射线检测计算公式总结
无损检测之射线探伤中
查图4-15， 180KV时曝光量是 30mA.min，7min显影
2. 黑度变化时的修正：
TY4010/4-2X射线机 天津III型胶片 铅增感屏 检测10mm钢件 焦距1m
要求底片黑度2.3，求曝光量：
查图4-12， 黑度1.5时的曝光量E1=1.8*10^3mA.sec 黑度2.3时的曝光量E2=3 .6*10^3mA.sec 查图4-15， 10mm钢件，140KV，曝光量E’=30mA.min 底片黑度从1.5到2.3是的曝光量 E=E2/E1*E’=60mA.min
7. 散射线的屏蔽：来自工件、胶片的背面的壁等的二次射线。 - 在射线源的窗口加铅板和滤光板。
- 在工件非透照部分加厚铅板屏蔽。 - 在工件侧面加铅板屏蔽。 - 在工件背面加铅板放置背散射（>2mm厚),
可以在暗盒背后加铅字B，胶片显影后 不应呈现铅字B。
- 厚度差比较大的工件： --- 对厚度差别比较大的工件进行射线照相时，射线底片有效评片范围 内各部分的黑度要求均要处在规定的底片黑度范围内。为此可以提 高电压适当降低底片对比度，使底片黑度在规定范围之内。 --- 上述办法不能满足的，可以采用以下办法： 1. 双胶片法：在暗盒内同时装两张胶片（可以是相同的胶片也可以是 不同感光速度的胶片），同时曝光获得两张胶片，分别观察和重叠 在一起观察。 2. 分段曝光法：分别对工件的而不同部分根据厚度采用不同的曝光量 进行曝光，获得合适的射线底片。 3. 补偿法： - 用补偿块，补偿块的材料要由与被检测工件相似的材料制作。 - 铁丸。 - 补偿夜补偿。
3. 焦距改变时的修正：
TY4010/4-2X射线机 天津III型胶片 铅增感屏 检测20mm钢件 焦距1m 底片黑度1.5
辐射强度计算公式
辐射强度计算公式1辐射强度辐射强度是指一个物理量，它描述的是物体给出的发射的物体的能量的强度，并用牛顿/立方米表示。
它通常用于衡量放射射线源的功率，包括太阳辐射，人造放射源或其他射线源的放射强度。
2计算辐射强度计算辐射强度的基本公式是：I=E/A，其中I是辐射强度，E是发射的能量，A是作为单位面积收到辐射能量的面积。
该方程式可以表示为一个物理量，例如质量或数量，以表明每一个物理量传输的平均能量，即辐射强度。
3计算步骤计算辐射强度需要知道以下信息：发射的能量E和收到辐射能量的面积A。
首先，获得取样面积的球体半径（r），球体面积可以按照以下公式计算：A=4πr2其次，获得发射的能量E。
要计算发射的能量，您必须将其与收到的能量进行比较。
收到的能量与放射源距离的平方成反比。
收到的能量越远，能量损失越多。
然后，将发射的能量与收到的能量进行比较，并用下面的公式计算发射的能量：E=E0/d2，其中，E0是圆球发射源的能量，d是接收点距离发射源的距离。
最后，辐射强度可以用以下公式计算：I=E/A。
4应用实例电离辐射是一种放射性的辐射，它可以被用于检测宇宙射线、威胁分析和核医学。
许多宇宙射线探测器基于电离辐射测量技术，例如螺旋束和采样阵列，实现了三维监测技术。
辐射强度可以用来检测威胁，并向秩序员提供安全建议，确定危险指示灯及其周围空气中辐射浓度的变化。
此外，辐射安全技术也可以用来监测核设施内的核材料，以确保安全。
5结论辐射强度是放射的量化数值，用来衡量源的放射能量的强度，计算辐射强度的基本公式是：I=E/A，其中，I是辐射强度，E是发射的能量，A是作为单位面积收到辐射能量的面积。
辐射强度经常被用于许多科学领域，如宇宙射线探测、威胁分析以及核医学，以确保安全。
射线照像检测技术_2022年学习资料
射线照像检测技术-有效透照区：一次透-照的有效范围，在此-范围内：-黑度处于规定的范围-照像灵敏度符合规定 -■透照厚度的控制：透-照厚度比K=T”/T处-于规定的范围。-图3-9透照厚度-表3-4焊缝常用的透照厚 比规定-焊缝类型-A级技术-B级技术-环-K≤1.1-K≤1.06-纵-K≤1.03-K≤1.01
射线照像检测技术-曝光曲线：在一定条件下，绘制的透照参-数（射线能量、焦距、曝光量）与透照厚-度之间的关系 线。-120kV140kV160kV180kV200kV220kV-D=2.0-10-30-50-钢厚度/ m-图3-16-以透照电压为参数的曝光曲线
