显微构造分析应用
材料的显微结构分析
一、实验目的1.观察不同材料在显微镜下的显微结构。
2.掌握偏光显微镜结构和使用方法。
3.学会利用偏光显微镜区分均质体和非均质体。
二、实验原理材料的化学组成和显微结构是决定材料性能及应用效果的本质因素，研究材料的显微结构特征及其演变过程以及它们与性能之间的关系，是现代材料科学研究的中心内容之一。
材料的显微结构与材料制备中的物理化学变化密切相关，通过显微结构分析，可以将材料的“组成－工艺过程－结构－性能”等因素有机地联系起来，对控制材料性能、开发新材料显得特别重要。
显微组织是决定材料各种性能最本质的因素之—，材料显微组织主要包括多晶材料中晶界的特征及多晶中晶粒的大小、形状和取向，对陶瓷材料和高分子材料还包括晶相及非晶相(玻璃相)的分布；气孔的尺寸、数量与位置，各种杂质、添加物、缺陷、微裂纹的存在形式及分布；对金属材料还包括共晶组织、马氏体组织等。
光学显微分析是利用可见光观察物体的表面形貌和内部结构，鉴定晶体的光学性质。
透明晶体的观察可利用透射显微镜，如偏光显微镜。
而对于不透明物质的观察只能使用反射显微镜，如金相显微镜。
利用光学显微镜对晶体或非晶体材料进行鉴定，是研究材料的重要方法之一。
结晶相是材料的一个重要组成部分，大部分的材料都包含有各种晶相。
这些晶相的种类、生长环境和形貌等性质对材料的结构、性能等具有重要影响。
利用偏光显微镜则可以对晶相的上述特征进行鉴定和分析。
自然界的晶体种类繁杂，但各种晶体都有其独特的光学特性。
每一种晶体都有一定的生长习性、颜色等光学特性，利用偏光显微镜可以准确地测定各种晶体光学性质，对晶体鉴定具有重要意义。
三、偏光显微镜的构造和使用方法1.偏光显微镜的基本构造图1. 偏光显微镜的基本构造示意图偏光显微镜的类型较多，但它们的构造基本相似：（1）镜臂：呈弓形，其下端与镜座相联，上部装有镜筒。
（2）下偏光镜：位于反光镜之上、从反光镜反射来的自然光，通过下偏光镜后，即成为振动方向固定的偏光，通常用PP代表下偏光镜的振动方向。
植物生物学中的显微技术及其应用研究
植物生物学中的显微技术及其应用研究植物是生物界中最为重要的物种之一，同时也是人类生活中重要的食物来源。
为了更好地了解植物的生长过程、形态构造及其生理机制，显微技术在植物生物学中得到了广泛应用。
本文将从显微技术的意义、显微技术种类、显微技术在植物生物学中的应用等方面展开讨论。
一、显微技术的意义显微技术是一种基于光学原理的科学技术，可以让我们看到人眼无法看到的微小颗粒或细胞，进而研究物体的微观构造和性质。
显微技术在生命科学、物理、化学等众多领域都有广泛应用。
在植物生物学中，显微技术可以帮助我们观察和研究植物的微观结构，比如植物细胞及其器官、植物内部构造等。
二、显微技术的种类显微技术的种类有很多，根据不同的原理可以分为光学显微技术和电子显微技术。
光学显微技术包括普通光学显微镜、荧光显微镜、共聚焦显微镜等。
普通光学显微镜是最常用的显微镜，它使用透过样本的自然光来形成像。
荧光显微镜可以将样本中的化合物标记上特定的荧光物质后，在特定波长下激发荧光物质发出的荧光光束，从而形成像。
共聚焦显微镜是一种高级显微技术，可以被用来观察活细胞和分子运动。
它可以将多个激光束在同一聚焦平面交汇，准确地成像，同时还能够在三个维度观测细胞和分子的运动。
电子显微技术包括透射电子显微镜（TEM）和扫描电子显微镜（SEM）。
TEM主要用于研究样品的内部构造，可以获得非常高清晰度的细胞超高分辨率图片。
而 SEM 则用于研究样品表面的形态，可以获得非常高分辨率的三维超清晰样品表面图片。
三、显微技术在植物生物学中的应用1.显微技术在研究植物细胞中的遗传信息传递细胞是植物发育和生长的最基本单位，研究细胞中遗传信息传递给予植物发育、生长和形态构建提供了基础。
显微技术在研究细胞核、染色体、DNA和RNA等方面有着不可替代的作用。
冷冻切片薄层技术、荧光原位杂交技术和原位PCR技术都可以通过显微镜来观测细胞和分子结构、位置、数量、形态和运动等信息。
2.显微技术在研究植物生长和形态构造上的应用显微技术能够揭示许多细节，如植物细胞中的细胞壁、植物水分交换情况等。
岩石显微构造分析现代技术――EBSD技术及应用
第21卷第10期2006年10月地球科学进展A DVANCE S I N E AR TH S C I ENC EV o l.21 N o.10O c t.，2006文章编号：1001-8166（2006）10-1091-06岩石显微构造分析现代技术———E B SD技术及应用曹淑云，刘俊来（中国地质大学地质过程与矿产资源国家重点实验室，北京 100083；中国地质大学岩石圈构造、深部过程及探测技术教育部重点实验室，北京 100083）摘 要：E B SD技术的发展，为岩石显微构造分析开辟了一个全新的领域。
它与现代扫描电子显微镜和能谱分析等设备配合，可以同时对块状样品进行晶体结构与成分分析，从而使显微构造、微区成分与结晶学数据分析有机结合起来。
E B SD技术可以精确、快速定量标定包括各种晶系晶体颗粒的晶格方位和描述晶体颗粒的边界、形态等特征，对于具有低角度边界的晶体颗粒提供精确数据，为阐述岩石变形机制提供重要约束，并为高级晶族和不透明矿物结晶学组构与变形机制研究提供了有效的手段。
E B SD尤其使获取微米级甚至纳米级尺度上颗粒（亚颗粒）或相之间的定向差别（达到20n m的空间分辨率和0.3度角度分辨率）成为可能。
E B SD技术在矿物相鉴定、亚微域内的应变分析、矿物出溶作用等方面的应用，进一步证明了这一新技术在显微构造分析及相关领域的应用前景。
其广泛应用必将带来岩石显微构造研究的新突破，也将成为未来岩石变形机制与岩石圈流变学研究取得飞速发展不可或缺的技术手段。
