多模光纤数值孔径的测量

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最新强度法测量光纤数值孔径BPPT课件

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关机断电以确保安全。 ❖ 5、实验记录数据前要把两光纤对芯。
向的高度,直到电压表读数最大,则认为两 光纤已经对芯完成。
图 5-6 光纤数值孔径实验仪 电路部分实物图
图 5-7 光源和 PD 实物图
4、调节图5-8中螺旋测微 丝杆Ⅰ使两光纤端面间 距(z)在1.5-2mm间。
5、打开电源开关,电路 板上相应的线路接好 (图5-6),调节测螺旋 测微丝 杆Ⅱ使发射光纤 与接收光纤间距大于 6mm,调节调零旋钮使 得电压表读数为零。
一、实验目的
1.了解透射式光纤传感器 工作原理及其特性
2.了解并掌握透射式光纤 传感器测量光纤数值 孔径的方法
3.学会光纤传感器 的制作
3、完成对芯。Байду номын сангаас调节图5-3和5-4中螺旋测微丝 杆Ⅰ、Ⅱ与光纤支架锁紧螺丝,使两光纤端 面接触在一起,且大致共轴。然后打开电源 开关,继续微调调节图5-3和5-4中 螺旋测微 丝杆Ⅱ与光纤支架锁紧螺丝, 并且调节光纤 卡架上的白色圆形螺栓来调 整两光纤竖直方
5% )所对应的x2 与 x1。 11、根据图5-1计算出光纤数值孔径NA。 12、关闭电源。
四、注意事项
❖ 1、不得随意摇动和插拔面板上的各种元器件,以 免造成实验仪不能正常工 作。
❖ 2、光纤传感器弯曲半径不得小于5㎝,以免折断。 ❖ 3、旋动螺旋测微丝杆尾帽中出现咔咔声表示不能
继续前进,不能超过其量 程。 ❖ 4、在使用过程中,出现任何异常情况,必须立即
图 5-8 光纤卡架实物图
图 5-9 调零增益实物图
6、调节测螺旋测微丝杆Ⅱ使 接收光纤移动,档位开关调 节到“20V”档位, 把增益 调节到适当档位,对芯时最 大电压不要超过5V为宜, 每隔0.05mm观察电 压表读 数变化,把位移与电压记录 在表一中。