射线照像检测技术-■-曝光参数计算例-采用固定X射线机透照一铸件，焦距为700mm、-管电流为8mA时，曝 时间为3min。当采用-1000mm焦距，管电流12mA时，曝光时间是多-少？-F-i22-1000×3× -=4.1-12 F2-话-700×12-21
射线照像检测技术-射线照相的灵敏度：射线照片记录细节或-缺陷的能力，它在一定程度上综合了影像-质量的三个基 因素。-相对灵敏度：可识别的最小尺寸和透射厚度的-比值。-绝对灵敏度：可识别的最小尺寸-■灵敏度的测定采用 质计-12
射线照像检测技术-射线照像的基本透照布-置如图所示。-■-基本原则是使透照区的-透照厚度小，主要考虑-如下 容：-射线源、工件、胶-片的相对位置。-射线中心束的方向。--有效透照区。-图3-8-射线照相的基本透照布 -1一射线源2一中心束-3一工件4一胶片5一像质计
射线照像检测技术-■基本透照参数的选择：--射线能量--焦距--曝光量-■较低的射线能量，较大的焦距和较大 曝-光时间，可以获得高质量的照片。-15
射线照像检测技术-射线能量-对于X射线：射线管的电压-对于伽马探伤：伽马射线的能量-■射线能量的选择：-能 高，衰减系数小，固有不清晰度增加。满-足要求时，选择较低的射线能量。-一般而言，伽马射线的检验灵敏度低于X 线，-但在某些场合（球罐环缝检验）采用伽马射线-可以实现全景曝光，提高效率。-16
生产ct计算公式
生产ct计算公式生产CT计算公式CT（Computed Tomography）是一种医学影像诊断技术，通过计算机处理多个X射线投影图像，生成人体内部的断层图像。
CT计算公式是CT影像重建的基础，它描述了如何将一系列X射线投影图像转化为人体内部的断层图像。
本文将详细介绍CT计算公式的原理和应用。
CT计算公式的基本原理是通过测量X射线的吸收强度来推断被扫描物体的组织密度和结构。
当X射线通过人体组织时，会被组织吸收和散射，吸收的强度与组织的密度有关。
CT设备会围绕被扫描物体旋转，从不同方向进行X射线投影，得到一系列的投影图像。
这些投影图像经过计算机处理，就可以得到人体内部的断层图像。
CT计算公式的核心是反投影重建算法。
该算法首先对每个投影图像进行预处理，包括去除散射、校正和滤波等操作。
然后，根据投影图像的几何关系和吸收强度，计算出每个像素点在不同投影角度下的吸收强度。
最后，根据吸收强度的分布，通过插值和滤波等操作，生成高分辨率的断层图像。
CT计算公式的具体表达式较为复杂，包括Radon变换、滤波反投影重建等数学运算。
在实际应用中，计算机会利用高效的计算算法和优化技术，加速计算过程并提高图像质量。
目前常用的CT计算公式包括直接反投影法、滤波反投影法和迭代重建法等。
CT计算公式在医学领域具有广泛的应用。
它可以用于检测和诊断各种疾病，如肿瘤、骨折、血管病变等。
通过CT图像，医生可以清晰地观察人体内部的器官和组织结构，了解病变的位置、大小和形态，为疾病的诊断和治疗提供重要依据。
此外，CT计算公式还可以用于导航和引导手术、辅助药物研发等领域。
总结起来，CT计算公式是实现CT影像重建的关键。
它使用数学运算和计算机技术，将X射线投影图像转化为人体内部的断层图像。
CT计算公式在医学领域具有重要的应用价值，为疾病的诊断和治疗提供了强有力的工具。
未来随着科技的发展，CT计算公式将进一步完善和优化，为医学影像诊断带来更多的突破和进步。
射线检测缺陷点数计算公式
射线检测缺陷点数计算公式引言。
射线检测是一种常用的非破坏性检测方法，广泛应用于工业制造领域。
在进行射线检测时，我们经常需要计算缺陷点数，以确定材料的质量和可靠性。
本文将介绍射线检测缺陷点数的计算公式及其应用。
射线检测缺陷点数计算公式。
射线检测缺陷点数的计算公式如下：N = (L/D) (d/D)。
其中，N表示缺陷点数，L表示射线的长度，D表示探测器的距离，d表示缺陷的直径。
该公式是根据射线检测的原理和几何关系推导出来的。
在实际应用中，我们可以根据具体情况调整公式中的参数，以适应不同的检测需求。
射线检测缺陷点数计算公式的应用。
射线检测缺陷点数计算公式广泛应用于工业制造领域。
通过计算缺陷点数，我们可以评估材料的质量和可靠性，及时发现并修复缺陷，从而提高产品的质量和性能。
在实际应用中，我们可以根据具体的检测要求和材料特性，选择合适的射线检测设备和参数，然后利用公式计算缺陷点数，以指导后续的处理和决策。
