材料分析方法 第3版( 周玉) 出版社配套PPT课件 第3章 机械工业出版社
材料分析方法 第3版 教学课件 ppt 作者 周玉 部分课后习题答案 部分课后习题答案
第一章X射线物理学基础2、若X射线管的额定功率为1.5KW,在管电压为35KV时,容许的最大电流是多少?答:1.5KW/35KV=0.043A。
4、为使Cu靶的Kβ线透射系数是Kα线透射系数的1/6,求滤波片的厚度。
答:因X光管是Cu靶,故选择Ni为滤片材料。
查表得:μmα=49.03cm2/g,μmβ=290cm2/g,有公式,,,故:,解得:t=8.35um t6、欲用Mo靶X射线管激发Cu的荧光X射线辐射,所需施加的最低管电压是多少?激发出的荧光辐射的波长是多少?答:eVk=hc/λVk=6.626×10-34×2.998×108/(1.602×10-19×0.71×10-10)=17.46(kv)λ0=1.24/v(nm)=1.24/17.46(nm)=0.071(nm)其中h为普郎克常数,其值等于6.626×10-34e为电子电荷,等于1.602×10-19c故需加的最低管电压应≥17.46(kv),所发射的荧光辐射波长是0.071纳米。
7、名词解释:相干散射、不相干散射、荧光辐射、吸收限、俄歇效应答:⑴当χ射线通过物质时,物质原子的电子在电磁场的作用下将产生受迫振动,受迫振动产生交变电磁场,其频率与入射线的频率相同,这种由于散射线与入射线的波长和频率一致,位相固定,在相同方向上各散射波符合相干条件,故称为相干散射。
⑵当χ射线经束缚力不大的电子或自由电子散射后,可以得到波长比入射χ射线长的χ射线,且波长随散射方向不同而改变,这种散射现象称为非相干散射。
⑶一个具有足够能量的χ射线光子从原子内部打出一个K电子,当外层电子来填充K空位时,将向外辐射K系χ射线,这种由χ射线光子激发原子所发生的辐射过程,称荧光辐射。
或二次荧光。
⑷指χ射线通过物质时光子的能量大于或等于使物质原子激发的能量,如入射光子的能量必须等于或大于将K电子从无穷远移至K层时所作的功W,称此时的光子波长λ称为K系的吸收限。
《机械工程材料》-机械工业出版社-第3版内容总结
《机械工程材料》机械工业出版社第3版目录第一章机械零件的失效分析第二章碳钢第三章钢的热处理第四章合金钢第五章铸铁第六章有色金属及其合金第七章高分子材料第八章陶瓷材料第九章复合材料第十章功能材料第十一章材料改性新技术第十二章零件的选材及工艺路线第十三章工程材料在典型机械和生物医学上的应用第一章 机械零件的失效分析第一节 零件在常温静载下的过量变形失效:零件若失去设计要求的效能变形:材料在外力作用下产生的形状或尺寸的变化弹性变形:能够恢复的变形塑性变形:不能恢复的变形一、工程材料在静拉伸时的应力-应变行为1.低碳钢的应力-应变行为变形过程:弹性变形、屈服塑性变形、均匀塑性变形、不均匀集中塑性变形2.其他类型材料的应力-应变行为纯金属脆性材料高弹性材料二、静载性能指标1.刚度和强度指标(1)刚度指零(构)件在受力时抵抗弹性变形的能力单向拉伸(或压缩)时:E=σ/ε= ,即EA=F/εAF /纯剪切时:G=τ/γ= ,即GA=F τ/γγτAF /弹性模量E (或切变模量G )是表征材料刚度的性能指标(2)强度指材料抵抗变形或断裂的能力指标有:比例极限σp ,弹性极限σe ,屈服强度σs ,抗拉强度σb ,断裂强度σk2.弹性和塑性指标(1)弹性指材料弹性变形大小弹性能u :应力-应变曲线下面弹性变形阶段部分所包围的面积u=σe εe=21E e 221σ(2)塑性指材料断裂前发生塑性变形的能力断后伸长率: %10000⨯-=L L L δ断面收缩率: %10000⨯-=A A A ψ越大,材料塑性越好ψδ、3.硬度指标表征材料软硬程度的一种性能布氏硬度HBW (硬质合金球为压头)洛氏硬度HRC (锥角为120°的金刚石圆锥体为压头)维氏硬度HV (锥角为136°的金刚石四棱锥体为压头)三、过量变形失效零件的最大弹性变形量△l 或θ(扭转角)必须小于许可的弹性变形量。
