晶振检测报告

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晶振进货检验规范

1目的及适用范围
本检验规范的目的是保证本公司所购晶振的质量符合要求。

本检验规范适用于汉王制造有限公司无特殊要求的晶振。

2参照文件：
本作业规范参照本公司程序文件《进货检验控制程序》，《可焊性、耐焊接热实验规范》，《电子产品(包括元器件)外观检查和尺寸检验规范》以及相关可靠性试验和相关技术、设计参数资料及GB2828和GB2829抽样程序。

3规范内容：
3.1测试工量具及仪表：多功能计数器(NFC-1000C-1)，晶振测试工装，游标卡尺，锡炉，
测力计，浓度不低于95%的酒精
3.2缺陷分类及定义：
A类：单位产品的极重要质量特性不符合规定，或者单位产品的质量特性极严重不符合规定。

B类：单位产品的重要质量特性不符合规定，或者单位产品的质量特性严重不符合规定。

C类：单位产品的一般质量特性不符合规定，或者单位产品的质量特性轻微不符合规定。

3.3 判定依据：抽样检验依GB2828标准，取一般检验水平II级；AQL : A类缺陷为0, B
类缺陷为0.4, C类缺陷为0.65。

标有♦号的检验项目抽样检验依GB2829 标准，规定RQL
4 相关记录与表格
《进货检验报告》HWM-QR099-。

晶振检验标准

识放入指定区域，并做好相关记录。
供应商器件确认书、检验规范
文件编号
编制：
日期：
版本
审核：
日期：
受控印章
批准：
日期：
检验标准
机型
适用于通用产品
工序时间
无
工序名称
晶振检验
工序编号
无
测试工具/仪器：频率计、万用表
检验员
IQC
图示：
频率计频率计
PPM值的计算：如27MHZ晶振，+/-30PPM
检验步骤及内容
转化为百分比为百万分之：
1、对单、抽样：
30=30/10X（27X10）
.根据货仓开出的IQC品检报告单或上料单，核对上料供方是否为合格供方,再查找相应订单和产品
2、测试架第一次测试前由领班或技术员校正后才能进行测试。
.试点电压在3～42V范围将VOLTAGE键按入。
3、所照参样板必须为合格样板。
.测试点电压在50mV～5V范围将VOLTAGE键按出。
4、晶振应根据所用机型的负载电容和等效电阻的大小对应插座孔插入进行
.测试点在80MHZ～1.3GHZ频率范围时将FUNC设置键设置到FREQB位LED灯亮.
4、材质验证：
参照样板对来料材质进行相关验证是否与样板不符，如：外壳分铜质金属外壳和陶瓷等。
注意事项
5、性能测试：
1、物料送检时要及时检验。
按正确方式连接频率计和晶振测试架（如右图所示），打开电源开关按被测晶振所配负载电容大小，
将晶振引脚插入相应的插座位置，根据测试点电压、频率范围不同将频率计进行正确设置：
检查包装应合理，有无按常规或指定材料包装（以不伤物料本体为原则），标示内容是否与确认书

石英晶体振荡器实验报告

石英晶体振荡器一、实验目的1．了解晶体振荡器的工作原理及特点。

2．掌握晶体振荡器的设计方法及参数计算方法。

二、实验主要仪器1．双踪示波器2．频率计3．万用表4．实验板G1三、预习要求：1．查阅晶体振荡器的有关资料。

阐明为什么用石英晶体作为振荡回路元件就能使振荡器的频率稳定度大大提高。

2．试画出并联谐振型晶体振荡器和串联谐振型晶体振荡器的实际电路，并阐述两者在电路结构及应用方面的区别。

四、实验原理本实验单元模块电路如图4－1所示,其电路为串联型晶体振荡器，R1、R2、R3、R4、为直流偏置电阻，RP为基极可调电阻，改变其值可以改变振荡的幅度，L2为高频扼流圈，EX晶体振荡器，C T为可调电容，C3为反馈电容，C4分压电容，C2为输出耦合电容。

当回路的谐振频率等于晶体的串联谐振频率时，晶体的阻抗最小，近似为一短路线，电路满足相位条件和振幅条件，故能正常工作；当回路的谐振频率距串联谐振频率较远时，晶体的阻抗增大，使反馈减弱，从而使电路不能满足振幅条件，电路不能工作五、实验内容及步骤实验电路图见图4-1图4-1 晶体振荡器原理图1．测振荡器静态工作点，调图中R P ，测得I Emim I Emax2．测量当工作点在上述范围时的振荡频率及输出电压。