除了工业制造领域，射线检测缺陷点数计算公式还可以应用于其他领域，如建筑材料、航空航天、医疗器械等。
通过对材料进行射线检测，我们可以及时发现并处理缺陷，保障产品的质量和安全。
结论。
射线检测缺陷点数计算公式是一种简单而有效的工具，可以帮助我们评估材料的质量和可靠性。
在实际应用中，我们可以根据具体的检测需求和材料特性，选择合适的射线检测设备和参数，然后利用公式计算缺陷点数，指导后续的处理和决策。
射线检测技术在工业制造领域具有重要的应用价值，通过对材料进行射线检测，我们可以及时发现并处理缺陷，提高产品的质量和性能。
希望本文介绍的射线检测缺陷点数计算公式能够为相关领域的专业人士提供帮助，推动射线检测技术的进一步发展和应用。
射线检测理论常用公式
射线检测理论常用公式射线检测利用射线与被测物体进行相互作用，从而探测物体的内部结构和组成。
在射线检测中，常用的公式涉及到射线的穿透、散射、吸收和衰减等物理过程。
以下是几个射线检测理论中常用的公式与原理。
1.相对透射率公式（透射曲线）在射线检测中，透射曲线描述了射线穿过被测物体时的相对透射率随射线射程变化的关系。
该关系常由下式描述：I=I_0*e^(-μx)其中，I为射线透射后的相对透射率，I_0为入射射线的相对透射率，μ为线性吸收系数，x为射线射程。
这个公式说明了射线透射率的随射程指数级减少，并且吸收过程与射线的入射强度成正比。
2. Beer-Lambert定律Beer-Lambert定律描述了射线在物质中的强度衰减与物质浓度、射线出入射程的关系。
根据该定律可得：I=I_0*e^(-μx)其中，I为射线透射后的强度，I_0为射线入射前的强度，μ为线性吸收系数，x为射线射程。
这个公式与相对透射率公式相似，表达了射线透射强度与射程指数级减少的关系，其中吸收过程与射线的入射强度成正比。
3.检测灵敏度公式射线检测的灵敏度决定了能否检测到被测物体中微小的缺陷，灵敏度公式描述了射线检测系统的最小可探测缺陷尺寸与其它参数的关系。
一般而言，灵敏度公式可表示为：S=k*(1/I_s)*(I_b/I_0)其中，S为检测灵敏度，k为常数，I_s为系统噪音的标准差，I_b为被测物体上缺陷处的信号强度，I_0为入射射线的信号强度。
这个公式说明了检测灵敏度与系统噪音、入射射线强度以及缺陷处信号强度的关系，具体数值由实际应用条件和系统参数决定。
4.放射线源强度公式射线检测使用的放射线源往往具有一定的衰减，放射线源的强度随时间和距离的增加而减少。
放射线源强度公式用于描述射线源强度与时间、距离的关系。
该关系常由下式描述：I=I_0*(d_0/d)^2其中，I为射线源强度，I_0为初始源强度，d为射线源到被测物体的距离，d_0为初始时射线源到被测物体的距离。
射线检测计算公式总结
1、最短波长公式：能量公式2、连续谱中最大强度对应的波长与最短波长之间近似有下述关系:3、连续谱射线的总强度I ：4、连续谱X 射线的转换效率η;5、放射性原子核的衰变公式：7：单色窄束射线的衰减规律： 8、线衰减系数μ： 9、半值层： 10、T1/21213、主因对比度公式：Ⅰ=Ⅰs+Ⅰp=Ⅰp1+n 散射比n=I s /I p14、胶片对比度公式：1516、黑度D 171=d f ×L 2／F-L 2 min5.1λλ=IM ZVK i =ηt eN N λ-=033λρμZ K =Ten I I μ-+=)1(0LL D 0lg=DL 100=18、X 射线曝光量：E=it γ射线曝光量：E=At19、平方反比定律：从一点源发出的辐射,强度I 与距离F 的平方成反比 I 1/I 2=F 2/F 1220、X 射线照相的曝光因子：Ψ=it/F 2=i 1t 1/F 11=i 2t 2/F 22=……=i n t n /F n 2 γ射线照相的曝光因子：Ψ=At/F 2=A 1t 1/F 12=A 2t 2/F 22=……=A n t n /F n 2 19、K 值与横向裂纹检出角θ的关系：K=1/Cos θθ=cos -11/K 20、一次透照长度L 3:L 3=2L 1tan θ21、直缝单壁单影:底片的有效评定长度：L eff =L 3+ΔL纵缝作双壁单投影：底片的有效评定长度应为：l eff =ΔL+L 3′+ΔL22、环缝单壁外照法Ｎ＝360218000αα=α=θ-ηθ=cos -11120+-()K T DKη=sin -1D D L 0012+sin θK=θ=cos -11.121.0D D T +当D ０＞＞T 时,θ≈cos －１Ｋ－１K=θ=L 3=Ｄ０／Ｎ；Ｌ＇3＝．