关 键 词：E B SD技术；岩石；显微构造中图分类号：P585.1 文献标识码：A1 序 言E B SD（即电子背散射衍射）的原理早在20世纪50年代就已经清楚，但只是随着计算机技术、计算软件和照相技术的发展，直到20世纪80年代现代E B SD技术才真正问世，并广泛应用于材料科学分析与研究中［1］。
E B SD技术的发展经历了初期由手工标定菊池带到自动标定过程，从而实现了由几秒标定1个取向颗粒到1秒标定几十个取向颗粒的标定速度的飞跃，花样标定速率提高了约300倍。
电子显微镜在物质结构分析中的应用探索
电子显微镜在物质结构分析中的应用探索目前，电子显微镜已经成为了现代科学研究中不可或缺的工具。
它的高分辨率和精确的成像能力，使得科学家们能够深入探究各种物质的微观结构和特性。
在物质结构分析领域，电子显微镜的应用正日益广泛，成为了研究人员进行材料科学、生物学等领域的重要工具。
本文将探讨电子显微镜在物质结构分析中的应用，并介绍其在研究中的重要作用。
电子显微镜利用电子束的散射和透射来对样品进行成像，其分辨率优于光学显微镜。
通过电子显微镜，科学家们可以观察非常小的特征，例如晶体结构、微观组织以及纳米材料等。
电子显微镜的应用主要分为透射电子显微镜（Transmission Electron Microscope，TEM）和扫描电子显微镜（Scanning Electron Microscope，SEM）两种类型。
透射电子显微镜是一种非常强大的工具，对于物质结构分析具有重要意义。
透射电子显微镜通过样品的透射电子的散射图像来得到样品的高分辨率结构信息。
它可以提供关于晶体结构和晶格畸变、原子排列、晶体缺陷以及晶体生长等方面的信息。
对于研究材料中的缺陷、界面以及纳米结构等微观特征，透射电子显微镜是最为适合的选择之一。
通过透射电子显微镜，科学家们能够观察到材料中微小的纳米颗粒，从而研究它们的形貌、大小、分布以及晶格畸变等参数。
扫描电子显微镜则主要用于表面形貌和化学组成的分析。
它通过电子束的扫描来对样品表面进行成像，并通过样品表面的反射和散射电子来获取高清晰度的表面形貌和元素分布图像。
扫描电子显微镜可以提供更为详细的样品表面信息，其分辨率足以观察到纳米尺度的细节。
此外，扫描电子显微镜还可配备能谱仪等附属设备，以进一步分析样品的化学组成。
除了高分辨率成像能力，电子显微镜还可以通过电子衍射技术来研究材料的结晶特性。
通过衍射图案分析，可以得到样品的晶格参数以及晶体的对称性信息。
这对于材料科学研究以及纳米材料制备过程的优化非常重要。
显微技术在材料微结构表征中的应用研究
显微技术在材料微结构表征中的应用研究在材料科学研究中，微观结构的表征是非常重要的一环。
只有准确地了解材料的微观结构，才能对其性能进行进一步的优化和提升。
而在材料微结构表征中，显微技术则发挥了不可替代的作用。
一、显微技术的种类显微技术是指人类对物质微观世界观察、分析、探究所采用的各种手段和方法。
其中，常见的显微技术包括：1. 光学显微镜（OM）光学显微镜是一种最基础、最常见的显微技术。
通过光学放大的方式，可以将细微的结构变得可见，从而观察样品的形貌、组织、晶粒等信息。
2. 扫描电子显微镜（SEM）扫描电子显微镜利用电子束来对样品进行扫描，然后通过对反射、散射或放射的电子信号进行分析，得到材料的形貌和成分等信息。
SEM可以实现非常高的分辨率，常用于观察金属和陶瓷等材料的表面结构。
3. 透射电子显微镜（TEM）透射电子显微镜在分析样品时，电子束透过样品并在样品背后形成影像，从而得到样品的微观结构和成分信息。
TEM的分辨率高达0.1纳米，能够得到非常详细的像。
TEM常用于研究薄膜、纳米颗粒等微观结构。
4. 原子力显微镜（AFM）原子力显微镜通过探针对材料表面进行扫描，从而得到材料表面的形貌、力学性质等信息。
AFM的分辨率可以达到0.1纳米，常用于研究纳米颗粒和生物分子等微观结构。
二、显微技术在材料微结构表征中的应用1. 显微技术在材料晶体结构表征中的应用材料的晶体结构对其性能有着非常重要的影响。
利用 X 射线衍射和透射电子显微镜等显微技术，可以观察材料的晶体结构，进而分析晶格缺陷、晶界和晶面等信息。
例如，TEM可以用来研究钢材中的位错结构和脆性瞬裂行为等，从而研究其力学性能。
2. 显微技术在材料成分分析中的应用材料的成分决定了其性能和用途。
利用扫描电子显微镜和能谱分析仪等显微技术，可以对材料的成分进行分析和检测。
例如，SEM和EDS扫描可以用于分析纳米颗粒的化学成分和表面化学反应。
3. 显微技术在材料结构形貌表征中的应用对材料的结构形貌进行表征，可以帮助我们了解材料的制备方法和加工过程对材料的影响。
光学显微分析的原理和应用
光学显微分析的原理和应用1. 原理光学显微分析是一种利用光学显微镜观察和分析样品的技术。
其原理是通过光线的折射、反射和散射等现象，将被观察样品的微观结构放大到人眼可以观察的范围，并进行分析。
光学显微分析的原理主要包括以下几个方面：1.1 光的折射和反射光线在不同介质中传播时会发生折射现象，即光线的传播方向发生改变。
当光线从一种介质射入另一种介质时，它会按照一定的角度改变方向。
这个原理被广泛应用于显微镜的物镜和目镜的设计中，使得被观察样品能够被放大，并且以清晰的图像显示在人眼中。
1.2 透明性和吸收性不同材料对光的透明性和吸收性不同，这使得在光学显微分析中可以利用染色技术来增强或改变样品的对比度。
染色后的样品可以显示出更多细节，使得分析结果更加准确。
1.3 散射现象当光线遇到样品中的微粒或表面不规则时，会发生散射现象。
这种散射使得原本无法被观察到的微观结构能够通过显微镜放大后显示出来。
例如，通过散射光，可以观察到样品中的颗粒分布、晶体结构以及表面的纹理等。
2. 应用光学显微分析广泛应用于各个领域，包括材料科学、生物学、医学等。
以下是一些常见的应用：2.1 材料科学在材料科学领域，光学显微分析被用于研究材料的组织结构、晶体结构以及缺陷等。