3．负载不同时对频率的影响，R 1分别为110K Ω、10K Ω、1K Ω，测出电路振荡频率填入表4.1, 并与LC 振荡器比较。

R L ～f 表4.1六、实验报告要求1．画出实验电路的交流等效电路 2．整理实验数据。

3．比较晶体振荡器与LC 振荡器带负载能力的差异，并分析原因。

4．你如何肯定电路工作在晶体的频率上。

5．根据电路给出的LC 参数计算回路中心频率，阐述本电路的优点。

OUT+12V。

32.768KHZ晶振的分析报告

32.768KHZ晶振的分析报告晶振一般叫做晶体谐振器，是一种机电器件，是用电损耗很小的石英晶体经精密切割磨削并镀上电极焊上引线做成，这种晶体有一个很重要的特性，如果给他通电，他就会产生机械振荡，反之，如果给他机械力，他又会产生电，这种特性叫机电效应，我们主板上面用到的32.768KHZ是插件2*6音叉型（柱状晶振）,由于目前晶纬业公司供给我们的32.768KHZ晶振在出货之前出现了一些时间跑不准和晶振不起振的问题，以下是该公司给我们的良品与不良品的分析测试报告：晶纬业提供的报告中各个指标代表的是：Fr：串联频率。

（没有外接负载电容，即无穷大）FL：负载电容下频率Rr:串联电阻（没有负载电容下的电阻）DLD-Rr:激励电平相关性（不同激励电平下的最大电阻）DLD-dRr2:激励电平相关性（不同激励电平下的电阻变化值）C0:静态电容C1:动态电容从报告中可以明显的看出良品和不良品的区别：1、良品比不良品的晶振内阻低良品是在25K以内的，而不良品大多是在25——30的范围，起先以为这点是晶振不起振的主要原因，于是经过分析和网上找资料，得出晶振的内阻低只是干扰你的外围电路，况且干扰周围的电路影响也小，跟晶振的起振关系不大，不是引起晶振不起振的主要原因，关键不起振主要的原因还是晶体的稳定性不好，材质不好，同时和生产工艺也有关系，正常的2*6圆柱型晶体的插件工艺要求高，最大能承受烙铁的温度是235±5℃, 3 seconds，而能承受波峰焊（回流焊）是350℃，工厂过锅炉的温度是270℃，远远低于晶振承受的温度，因此可以排除工厂的生产工艺问题。

原先还怀疑是晶振单边外挂电容的影响，经过咨询PCF8563原厂的工程师，工程师说PCF8563时钟输出脚单边挂电容，组成串联型，稳定性高，另外PCF8563的技术工程师说这个芯片要求的精度是5-10PPM，用20PPM也可以，但是不良率方面就不敢保证。

另外不起振的原因也和外挂电容大小有关系，但是经过分析，由于是单边外挂电容，根据等效电路所知：PCF8563规格书要求图中CT variable外接负载电容为5～30pF左右，若取中心值18pF，同时考虑到电路板分布电容、芯片管脚电容、晶体自身寄生电容等都会影响总电容值，故实际配置CT 时，可各取15～18pF左右，并使用瓷片电容为佳，而我们电路里面外挂电容配置的正好是18pF，也在这个范围内，也可以排除外挂电容的问题。

晶振测试报告

晶振测试报告
报告编号：XXXXX
测试日期：XXXX年XX月XX日
测试对象：晶体振荡器（XTAL）
测试结果如下：
1. 外形尺寸
本次测试的晶体振荡器外形尺寸为5mm x 3.2mm x 1.2mm，符
合生产厂家提供的样品参数。

2. 静态电容
测试时，晶体振荡器没有外加电场不存在对中心点的引力或位
移力所以静态电容应为0。

实测结果为0.0001pF，符合技术标准。

3. 动态电容
测试时，将信号源连接至晶体振荡器的标准电极上，调节信号
源的频率使晶体振荡器开始振荡，同时使用串联电容测量晶体振
荡器的谐振频率。

实测谐振频率为XXMHz，与厂家提供的数据相符，符合技术标准。

4. 效率系数
利用测试仪器测量谐振时的振荡幅度以及晶体振荡器的消耗电量，计算出本次测试的效率系数为XX%，符合技术标准。

5. 输出电平
将晶体振荡器连接至示波器的触发端口，调节示波器的扫描频率，测量出晶体振荡器的输出波形。

实测输出电平符合技术标准。

6. 结论
本次测试中，晶体振荡器的静态电容、动态电容、效率系数、输出电平等参数均符合生产厂家的技术标准。

因此，晶体振荡器可以投入生产使用。

本测试报告仅对本次的晶体振荡器进行测试，不能代表其他批次或生产厂家的产品。

如有其他问题或需要进一步测试，请与测试机构联系。

测试机构：
XXX测试有限公司
联系人：XXX
电话：XXXXXXXXXXX
地址：XXXXXX
附件：晶体振荡器测试记录表
证书复印件。

晶振分析报告

类别：客诉CS 制程Process 产品检测PQC原料Raw M其他other1.建立小组Define Team客户反馈产品在生产测试输出异常波形。

3.临时措施责任人xxx 日期：xxx库存、在线品处理：1：已封焊产品：模拟产品使用，出货前增加一次回流焊处理，按电参数测试技术规格，再次进行电性能测试，以确保出货产品电性能合格。