即△l ≤[△l]或θ≤[θ]材料的弹性模量E(或切变模量G)越高,零件的弹性变形量越小,刚度越好通常材料的熔点越高,弹性模量也越高弹性模量对温度很敏感,随温度升高而降低第二节 零件在静载荷冲击载荷下的断裂一、韧断和脆断的基本概念韧性断裂:断裂前发生明显宏观塑性变形脆性断裂:断裂前不发生塑性变形断裂过程均包含裂纹形成和扩展两个阶段二、冲击韧性及衡量指标A K 、a K冲击韧性:材料在冲击载荷作用下吸收塑性变形功和断裂功的能力冲击吸收功A K ,单位J冲击韧度a K =A K /F K ,单位J ·cm -2 。
材料分析方法第三章多晶体X射线衍射分析方法
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• 令N=h2+k2+l2 ,则有:
sin 2 1 : sin 2 2 : sin 2 3 :: sin 2 n N1 : N2 : N3 :: Nn
• 即掠射角正弦的平方之比等于晶面指数平方和之比。
• 根据立方晶系的消光规律,相应的N值序列规律如下:
点阵类型 简单立方 体心立方 面心立方
第三章 多晶体X射线衍射分析方法
• 内容提要: • 引言 • 第一节 德拜照相法 • 第二节 X射线衍射仪法
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引言
• 粉末法的衍射原理:
• 对于粉末(或多晶)试样,当一 束X射线从任意方向照射到试 样上时,总会有足够多的晶 面满足布拉格方程。
• 在与入射线呈2θ角的方向上 产生衍射,衍射线形成一个 相应的4θ顶角的反射圆锥。
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• 2、实验参数
• 与德拜法中一样的实验参数: 阳极靶和滤波片的 选择;X射线管的电压和电流。
• 与德拜法不同的实验参数:狭缝光栏宽度、时间 常数和扫描速度。
• 物相分析时,扫描速度常用3~ 4 /min。
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• 3、扫描方式 • 多晶体衍射仪扫描方式分为连续扫描和步进扫
• 探测器在运转过程中,聚焦圆半径时刻变化着。 当 θ→ 0º,r → ∞; θ→ 90º,r → rmin = R/2。
• 因此,衍射仪采用平板试样。目的是使试样表面始终 保持与聚焦圆相切,近似满足聚焦条件。
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3、测角仪的光路布置
• 光路布置如图。 • 狭缝的宽度以度
()来计量,有 一系列的尺寸供 选用。 • 在测定时,可根 据样品的情况选 择各狭缝的宽度。
材料分析方法绪论课件
拉曼光谱分析
原理
拉曼光谱分析是一种利用拉曼散射效应测量样品对入射光的散射强度和波长,从而得到样品分子结构 和组成信息的方法。
应用
拉曼光谱分析广泛应用于化学、材料科学、生物学等多个领域,可以确定样品中分子的官能团、化学 键等信息。
核磁共振波谱分析
原理
核磁共振波谱分析是一种利用核磁共振 现象测量样品中原子核的磁矩和相互作 用信息的方法。在磁场中,样品中的原 子核发生自旋并产生磁矩,通过测量原 子核的共振频率和裂分形状,可以获得 样品的分子结构和组成信息。
物理和化学领域的研究中 ,材料分析方法可用于研 究物质的性质、反应机理 和制备工艺等。
生物学和医学领域
在生物学和医学领域,材 料分析方法可用于研究生 物分子的结构和功能,以 及药物的制备和筛选等。
工业生产中的应用
制造业
材料分析方法在制造业中有着广 泛的应用,如钢铁、陶瓷、塑料 等材料的生产和加工过程中,需 要使用材料分析方法对材料进行
原子结构分析
原子能级测量
运用光谱学方法测量原子能级,了解原子光谱线和光谱项的归属 。
原子壳层结构分析
根据原子核外电子排布规律,分析原子壳层结构和电子云分布。
原子相互作用与效应
研究原子之间相互作用和效应,包括化学键、离子键、金属键等相 互作用的基础。
04
CATALOGUE
材料性能分析
力学性能分析
比热容
材料吸收或释放热量的能力, 反映了材料对温度变化的响应
。