mpo光纤na参数

mpo光纤na参数

MPO光纤NA参数概述多模光纤(Multi-Mode Fiber,简称MMF)是一种光纤传输介质,主要用于短距离的高速数据传输。

MPO光纤(Multi-Fiber Push-On)是一种多芯光纤连接器,常用于数据中心和高密度光纤布线系统中。

本文将介绍MPO光纤的NA参数及其相关知识。

光纤的数值孔径(Numerical Aperture,简称NA)光纤的数值孔径是光纤传输特性的一个重要参数,它描述了光纤对入射光的接受能力。

数值孔径越大,光纤能够接受的入射光角度范围就越大,传输的光信号损耗就越小。

数值孔径可以通过以下公式计算得到:NA = n * sin(θ)其中,n是光纤的折射率,θ是光纤的半角收敛角度。

MPO光纤的NA参数MPO光纤的NA参数是指MPO光纤连接器的数值孔径。

MPO光纤连接器通常用于高密度光纤布线系统中,其多芯结构能够提供更高的端口密度和更高的数据传输能力。

MPO光纤的NA参数对于保证光信号的传输质量至关重要。

MPO光纤的NA参数通常由两部分组成:主芯(Main Core)的NA参数和分支芯(Branch Core)的NA参数。

主芯的NA参数决定了主光路的传输性能,而分支芯的NA参数决定了分支光路的传输性能。

MPO光纤的NA参数测量方法测量MPO光纤的NA参数通常使用透射法(Transmission Method)。

具体步骤如下:1.准备一束发散的光源,如激光器。

2.将光源的光线通过一个聚焦透镜,使其成为一束平行光。

3.将平行光垂直照射到MPO光纤的端面上。

4.在另一端观察光纤的出射光线,利用光学仪器(如显微镜)测量出射光线的角度。

5.根据测量结果,计算出MPO光纤的NA参数。

MPO光纤的NA参数对光信号传输的影响MPO光纤的NA参数对光信号传输质量有着重要的影响。

较大的NA参数可以提供更大的接受角度范围,从而减小光信号的传输损耗。

而较小的NA参数则会导致光信号的传输损耗增加,影响光信号的传输距离和传输速率。

多模光纤数值孔径的测量

多模光纤数值孔径的测量

多模光纤数值孔径的测量人类社会现在已发展到了信息社会,声音、图象和数据等信息的交流量非常大。

以前的通讯手段已经不能满足现在的要求,而光纤通讯以其信息容量大、保密性好、重量轻体积小、无中继段距离长等优点得到广泛应用。

其应用领域遍及通讯、交通、工业、医疗、教育、航空航天和计算机等行业,并正在向更广更深的层次发展。

光及光纤的应用正给人类的生活带来深刻的影响与变革。

[实验目的]学习光纤与光源耦合方法的原理; 实验操作光纤与光源的耦合; 学习光纤数值孔径的测量方法[实验仪器]GY-10型He-Ne 激光器1套;光功率测量仪1台;633nm 多模光纤1m ;光纤切割刀1套;[实验原理]1光纤结构与传光原理目前用于光通讯的光纤一般采用石英光纤,它主要由纤芯和包层组成:纤芯的折射率分布可以一常数(称为阶跃型光纤),也可是具有轴对称的径向坐标的函数(称为梯度型光纤)。

下面以阶跃型光纤为例进行说明。

假设光纤端面与其轴线垂直,若光线射到光纤入射端面时包含了光纤的轴线,则这样的光线称为子午光线。

子午光线进入到纤芯后,在光纤中的传输路径是一条在光纤子午面内按“Z ”字形前进的平面射线。

若投射到光纤端面上的光射线的入射面不包含轴线,则称为偏射线,它在光纤内的传播行径不再是一条平面折线,而是一条空间折线。

为论述方便,下面仅就子午面内的传播规律作定量分析。

如图1所示,假设光纤端面与其轴线垂直,根据Snell 定律,有:z i n n θθsin sin 10= (1) 式中απθ-=2z 有αθcos sin 10n n i = (2)其中0n 是光纤入射端面左侧介质的折射率。

图1 光在光纤内的传播 通常,光纤端面处于空气介质中,故0n =1。

由(2)式知:如果光线在光纤端面处的入射角i θ较小,则它折射到光纤内部后投射到芯子--包层界面处的入射角α有可能大于由芯子和包层材料的折射率1n 和2n 按下式决定的临界角c α:()12sin n n arc c =α (3)在此情形下,光射线在芯子—包层界面处发生全内反射。