2：微调后未封焊产品，专人在放大镜灯下进行外观检查，剔除外观异常产品4.根本原因责任人：xxx 日期：xxx退品测试晶体参数FL RR DLD2 RLD2变大超控制规格，在电路中使用异常。

产品开壳检查晶片电极上粘附有银屑污染物，擦除污染物后再测，输出RR DLD2 RLD2参数恢复到正常水平。

判断此现象导致了产品工作异常。

银屑污染电极造成银膜的不均匀，电极对称性变差，在经受高温、及长时间使用后，使晶片振动参数异常，导致产品工作异常。

依据产线加工工序流程，对产线进行分解排查，判定银屑产生根本原因为:1、镀膜夹具及锁紧螺丝清洗不及时，上面附着银层过厚,导致银层易脱落污染；2、晶片倒片板洁净度差，导致附着的银屑掉落污染晶片5.纠正措施责任人：xxx 日期：xxx6.效果验证责任人：xxx 日期：xxx继续对产线微调后SMD3225型号谐振器产品，持续检查晶片电极外观银屑污染情况，每班次1000支以上，持续检查4周时间，检查监控是否有银屑污染发生情况1、对已建立的产线镀膜夹具清洗、工装清洁持续监控，由工艺员、生产主任进行点检、监督。

2：产线已规范镀膜工序作业标准，在作业指导书中完善镀膜夹具清洗，操作、放置标准手法要求。

3：修订《镀膜作业指导书》，明确调整晶片倒片盘清洗周期规范。

通过此次情况，对镀膜工序使用的工装夹具的清洗、使用方式检查、监控，降低对晶片的污染发生风险。

继续监控产线晶片、电极污染异常发生情况。

拟制：xxx 组长审批：xxx7.预防措施责任人：xxx 日期：xxx8.总结责任人：xxx日期：xxx。

晶振测试报告-3225-25M-20pf

CRYSTAL TECHNOLOGY INDUSTRIAL CO.,LTD晶振测试分析报告Customer Name Tapy Frequency 荣鑫胜科技SMD322525MHz-20PFSJK FAE:Haodong Huang&Juan ZhangDate:2018/8/15CRYSTAL TECHNOLOGY INDUSTRIAL CO.,LTD一．原因说明客户反馈晶振上机后使用不良,不良现象为晶振输出频率偏负，退回2pcs不良PCBA板要求分析。

二．实际测试1.PCB电路板视图：2.晶振单体重测：A.（不良品SJK 晶振）：B.（TXC&鸿星晶振）：测试结果显示：不良品晶振单体OK，各参数在规格范围内。

与TXC&鸿星晶振进行对比分析可知，SJK晶振单体频率偏负。

X1：3225-25MHz-20pf1#、2#为TXC 晶振；3#、4#为鸿星晶振；CRYSTAL TECHNOLOGY INDUSTRIAL CO.,LTD3.PCB板测试：1>.PCB板电路原晶振及原匹配，测试数据如下：1#FL=-19.4PPM2#FL=-20.0PPM2>.将贵司提供的TXC和鸿星晶振分别更换到PCB板上测试，测试数据如下：1#（TXC晶振）FL=-11.5PPM2#（TXC晶振）FL=-8.8PPM3#（鸿星晶振）FL=-5.5PPM4#（鸿星晶振）FL=-7.6PPM3>.另取2pcs3225-25MHz-20pf±10ppm晶振样品进行验证，测试数据如下：*样品晶振单体检测：CRYSTAL TECHNOLOGY INDUSTRIAL CO.,LTD1#FL=-8.3PPM 2#FL=-6.9PPM三．结论：由以上测试结果可知：电路板上2pcs晶振单体测试是OK的，各参数在规格范围内。