通过显微镜观察样品，可以了解材料的微观性质，并对其进行分析和评估。
例如，光学金相显微镜可以用来观察金属和合金的晶体结构，评估其力学性能和耐腐蚀性能。
2.2 生物学在生物学领域，光学显微分析被用于观察生物细胞、组织和器官的结构和功能。
通过显微镜可以观察到细胞的形态、细胞器的位置和分布，以及细胞内的各种生物分子。
这些观察结果对于研究生物学、病理学等领域具有重要意义。
2.3 医学在医学领域，光学显微分析被用于医学诊断、病理学研究等方面。
例如，通过显微镜观察患者的血液样品，可以确定血细胞的种类和数量，从而对某些疾病进行诊断和监测。
此外，光学显微分析还可以用于观察病理标本，帮助病理学家进行疾病的鉴定和分类。
第八章 显微构造应用
要求：任选一题，参考文献5篇以上； 交打印文稿； 12月26日前交报告
• （二）古应力值的计算 • 1.位错密度法
• 2.亚晶粒法
• 3.动态重结晶新颗粒
三、应变分析
• 定量计算岩石变形后应变量的大小，以及由此进一步计算剪 切带的体积变化和位移量，是显微构造研究的重要内容之一。 • 1.Flinn图解，主要用来表示无体积变化的平面应变。Flinn参 数k=(a-1)/(b-1) • 其中a=(1+e1)/(1+e2), b=(1+e2)/(1+e3). • a,b≧1,而(1+e1)=x, (1+e2)=y, (1+e3)=z，分别代表应变椭球体 的长轴，中间轴和短轴。 • (1).k=0时,x=y,应变椭球体的形态为单轴旋转的扁球体.纯压扁 变形 • (2).0<k<1时,应变椭球体为扁球体,应变为压扁型. • (3). k=1时,a=b,即x/y=y/z,代表平面应变. • (4). 1<k<∞时,应变椭球体为长椭球体,应变为伸展型 • (5). k=∞时,应变椭球体的中间轴与短轴相等,为单轴旋转长椭 球体.纯拉伸变形.
• 1.显微组构
• 变形纹,扭折带,机械双晶,活化的滑移系,恢复结构和动态重结 晶.
• 2.同构造新生矿物组合.
• 利用电子探针分析,利用矿物组合的温压计进行温度,压力计 算.
• 3.利用包裹体
五、变形作用与变质作用之间关系分析
• 显微构造是变形作用与变质作用的综合表现，通过变斑晶内 部的组构要素和其岩石构造要素之间的关系，并结合矿物的 形态特征和空间分布排列等方面，来区分构造前、同构造和 构造后的变质作用。 • 1.构造前的变质作用 • 矿物晶体被动变形、内部组构与基质中的叶理斜交，并且基 质中的叶理绕变斑晶分布，变斑晶两端有压力影。 • 2.同构造变质作用 • 雪球构造，矿物定向生长 • 3.构造后期的变质作用。 • 变斑晶内部叶理与围岩叶理的形态完全一致，矿物分布不定 向，变斑晶两端无压力影。
显微分析技术在材料研究中的应用与发展趋势
显微分析技术在材料研究中的应用与发展趋势摘要：显微分析技术在材料研究中起着至关重要的作用。
它利用不同的原理和方法对材料进行深入观察和分析，以揭示其组织结构、成分特征和功能性能。
本文概述了光学显微镜、电子显微镜和扫描探针显微镜等常见的显微分析技术。
光学显微镜通过可见光的折射、散射和吸收现象实现样品的显微观察和形貌表征。
电子显微镜则利用高速电子束与样品相互作用，获得更高分辨率和详细的图像信息。
扫描探针显微镜可以利用扫描探针对样品表面进行拓扑和化学成分的显微观察。
这些技术在材料研究中具有不同的优势和局限性，并满足不同研究需求。
光学显微镜适用于表面形态和颗粒分析，电子显微镜适用于高分辨率和深度分析，扫描探针显微镜则提供高精度的化学成分信息。
显微分析技术在材料研究中有着广泛的应用，有助于揭示材料的微观性质和特征。
随着先进显微镜技术的发展和改进，未来的显微分析技术将更加强大和多样化，为材料科学的深入研究提供更广阔的空间。
基于此，本篇文章对显微分析技术在材料研究中的应用与发展趋势进行研究，以供参考。
关键词：显微分析技术；材料应用分析；发展趋势分析引言材料研究是现代科学与工程领域的重要组成部分，对于开发新材料、改进现有材料以及解决实际问题具有重要意义。
而显微分析技术作为材料研究中不可或缺的分析工具，具有深入了解材料微观结构和性能的能力。
它可以对材料进行高分辨率观察和深度分析，并揭示其组织结构、成分特征和功能性能。
随着科学技术的不断进步，显微分析技术也得到了极大的发展。
同时，对于显微分析技术的发展趋势的探讨，也有助于我们认识到改进和创新的机会，提高材料研究的效率和质量。
因此，本文旨在为材料科学领域的学者和研究人员提供有关显微分析技术应用与发展的综合指南和参考，促进材料研究的进一步发展与创新等。
1显微分析技术概述显微分析技术是一种广泛应用于材料研究领域的重要工具。
它根据不同的原理和方法，对材料进行深入观察和分析，以揭示其组织结构、成分以及功能性能。
第八章 显微构造应用
1．构造前变斑晶 由于构造前变斑晶（pretectonic porphyroblast),判别标志： (1)一般认为构造前的变斑晶中的矿物包裹体是无定向分布 的.
(2)当变斑晶被基质叶理穿切，也显示了变斑晶是在基质叶理 之前形成的（照片10-11，26）;
在蓝闪片岩中，黄褐色黑硬绿泥石（Stp）被由蓝闪石（Gln） 组成的叶理穿切，显示黑硬绿泥石早于组成叶理的蓝闪石。 （Prh）为无方向分布的葡萄石
Байду номын сангаас
（3）与基质叶理同时褶皱的变斑晶 在变质岩石中，基质叶理具有显微褶皱，岩石中的变斑晶中心部位矿物包 裹体的痕迹呈直线状，随着褶皱作用的加强，变斑晶由中心向两侧边缘矿 物包裹体的分布也相应发生轻微的弯曲和褶皱，在变斑晶的边缘部分，矿 物包裹体的褶皱程度与基质叶理的褶皱程度相似，且Si与Se相连。
• （4）平行褶劈理生长的变质矿物
• 1.显微组构
• 变形纹,扭折带,机械双晶,活化的滑移系,恢复结构和动态重结 晶.