热导率
材料传导热量的能力,反映了 材料在热量传递过程中的效率 。
热膨胀系数
材料在温度变化下体积变化的 能力,反映了材料对温度变化 的敏感性。
热稳定性
材料在高温下的稳定性,反映 了材料在高温环境下的耐受能
《材料分析方法》PPT课件
第十章 成分和价键分析概论
1. 原子中电子的分布和跃迁 2. 各种特征信号的产生机制 3. 各种成分分析手段的比较
1.原子中电子的分布和跃迁
在原子系统中,电子的能量和运动状态可以通过n,l, m,ms四个量子数来表示。
n为主量子数,具有一样n值的处于同一电子壳层,每个 电子的能量主要〔并非完全〕取决于主量子数。
3.1 X光谱
X光谱的X光子可以从很深的样品内部〔500纳米~5微米〕 出射,因此它不仅是外表成分的反映,还包含样品内部的 信息。
XFS适用于原子序数大于等于5 的元素,可以实现定性与定 量的元素分析,但灵敏度不够高,只能分析含量超过万分 之几的成分;而EPMA所用的电子束激发源可以聚焦,因 此具有微区〔1µm〕、灵敏〔10-14g〕、无损、快速、样 品用量小〔10-10g〕等优点。
《材料分析方法》PPT课 件
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第十章 成分和价键分析概论
大局部成分和价键分析手段都是基于同一 个原理,即核外电子的能级分布反响了原 子的特征信息。利用不同的入射波激发核 外电子,使之发生层间跃迁、在此过程中 产生元素的特征信息。
l为轨道角动量量子数,它决定电子云的几何形状,不同 的l值将同一电子壳层内分成几个亚壳层。
m是轨道磁量子数,它决定电子云在空间伸展的方向。 ms是自旋磁量子数,决定了自旋方向。对于特定的原子,
每个能级上的电子能量是固定的。
1.原子中电子的分布和跃迁
原子内的电子分布遵从泡利不相容原理。 当入射的电磁波或粒子所具有的动能足以将原子内
材料分析方法周玉出社配套PPT课件机械工业出社
(1-4)
= I连 / iU = K1ZU
可见, X 射线管的管电压越高、阳极靶原子序数越大,X 射 线管的效率越高。因 K1 约(1.1~1.4)10-9,即使采用钨阳极
(Z = 74)、管电压100kV, 1%,效率很低。电子击靶时
大部分能量消耗使靶发热
12
第十二页,共四十一页。
第二节 X射线的产生及X射线谱
本教材主要内容
绪论 第一篇 材料X射线衍射分析
第一章 X射线物理学基础
第二章 X射线衍射方向
第三章 X射线衍射强度 第四章 多晶体分析方法 第五章 物相分析及点阵参数精确测定 第六章 宏观残余应力的测定
第七章 多晶体织构的测定
1
第一页,共四十一页。
本教材主要内容
第二篇 材料电子显微分析
第八章 电子光学基础 第九章 透射电子显微镜 第十章 电子衍射 第十一章 晶体薄膜衍衬成像分析
第十二章 高分辨透射电子显微术
第十三章 扫描电子显微镜
第十四章 电子背散射衍射分析技术
第十五章 电子探针显微分析 第十六章 其他显微分析方法
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第二页,共四十一页。
绪论
本课程的特点:以分析仪器和实验技术为基础
本课程的内容主要包括:X射线衍射仪、电子显微镜等分析仪 器的结构与工作原理、及与此相关的材料微观组织结构和微 区成分的分析方法原理及其应用
一、衰减规律和吸收系数
复杂物质的质量吸收系数
对于多元素组成的复杂物质,如固溶体、化合物和混合
物等,其质量吸收系数仅取决于各组元的质量系数mi及各组 元的质量分数wi ,即
n
m miwi i1
连续谱的质量吸收系数
(1-15)
连续X射线穿过物质时,其质量吸收系数相当于一个有
1材料分析绪论课件
下图为平面反射光栅的一段垂直于刻线的截面。 它的色散作用可用光
栅公式表示。当n(光谱级次)不等于零时,衍射角或反射角随波长 而异,即不同波长的辐射经光栅反射后将分散在不同空间位置 上,这就是光栅进行分光的依据。
入射光束 光栅法线 衍射光束
aθ
d
第三十四页,编辑于星期一:八点 二十八分。
• 倒线色散率:用dλ/dl 表示.