通过对比分析，贵司反馈的频率偏负现象根本原因为晶振规格参数范围±20ppm较宽，部分晶振单体频率偏负致使晶振上板后输出频率偏负，不满足贵司要求。

晶振检验作业指导

晶振检验作业指导一、背景介绍晶振是一种用于产生稳定频率的元件，广泛应用于电子设备中，例如计算机、手机、电视等。

为了确保晶振的质量和性能稳定，需要进行晶振的检验工作。

本文将详细介绍晶振检验的步骤和标准，以确保产品质量和性能。

二、晶振检验步骤1. 外观检查首先，对晶振进行外观检查，包括检查外壳是否完整、无损坏、无划痕等。

同时，还需要检查引脚的焊接是否牢固，没有松动或者断裂。

2. 参数测量接下来，对晶振的参数进行测量。

常见的参数包括频率、频率稳定度、谐振电阻等。

使用频率计等仪器进行测量，并记录测量结果。

3. 温度特性测试晶振的频率受温度影响较大，因此需要进行温度特性测试。

将晶振置于不同温度环境中，例如高温、低温等，测量晶振的频率变化情况。

4. 震动测试晶振在运输和使用过程中可能会受到震动的影响，因此需要进行震动测试。

将晶振置于震动台上，进行不同频率和幅度的震动，观察晶振的性能是否受到影响。

5. 寿命测试晶振的寿命是指其在正常使用条件下的可靠运行时间。

通过对晶振进行长时间运行测试，观察其性能是否稳定，并记录运行时间。

6. 其他测试根据实际需要，还可以进行其他测试，例如抗干扰性能测试、电磁兼容性测试等，以确保晶振在各种环境下都能正常工作。

三、晶振检验标准1. 外观标准外壳应完整，无损坏、划痕等。

引脚焊接应牢固，无松动或断裂。

2. 参数标准频率应符合产品规格要求，频率稳定度应在允许范围内。

谐振电阻应符合产品规格要求。

3. 温度特性标准晶振的频率变化应在允许范围内，温度系数应符合产品规格要求。

4. 震动标准晶振在不同频率和幅度的震动下，应能正常工作，无异常现象。

5. 寿命标准晶振应能在规定的寿命范围内正常工作，性能稳定。

6. 其他标准根据产品的具体要求，进行相应的测试，并根据产品规格进行评定。

四、检验记录和报告在进行晶振检验时，需要详细记录每一项测试的结果和数据。

同时，还需要编写检验报告，包括晶振的型号、批号、检验日期、检验员等信息，以及每一项测试的结果和评定。

石英晶体振荡器实验报告

石英晶体振荡器实验报告
石英晶体振荡器实验报告
一、实验目的
1．了解晶体振荡器的工作原理及特点；
2．掌握晶体振荡器的设计方法及参数计算方法。

二、实验电路说明
本实验电路采用并联谐振型晶体振荡器，如图
XT、C2、C3、C4组成振荡回路。

Q1的集电极直流负载为R3,偏置电路由R1、R2、W和R4构成，改变W可改变Q1的静态工作点。

静态电流的选择既要保证振荡器处于截止平衡状态也要兼顾开始建立振荡时有足够大的电压增益。

振荡器的交流负载实验电阻为R5。

三、实验内容及步骤
1．接通电源；
2．测量振荡器的静态工作点：
调整图中W，测得Iemin和Iemax（可测量R4两端的电压来计算相应的Ie值）；经计算可得：Iemin=0.704mA , Iemax=4.920mA 3．测量当工作点在上述范围时的振荡器频率及输出电压。

振荡器的频率为10MHz，输出电压的范围是0.37V～2.50V
4．研究有无负载对频率的影响：先将K1拨至OFF，测出电路振荡频率，再将K1拨至R5，测出电路振荡频率。

四、实验结果实验波形和频率
五、实验心得
通过动手做实验，我了解了石英晶体振荡器的工作原理，及其特点例如十分稳定。

但是实验中我们发现的问题例如开始时测量Ve 过大，虽然我们经过了改正，但是还是提醒我们在以后的实验中的一些必须注意的问题。

精工VT200F晶振SGS测试报告中文翻译

精工仪器公司1110 HIRAI-CHO，TOCHIGI-SHI，TOCHIGI 328-0054，日本以下样品由客户代表提供并核准：样品提供: 精工仪器公司样品描述: 石英晶振单元(VT-200-F)制造商: 精工仪器公司原产国1110 HIRAI-CHO，TOCHIGI-SHI，TOCHIGI 328-0054，日本样品接收日期: 2014年3月26日测试时间: 2014年3月26日至2014年4月2日测试结论: 请参阅后页Troy Chang/技术主管签字代表SGS 台湾有限公司化学实验室-台北精工仪器公司1110 HIRAI-CHO，TOCHIGI-SHI，TOCHIGI 328-0054，日本测试结果元件名称编号1 : 混合所有部件精工仪器公司1110 HIRAI-CHO，TOCHIGI-SHI，TOCHIGI 328-0054，日本精工仪器公司1110 HIRAI-CHO，TOCHIGI-SHI，TOCHIGI 328-0054，日本注意：(1) m g/kg = ppm; 0.1wt% = 1000ppm(2) n.d. = 未检测到(3) M DL = 检测方法的限值(4) “-” = 未规定(5) ** = 定性分析（无数量单位）(6) Negative = 未检测到Positive = 检测到(7) 石棉的定量测试范围从0.1%到100%。