Ｄｉ／ＮΔL ≈2T ·tan θ Ｌeff ＝ΔL ／２＋Ｌ３＋ΔL ／２α:与ＡＢ／２对应的圆心角；θ:最大失真角或横裂检出角； η--有效半辐射角；Ｋ-透照厚度比；Ｔ-工件厚度；Ｄ０---容器外直径D i －容器内直径 23、环缝单壁内照法1F ＜R 的偏心法 N=180αα=η－θ：θ=cos -1112+-()K T DKiη=sin －1D D L ii -21sin θ当D0＞＞T时,θ=cos-1K-1L3=NDi⋅πL3′=ND⋅πΔL≈2T·tgθΔL/2=T·tgθL eff=L3′+ΔL2F>R的偏心法透检N=1800αα=θ-ηθ=cos-1112+-()K T DKη=sin-1θsin2DFD-当D>>T时,θ=cos-1K-1L3′=ND⋅πL3=NDi⋅πLeff=L3＇24双壁单影法100%透检环缝时的最少曝光次数N一次透照长度L3N=1800αα=θ+ηθ=cos-1112+-()K T DKη=sin-1θsin2DFD-当Do>>T时,θ=cos-1K-1L3=ND⋅πLeff=L325利用曝光曲线求非钢材的曝光量射线等效系数φm表示是指在一定管电压下,达到相同射线吸收效果或者说获得相同底片黑度的基准材料厚度To与被检材料厚度Tm之比,即：φm=TTm26、椭圆成像法偏心距L0=g＋qL1/L2=F-L2p+q/L2=焦距-外径+焊缝余高×2焊缝宽度/外径+焊缝余高27、距离防护：对点源来说,在某点的射线强度与该点到源的距离平方成反比D1R12=D2R22。
射线检测典型计算题
射线检测典型计算题一原子量、质子数、中子数计算公式：原子量 = 质子数 + 中子数 A = Z + N 例： 60Co 中有几个质子、中子？（ 27 个质子、 33 个中子）二最短波长计算公式： hc 12.4••• 入 min =---- = -- （h、c、e 均为常数）Ue U单位：入min埃。
U:千伏。
例： U=200Kv,入 min=12.4 / 200= 0.062 埃三连续 X 射线的效率（转换效率）计算：公式：n =KUZK= 1.1--1.4 X 10-9v ; K= 1.1--1.4 X 10-6Kv例：Z=74; U=200 ;求n n =1.4 X-60 X 74 X 200=2%四半衰期和衰变常数计算公式：T' = 0.693 / 入例：60Co 已知：入=0.130/年，求 T' = 0.693 / 0.130 = 5.3 年或：已知： T' = 5.3年，求入=0.693 / 5.3= 0.130半衰期的简便计算公式N 1 =（）n n= t / T ' No 2例: 60Co 半衰期为 5.3 年，新源放射强度 16居里， 10.6 年后该源的放射强度为多少？解：n=10.6/5.3=2 ; N=NO x （1/2）n=16 x（1/4）=4（居里）五X 射线光子能量和波长计算公式：E = 0.0124/ 或入=0.0124 / E以上二式中，E的单位：Mev;的单位：埃。
或者：入=12.4 / E （与入min=12.4/U 有本质区别）这里：E的单位：Kev; 入的单位：埃。
例 1：波长为 0.25? 的光子能量是多少？E= 0.0124/ 0.25= 0.0496 Mev例 2：能量为 0.25 Mev 的光子波长是多少？入=0.0124 / 0.25 = 0.0496?例 3：管电压为 200Kv 时，连续 X 射线的最大能量是多少？入 min=12.4/U=12.4/200=0.062?E= 0.0124/ 0.062= 0.2 Mev六半值层和衰减系数计算公式：Th=0.693/ 卩或卩=0.693/ Th 例1 :某材料衰减系数□为1.3/cm，求半值层 Th？Th=0.693/ =0.533cm.例 2: 穿过 12mm 厚钢板前后射线强度分别为 50mR/h 和 15mR/h, 求这种钢板的半值层和衰减系数？5015I=lo e- d15=50 e-卩 d d=12 In(15/50)=1 n(e- 卩 d )=- 卩 d=-12 卩卩=In (15/50)/(-12)=0.1Th=0.693/ 0.1=6.93(mm)七平方反比律应用计算公式： I1/ I2= f22/f12 E1/ E2=f12/f22 图 26例1：距源 1.5 米处射线强度为 40mR/ h, 求3. 5 处的射线强度？I2= I1 / ( f22/f12 )=40/ ( 3. 5 2/ 1.5 2 )=7.35 (mR/ h)例 2：焦距为 1 米处透照，得底片黑度为 2。
