专利质量评价指标及其在专利计量中的应用马廷灿

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第 56 卷 第 24 期 2012 年 12 月
专利质量评价指标及其在专利计量中的应用
马廷灿 李桂菊 姜 山 冯瑞华
武汉 430071 中国科学院国家科学图书馆武汉分馆 / 中国科学院武汉文献情报中心 〔摘要〕通过对国内外专 利 质 量 评价相 关 研究 的系 统 调 研和 梳 理, 提 出 一种新 的 专 利 质 量 评价指标 分 类 体系 , 并 选 取 稀土永磁这一重 要 的 战略 材 料 技术 领域 , 对 专 利 质 量 评价指标在 专 利 计量 中 的用 途 进行 实 证 研究 。 研究 结 果表明, 有效 地综合 利 用 专 利 数 量 指标 和 质 量 评价指标 , 有 助于对竞争区 域、 竞争 机 构 等进行 更 加 全 面、 更加深入 的 对 比分析 , 快速遴 选 重点 机 构 、 重点 专 利 , 从 而 提 升专 利统 计 分析 结果 的深 度 和价 值 。 〔关键词 〕专利计量 〔分类号 〕G255. 53 质量 评价 指标 分 类 体系
研究成果相当有限 。 在随后的三四十年中, 专利信息 可获得性的不断提高推动了专利信息分析取得一定的 进展。20 世纪 80 年代, 美国原 CHI Research 公司( 已 被并购并改名为 ipIQ 公司) 的 F. Narin 等将文献计量
收稿日期: 2012 - 07 - 17 修回日期: 2012 - 10 - 19
59 本文起止页码: 89 - 95 , 本文责任编辑: 刘远颖

海量的专利包含了世界上最全 、 最新的技术信息, 而要从中提取有用的情报, 就必须借助科学计量手段 。 A. H. Seidel 等就提出以计量方 早在 20 世纪 40 年代, 式分析专利信息
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, 但限于当时专利信息难以获取,
Patent Quality Evaluation Indicators and Their Applications in Patentometirics Ma Tingcan Li Guiju Jiang Shan Feng Ruihua
Wuhan Branch of the National Science Library,CAS / Wuhan Library of Chinese academy of Sciences,Wuhan 430071 〔Abstract〕The patentometrics as a whole is mainly based on numerical statistic,which limits the full use of the patent information. This paper makes a comprehensive literature review of worldwide research work of patent quality evaluation,and proposes a new classification system for the patent quality evaluation indicators. Taking the rare earth permanent magnet technology as an example,it conducts an empirical study on the patent quality evaluation indicators in patentometrics. The results show that the appropriate combination of patent number indicators and quality evaluation indicators can help us to make a more comprehensive and deep analysis on the competitive areas and competitive organizations,and to make rapid selection of key organizations and key patents to enhance the depth and value of the analysis results. 〔Keywords〕patentometrics quality evaluation indicator classification system
学的计量对象从科学文献扩展到专利文献, 开展了专
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利计量研究
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。F. Narin 的这项研究及其后续相关工
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作确立了专利计量的基础研究方法体系, 他也因此被 专利文献集技术 、 法律 、 经济信息于一体, 记载了 新工艺 、 新产品 、 新方法以及新的 世界各国的新技术 、 科技与市场发展动态 。 根据世界知识产权组织 ( WIPO) 的统计, 专利文献涵盖了人类 95% 的科研成果, 有 效运用专利信息, 可大幅节省研发费用, 缩短研发时 间, 加快科研开发和发明创造
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公认为专利计量学的创始人

专利计量的英文一般写作“patent bibliometrics ” 或 “patentometrics” , 以专利中的计量信息作为分析研究 的基础 。可以看出, 专利计量源于文献计量( bibliometrics) , 两者不论是在基础理论还是具体的统计技术与 分析方法上都有很多相通之处, 因此通常也将专利计 量归为广义的文献计量 。 同时, 由于专利权具有地域 性、 时间性等特点, 专利计量在分析方法 、 计量指标等 方面又有其许多独特之处 。 例如, 不论是在国内还是 在国外, 原则上, 科技论文都是不允许一稿多投 、 重复 发表的 。而由于专利权是有地域性限制的, 发明人如 果想使其发明在多个国家或地区得到保护, 就必须在 相应的每个国家或地区申请专利, 也由此产生了专利 可以使统计分析 族 。专利计量以专利族为计量单元,
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