第三十一页,编辑于星期一:八点 二十八分。
1.棱镜
棱镜的光学特性 ② 分辨率
• 棱镜的分辨率R是指将两条靠得很近的谱线分开的能力。在最小 偏向角的条件下,R可表示为
• 式中 为两条谱线的平均波长, 为刚好能分开的两条谱线间 的波长差。
• 分辨率与棱镜底边的有效长度b和棱镜材料的色散率dn/d成正比。
第三页,编辑于星期一:八点 二十八分。
参考书目
–胡劲波等编《仪器分析》北京师范大学出版集团,第2版 –曾泳淮编《分析化学(仪器分析部分) 》高等教育出版社,
第3版 –周玉主编《材料分析方法》机械工业出版社,第2版 –朱永法编《材料分析化学》化学化工出版社,第1版 –吴刚主编《材料结构表征及应用》化学工业出版社,第1版 –武汉大学化学系编《仪器分析》高等教育出版社,第1版
课程简介
总课时数: 32课时
学分:
2学分
课程性质: 专业基础课
教材:左演声等编《材料现代分析方法》
考核方式: 闭卷考试
第一页,编辑于星期一:八点 二十八分。
材料研究与测试方法
材料研究与测试方法就是关于材料成分、物相结构、微
观形貌和晶体缺陷等的现代分析、测试技术及其有关理论 知识的科学。
光谱分析、质谱分析、色谱分析、电子能谱分析、衍射 分析、电子显微分析、电化学分析和热分析等。
材料分析方法PPT课件
f
k Ur (IN)2
电磁透镜放大倍数和焦距均易调节。 电磁透镜要注意有磁转角的问题。
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可编辑
电磁透镜
短线圈磁场中的电子运动 显示了电磁透镜聚焦成像 的基本原理。实际电磁透 镜中为了增强磁感应强度, 通常将线圈置于一个由软 磁材料(纯铁或低碳钢) 制成的具有内环形间隙的 壳子里(如图)。
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v可分解成
vr
和前vZ者,使其匀速圆周运
动,后者使其匀速直线运动,电子沿螺旋线运动。
如果磁场为非均匀磁场,可使电子作螺旋圆锥运动, 则可实现使电子波聚焦。
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可编辑
电磁透镜
电磁透镜:产生旋转对称非均匀磁 场的装置。
电磁透镜仍满足:
1+ 1 =1 L1 L2 f
M L2 L2 1 L1 f
n的介质中,v , c n
0
n
sin
v1
1
n2
sin
v2
2
n1
3
可编辑
光学透镜成像:光的折射是可见 光聚焦成像的基础。
薄透镜的性质: 通过透镜中心C的光线不发生
折射。 一束平行于主光轴的光通过透
镜后会聚于透镜另一侧的主光 轴上的某一点称焦点F。 前焦点处的光散射经透镜后变 成一束平行于主光轴的平行光。
1
可编辑
主要内容
1 光的折射和光学透镜成像 2 光的衍射与光学显微镜分辨本领理论极限 3 电子波长 4 电磁透镜 5 电磁透镜的像差及其对分辨率的影响 6 景深和焦长
2
可编辑
6-1 光的折射和光学透镜成像
光的折射:光在均匀介质 中直线传播,当从一介质 传播到另一介质时,因光 的传播速度随介质而变, 故光的传播方向在两介质 的分界面发生突变。光在 不同介质中其频率是恒定 不变的。
材料分析方法ppt课件
R1 R 1 110
[001]
4
相机常数未知、晶体结构已知的衍射花样标定