r射线检测安全距离
按标准GBZ 132—2008《工业γ射线探伤卫生防护标准》第6.1条将探伤工作场所划分为控制区和监督区，控制区边界的空气比释动能率应低于15μGy·h-1，监督区边界的空气比释动能率应低于2.5μGy·h-1。
探伤工作场所之外为公众区(安全区)。
γ射线作业安全防护计算辐射防护计算公式:Rx2=A·Kr/(P·2δ0/T1/2)式中 Rx----防护距离,mA----源活度,Bq (1Ci=37GBq)Kr----常数,32.9×10-16C·m2/h·kg·BqP----公众安全剂量值,≤2.5μGy·h-1(6.45×10-8C·kg-1·h-1) ----操作人员安全剂量值,≤15μGy·h-1(3.86×10-7C·kg-1·h-1) δ0----屏蔽厚度,mmT1/2 ----半价层,mm安全计算1：A=20Ci,无屏蔽时δ0=0，公众安全距离Rx=√（20×37×109×32.9×10-16/6.45×10-8）=195m操作人员安全距离Rx=80m即以半径为80m所包围的区域为控制区，以半径为80m至195m之间所包围的环行区域为监督区。
考虑现场实际情况，操作时必须有屏蔽物体，可用计算法或者计量仪实际测量划分区域。
安全计算2：A=30Ci,无屏蔽时δ0=0，公众安全距离Rx=√（30×37×109×32.9×10-16/6.45×10-8）=239m操作人员安全距离Rx=98m安全计算3：A=40Ci,无屏蔽时δ0=0，公众安全距离Rx=√（40×37×109×32.9×10-16/6.45×10-8）=276m 操作人员安全距离Rx=113m安全计算4：A=60Ci,无屏蔽时δ0=0，公众安全距离Rx=√（60×37×109×32.9×10-16/6.45×10-8）=338m 操作人员安全距离Rx=138m安全计算5：以20mm厚的钢板做屏蔽时δ0=20mm, T1/2 =10mm,安全距离减半。
射线检测理论常用公式
☆
☆
☆
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I = I0e−μd
I = (1 + )n I0e−μd
I0 = K I
K = 2n
n= d d1 2
1
射线检测理论常用公式
d1 2
=
0.693 μ
式中：I0—入射的射线强度； I—透过物质后的射线强度； μ—单色窄束射线的线减弱系数；
μ —多色宽束射线的平均线减弱系数；
d—物质厚度；
n—散射比；
K—厚度比； T’—通过一次透照长度端点的射线束在工件中穿过的距离；
T —工件的厚度；
θ—横向裂纹检出角。
☆
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☆
☆
☆
环缝外透法 100％透照分段的计算：
N
=
180 α
α =θ −η
3
( ) θ
=
cos
−1
⎡1 ⎢
+
⎣
K2 −1 T K
D0
⎤ ⎥
⎦
射线检测理论常用公式
η
=
sin −1⎜⎜⎝⎛
D0
D0 + 2L1
☆
☆
Ug
=
d f L2 F − L2
=
d f L2 L1
A级 AB 级 B级
L1 ≥ 7.5d f L22/ 3 L1 ≥ 10d f L22/ 3 L1 ≥ 15d f L22/ 3
2
射线检测理论常用公式
式中：Ug—几何不清晰度； df—焦点尺寸； F —焦距；
L1—焦点至工件表面的距离；
L2—工件表面的距离至胶片的距离。
d1/2—半价层；
e—自然数；
K—射线强度的减弱倍数；
n—吸收物质厚度 d 所相当的半价层个数。
CT辐射源计量检定操作细则
医用诊断螺旋计算机断层摄影装置(CT) X射线辐射源检定操作细则为规范实施医用诊断螺旋计算机断层摄影装置(CT) X射线辐射源计量检定，
参照国标《医用诊断螺旋计算机断层摄影装置（CT）X射线辐射源检定规程》