• 2.同构造新生矿物组合.
• 利用电子探针分析,利用矿物组合的温压计进行温度,压力计 算.
• 3.利用包裹体
五、变形作用与变质作用之间关系分析
• 在变质岩石中，根据变质结晶作用和重结晶
作用形成的矿物与构造变形作用形成定向组 构之间的相对序次关系，主要有下列儿种： • （1）构造前变晶; • （2）同构造变晶; • （3）构造后变晶.
（3）构造前变斑晶也经常是基质叶理围绕其弯曲分布，在变斑晶的两
端有压力影矿物的集合体，并常具有显微变形的特征。 （4）变质矿物具有显微变形结构
2．同构造变斑晶 在构造变形同期形成的变质矿物（syntectonic blast）其判 别特征是：
显微构造分析应用
长石变形行为 显微破裂+塑性拉长 显微破裂+塑性拉长 显微破裂+塑性拉长 显微破裂+塑性拉长 显微破裂+塑性拉长 显微破裂+塑性拉长 显微破裂+塑性拉长
部分动态重结晶 部分动态重结晶 显微破裂+塑性拉长 显微破裂+塑性拉长 显微破裂+塑性拉长
石英动态 重结晶机制 SR+GBM SR+GBM SR+GBM SR+GBM SR+GBM SR+GBM
Carter(1971)年将石英中变形纹与C轴 之间的夹角大小分为四类：
（1）底面变形纹，变形纹面法线与C轴 之间的夹角为0~5°；
（2）次底面Ⅱ变形纹，变形纹面法线与 C轴之间的夹角为 6°~15°。
（3）次底面Ⅰ变形纹，变形纹面法线与C轴之间的夹角为16°~30°。
（4）柱面变形纹，变形纹面法线与C轴 之间的夹角为81°~90°。
因为方解石光轴与e双晶面法线为26 °角，压缩轴 C与光轴之间的夹角为71 ° ，压缩轴C和拉伸轴 T之间夹角为90 ° 。
2）利用云母 扭折带确定 主应力方位
因为扭折带边 界的极点方 位与与主应 力方位近似。
2 差应力值大小 位错密度法
亚晶粒法
动态重结晶新颗粒
Prerequisite
Steady state means that strain rate does not change in an increment of strain if , T, and P do not change (Porier, 1985).
2）长石-石英流变学表现
《显微构造分析的工作与技术方法简介》课件
3、标本定向标记方法
（1）组构定向法（以岩组座标系统定向） 在野外露头上，先根据小构造确定不同组构轴的方位，标记在定向面上，并测定组构轴方位产状，再将标本敲下。
（2）地理定向法（以地理座标系统定向）
在定向面，先测量出该面产状，再将其走向线和真倾斜线标上，再将标本敲下。如果在上层面定向不方便，也可在下层面定向，但标记应有区别或注明。如该定向面产状很平缓接近水平，则只要在定向面上标上正北方位，再将标本敲下。
（一）区域构造背景分析 （2）另一方面，开展显微构造分析，还需要结合区域较大尺度上的构造特点，针对不同的目的采集不同构造部位的样品。 如开展褶皱机制的研究工作，需要在褶皱不同构造部位，如转折端、核部、翼部等部位采集相应的变形岩石样品位、具有不同特点的糜棱状岩石样品开展研究。
（3）综合定向法
这种方法是将地理定向法和组构定向法结合起来应用。即在野外先按照地理定向法定向，量出并记录下定向面的产状；再在定向面上将组构轴标上；并量出并记录下组构轴的产状。
a
b
4、采集定向标本的注意事项
（1）不要匆匆忙忙打标本，一定要先进行露头详细观察，研究各种地质现象、小构造特征及其相互关系，组构要素的产状等。 （2）要区分定向面是朝上还是朝下，并要用不同的标记方法标明，以免日后在室内恢复标本产状时出错。 （3）采标本时一定要记录采样点坐标位置、标图，标本编号、详细记录，必要时素描与照相。
显微构造分析应用
（1）底面变形纹，变形纹面法线与C轴 之间的夹角为0~5°；
（2）次底面Ⅱ变形纹，变形纹面法线与 C轴之间的夹角为 6°~15°。
（3）次底面Ⅰ变形纹，变形纹面法线与 C轴之间的夹角为16°~30°。
（4）柱面变形纹，变形纹面法线与C轴 之间的夹角为81°~90°。
有关变形显微构造 分析问题
1 变形温度与压力计问题
1）变形（机械）双晶
具有代表性的几种机械双晶形态特征
变形双晶与温度变化
Temperature gauges
Twins in calcite
• Geometry of deformed grains
• Changing deformation mechanisms
SR SR
温度估计 400-450℃ 400-450℃ 400-450℃ 400-450℃ 400-450℃ 400-450℃ 400-450℃ 450-500℃ 450-500℃ 400℃± 400℃± 400℃±
矿物晶体内平直的或是成长透镜状的薄 层纹，厚约0.1~2mm。其折射率和双 折射率与主晶不同，消光位与主晶稍 有偏差。其成因是位错滑移产生的。
• 2.轴对称：该种对称可参考一圆柱体、旋 椭球体的对称，过圆柱体底面圆心的一条 直线为无限次对称轴，过该轴有无限次对 称面 ，垂直对称轴只有一个对称面。
• 轴对称运动有异极和同极之分，如果运动 发生在运动方向上一个指向上，则该轴运 动是异极性运动（又称为极性运动），反 之称为同极运动。如静水中质点沉积、溶 液中结晶沉淀，盐丘侵入，岩株时岩浆上 侵运动，都是异极运动。
3）变形纹
石英变形纹出 现的方位及频 度分布
显微镜在材料结构和性能分析中的应用研究
显微镜在材料结构和性能分析中的应用研究随着现代科技的发展，各种新材料不断涌现，这些材料的结构和性能如何分析和研究成为一个重要的问题。
显微镜作为一种高分辨率的工具，被广泛地应用于材料结构和性能分析中，为研究新材料提供了强有力的支持。
一、显微镜的分类显微镜的分类方式很多，常见的有光学显微镜、扫描电子显微镜和透射电子显微镜等。
其中光学显微镜是最基础的类型，与人们最为熟悉。
在样品制备时，光学显微镜通常需要特定的制备方法，如切片和染色等，以便对样品进行可视化。
扫描电子显微镜是一种利用电子束来观察样品表面形貌和成分的工具，它的分辨率可达纳米级别。