判断标准如下：石棉纤维被发现用“检测到”表示；石棉纤维未被发现用“未检测到”表示(8) 从申请人利益角度出发，这些样品被混合在一起进行一次测定，以上的结果仅供参考。

PFOS参考信息：POPs – (EU) 757/2010法律禁止PFOS作为特殊物质或配置成份时浓度超过0.001%(10ppm)，在半成品或物品或零部件上其浓度不得超过0.1%(1000ppm)，在纺织品或其它涂层材料中不得超过1微克/平方米。

精工仪器公司1110 HIRAI-CHO，TOCHIGI-SHI，TOCHIGI 328-0054，日本*如果被测试样品/零部件出现在照片中，它会被箭头标识出来***报告结束**。

[精品]LC与晶体振荡器实验报告

[精品]LC与晶体振荡器实验报告1. 实验目的本次实验的主要目的是掌握晶体振荡器工作的基本原理及振荡器的应用，学习LC滤波器的概念和基本原理，并且掌握实验中常用的测试仪器和示波器的使用方法。

2. 实验原理2.1 晶体振荡器原理晶体振荡器的主要作用是产生稳定的高频信号。

其基本原理是利用晶体的特殊结构和性质，在电场的作用下引起晶体的机械振动，使晶体在某一频率上产生谐振。

当晶体处于谐振状态时，振荡回路中的谐振电路产生的电压将驱动振荡器的输出电路产生稳定高频信号。

2.2 LC滤波器原理LC滤波器是由电容器和电感器组成的，可以对电路中的电信号进行滤波和衰减。

一般分为高通滤波器和低通滤波器两种。

当在电路中串联一个电感表征的元件和一个电容表征的元件时，可以得到LC电路。

在LC电路中，当电容和电感阻抗相等时，电路处于共振状态。

在这种状态下，电路产生的衰减最小，是一个理想的振荡器。

3. 实验设备和器件本次实验所使用的设备和器件如下：2. 电脑3. 示波器4. 稳压电源6. 电阻、电容、电感4. 实验步骤1. 将晶体振荡器模块插入LC滤波器板上的插槽，将示波器连接在输出端口。

2. 将稳压电源的电源线插入电源插孔，并将稳压电源的输出端口插入晶体振荡器模块的电源端口。

3. 打开稳压电源，调节电压输出值以满足晶体振荡器的工作电压需求，并使用示波器检测晶体振荡器产生的高频信号。

2. 连接电源，切换到低通滤波器模式。

调节电源输出电压以适应电路中元件的电压需求。

3. 调整电阻的值以改变电路中的电阻值。

使用示波器检测电路中产生的信号。

4. 在低通模式下，串联一个电容电路，使用示波器检测电路中产生的信号。

5. 实验结果与分析通过实验，我们得到了晶体振荡器的输出示波图。

可以看出，晶体振荡器生成的信号频率稳定，波形清晰明显。

通过实验，我们得到了电路中低通滤波器和高通滤波器的效果图。

我们可以看到电路中的信号被过滤和衰减，得到了不同的输出效果。

晶振测量实训报告

标题：晶振测量实训报告一、实训目的本次晶振测量实训旨在使学生掌握晶振的基本原理、工作特性以及测量方法，提高学生对晶振性能参数的识别能力，为今后从事相关领域工作打下坚实基础。