JJG 961—2017，结合我单位检测设备，制定《医用诊断螺旋计算机断层摄影装置（CT）X射线辐射源计量检定操作细则》。
1、检定的环境：温度是在（18〜28）C。
相对湿度小于85%。
气压为（86〜106）kPa。
2、性能检测
标称射线宽度不大于40 mm剂量指数计算公式
标称射线宽度不大于40 mm剂量指数计算公式：
标称射线宽度小于等于60 mm剂量指数计算公式：
标称射线宽度大于60 mm剂量指数计算公式：
均匀性计算公式：
噪声水平计算公式：
窗宽窗位调节公式：
3.技术要求及注意事项
注意事项：医用诊断螺旋计算机断层摄影装置(CT) X射线辐射源的检定周期一般不超过1年。
经调试、修理后影响医用辐射源计量性能时都必须按首次检定项目进行检定。
无损检测公式总结
无损检测公式总结第一章射线检测1 各种形状焦点尺寸d ：圆形和方形焦点：d= a ；椭圆形和长方形焦点：d=（a+b）/2d的范围一般在0.5∼5mm之间e- λ τ2 放射性元素衰减定律：A=AA0 —放射性物质的初始活度（Bq）；A —经过时间τ 以后放射性物质的活度（Bq）；e —自然对数的底；λ —衰变常数（s-1）。
3 除Bq以外，也常用Ci表示放射性活度，它们之间的换算关系为1Ci=3.7×1010Bq。
4 半衰期τ1/2τ1/2＝（ln2）/λ=0.693 /λ（s）5 单波长射线的强度与透照厚度t A之间应遵循如下的指数衰减规律：I=I0e-μ t式中μ—射线的线性衰减系数（mm-1）6 半价层tA1/2的数学表达式：t A1/2＝（ln2）/μ=0.693/μ7 射线照相的象质计灵敏度计算式：K=υ/tΑ×100%K—以百分数表示的象质计灵敏度；t A—实际的射线透照厚度（mm）；Φ—底片上可以识别的最细金属线的直径（mm）。
8 黑度：强度为J0的可见光沿法向入射到照相底片上的某点，设透过底片的可见光强度为J，则该点的黑度为D =lg (J0 / J) 式中的J / J0称为透光率--- 片基加灰雾黑度再加2.00黑度所需的曝光量(Gy)。
9 胶片的感光度S：S＝1/H S HS10胶片特性曲线的平均斜率Gm定义为：Gm=(D2—D1)/(lgH2—lgH1)=2.0/ (lgH2—lgH1)式中D1--片基加灰雾黑度再加1.50的黑度；D2 --片基加灰雾黑度再加3.50的黑度；H1--产生D1黑度所需的曝光量(Gy)；H2--产生D2黑度所需的曝光量(Gy)。
11 讨论射线硬度对底片影像质量的影响lgIt-lgI0 t= -0.434μ t A；ΔlgH= -0.434μΔt A；ΔD＝-0.434GμΔt A；ΔD为透照反差，“－”号表示底片黑度随透照厚度的增加而减小。
射线能量平方反比定律
射线能量平方反比定律
射线检测平方反比定律公式C＝e/ d^2。
平方反比定律指物体或粒子的作用强度，随距离的平方而线性衰减，即作用力与距离平方成反比关系。
例如天体之间的万有引力，电荷之间的库仑力，或灯泡的照度都是随着距离的平方线性衰减。
1、平方反比定律是指射线强度与距离的平方成反比的规律，其数学式为I2/I1=(F1/F2)2，其原理是:近似认为射源是一个点，在其照射方向上的任意立体角内取任意垂直截面。
2、射线防护的三要素是距离、时间和屏蔽，或者说射线防护的主要方法是时间防护、距离防护和屏蔽防护，俗称为射线防护的三大方法。
时间防护的原理是，在辐射场内的人员所受照射的累积剂量与时间成正比。
3、照射率不变的情况下，缩短照射时间便可减少所接受的剂量，或者人们在限定的时间内工作，就可能使他们所受到的射线剂量在最高允许剂量以下，确保人身安全，达到防护目的。
时间防护的要点是尽量减少人体与射线的接触时间。
4、剂量=剂量率x时间，因此可根据照射率的大小确定容许的受照射时间。
探伤的辐射强度计算公式
探伤的辐射强度计算公式引言。
在工业生产和科学研究中，探伤技术被广泛应用于检测材料内部的缺陷和异物。
而辐射强度是探伤技术中的一个重要参数，它可以用来评估材料的密度和厚度，从而帮助工程师和科研人员更好地了解材料的内部结构。
本文将介绍探伤的辐射强度计算公式，并探讨其在实际应用中的意义和局限性。
辐射强度计算公式。
辐射强度是指单位时间内通过单位面积的辐射能量，通常用SI单位瓦特每平方米（W/m^2）来表示。
在探伤技术中，辐射强度可以通过以下公式进行计算：I = P / (4 π r^2)。