测定各个斑点的R值(靠近中心的斑点,但不在一条直线
上),用附录校核各低指数晶面间距值之间的比值。
R12:R22:R32:…=N1:N2:N3:…
立方晶体
立方晶体中同一晶面组中各晶面的面间距相等。
h2 k 2 l 3 N a a d 2 2 2 N h k l 1 2 1 2 d , R 2 , R2 N N d 2 R12 : R2 : R32 : N1 : N 2 : N 3 :
考虑结构消光, 体心立方h+k+l=偶数产生衍射,2,4,6,8…; 面心立方全奇全偶才有衍射,3,4,8,11,12…
四方晶体
d 1
h2 k 2 l 2 2 2 a c 1 h2 k 2 l 2 2 2 2 d a c
根据消光条件,四方晶体L=0的晶面有衍射
2 R12 : R2 : R32 : M1 : M 2 : M 3 :
材料分析方法
4、测定个衍射斑点之间的夹角。
cos h1h2 k1k2 l1l2
2 2 2 (h12 k12 l12 )(h2 k2 l2 )
5、确定离开中心斑点最近衍射斑点 的指数。
h2k2l2 2
R2 000
h3k3l3 3
R4 h1k1l1 R1 1
4 h4k4l4
1. 测定低指数斑点的R值,在几个不同的方位摄取衍射花样, 保证测出前八个R值。 2. 根据R值,计算出各个d值。 3. 查ASTM卡片,与各d值相符的物相即为待测的晶体。
4. 卡片可能有几张,根据其它资料和化学成分排出不可能出
材料分析方法 第3版( 周玉) 出版社配套PPT课件 第3章 机械工业出版社
二、几种点阵结构因数计算
2. 体心点阵(同类原子组成)
单胞中有2个原子,坐标分别为(0,0,0)和(1/2,1/2,1/2), 原
子散射因数均为 f
FHKL2 = [f cos2(0) + f cos2(H+K+L)/2 ]2 + [f sin2(0) + f sin2(H+K+L)/2 ]2
三角形式:Acosx+iAsinx
单胞中所有原子散射波振幅的合成就是单胞的散射波振幅Ab
Ab A1ei1 A2ei2 Anein
fa
Aa Ae
一个原子中所有电子相干散射波的合成振幅 一个电子相干散射波的振幅
n
Ab Ae ( f1ei1 f 2ei2 f nein ) Ae f j ei j j 1 9
由于衍射线的相互干涉,某些方向的强度将会有所加强, 某些方向的强度将会减弱甚至消失,习惯上将这种现象称 为系统消光
7
第二节 单位晶胞对X射线的散射与结构因数
一、结构因数公式的推导
如图3-3,取单胞顶点O为坐标原点,单胞中第 j 个原子 A
的位置矢量为,
rj = xj a + yj b + zj c
数(HKL)N平1 方: N和2 :之N3比: N为4,: N5 2 : 4 : 6 : 8 :10
13
第二节 单位晶胞对X射线的散射与结构因数
二、几种点阵结构因数计算
3. 面心点阵(同类原子组成)
单胞中有4个原子,坐标分别为(0,0,0)、 (0,1/2,1/2)、
(1/2, 0,1/2)、 (1/2,1/2, 0),原子散射因数均为 f FHKL2 = f 2
材料分析方法概述 ppt课件
材料分析测试方法
材料现代分析、测试技术的发展,使得材 料分析不仅包括材料(整体的)成分、结构分 析,也包括材料表面与界面分析、微区分 析、形貌分析等许多内容.