二、实训内容1. 晶振的基本原理及工作特性（1）晶振的基本原理：晶振是利用石英晶体在压电效应下的振动特性，将输入的交流电压转换为稳定的振荡频率。

石英晶体具有高稳定性、高精度、低相位噪声等优良特性，广泛应用于电子设备中。

（2）晶振的工作特性：晶振的频率、温度系数、负载系数、相位噪声等参数是衡量晶振性能的重要指标。

2. 晶振的测量方法（1）频率测量：采用频率计对晶振的振荡频率进行测量，确保晶振工作在规定频率范围内。

（2）温度系数测量：通过改变晶振工作环境温度，观察晶振频率的变化，计算晶振的温度系数。

（3）负载系数测量：在晶振输出端接入不同负载，观察晶振频率的变化，计算晶振的负载系数。

（4）相位噪声测量：采用相位噪声分析仪对晶振的相位噪声进行测量，分析晶振的相位噪声特性。

三、实训步骤1. 晶振频率测量（1）将晶振接入频率计，观察频率计显示的频率值。

（2）调整晶振的工作环境温度，观察频率计显示的频率值，计算晶振的温度系数。

（3）接入不同负载，观察频率计显示的频率值，计算晶振的负载系数。

2. 晶振相位噪声测量（1）将晶振接入相位噪声分析仪，设置测量参数。

（2）观察相位噪声分析仪显示的相位噪声曲线，分析晶振的相位噪声特性。

四、实训结果与分析1. 频率测量结果通过频率计测量，晶振的振荡频率为XX MHz，符合设计要求。

2. 温度系数测量结果通过改变晶振工作环境温度，晶振频率变化范围为XX ppm/℃，温度系数为XX ppm/℃。

3. 负载系数测量结果接入不同负载后，晶振频率变化范围为XX ppm，负载系数为XX ppm。

4. 相位噪声测量结果通过相位噪声分析仪测量，晶振的相位噪声曲线如图1所示。

分析可知，晶振的相位噪声性能良好。

五、实训总结本次晶振测量实训使学生掌握了晶振的基本原理、工作特性以及测量方法，提高了学生对晶振性能参数的识别能力。

晶振分析报告范文

晶振分析报告范文晶振是指一种能够产生稳定时钟信号的器件，广泛应用于电子设备中。

晶振的质量和性能直接影响到整个电子系统的稳定性和可靠性。

本报告将对晶振的工作原理、性能指标和应用领域进行分析。

一、晶振的工作原理晶振一般采用石英晶体作为振荡元件，石英晶体具有机械和电学耦合效应，当施加电场时，会使晶体发生机械振动，产生稳定的频率。

石英晶体的弯曲挠戈模式是最常用的晶振工作模式。

二、晶振的性能指标1. 频率稳定度：晶振的频率稳定度是指在一定的温度范围内，晶振输出信号的频率变化情况。

频率稳定度通常用“ppm”（百万分之几）来表示，数值越小越好。

2. 频率精度：晶振的频率精度是指晶振输出信号的频率与标称频率之间的差值。

频率精度通常用“ppm”来表示，数值越小越好。

3. 温度漂移：晶振的温度漂移是指晶振频率在温度变化时的变化量。

温度漂移通常用“ppm/℃”来表示，数值越小越好。

4.相位噪声：晶振的相位噪声是指晶振输出信号的相位变动与频率变动之间的关系。

相位噪声通常用“dBc/Hz”来表示，数值越小越好。

三、晶振的应用领域晶振广泛应用于各种电子设备中，主要包括以下几个领域：1.通信设备：晶振作为时钟源，用于产生稳定的时钟信号，保证通信设备的正常工作。

如无线通信基站、光纤通信设备等。

2.计算机设备：晶振作为计算机系统主频的时钟源，用于提供稳定的时钟信号，保证计算机设备的正常运行。

如主板、CPU等。

3.汽车电子：晶振作为汽车电子系统中的时钟源，用于控制各种电子设备的运行时间，如发动机控制单元、电子表盘等。

4.工业自动化：晶振作为工业自动化控制系统中的时钟源，用于同步各种控制器和执行器的工作。

如PLC、数控机床等。

综上所述，晶振作为一种产生稳定时钟信号的器件，在电子设备中扮演着重要的角色。

其性能指标对设备的稳定性和可靠性有着直接的影响。

随着科技的不断发展，晶振的性能也得到了明显的提高，更好地满足了各种应用领域的需求。

2.石英晶体振荡器实验报告

石英晶体振荡器实验报告学号200800120228 姓名辛义磊实验台号30一、实验目的1、进一步学习数字频率计的使用方法；2、掌握并联型晶体振荡器的工作原理及特点；3、掌握晶体振荡器的设计、调试方法；4、观察并研究外界因素变化对晶体振荡器工作的影响。

二、实验仪器双踪示波器数字频率计晶体管毫伏表直流稳压电源数字万用表三、实验原理1、石英晶体振荡器的原理LC振荡器由于受到LC回路的标准性和品质因数的限制，其频率稳定度只能达到10-4的量级，很难满足实际应用的要求。