其中，I表示辐射强度，P表示辐射源的功率，π为圆周率（约为3.14159），r 为距离辐射源的距离。
这个公式表明，辐射强度与辐射源的功率成正比，与距离的平方成反比。
也就是说，辐射强度随着距离的增加而减小，同时也受到辐射源功率的影响。
在探伤技术中，辐射源通常是放射性同位素或X射线管。
这些辐射源会释放出高能量的射线，通过材料的吸收和散射，最终形成探测器上的信号。
通过测量这些信号的强度，可以计算出辐射强度，从而评估材料的性质和结构。
辐射强度的意义和应用。
辐射强度在探伤技术中具有重要的意义。
首先，它可以用来评估材料的密度和厚度。
当射线通过材料时，密度较大的材料会吸收更多的射线，导致探测器上的信号强度减小；而厚度较大的材料会散射更多的射线，同样也会导致信号强度减小。
通过测量信号强度和计算辐射强度，可以得出材料的密度和厚度信息，为工程设计和质量控制提供参考。
其次，辐射强度还可以用来检测材料内部的缺陷和异物。
当射线遇到缺陷或异物时，会发生散射和吸收现象，导致探测器上的信号发生变化。
通过分析信号的变化，可以确定材料内部的缺陷位置和大小，从而及时采取措施进行修复或清除。
此外，辐射强度还可以用来评估辐射源的功率和辐射剂量。
在实际应用中，辐射源的功率和辐射剂量需要严格控制，以保证工作人员和环境的安全。
通过测量辐射强度和计算辐射源的功率，可以及时发现辐射源的异常情况，从而采取相应的措施进行调整和维护。
射线检测公式, 即：K=33.72 P,公示推导过程
答：K是单位质量的空气带电粒子的初始动能的总和，其实，它非常接近于空气的吸收剂量D 空。
我认为：用统编教材《射线检测》(2007版)第179页公式(7-9a)来讨论这个问题更合理些。
即：D空=33.72 P空(1)式中：P空是照射量，是单位质量空气的同符号带电粒子的电量总和，单位是库伦/千克；D空是空气的吸收剂量，是单位质量空气吸收的射线能量，单位是戈瑞(焦耳/千克)。
那么，我们的问题就转移到：射线电离空气，得到1库伦的电量，需要多少能量了。
空气的组成很复杂，大约75%的氮，23%的氧，1.3%的氩，还有二氧化碳等气体。
研究表明：射线每电离一个空气分子，即电离一个氧分子(O2)或氮分子(N2)或其它气体分子，生成一个离子对(即生成一个氧离子和一个电子，或生成一个氮离子和一个电子……)，综合平均需要的电离能大约为33.72eV(电子伏特)。
33.72就是公式(1)的系数(它是个大约值)。
具体推导过程如下：设常数b=1.602X10-19。
（1）一个电子电量e=b.库伦，设1库伦(1C)电量有n个电子(即有n个离子对)，n=1C/(b.C)=1/b。
（2）已知生成一个电子(或产生一个离子对)需要的平均电离能ε大约为：33.72eV。
1电子伏特(1eV)和焦耳(J)的关系是：1eV=b.J电离一个离子对需要的能量ε=33.72eV=33.72Xb.J(3)射线电离空气，达到1库伦电量需要的总电离能Ek=εXn≈33.72Xb.JX(1/b)=33.72J计算的结果是：射线电离空气得到1库伦负电或正电(二者平衡)，空气吸收射线能量大约为33.72焦耳。
本文摘自: 中国无损检测论坛() 详细出处请参考：/forum.php?mod=viewthread&tid=9424&extra=page%3D7。
射线检测理论常用公式
G = γ = D2 − D1 lg E2 − lg E1
式中： G 和γ —分别表示胶片的平均梯度和平均反差系数；
D2和D1—分别表示净黑度 3.5 和 1.5；
E2和E1—分别表示净黑度为 3.5 和 1.5 时所对应的曝光量。
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胶片宽容度的计算：
L = 10(lg E2 −lg E1 ) = E2 E1
μ —多色宽束射线的平均线减弱系数；
d—物质厚度；
n—散射比；
d1/2—半价层； e—自然数；
K—射线强度的减弱倍数；
N—吸收物质厚度 d 所相当的半价层个数。
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黑度的定义：
D = lg L0 L
式中：L0－照射到底片上的光强； L－透射过底片的光强；
L0 / L称为阻光率。