ppt课件 5
材料的元素成份分析 材料的物相结构分析 材料的表观形貌分析 材料的价态分析 材料的表面与界面分析 材料的热分析 材料的力学性能分析
ppt课件 19
高能电子衍射分析: 入射电子能量为10—200 kev.高能电子衍射方 向和晶体样品中产生衍射晶面之晶面间距及电子 入射波长(A)的关系即电子衍射产生的必要条件也 由布拉格方程描述. 由于原子对电子的散射能力远高于其对x射线的散 射能力 ( 约高 10000倍以上 ) ,电子穿透能力差, 因而透射式高能电子衍射只适用于对薄层样品(薄 膜)的分析。 高能电子衍射的专用设备为电子衍 射仪,但随着透射电子显微镜的发展,电子衍射 分析多在透射电子显微镜上进行.与x射线衍射分 析相比,透射电子显微镜亡具有可实现样品选定 区域电子衍射 ( 选区电子衍射 ) 并可实现微区样品 结构(衍射)分析与形貌观察相对应的特点。
ppt课件
1
第一章 必要性:
材料分析测试方法概述
1、加深理解以前所学课程的内容。 2、为以后进一步的研究打下一个好的 基础。 3、目前材料发展日新月异的需要。
pp程中基本概念的来源。 2、了解一些检测分析手段。 3、能对一些检测结果进行一般性分析。
材料分析方法第3版教学配套课件周玉第6章.pdf
4) 将M和K代入式(6-13)计算残余应力 要确定和改变衍射晶面的方位,需利用某种衍射几何方式实
现。目前残余应力多在衍射仪或应力仪上测量,常用的衍射 几何方式有两种,同倾法和侧倾法
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第三节 宏观应力测定方法
一、同倾法
同倾法的衍射几何特点是测量方向平面和扫描平面相重
图6-3 第Ⅱ类内应力的产生
8
第一节 物体内应力的产生与分类
五、内应力的检测 残余应力是一种弹性应力,它与构件的疲劳性能、耐应
力腐蚀能力和尺寸稳定性等密切相关,残余应力检测对于工 艺控制、失效分析等具有重要意义,主要方法有 1) 应力松弛法 即用钻孔、开槽或薄层等方法使应力松驰,用
电阻应变片测量变形以计算残余应力,属于破坏性测试 2) 无损法 即用应力敏感性的方法,如超声、磁性、中子衍
射、X射线衍射等。 3) X射线衍射法 属于无损法,具有快速、准确可靠、测量区
域小等优点,且能区分和测定三种不同的类别的内应力
9
第二节 X射线宏观应力测定的基本原理
一、基本原理
用X射线衍射法测定残余应力,首先测定应变,再借助 材料的弹性特征参量确定应力
对于理想的多晶体,在无应力状态下,不同方位的同族晶面
若 2 - sin2 关系失去线性,说明材料偏离平面应力状态,
三种非平面应力状态
的影响见图6-7
图6-7 非线性2 - sin2 关系
a) 存在应力梯度 b) 存在三维应力 c) 存在织构
在样品测试范围存在
应力梯度、存在三维
应力状态或存在织构
等情况下,需采用特
殊的方法测算其残余
应力
16
第二节 X射线宏观应力测定的基本原理
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第三节 洛伦兹因数
第四节 影响衍射强度的其他因数 第五节 多晶体衍射的积分强度公式
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第一节 多晶体衍射图相的形成
以德拜-谢乐法为例,该法以单 色X射线照射多晶试样,用条 形底片记录。 微晶体中满足布拉格方程的d 晶面,在空间排列成以入射线 为轴、2为顶角的圆锥面; 衍射线构成顶角为4 圆锥面, 见图3-1
16
第二节 单位晶胞对X射线的散射与结构因数
二、几种点阵的结构因数计算 5. 有序固溶体 某些固溶体发生有序化转变后,不同原子将占据单胞中 特定位臵,将导致衍射线分布随之改变 AuCu3无序-有序转变是一个典型的例子。 在395℃以上AuCu3是无序固溶体,每个原子位臵上发现 Au和Cu的几率分别为0.25和0.75,这个原子的平均原子散射
因数f平均=0.25fAu+0.75fCu。无序态时,AuCu3遵循面心点阵
消光规律。
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第二节 单位晶胞对X射线的散射与结构因数
二、几种点阵的结构因数计算 5. 有序固溶体 在395℃以下, AuCu3便是有序态,此时Au原子占据晶胞顶 角位臵,Cu原子则占据面心位臵。 Au原子坐标(000),
Cu原子坐标, (0,1/2,1/2)、(1/2,0,1/2)、(1/2,1/2,0) ,