石英晶体振荡器采用石英晶体谐振器作为选频回路的振荡器，其振荡频率主要由石英晶体决定。

与LC回路相比，石英晶体谐振器具有很高的标准性和品质因数，使石英晶体振荡器可以获得极高的频率稳定度。

由于石英晶体的精度和稳频措施不同，石英晶体振荡器可以获得高达10-4—10-11量级的频率稳定度。

晶体谐振器是一个串、并联谐振回路，串并联谐振频率f q、f p分别为由于错误！未找到引用源。

，错误！未找到引用源。

相差很小，一般石英晶体的L q很大，错误！未找到引用源。

很小，与同样频率的LC元件构成的回路相比，L q、错误！未找到引用源。

与LC元件数值要相差4—5个数量级；同时，晶体谐振器的品质因数也非常大。

晶体在工作频率附近阻抗变化率大，有很高的并联谐振阻抗。

在晶体振荡器中，把石英晶体谐振器用作等效感抗，振荡频率必处于错误！未找到引用源。

之间的狭窄频率范围内。

由于石英晶体的高Q特性，等效感抗X随w的变化率极其陡峭，它对频率的变化非常敏感。

因而在晶体振荡器的振荡系统中出现频率不稳定因素影响，使振荡系统的错误！未找到引用源。

时，石英晶体具有极高的频率补偿能力，晶体振荡器的振荡频率只要有极微小的变化，就足以保持振荡系统的错误！未找到引用源。

因此，晶体振荡器的工作频率非常稳定。

晶体振荡器依据在电路中的作用，可分为并联型晶体振荡器和串联型晶体振荡器两大类。

2、实验电路本实验采用石英晶体振荡器，如图所示为实验电路图。

LC与晶体振荡器实验报告

LC与晶体振荡器实验报告班级：电子09 班姓名：学号：8号指导老师：一、实验目的1）、了解电容三点式振荡器和晶体振荡器的基本电路及其工作原理。

2）、比较静态工作点和动态工作点，了解工作点对振荡波形的影响。

3）、测量振荡器的反馈系数、波段复盖系数、频率稳定度等参数。

4）、比较LC与晶体振荡器的频率稳定度。

二、实验设备TKGPZ-1型高频电子线路综合实验箱；双踪示波器；频率计；繁用表。

三、实验原理接通交流电源，然后按下实验板上的+12V总电源开关K1和实验单元的电源开关K100，电源指示发光二极管D4和D101点亮。

LC与晶体振荡器实验电原理图实验现象R103R10222KR101（一）、调整和测量西勒振荡器的静态工作点，并比较振荡器射极直流电压（U e、U eq）和直流电流（I e、I eq）：1、组成LC西勒振荡器：短接K1011-2、K1021-2、K103 1-2、K1041-2，并在C107处插入1000p的电容器，这样就组成了LC西勒振荡器电路。

用示波器(探头衰减10)在测试点TP102观测LC振荡器的输出波形，再用频率计测量其输出频率。

2、调整静态工作点：短接K104 2-3（即短接电感L102），使振荡器停振，并测量三极管BG101的发射极电压U eq；然后调整电阻R101的值，使U eq=0.5V，并计算出电流I eq（=0.5V/1K=0.5mA）。

测量发射极电压和电流：短接K104 1-2，使西勒振荡器恢复工作，测量BG102的发射极电压U e和I e。

调整振荡器的输出：改变电容C110和电阻R110值，使LC振荡器的输出频率f0为1.5MHz，输出幅度V Lo为1.5V P-P。

（二）、观察反馈系数K fu对振荡电压的影响：由原理可知反馈系数K fu=C106/C107。

按下表改变电容C107的值，在TP102处测量振荡器的输出幅度V L（保持U eq=0.5V），记录相应的数据，并绘制V L=f（C）曲线。

深圳大学高频实验报告五石英晶体振荡器

深圳大学实验报告课程名称：高频电路实验项目名称：石英晶体振荡器学院：信息工程学院专业：指导教师：报告人：学号：班级：实验时间：实验报告提交时间：教务部制实验目的：1．熟悉电子元器件和高频电子线路实验系统。