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胶片平均梯度(平均对比度)的计算：
K—厚度比；
T’—通过一次透照长度端点的射线束在工件中穿过的距离；
T —工件的厚度；
θ—横向裂纹检出角。
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☆
环缝外透法 100％透照分段的计算：
N = 180 α
α =θ −η
( ) θ
=
cos
−1
⎡1 ⎢
+
⎣
K2 −1 T K
D0
⎤ ⎥
⎦
η
=
sin −1⎜⎜⎝⎛
D0
D0 + 2L1
sin θ
D0—容器筒体或管子的外直径；
Di—容器筒体或管子的内直径；
L3—外圆等分长度；
L3’—内圆等分长度；
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1、最短波长公式： (能量公式）
2、连续谱中最大强度对应的波长与最短波长之间近似有下述关系:
3、连续谱射线的总强度I：
4、连续谱X射线的转换效率η;
5、放射性原子核的衰变公式：
6、半衰期公式：(重要公式）放射性原子核数目因衰变减少至原来数目一半时所需的时间
7：单色窄束射线的衰减规律：
8、线衰减系数μ：
9、半值层：
10、半值层计算公式：穿过物体后的射线强度为入射强度一半时的穿透厚度(重要公式）
11.影响半值层T1/2的因素:
12、宽束多色射线的强度衰减规律：
13、主因对比度公式：
Ⅰ=Ⅰs+Ⅰp=Ⅰp（1+n) 散射比n= I s / I p
14、胶片对比度公式：
15、射线照相对比度公式：ΔD=-0.434 GμΔT /（ 1 + n ）
16、黑度D：照射光强度与穿过底片的透射光强之比的常用对数值
17、射线照相几何不清晰度： Ug = df×L2／L1=d f×L2／（F-L2)
18、X射线曝光量：E=it γ射线曝光量：E=At
19、平方反比定律：从一点源发出的辐射，强度I与距离F的平方成反比
I1/I2=（F2/F1）2
20、X射线照相的曝光因子：Ψ=i t/F2= i1 t1/F11= i 2t2/F22=……= i
2
n t n/F n
γ射线照相的曝光因子：Ψ=A t/F2= A1 t1/F12= A 2t2/F22=……= A
2
n t n/F n
19、K值与横向裂纹检出角θ的关系：K=1/Cosθ θ=cos-1(1/K)
20、一次透照长度L3: L3= 2L1tanθ
21、直缝单壁单影: 底片的有效评定长度： L eff=L3+ΔL
纵缝作双壁单投影：底片的有效评定长度应为：l eff=ΔL+L3′+ΔL
22、环缝单壁外照法Ｎ＝α=θ-η
θ=cos-1 [] η= sin-1( )
K=1.1 θ=cos-1 []
当D０＞＞T时，θ≈cos－１Ｋ－１K=1.1 θ=24.62
L3=Ｄ０／Ｎ； Ｌ＇3＝．Ｄｉ／Ｎ ΔL≈2T·tanθ
Ｌeff＝ΔL／２＋Ｌ３＋ΔL／２
α:与ＡＢ／２对应的圆心角； θ:最大失真角或横裂检出角；
η- -有效半辐射角； Ｋ- 透照厚度比；
Ｔ- 工件厚度； Ｄ０---容器外直径 D i－容器内直径
23、环缝单壁内照法 1）F＜R的偏心法
N=α=η－θ：θ=cos-1 η=sin－1（）
当D0＞＞T时， θ=cos-1K-1 L3= L3′=
ΔL≈2T·tgθ（ΔL/2=T·tgθ） L eff=L3′+ΔL
2）F>R的偏心法透检
N= α=θ-η θ=cos-1η=sin-1( )
当D0>>T时,θ=cos-1K-1 L3′= L3= L eff=L3＇
24双壁单影法100%透检环缝时的最少曝光次数N 一次透照长度L3
N= α=θ+η θ=cos-1 η=sin-1（）
当D o>>T时,θ=cos-1K-1 L3= L eff=L3
25利用曝光曲线求非钢材的曝光量射线等效系数（φm表示）是指在一定管电压下，达到相同射线吸收效果（或者说获得相同底片黑度）的基准材料厚度T o与被检材料厚度T m 之比，即：φm=
26、椭圆成像法偏心距 L0=（g＋q）L1/ L2=(F-L2)(p+q)/L2
=[焦距-(外径+焊缝余高)]×2焊缝宽度/(外径+焊缝余高)
27、距离防护：对点源来说，在某点的射线强度与该点到源的距离平方成反比D1R12=D2R22。