这里的电子束是指高能电子束，和普通的电子显微镜不同。
扫描电子显微镜不需要对样品进行制备处理，因为在高真空下扫描，所以样品通常需要金属镀膜来防止表面电荷的积累。
透射电子显微镜的分辨率也可以达到原子级别。
透射电子显微镜是通过样品来透射电子束，建立其原子结构图谱，其分辨率要比扫描电子显微镜更高。
二、显微镜在材料分析中的应用材料科学中的显微镜应用广泛，可观察到的材料的特定特性可以随着自己研究对象的变化扩大或收缩。
比如说，对于有机材料研究，光学显微镜显然不适合用来探究它们的分子结构，要使用专门针对有机材料的透射电子显微镜或者是散射电子显微镜来完成相关研究。
在金属材料分析中，扫描电子显微镜通常和能谱分析联合使用，快速检测金属材料的化学成分和微观结构，特别是薄膜的特性分析。
同时，显微镜还能够探测材料的形貌和结构、晶粒尺寸和取向、错位等问题。
通过对不同材料的分析试验，我们可以评估它们的物理、化学和机械特性，以便深入研究可应用性。
三、显微镜的未来发展显微镜未来的发展方向是多样化、便携化和智能化。
在多样化方面，目前已经出现了各种新型显微镜，如超分辨率显微镜、多维显微镜，这些显微镜多能够自动采集、处理分析数据，提高研究效率。
在便携化方面，随着移动设备的普及，便携式显微镜也出现了，例如手机显微镜。
显微分析在科研中的应用
显微分析在科研中的应用一、扫描电子显微镜分析（一）、扫描电子显微镜的工作原理扫描电镜是用聚焦电子束在试样表面逐点扫描成像。
试样为块状或粉末颗粒，成像信号可以是二次电子、背散射电子或吸收电子。
其中二次电子是最主要的成像信号。
由电子枪发射的能量为5～35keV的电子，以其交叉斑作为电子源，经二级聚光镜及物镜的缩小形成具有一定能量、一定束流强度和束斑直径的微细电子束，在扫描线圈驱动下，于试样表面按一定时间、空间顺序作栅网式扫描。
聚焦电子束与试样相互作用，产生二次电子发射（以及其它物理信号），二次电子发射量随试样表面形貌而变化。
二次电子信号被探测器收集转换成电讯号，经视频放大后输入到显像管栅极，调制与入射电子束同步扫描的显像管亮度，得到反映试样表面形貌的二次电子像。
（二）、扫描电镜具有以下的特点(1) 可以观察直径为0～30mm的大块试样(在半导体工业可以观察更大直径)，制样方法简单。
(2) 场深大、三百倍于光学显微镜，适用于粗糙表面和断口的分析观察；图像富有立体感、真实感、易于识别和解释。
(3) 放大倍数变化范围大，一般为几十倍～几十万倍，对于多相、多组成的非均匀材料便于低倍下的普查和高倍下的观察分析。
(4) 具有相当高的分辨率，一般为3.5～6nm。
(5) 可以通过电子学方法有效地控制和改善图像的质量，如通过调制可改善图像反差的宽容度，使图像各部分亮暗适中。
采用双放大倍数装置或图像选择器，可在荧光屏上同时观察不同放大倍数的图像或不同形式的图像。
(6) 在不牺牲扫描电镜特性的情况下扩充附加功能。
与X射线谱仪配接，可在观察形貌的同时进行微区成分分析；配有光学显微镜和单色仪等附件时，可观察阴极荧光图像和进行阴极荧光光谱分析等。
(7) 可使用加热、冷却、拉伸、压缩和弯曲等样品台进行动态试验，观察在不同环境条件下的相变及形态变化等。
（三）、扫描电镜的主要结构扫描电子显微镜由电子光学系统、偏转系统、信号检测放大系统、图像显示和记录系统、电源系统和真空系统等部分组成。
透过数字显微镜观察微观结构的方法与应用
透过数字显微镜观察微观结构的方法与应用微观结构是指物质的微小结构，包括原子、分子、晶格等，而这些微观结构决定了物质的性质和功能。
因此，观察微观结构对于理解物质的本质和探索新材料具有重要意义。
数字显微镜作为现代光学显微镜的一种，可以让我们透过其高分辨率的镜头，观察和记录物质的微观结构信息。
本文将介绍数字显微镜的原理、方法和应用。
数字显微镜的原理数字显微镜是指基于现代计算机科学技术的一种数字图像捕捉和处理装置。
其利用高分辨率的显微镜物镜将样品的微观结构成像，再利用高性能的数字相机将图像数字化，最后通过计算机软件处理和分析图像，获得所需的数据和信息。
与传统的光学显微镜相比，数字显微镜具有以下几个优点：1.高分辨率：数字显微镜相机的像素数较高，可以获得更清晰、更精细的图像。
2.数字化：数字显微镜可以将图像数字化，方便保存、传输和分析。
3.多功能性：数字显微镜的计算机软件可以进行多种功能的图像分析，如测量、图像处理和三维重构等。
数字显微镜的方法数字显微镜与传统光学显微镜基本类似，但数字显微镜的操作更为便捷。
下面介绍数字显微镜的操作方法：1.样品制备：首先需要准备好待观察的样品，并根据需要进行适当的处理和制备，如染色、切片等。
2.定焦和对焦：用目镜先对样品进行初步观察，然后在计算机软件的设置中选择合适的物镜和焦距，进行定焦和对焦。
3.图像捕捉：在定焦和对焦完成后，选择相应的相机设置参数，进行图像的捕捉和存储。
4.图像处理：数字显微镜的计算机软件还可以进行图像的后处理和分析，如亮度、对比度调整、清晰度增强、像素查找等。
数字显微镜的应用数字显微镜可以应用于许多领域，如材料科学、生物医学、化学等领域。
下面列举几个数字显微镜广泛应用的领域：1.材料分析：数字显微镜广泛应用于金属、半导体等材料的表面形貌观察、晶体结构分析、组织结构分析等。
2.生物医学：数字显微镜在细胞学、组织学、病理学等领域具有广泛应用。
例如，可以观察细胞结构、染色体、紫外线焊接等。
《显微结构分析讲座》课件
X射线衍射分析技术
总结词
利用X射线照射样品，通过衍射现象分析样品的晶体结构和相组成
详细描述
X射线衍射分析技术是一种利用X射线照射样品，通过衍射现象分析样品的晶体结构和 相组成的方法。它广泛应用于材料科学、地质学和生物学等领域，用于研究材料的晶体 结构和相组成。通过X射线衍射分析技术，可以确定材料的晶体类型、晶格常数和相组
总结词
利用电子束扫描样品表面，通过电子信 号获取表面形貌和元素信息
VS
详细描述