结果:当H, K, L为异性数时,FHKL2 (fAufCu)2 0 当H, K, L为同性数时,FHKL2 (fAu+3fCu)2 固溶体出现有序化后,使无序固溶体因结构消光而失去的衍 射 线重新出现,这些被称为超点阵衍射线。根据超点阵线条的出 现及其强度可判断有序化的出现与否并测定有序度。
in j 1
n
i j
9
第二节 单位晶胞对X射线的散射与结构因数
一、结构因数公式的推导 引入一个反映单胞散射能力的参数—结构振幅 FHKL,即
FHKL Ab Ae f j e
j 1 n i j
(3-1)
将复数展开成三角函数形式,
FHKL f j cos2π Hx j Ky j L j i sin Hx j Ky j L j
第二节 单位晶胞对X射线的散射与结构因数
二、几种点阵结构因数计算
3. 面心点阵(同类原子组成)
单胞中有4个原子,坐标分别为(0,0,0)、 (0,1/2,1/2)、 (1/2, 0,1/2)、 (1/2,1/2, 0),原子散射因数均为 f FHKL2 = f 2 [1+cos(K+L)+cos(H+K)+cos(H+L)]2 1)当H,K,L为奇偶混合时,FHKL2 = 0,衍射强度为零,如 (100)、(110)、(210)、(211)、(300) 2)当H,K,L为全奇或全偶数时, FHKL2 = 16f 2, 能产生衍射, 如(111)、(200)、(220)、(311)、(222) ,这些干涉面指数 (HKL)平方和之比为, N1 : N2 : N3 : N4 : N5 3 : 4 : 8 :11:12
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第三节 洛伦兹因数
说明衍射的几何条件对衍射强度的影响
实际晶体不一定是完整的
X射线的波长也不是绝对
单一;
入射束之间也不是绝对平 行,而是有一定发散角。
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第三节 洛伦兹因数
一、衍射的积分强度 如图3-5所示,衍射积分强度是分布曲线(衍射峰)在扣除 背底后所围成的面积,称为衍射积分强度 衍射积分强度近似等于ImB, Im为顶 峰强度,B为 Im/2处的衍射峰宽度(称 半高宽) Im和 1/sin 成比例,B和 1/cos 成比 例,故衍射积分强度与1/(sin cos) (即1/sin2 )成比例
图3-6 参加衍射的晶粒分数
2 r *sin(90 )r * cos 参加衍射的晶粒分数 2 4 (r*) 2
式中,r*为倒易球半径, r*为环带宽
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第三节 洛伦兹因数
三、单位弧长的衍射强度 图3-7 为德拜法的衍射几何, 在衍射角为2 的衍射环上, 某点到试样的距离为R, 则 衍射环的半径为Rsin2,周 长为2Rsin2 可见单位弧长的衍射强度反 图3-7 德拜法衍射几何 比于sin2 cos 综前所述的三个衍射几何可得洛伦兹因数 sin 2 2
1 cos 2 2 角因数 2 8sin cos cos sin 2 2 实际应用多仅涉及相对强度,通常 1 2 2 2 1 cos 2 M P FHKL A ( ) e 称 为洛伦兹因数; 2 4sin sin2 cos cos
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I 相对
由于衍射线的相互干涉,某些方向的强度将会有所加强, 某些方向的强度将会减弱甚至消失,习惯上将这种现象称 为系统消光
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第二节 单位晶胞对X射线的散射与结构因数
一、结构因数公式的推导 如图3-3,取单胞顶点O为坐标原点,单胞中第 j 个原子A 的位臵矢量为, rj = xj a + y j b + zj c 式中,a、b、c是点阵的基本矢量;
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第二节 单位晶胞对X射线的散射与结构因数
二、几种点阵的结构因数计算
结构因数仅与原子种类、数目及 在单胞中的位臵有关,而不受单胞形 状和大小的影响。 三种点阵晶体衍射线分布见图5-20 , 图中N = H2 + K2 + L2,产生衍射的干 涉面指数平方和之比分别为, 简单点阵 体心点阵 面心点阵 12345 2 4 6 8 10 3 4 8 11 12
图3-5 衍射的积分强度
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第三节 洛伦兹因数