光纤数值孔径测量实验实验原理

光纤数值孔径测量实验实验原理

光纤数值孔径测量实验实验原理光纤数值孔径测量实验原理光纤是一种用于传输光信号的细长光导纤维,其内部的光信号传输是基于全反射的原理。

光纤的数值孔径是一个重要的参数,它决定了光纤的传输能力和效果。

因此,准确测量光纤的数值孔径对于光纤的设计和应用至关重要。

光纤数值孔径的测量可以采用多种方法,其中常用的方法是通过测量光纤的入射和出射光强的分布来计算数值孔径。

这种方法基于光纤中的高斯光束传输特性,通过测量光纤的光强分布来推导出数值孔径。

实验中,我们可以使用一台光学显微镜和一台光功率计来进行测量。

首先,将一段光纤放置在显微镜下,调节显微镜使其能够清晰观察到光纤端面的图像。

然后,将光功率计放置在光纤的另一端,测量出光纤出射光的功率。

在实验中,我们可以将光纤分为两个区域进行观察和测量。

首先,我们观察光纤的接近端,即距离光纤端面较近的区域。

在这个区域,光纤的数值孔径决定了光纤的采集能力。

通过观察接近端的光强分布,可以得到数值孔径的相关信息。

然后,我们观察光纤的远离端,即距离光纤端面较远的区域。

在这个区域,光纤的数值孔径决定了光纤的耦合能力。

通过观察远离端的光强分布,同样可以得到数值孔径的相关信息。

通过观察和测量光纤不同区域的光强分布,我们可以计算出光纤的数值孔径。

数值孔径的计算通常基于高斯光束的传输特性和光纤的折射率。

计算结果可以为光纤的设计和应用提供重要参考。

除了光强分布的测量,还可以使用其他方法来测量光纤的数值孔径。

例如,可以使用干涉仪测量光纤的模场直径,然后利用数值孔径和模式的关系来计算数值孔径。

此外,还可以使用自适应光学方法来测量数值孔径,通过调整光纤的入射光束形状,观察输出光束的变化来推导数值孔径。

光纤数值孔径测量是一项重要的实验,可以帮助我们了解光纤的传输特性和性能。

通过观察光强分布和采用其他测量方法,我们可以准确计算出光纤的数值孔径,为光纤的设计和应用提供准确的参考。

这对于光纤通信、光纤传感等领域的研究和应用具有重要意义。

实验2 光纤数值孔径的测量实验数据处理与分析

实验2   光纤数值孔径的测量实验数据处理与分析

光纤数值孔径的测量数据处理与分析1、数据处理与分析(1)多模光纤数值孔径测量(2)单模光纤数值孔径测量分析:由表1以及表2分析可知,实验所测得的多模光纤数值孔径为0.231MMF NA =,单模光纤是数值孔径为0.157SMF NA =。

由此可知,通常情况下,多模光纤数值孔径大于单模光纤的数值孔径,这也解释了为什么多模光纤耦合效率大于单模光纤的耦合效率。

2、误差分析本实验误差较大,主要来自于以下几方面:(1)激光器、显微镜、光纤以及光功率计探测头之之间不可能百分百的准直,一定会存在微小的偏差,这会对实验结果产生一定的误差。

(2)读数时会产生偶然误差,特别是螺旋测微仪的读数。

(3)实验存在不稳定的因素,比如实验时观察到,光功率计的示数并非稳定不变,而是存在微小波动,这也会对实验结果产生误差。

3、实验总结通过此次试验,我对光纤数值孔径有了深刻的学习与认识,明白了光纤数值孔径的含义以及意义,知道了单模光纤数值孔径与多模光纤数值孔径的差异;同时也学会了如何测量单光纤与多模光纤的数值孔径NA 。

续表4、思考题1.实验中是否可以更换其它的聚焦透镜,有何依据?答:实验中不可以更换其它聚焦透镜。

原因有二,其一,为了最有效地把光入射到光纤中去,通常应采用其数值孔径与光纤数值孔径相同的透镜进行聚光,如果更换就会影响激光与光纤的耦合效率,从而影响实验结果的准确性。

其二,更换聚焦透镜就意味着调节好的准直光路受到破坏,将不能再继续实验,如果要继续实验需要重新对实验光路进行调整准直,所以实验中不能更换聚焦透镜。

2.为何532nm单模、多模光纤的数值孔径有差异?答:单模光纤与多模光纤的数值孔径均由芯区与包层的折射率所决定,即NA=因此,实验所测得的532nm的单模光纤与多模光纤数值孔径的差异(多模数值孔径大于单模)是光纤自身的因素所决定的。

另外,由于多模光纤可以同时传输多种模式的光,而单模光纤只能传输一种模式的光,这也可能会对实验结果产生一定影响。

01光纤数值孔径性质与参数测量实验1

01光纤数值孔径性质与参数测量实验1

实验一光纤数值孔径(NA)性质与参数测量实验实验一光纤数值孔径(NA)性质与参数测量实验一、实验目的1、学习光在光导纤维中传播的基本原理2、掌握测量通信石英光纤的数值孔径2、熟练光学调节技术及熟悉光功率计二、实验仪器1、光源 1 台2、读数旋转台 1 个3、三维微调架 1 个4、光纤两根(单模、多模各一根) 2 根5、光纤适配器 1 个6、光斑屏 1 个7、光功率计 1 个三、实验原理1、光纤的基本构造光纤的构造如图1- 1 所示。

它主要有纤芯、包层、涂敷层及套塑四部分组成。

(1)纤芯纤芯位于光纤的中心部位。

它主要成分是高纯度的二氧化硅,其纯度高达99.99999% ,其余成分为掺入的少量掺杂剂,如五氧化二磷(P2O5)和二氧化锗( GeO2)。

掺杂剂的作用是提高纤芯的折射率。

纤芯的直径一般为5~50 微米。

(2)包层包层也是含有少量掺杂剂的高纯度二氧化硅。

掺杂剂有氟和硼。

这些掺杂剂的作用是降低包层的折射率。

包层的直径2b 一般为 125 微米。

(3)涂敷层包层的外面涂敷一层很薄的涂敷层。

通常进行两次涂敷,涂敷层材料一般为环氧树脂或硅橡胶。

该层的作用是增强光纤的机械强度。

(4)套塑涂敷层之外就是套塑。

套塑的原料大都是采用尼龙或聚乙稀。

它的作用也是加强光纤的机械强度。

一般没套塑层的光纤称为裸光纤。

套塑涂敷层包层纤芯图1-1 光纤的结构示意图2、光纤的传光原理1光纤通信及光纤信息实验指导书(1)光纤的传光原理:采用几何光学来分析时主要包括光的反射、折射和全反射等。