扫描电子显微技术是一种利用电子束扫描 样品表面，通过电子信号获取表面形貌和 元素信息的方法。它广泛应用于材料科学 、生物学和环境科学等领域，用于观察材 料的表面形貌和微观结构。通过扫描电子 显微技术，可以观察到材料的表面粗糙度 、晶体取向和元素分布等特征。
显微结构分析将应用于医学诊断 中，提高疾病诊断的准确性和效 率。
THANKS
感谢观看
REPORTING
02
它通过观察物质在显微镜下的结 构特征，分析其组成、形态、排 列和相互关系等，以揭示物质性 质和行为。
显微结构分析的应用领域
生物学
研究细胞、组织的结构和功能 ，探究生物大分子的结构和相
互作用。
医学
诊断疾病、研究药物作用机制 和药物疗效评估。
材料科学
研究材料的晶体结构、相变、 界面结构和缺陷等。
环境科学
研究高分子材料的聚集态结构和相行为
详细描述
利用显微结构分析技术，可以观察高分子材 料的结晶度、取向、相分离等现象，了解其 聚集态结构和相行为，有助于优化高分子材
料的性能。
生物样品的显微结构分析
要点一
总结词
揭示生物组织的细微结构和功能特征
光学显微镜应用原理及构造
光学显微镜应用原理及构造光学显微镜是一种使用光学原理来放大和观察微小物体的仪器。
它是现代生物学、医学、材料科学、化学等领域中广泛应用的重要工具。
光学显微镜的应用原理和构造是理解和使用显微镜的基础。
光学显微镜的工作原理基于光线经过透镜的折射和放大的原理。
当一束光通过被观察物体时，一部分光被物体吸收，一部分被反射或散射。
通过透镜对光线进行折射和聚焦，可以将经过物体反射的光或透射的光聚焦到目镜中，形成清晰的放大图像。
光学显微镜主要由以下几个部分构成：物镜、目镜、光源、台座和调焦装置。
物镜是光学显微镜中最重要的组成部分之一。
物镜通常由多个透镜组成，以增加放大倍数和清晰度。
物镜的放大倍数越高，能观察的细节就越清晰。
一般常用的物镜有4x、10x、40x和100x等倍数。
目镜是光学显微镜中放置在观察者眼前的透镜组，用于进一步放大物镜聚焦后的图像。
目镜一般设置为10倍，这样与物镜倍数相乘，就得到了最终的放大倍数。
例如，使用10倍目镜和40倍物镜，最终的放大倍数为400倍。
光源是提供光线的部分，用于照亮被观察的物体。
光源可以是自然光、荧光灯或者高亮度的白炽灯。
近年来，LED光源也被广泛应用于光学显微镜中，因为它们寿命长、能耗低、亮度高且发热量小。
台座是光学显微镜上支撑样品的平台。
台座通常是可调节的，以便观察者可以在不同角度下观察样品。
同时，台座还可以装载样品夹具、移动平台和旋转装置等，以实现样品的精确定位和移动。
调焦装置用于调节物镜与样品之间的距离，以便获得清晰的放大图像。
调焦装置通常是一个轴向旋钮，通过旋转来移动物镜或样品，使其保持合适的聚焦距离。
高级的显微镜还会配备粗调和细调装置，以实现更精确的聚焦调节。
在样品放置在光学显微镜上之后，光源会发出光线并经过物镜，穿过样品并形成图像。
这个图像会通过物镜中的光学系统放大，然后通过目镜进一步放大。
最后，观察者通过目镜观察被放大的图像。
观察者可以通过调节台座来改变观察样品的角度，通过调节调焦装置来获得更清晰的图像。
解剖学中的显微解剖学
解剖学中的显微解剖学在解剖学中，显微解剖学是一门研究生物体的微观结构的学科。
它通过显微镜观察和分析组织和细胞级别的结构，为我们揭示生命的奥秘。
本文将介绍显微解剖学的定义、历史、应用以及一些实践技巧。
一、显微解剖学的定义显微解剖学是研究生物体微观结构的学科。
它主要关注细胞、组织和器官的形态、结构和功能。
通过利用显微镜等工具，显微解剖学家能够观察并理解生物体中微小结构的组织和细胞。
二、显微解剖学的历史显微解剖学的起源可以追溯到17世纪，当时荷兰科学家安东尼·范·李文虎克首次使用显微镜观察了动植物组织的细胞结构。
在此之后，一系列的显微解剖学研究得以展开，并逐渐揭示了组织和细胞的多样性。
随着科学技术的发展，显微解剖学受到越来越多的关注和重视。
科学家们开始研究更加微小的细胞结构和组织构成，揭示了许多生物现象的机制，如细胞分化、器官形成和疾病发展等。
三、显微解剖学的应用显微解剖学在医学、生物学和其他相关领域中具有广泛的应用。
以下是一些显微解剖学的主要应用领域：1. 医学研究：显微解剖学在医学领域中被广泛应用，例如观察疾病组织的病理变化、研究药物对细胞的作用机制等。
2. 细胞生物学研究：显微解剖学可以帮助科学家们深入了解细胞的结构与功能，揭示细胞之间的相互作用和调控机制。
3. 发育生物学研究：显微解剖学对研究胚胎发育过程中的细胞分化、器官形成等起着重要作用，为我们理解生命的起源和发展提供了关键信息。
4. 植物学研究：显微解剖学在植物学中也扮演着重要角色，帮助科学家们了解植物的细胞组织构成、光合作用过程等。
四、显微解剖学的实践技巧显微解剖学的实践需要一定的技巧和经验。
以下是一些常用的显微解剖学实践技巧：1. 组织取样：在显微解剖学研究中，正确取样非常关键。
合适的组织取样可以保证显微镜下所观察到的组织结构的准确性。
2. 组织固定和染色：组织在取样后需要进行固定和染色处理，以保持其形态和结构的稳定性，并提高观察的清晰度。
《显微构造在地质学中的应用》课件
ac（或xz）面
bc（或yz）面
C S
ac（或xz）面
各种判断运动方向的不对称显微构造
(1)先期面理韧性牵引和旋转 (2)变形标志体旋转 (3)片内不对称褶皱及其倒向 (4)微型剪切或C条带 (5)小型剪切带和伸展褶劈理 (6)剪切的残斑 (7)剪切碎裂造成的碎块旋转 (8)张性破裂造成的碎块旋转 (9)旋转碎屑周围的不对称拖 尾 (10)非旋转碎屑周围的不对 称拖尾 (11)动态重结晶的石英组构 (12)云母鱼 (13)石英c组构的不对称性
• （2）b型线理，如杆状构造、皱纹线理和交面 线理等，与中间应变轴（b）平行，与物质的 运动方向垂直，代表中间主应力轴（σ2）的方 位。
5、利用膝折带确定主应力方位
• 也称为扭折带。但有人认为 微观上叫膝折带，而宏观上 叫扭折带