二、参加衍射的晶粒分数 如图3-6所示,被照射的取向无规 分布的多晶试样,其 (HKL) 的倒 易点均匀分布在倒易球面上。倒 易球面环带 (阴影)区域的倒易点 对应晶面才能参加衍射,即环带 面积与倒易球面积之比,即为参 加衍射的晶粒分数,它与cos 成 正比
图3-4 三种点阵 衍射线的分布
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N
第二节 单位晶胞对X射线的散射与结构因数
二、几种点阵的结构因数计算 4. 异类原子组成的物质 由异类原子组成的物质,如化合物AB属于简单点阵,A 和B原子分别占据单胞顶角和中心,两种原子各自组成简单点 阵, 其结构因数FHKL2为 当H+K+L=奇数时,FHKL2 = (fAfB)2 当H+K+L=偶数时,FHKL2 = (fA+fB)2 对于化合物CuBe,因Cu和Be的原子序数差别较大,衍射线 分布与简单点阵基本相同,只是某些衍射线强度较低 而与CuBe结构相同的CuZn,但因Cu和Zn的原子序数相邻, fCu和 fZn极为接近,而使其衍射线分布与体心点阵相同
图3-1 d 晶面及其衍射线的分布
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第一节 多晶体衍射图相的形成
一个“衍射圆锥”代表晶体中一组特定的晶面。 其它晶面产生衍射,形成各自的衍射锥,只是锥角不同。
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第一节 多晶体衍射图相的形成
微晶中晶面间距d不同的晶面, 产生的衍射圆锥的顶角4也不同, 4 180时为反射圆锥, 4 180时为背反射圆锥,
N1 : N2 : N3 : N4 : N5 1: 2 : 3 : 4 : 5
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第二节 单位晶胞对X射线的散射与结构因数
二、几种点阵结构因数计算 2. 体心点阵(同类原子组成) 单胞中有2个原子,坐标分别为(0,0,0)和(1/2,1/2,1/2),原 子散射因数均为 f FHKL2 = [f cos2(0) + f cos2(H+K+L)/2 ]2 + [f sin2(0) + f sin2(H+K+L)/2 ]2 = f 2 [1+ cos(H+K+L)]2 1) 当H+K+L=奇数时, FHKL2 = 0,衍射强度为零,如(100)、 (111)、(210)、(300)、(311) 2) 当H+K+L=偶数时, FHKL2 = 4f 2,晶面能产生衍射,如 (110)、(200)、(211)、(220)、(310) ,这些干涉面指数 (HKL)平方和之比为, N1 : N2 : N3 : N4 : N5 2 : 4 : 6 : 8 :10 13
三角形式:Acosx+iAsinx
单胞中所有原子散射波振幅的合成就是单胞的散射波振幅Ab
i1 i2 Ab Ae A e 1 2
Anein
Aa 一个原子中所有电子相干散射波的合成振幅 fa Ae 一个电子相干散射波的振幅
Ab Ae ( f1e
i1
f 2e
i2
f n e ) Ae f j e
N
[ f j sin 2 ( Hx j Ky j Lz j )]2
j 1
n
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第二节 单位晶胞对X射线的散射与结构因数
二、几种点阵结构因数计算 1. 简单点阵(同类原子组成) 单胞中只有1个原子,其坐标为(0,0,0),原子散射因数为 f,则有 FHKL2 = [f cos2(0)]2 + [f sin2(0)]2 = f 2 简单点阵的结构因数与HKL无关,即HKL为任意整数,均能 产生衍射,如(100)、(110)、(111)、(200)、(210) 令 Ni Hi2 Ki2 L2 i ,则简单点阵能够产生衍射的干涉面指 数(HKL)平方和之比为,
1 2 2 1 1 2 1 cos 2 M 洛伦兹因数 Icos P F A ( ) e HKL 2 4sin sin 2 相对 sin 2 sin2 cos cos
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第三节 洛伦兹因数
四、角因数 将洛伦兹因数与偏振因数合并,可得到一个与掠射角 有关的函数,称角因数,或洛伦兹-偏振因数 角因数随 的变化如图3-8,常用的 角因数表达式仅适用于德拜法,因 洛伦兹因数与具体的衍射几何有关