2．掌握石英晶体振荡器、串联型晶体振荡器的基本工作原理，熟悉其各元件功能。

3．熟悉静态工作点、微调电容、负载电阻对晶体振荡器工作的影响4．感受晶体振荡器频率稳定度高的特点，了解晶体振荡器工作频率微调的方法。

实验内容：1．用万用表进行静态工作点测量。

2．用示波器观察振荡器输出波形，测量振荡电压峰-峰值Vp-p，并以频率计测量振荡频率。

3．观察并测量静态工作点、微调电容、负载电阻等因素对晶体振荡器振荡幅度和频率的影响。

基本原理：1．晶体振荡器工作原理一种晶体振荡器的交流通路如图5-1所示。

图中，若将晶体短路,则L1、C2、C3、C4就构成了典型的电容三点式振荡器(考毕兹电路)。

因此，图5-1的电路是一种典型的串联型晶体振荡器电路（共基接法）。

若取L1=4.3μH、C2=820pF、C3=180pF、C4=20pF，则可算得LC并联谐振回路的谐振频率f0≈6MHz，与晶体工作频率相同。

图中，C4是微调电容，用来微调振荡频率；C5是耦合（隔直流）电容，R5是负载电阻。

很显然，R5越小，负载越重，输出振荡幅度将越小。

R4R5 C2C3C4L1C5BG1JTI图5-1 晶体振荡器交流通路2．晶体振荡器电路晶体振荡器电路如图5-2所示。

图中，R3、C6为去耦元件，C1为旁路电容，并构成共基接法。

W1用以调整振荡器的静态工作点（主要影响起振条件）。

K1、K2、K3用来改变R5，从而改变振荡器负载。

C9为输出耦合电容。

实际上，图5-2电路的交流通路即为图5-1所示的电路。

实验步骤：1．实验准备⑴在箱体右下方插上实验板1。

接通实验箱上电源开关，此时箱体上、电源指示灯点亮。

⑵把实验板1左下方单元（石英晶体振荡器电路单元)的电源开关（K4）拨到ON位置，就接通了+12V电源（相应指示灯亮），即可开始实验。

晶体振荡器实验报告

晶体振荡器实验报告晶体振荡器实验报告引言晶体振荡器作为一种重要的电子元件，在现代科技中发挥着重要作用。

本实验旨在通过实际搭建晶体振荡器电路并进行测试，探究晶体振荡器的工作原理和性能特点。

一、实验原理晶体振荡器是一种利用晶体的谐振特性产生稳定频率信号的电子元件。

其基本原理是利用晶体的谐振回路，在特定的电路条件下，通过正反馈作用使振荡器产生稳定的振荡信号。

二、实验步骤1. 准备工作：检查实验装置是否完好，确保电源、信号发生器等设备的正常工作。

2. 搭建电路：根据实验要求，搭建晶体振荡器电路。

电路中包括晶体谐振器、放大器、反馈网络等关键部分。

3. 调节参数：根据实验要求，调节电路中的参数，如电容、电感等，以实现振荡器的稳定工作。

4. 测试频率：使用频率计或示波器等测试仪器，测量振荡器输出的频率，并记录下来。

5. 分析结果：根据实验数据，分析振荡器的频率稳定性、波形纯净度等性能指标，并与理论值进行对比。

三、实验结果与分析在实验中，我们搭建了晶体振荡器电路，并进行了频率测试。

实验结果显示，振荡器输出的频率为XHz，与理论值XHz相比误差在可接受范围内。

这表明我们成功地实现了晶体振荡器的稳定振荡。

进一步分析振荡器的性能指标，我们发现其频率稳定性较高，波形纯净度也较好。

这得益于晶体谐振器的特性，晶体的谐振频率非常稳定，能够提供高质量的振荡信号。

此外，我们还测试了振荡器在不同负载条件下的性能。

结果显示，在负载变化较大的情况下，振荡器的频率变化较小，稳定性较好。

这说明晶体振荡器具有较好的负载适应性，适用于各种实际应用场景。

四、实验总结通过本次实验，我们深入了解了晶体振荡器的工作原理和性能特点。

晶体振荡器作为一种重要的电子元件，其稳定的振荡频率和优良的波形特性，在通信、计算机等领域有着广泛的应用。

然而，晶体振荡器的设计和调试并非一件简单的任务。

在实际应用中，需要根据具体需求选择合适的晶体谐振器、放大器和反馈网络等元件，以及合适的参数配置，才能实现理想的振荡效果。

载波晶振测试报告

载波中10M晶振测试报告
1.存在问题
本批次晶振供电的转压芯片LP2992IM-5在贴片时误贴成LP2992IM-3.3。

现部分板子转压芯片已更换，但还有部分仍未更换。

2.造成后果
(1)10M晶振频率会出现偏移，偏移量在150Hz左右。

(2)晶振出来的功率会减小，减小10dB左右。

3.测试目的
(1)如何正确的判断哪些板子已更换成LP2992IM-5，哪些尚未更换。

(2)晶振功率的测量。

4.测试时间
2014年5月28日
5.测试地点
南京理工大学微波与通信工程研究中心
6.测试单位
“载波”项目测试组
7.测试步骤
(1)用万用表测量加电端阻抗是否正常，如图1。

图1
(2)确定所需更换芯片的位置，如图2。

图2
(3)如何确认哪些板子还未更换成LP2992IM-5，如图3。

图3
(4)10M晶振功率测量点，如图4或图5。

图4
图5。