• 可分为单向的平行膝折带和 交叉的共轭膝折带
• （1）单向的平行膝折带 • 确定方法： • ① 测定膝折带产状； • ② 确定外部旋转方向； • ③ 在膝折面上，垂直外部
本 章 主 要 内 容：
一、构造变形运动学分析 二、构造变形动力学分析 三、应变分析（应力和应变计算） 四、变形温压条件分析 五、变形过程和变形历史分析 应用实例
一、显微构造在构造变形运动学分析 中的应用
• 运动方向或运动方式的确定是构造地质学 研究中的一项十分重要的内容，尤其是在 非共轴应变变形条件下，利用变形显微构 造分析来判断运动方向是近二十年来显微 构造发展比较有成就的领域。
C
S
• 此外，当集合体中有第二相存在时，如云母石英片 岩中的云母常常对石英产生拖曳作用，形成不对称 突出，也可以判断剪切运动指向。
• 6、微观扭折 带构造
• 当挤压应力
微观结构的成像技术与应用
微观结构的成像技术与应用随着科学技术的不断发展，对于物质的研究也越来越深入。
微观结构是指物质内部的微观构造，是人们对物质基本认识的重要方面。
在微观结构成像技术的应用下，人们对于物质的认知有了更深刻的理解，从而推动了物质科学的发展。
I. 电子显微镜1. 扫描电子显微镜扫描电子显微镜（scanning electron microscope，SEM）是一种基于材料表面形貌的成像技术，利用电子束扫描物质表面并通过探测器获得反射电子信号的方式来获得高分辨率的物质表面图像。
SEM主要应用于材料表面形貌的研究，可以观察到材料表面的形态、纹理、晶面、缺陷等特征。
同时，它还可以用于光学制品、电子元件、金属材料、塑料材料、生物物质等领域。
2. 透射电子显微镜透射电子显微镜（transmission electron microscope，TEM）是一种利用透射电子成像的技术。
它是通过物质中不透明区域上下两侧透过电子束，然后用探测器获得透射电子的信号来获得物质的内部结构信息，从而获得高分辨率的图像。
TEM主要应用于物质内部的结构分析，适用于各种材料的结构研究，如纳米材料的精细结构、金属晶体的晶格结构、生物颗粒的结构等。
II. 原子力显微镜原子力显微镜（atomic force microscope，AFM）是一种利用质点力测量力反馈的技术，能够实现高分辨率的物质表面形态成像和材料物性的研究。
AFM主要应用于材料表面形貌和物性的研究。
它将一个非常细小的探针放置在需要被成像的样品表面上，通过探测针所受到的各种力反馈，测量出样品表面的形状和力学、电学、热学性质，从而获得物质表面的微观结构和物性信息。
III. 磁共振成像磁共振成像（magnetic resonance imaging，MRI）是利用核磁共振原理对人体或物体的三维成像技术。
它能够精确地显示脑部、胸部、腹部、骨骼、软组织等内部结构的组织状况。
MRI主要应用于医学领域，可用于脑神经系统、胸部内脏、肝胆系统、盆腔结构、骨骼肌肉等内部结构的精确成像。
- 1、下载文档前请自行甄别文档内容的完整性，平台不提供额外的编辑、内容补充、找答案等附加服务。
- 2、"仅部分预览"的文档,不可在线预览部分如存在完整性等问题,可反馈申请退款(可完整预览的文档不适用该条件!)。
- 3、如文档侵犯您的权益，请联系客服反馈,我们会尽快为您处理(人工客服工作时间：9:00-18:30)。
• 4.大圆环带：
• 投影点构成大 圆环带，多为 ac环带，环 带轴为b轴， 该环带是由绕 b轴变条 件下。
2020/10/8
Ⅰ型交叉环带
Ⅱ型交叉环带
5.交叉环带，分为两种：Ⅰ型交叉环带是由绕c 轴的小圆环带与过b轴的环带相连而形成的交叉 环带。Ⅱ型交叉环带由交于b轴的两个环带相连
2020/10/8
长石-石英温度计
• 石英的塑性变形出现在280-300℃，首先 表现为低温GBM型（或BLG型）动态重结 晶，高于400℃时开始出现SR型重结晶， 从而出现GBM与SR型动态重结晶石英共存 的现象，其温度范围为400-700℃。
2020/10/8
长石-石英温度计
样品号 No1
岩石类型 糜棱岩
2020/10/8
• Geometry of deformed grains
2020/10/8
• Changing deformation mechanisms
2020/10/8
2020/10/8
2）长石-石英流变学表现
• Passchier & Trouw （1996）[20]也指 出，400℃以下长石呈现为显微破裂，在 400-500℃时长石变形主要表现为塑性拉 长、波状消光及形成亚颗粒和核-幔构造 ，而在500℃以上则长石的动态重结晶占 优势。
（2）次底面Ⅱ变形纹，变形纹面法线与 C轴之间的夹角为 6°~15°。
（3）次底面Ⅰ变形纹，变形纹面法线与 C轴之间的夹角为16°~30°。
（4）柱面变形纹，变形纹面法线与C轴 之间的夹角为81°~90°。
2020/10/8
3）变形纹
石英变形纹出 现的方位及频 度分布
2020/10/8
2020/10/8
都是对称面，任一轴都是对称轴，具有无数 对称面和无数对称轴。这种组构反映了的是 随意性和无方向性，是非构造岩。
2020/10/8
• 2.轴对称：该种对称可参考一圆柱体、旋 椭球体的对称，过圆柱体底面圆心的一条 直线为无限次对称轴，过该轴有无限次对 称面 ，垂直对称轴只有一个对称面。
• 轴对称运动有异极和同极之分，如果运动 发生在运动方向上一个指向上，则该轴运 动是异极性运动（又称为极性运动），反 之称为同极运动。如静水中质点沉积、溶 液中结晶沉淀，盐丘侵入，岩株时岩浆上 侵运动，都是异极运动。
• 变形过程中把球体压扁和拉长，在此变形 过程中发生的运动为同极运动。
2020/10/8
轴 对 称
2020/10/8
• 3.斜方对 称：三个 相互垂直 的对称面 和三个对 称轴,这种 对称型是 由纯剪切 变形造成 的。
2020/10/8
• 4.单斜对称:
• 只有一个对称 面和垂直于对 称面的一个二 次轴。大圆环 带型组构就常 常是单斜对称 的，其对称面 为环带平面。 b轴为环带中 心。这种对称 型式由简单剪 切形成的。
2020/10/8
c
点极密
• 2.小圆环带：
• 投影点呈小圆环带分 布。根据 Tullis(1973)对石英 的轴向压缩实验表明 在较高温(>700℃)及 较慢的应变速率的条 件下，石英光轴绕压 缩轴形成一个小圆环 带，随着温度升高或 应变速率的减慢，环 带的半开角持续增大 ，直至45°为止。
• 小圆环带可以确定主 压应力方向和应变强 度。 2020/10/8
2）利用双晶纹确定主应力方位 如方解石的双晶纹与应力方位有一定的关系，e双
晶纹滑移最有利的应力方位是压缩轴C和拉伸轴 T都在双晶纹和光轴组成的平面内，与e双晶面成 45°角。 因为方解石光轴与e双晶面法线为26 °角，压缩轴 C与光轴之间的夹角为71 ° ，压缩轴C和拉伸轴 T之间夹角为90 ° 。
400℃± 400℃± 400℃±
矿物晶体内平直的或是成长透镜状的薄 层纹，厚约0.1~2mm。其折射率和双 折射率与主晶不同，消光位与主晶稍 有偏差。其成因是位错滑移产生的。 Carter(1971)年将石英中变形纹与C 轴之间的夹角大小分为四类：
（1）底面变形纹，变形纹面法线与C轴 之间的夹角为0~5°；
2020/10/8
• 5.三斜对称:
• 没有对称面， 只有个对称中 心。任何片理 面或S面均可 选 择 为 ab 面 。这种对称型 式可能是由不 共轴的两次变 形叠加，或是 由简单剪切运 动伴有内部的 褶皱等所造成 的。 2020/10/8
• 其中a=(1+e1)/(1+e2), b=(1+e2)/(1+e3). • a,b≧1,而(1+e1)=x, (1+e2)=y, (1+e3)=z，分别代表应变椭球体
的长轴，中间轴和短轴。 • (1).k=0时,x=y,应变椭球体的形态为单轴旋转的扁球体.纯压扁
变形
• (2).0<k<1时,应变椭球体为扁球体,应变为压扁型. • (3). k=1时,a=b,即x/y=y/z,代表平面应变. • (4). 1<k<∞时,应变椭球体为长椭球体,应变为伸展型 • (5). k=∞时,应变椭球体的中间轴与短轴相等,为单轴旋转长椭
2020/10/8
2020/10/8
2）利用云母 扭折带确定 主应力方位
因为扭折带边 界的极点方 位与与主应 力方位近似 。
2020/10/8
2 差应力值大小 位错密度法
2020/10/8
亚晶粒法
2020/10/8
动态重结晶新颗粒
2020/10/8
Prerequisite
Steady state means that strain rate does not change in an increment of strain if , T, and P do not change (Porier, 1985).
而形成的交叉环带。一般认为，交叉环带多在
平面应变的条件下出现，在糜棱岩中常见。
2020/10/8
岩组对称
• 对称是指物体相等部分有规律的重复，这种 性质称为对称。组构图反映天然岩石变形的 动力学和运动学特征，也具有对称特征。
• 球对称、轴对称、斜方对称、单斜对称和三 斜对称。
• 1.球对称： • 可参考一圆球体的对称，通过球心的任一面
石英变形纹出现的方位在温度压力坐标上的分布
柱面变形纹
次底面Ⅱ变形纹
次底面Ⅰ变形纹
底面变形纹
2020/10/8
2020/10/8
4）石英光轴组构图确定滑移系和形成的温压环境
2020/10/8
2 动力学分析问题
1 主应力方位：
1）利用石英变形纹确定主应力方位
2020/10/8
a锐角法
2020/10/8
No2
糜棱岩
No3
糜棱岩
No4
糜棱岩
No5
糜棱岩
T15-5
初糜棱岩
T28-4
糜棱岩
T28-12
初糜棱岩
T28-13
糜棱岩
QS27-3
糜棱岩
QS27-5
糜棱岩
QS27-8
糜棱岩
2020/10/8
矿物组合
P: Qz+Feld+Mus M: Qz+Mus+Chl+Bi
P: Qz+Feld+Mus M: Qz+Mus+Chl+Bi
球2020体/10/8.纯拉伸变形.
(1+e1)=x (1+e2)=y (1+e3)=z
2020/10/8
Flinn图解
2020/10/8
2.应变量计算
(1)利用有限应变的测量的主应变计算剪切应变.
(2)利用剪切带内面理与剪切带边界之间的夹 角计算
2020/10/8
4 Shear sense indicators
P: Qz+Feld+Mus M: Qz+Mus+Chl+Bi+Ab
P: Qz+Feld+Mus M: Qz+Mus+Chl+Bi
P: Qz+Feld+Mus M: Qz+Mus+Chl+Bi+Ab
P: Feld+Qz+Mus M: Qz+Mus+Chl
P: Feld+Qz+Mus M: Qz+Mus+Bi+Chl
部分动态重结晶 部分动态重结晶 显微破裂+塑性拉长 显微破裂+塑性拉长 显微破裂+塑性拉长
石英动态 重结晶机制 SR+GBM SR+GBM SR+GBM SR+GBM SR+GBM SR+GBM
SR SR+GBM SR+GBM
SR SR SR
温度估计 400-450℃ 400-450℃ 400-450℃ 400-450℃ 400-450℃ 400-450℃ 400-450℃ 450-500℃ 450-500℃
2020/10/8
c
2020/10/8
2020/10/8
(b) (a) (c)
2020/10/8
2.光轴方位测量方法 X光组构测量，运用光技术测定岩石矿物分布
各向异性。矿物晶体结构有许多晶格网面， 每种矿物的每个晶格网面对于射线都有特定 的衍射现象。 费氏旋转台，测定光轴和各种组构的空间方位 。测定组构数据投影在吴氏网上，然后在等 面积网上画出等积密，或者用计算机制图。
P: Feld+Qz+Mus M: Feld+Qz+Mus+Bi
P: Feld+Qz+Mus M: Feld+Qz+Mus+Bi