无损检测仪器设备的期间核查方法.docx

管电压（KV）无损检测仪器设备的期间核查方法

一、射线检测

1、曝光曲线的核查方法

1.1核查周期

射线设备均应制作曝光曲线，曝光曲线每年至少核查一次；射线设备更换重要部件或经较大修理后，应及时对曝光曲线进行核查。

1.2准备

准备一块阶梯试块（图1）和2块补充试块，材料与被透照工件相同或相近。其中补充试块尺寸长*宽*高为210*100*10（mm）。

胶片、增感屏等材料与制作曝光曲线时一致。

图1 制作曝光曲线的阶梯试块

1.3 透照

各机型按表一选择低、中、高三个管电压进行曝光三次，曝光时其他参数（曝光时间、焦距）与制作曝光曲线时一致。得到一组胶片。

表一

机型

低中高

1605 60 100 140

2005 80 130 180

2505 120 180 230

3005 140 210 280

1.4 暗室处理：按照制作曝光曲线时的暗室处理条件进行冲洗胶片。

1.5 测定：分别测定底片黑度为3.0（该黑度值与曝光曲线一致）时，对应的阶梯试块厚度。

1.6 核查结果判定：当上述测定的三个厚度值，与低、中、高管电压查原曝光曲线的厚度值之差在±2mm范围内，曝光曲线合格。否则为不合格，应重新制作。

1.7 曝光曲线核查记录，按“文件编号：YTHNDT/QM04–C-JL120”的表格进行记录。

2、黑度计（光学密度计）的核查方法

2.1. 适用范围

本规程用于对射线照相底片的黑度测量的黑度计的校验，使黑度计能够对射线底片黑度作出可靠的测定。黑度计应每6个月校验一次，标准黑度片应每2年送计量单位检定一次。

2.2. 校验需用标准器具

检定合格的标准黑度片一个。

2.3 操作步骤

2.3.1 接通黑度计电源和测量开关，预热10min 左右。

2.3.2 用标准黑度片的零黑度点校准黑度计零点。校准后顺序测量黑度片上不同黑度的各点的黑度，记录测量值。

2.3.3 按3.2的规定反复测量三次。

2.3.3 计算出各点测量值的平均值，以平均值与黑度片该点的黑度值之差作为黑度计的测量误差。

2.3.4 对黑度不大于4.5的各点的测量误差均应不超过±0.05，否则黑度计应校准、修理或报废。

2.4 记录及标识

校验完毕后在仪器上进行标识，校验人员应按黑度计校验报告内容对测试数据认真记录并评价结论。

2.5 黑度计核查记录按“文件编号：YTHNDT/QM04–C-JL121”的表格进行记录。

3、观片灯的亮度和均匀度的核查方法

3.1核查周期

观片灯的亮度和均匀度，应每年进行核查。

3.2 技术要求

3.2.1亮度

观片灯应具有按照照相底片的黑度进行亮度选择的装置。观片灯亮度要求的最小值见表二。

时，应不小于10 cd/m2。

3.2.2均匀系数

观察屏各部分应有均匀照明，均匀系数应大于0.5。

3.3 核查方法

3.3.1一般要求

所有的光度测定均在暗室进行，照明光度计必须放在测定范围的中心，而且即使当观察屏完全被遮住后，从观片灯漏出的光不影响测定。

3.3.2核查设备

试验时所用设备须持有国家计量单位签发的有效证书，测量光学参数时所用的亮度计应符合JJG 221的要求。

3.3.3 亮度测定

观片灯亮度测定用亮度计进行。

3.3.4均匀系数测定

照明均匀系数测定用亮度计进行。把观察屏分成若干正方形，正方形每边长3.5cm，分别测定每个正方形的亮度。找出四个最大亮度值和四个最小亮度值，并计算出Lmax和Lmin 亮度的算术平均值，均匀系数g=Lmin/Lmax。

3.4 观片灯的亮度和均匀度核查记录按“文件编号：YTHNDT/QM04–C-JL122”的表格进行记录。

二、超声检测

1 试块的核查方法

1.1 初次使用的标准试块、对比试块，应有有效的合格证书。

1.2 标准试块、对比试块每次使用前，应进行外观腐蚀及机械损伤情况核查；每4年应采用

经校准的器具对其半径及其他尺寸进行核查。

1.3 超声试块的核查记录按“文件编号：YTHNDT/QM04–C-JL123”的表格进行记录。 2 水平线性和垂直线性核查方法

水平线性和垂直线性核查方法见我公司“超声波探伤系统校验规程”，每隔3个月应核查一次。垂直线性核查记录按“文件编号：YTHNDT/QM04–C-JL124”的表格进行记录。水平线性核查记录按“文件编号：YTHNDT/QM04–C-JL125”的表格进行记录。

3 探头使用前主要参数核查方法

探头使用前，应进行前沿距离（入射点）、K 值与双峰、主声束偏离等主要参数核查。

3.1前沿距离的核查方法

3.1.2测试设备

探伤仪及CSK-IA 试块。

3.1.3测试方法

将斜探头压在试块上如图2 所示的位置，中间加适当的耦合剂以保持稳定的声耦合。使声束朝向R100 mm 的曲面，并在探头声束轴线与试块侧面保持平行的情况下前后移动探头，至曲面回波的幅度达到最大。

读出试块上R100 mm

读数应精确到0.5 mm 。

前沿距离：用刻度尺测量入射点到探头前沿距离，读数应精确到0.5 mm 。

3.2 K 值的核查方法

测试设备同3.1.2。

将斜探头压在试块上的不同位置，如图5a ）和图5b ），中间加适当的耦合剂以保持稳定的声耦合。

a ）

b ）

c ）

图3

a ）当K 值为1.0~1.5 时，探头放在图3a ）的位置，使用φ50 mm 孔的回波进行测定。

b ）当K 值为2.0~3.0 时，探头放在图3b ）的位置，使用φ50 mm 孔的回波进行测定。 在探头声束轴线与试块侧面保持平行的情况下前后移动探头，使回波达到最大。从探头入射点在试块侧面所对应的刻度值即可直接读出斜探头的K 值。

3.3 双峰的核查方法

探头双峰用CSK-IA 深度15mm 的Φ1.5横通孔来测定。如图4a ）所示。探头对准横孔，并前后平行移动，当显示屏上出现图4b ）所示的双峰波形时，说明探头具有双峰现象。