以对产品的可靠性水平进行评价，并通过试验 过程中所获得的数据和相关信息进行分析并反馈到相关部门，及时采取必要的纠正措施，对产品 进行改进，以提高产品的可靠性水平。 二、寿命试验的分类 1.按国家标准：工作寿命试验和贮存寿命试验； 2.按数据处理方式：定时截尾试验和定数截尾试验； 截尾试验又可分为有替换（试验过程中，每发生一个失效样品，就换上一个好样品继续试验， 使样品数量保持不变）试验和无替换（试验过程中，失效样品取下后不再补充样品，剩下的样品 继续试验，直到规定试验截止时间时才停止）试验； 3.以施加的应力区分：长期寿命试验和加速寿命试验。 室温贮存试验
数值分析法是利用数学公式进行直接计算的方法，根据失效规律的数学模型，按分布参数的 计算公式，由样品在可靠性寿命试验中记录的数据对分布参数的数据或可能的取值范围作出估计。 优点：误差较小 缺点：计算繁琐；
可靠性寿命试验数值分析有指数分布、威布尔分布、正态分布、对数正态分布的参量分析法 及图估计法。 （一）指数分布及其特点 寿命分布服从指数分布规律的产品，当其失效率不同时，其可靠度也不同。 指数分布具有以下特点： （1）失效率是常数； （2）平均寿命与特征寿命相同，为失效率 ‫ ג‬的倒数； （3）当产品工作到平均寿命时间结束时，其可靠度下降到36.8%。 （二）正态分布及其特点 正态分布又称高斯分布，是应用较广泛的一种分布，如工艺误差、测量误差、产品常数值的 分布等，均服从正态分布。 正态分布的特点： （1）概率密度函数的形状是中间高，两边低，左右对称； （2）有两个未知参数，均值 µ 和方差 o； （3）概率密度函数曲线包络的面积为1。 （三）指数分布平均寿命的点估计和区间估计 1.平均寿命的点估计法 所谓点估计法，就是当总体参数Θ 未知，用样本参数x1 ， x1 ， ， xn来估计Θ的统计量 ， x1 ， ， xn ）。这种估计方法的近似程度与所选样本的大小有关（样本越大，估计 越精确）。
贮存寿命
高温贮存试验
寿命试验的分类
工作寿命
室温工作 高温工作 间断工作
第三节 指数分布寿命试验
一、指数分布寿命试验的意义 1.任何设计合理、工艺成熟、质量控制严格的生产线上（产品生产过程处于稳定状态下）生 产出来的产品都具有一定的可靠性指标，这类产品经过严格的筛选剔除掉设计、工艺的早期失效 后，产品便进入偶然失效期。在偶然失效期内，其失效率 ‫ ג‬近似等于常数，此时该产品的寿命分 布接近或服从指数分布。 2.指数分布的假设与某些元件的使用和试验结果比较接近。实践证明，即使有些元件的寿命
可靠性寿命试验
可靠性寿命试验
v第一节 术语 v第二节 寿命试验的目的和分类 v第三节 指数分布寿命试验 v第四节 指数分布寿命试验的设计 v第五节 可靠性试验中的一些技术问题
第一节 术语
质量特性：产品所固有的属性。各种产品的质量特性概括为性能、寿命、可靠性、效能、经济行5个方面。 贮存寿命：在规定贮存的条件下，产品从开始贮存到规定失效的时间。 等级：将相同功能用途的产品、过程或服务按照不同的需要划分的类型或顺序的标识。 环境条件：为了保持产品的适用性，对温度、湿度、压力、振动、加速等方面或几方面的环境特性的要求。 置信区间：设总体分布含有一个未知参数Θ，若由样本确定的两个统计量Θ L及ΘU，对于给定值a （0<a<1），满足P（ Θ L < Θ< ΘU ）=1—a（ 0<a<1 ）则诚随机区间（ Θ L，ΘU ）是Θ的（ 1—a）置信区 间。 估计值：估计运算的结果。这结果既可以表示为单一数值（点估计），也可表示为置信区间。 统计值：由样本观测值X1，X2，…，Xn构造的不含未知参数的函数。 样本：从总体中抽取的一部分个体集合。 总体：研究对象的全体，称为总体或母体。 样品：从一批产品中随机抽取的产品。 接收：同意提供的批（产品）。 拒收：否定提供的批（产品）。 一次抽样：只抽取一个或多个样本，就作出接收或拒收的判断。 二次抽样：根据第一次抽样检验的结果，可以作出接收、拒收或再一次抽样、判断的抽样检验。如作出再 一次抽样的判断,则抽取第二次样本再进行检验,并根据第一、二次检验的累计结果作出接收或拒收的判断。
Θ=（
x
1
第五节 可靠性试验中的一些技术问题
一、试验方法问题 为了正确评定产品的质量，必须采取合适的试验方法。在可靠性试验中我们发现，质量相同 的产品由于采用不同的试验方法，会得到不同的试验结果。有事甚至出现这样的情况：不同厂家 生产的同型号但质量不同的产品，由于采用不同的试验方法，质量水平本来高的产品，得到的试 验结果其质量反而显得低，而质量水平低的产品，得到的试验结果其质量反而显得高。 二、测量方法的问题 现行的元器件可靠性试验时，大都采用箱外测量的方法，即试验结束后，把样品从箱内取出， 放在标准室内恢复一定时间，然后再测量其特征参数。在一般情况下，这种测量方法是可行的， 但在某些特殊情况下，这种测量方法就不一定合理了。 三、试验设备和装置问题 试验设备本身的可靠性在很大程度上支配着试验数据的可靠性和再现性，只有采用合适的试 验设备和装置才能获得正确的试验结果。 在可靠性试验中，对样品施加温度应力和负载应力，以保证受试样品能承受规定的应力。但 有时出现这样的情况：在进行加速寿命试验时，相邻应力的两组样品，其特性变化非常接近，甚 至互相交迭。究其原因，发现是由于温度或负荷应力控制不准确而造成的。 进行可靠性试验时，要对样品施加一定负荷电压，当温度较高，试验时间又长时，样品夹具 的弹性有时会减弱，样品夹具和夹具表面也会氧化，致使样本加 不上负荷。因此，每次周期测量 完毕,开始下一周期试验之前,都应认真检查样品是否加上规定的负荷,及时换下已经失效的夹具。
式中：t ——试验时间 n ————样品数 r ——失效率 3.质量评定的试验 根据样品的种类、型号及相应标准（详细规范、总规范、分规范）的要求，确定各试验项目 的试验时间。 目前大部分电子元器件都按各型号的详细规范和总规范要求进行试验，试验时间根据各检查 项目的要求确定。
四、测试周期的确定 确定测试周期的原则是：在不过多地增加检查和测试工作量的情况下,能比较清楚地反映（了 解）产品地失效分布情况。不要使失效过于集中在一、二个测试周期内。各应力水平组一般要有 五个以上地测试点（指能测到失效产品地测试点），每个测试点上的失效数应尽可能大致相同。 五、失效判据 失效判据就是判断产品是否满足技术指标。失效判据可以是产品完全丧失功能，也可以是某 些参数退化。 在可靠性寿命试验中只要其中某一项技术指标不符合技术标准和要求，就判失效。