采用波动理论分析时主要包括导模、模数、双折射等。

( 2)光在光纤中的传播主要有二种类型,如图1-2 所示。

( a)阶跃型光纤其光纤折射率呈阶跃型分布。

该种光纤的纤芯折射率均匀且比包层高,以保证传输光能在纤芯和包层的界面上实现全反射,光传输轨迹为锯齿形。

当光纤NA大时,反射次数多、损耗大。

阶跃光纤是光纤应用的基本类型。

(b)渐变型光纤其纤芯的折射率呈曲面分布,使传输光的轨迹为光滑曲线(如正弦函数曲线),也称蛇形传光。

实验1-1光纤数值孔径(NA)性质和测量实验

实验1-1光纤数值孔径(NA)性质和测量实验

实验1-1 光纤数值孔径(NA )性质和测量实验一、 实验目的1、 熟悉光纤数值孔径的定义和物理意义2、 掌握测量光纤数值孔径的基本方法二、 实验原理和设备光纤数值孔径(NA )是光纤能接收光辐射角度范围的参数,同时它也是表征光纤和光源、光检测器及其它光纤耦合时的耦合效率的重要参数。

图一示出了阶梯多模光纤可接收的光锥范围。

因此光纤数值孔径就代表光纤能传输光能的大小,光纤的NA 大,传输能量本领大。

NA 的定义式是0sin NA n θ==式中0n 为光纤周围介质的折射率,θ为最大接受角。

1n 和2n 分别为光纤纤芯和包层的折射率。

光纤在均匀光场下,其远场功率角分布与理论数值孔径m NA 有如下关系:NA m Sin *=καθ其中θ是远场辐射角,Ka 是比例因子,由下式给出:[])0(/)(2/1P P g θκα-=式中P (0)与P (θ)分别为θ=0和θ=θ处远场辐射功率,g 为光纤折射率分布参数。

计算结果表明,若取P (θ)/P (0)=5%,在g ≥2时Ka 的值大于0.975。

因此可将对应于P (θ)曲线上光功率下降到中心值5%处的角度θe ,其正弦值定义为光纤的数值孔径,并称之为有效数值孔径: e eff NA θsin =本实验正是根据上述原理和光路可逆原理来进行的。

三、实验装置He-Ne 激光器、读数旋转台、塑料光纤、光纤微调架、毫米尺、白屏、短波长光功率计四、实验步骤方法一: 1、He-Ne激光器和光功率计的电源,调整实验系统;a.调整He-Ne激光管,使激光束平行于实验平台面;b.调整旋转台,使He-Ne激光束通过旋转轴线(读数旋转台轴线与光纤所在面交点已在旋转台上标出);c.取待测光纤,一端经旋转台上的光纤微调架与激光束耦合,另一端与光探测器相连;d.仔细调节光纤微调架,使光纤端面准确位于旋转台的旋转轴心线上...................,并辅助调节旋转台使光纤的输出功率最大。

光纤的模场分布

光纤的模场分布

聚焦透镜 五维调整架 光纤支架
半导体准直激光器
电控转台
待测光纤
图 二 光 纤 数 值 孔 径 的 测 量 系 统 (一 )
取一个屏,测量光斑直径大小 D 和光纤端面与屏的距离 L θo=arctan[D/(2L)] f. 用计算机控制转台转动,带动探测器,测量光强与角度的关系模场分布 曲线。根据公式也可算出数值孔径的大小; e.
聚焦透镜 五维调整架
长波FC法兰
光纤支架
激光器
待测光纤
探测器
图三 光纤数值孔径的测量系统(二)
2、 用光纤输出半导体激光器代替光纤,测量半导体激光器输出光纤的模场分布, 计算数值孔径。
四、实验数据和记录
表(1)方法一 测量所得的实验数据和结果 测量参数 光斑直径 W(mm) 屏与光纤端头距离 L(mm) 数值孔径角 θo=arctan[D/(2L)] 光纤数值孔径 opy 回去,并计算数值孔径大小。 光纤 半导体激光器输出
自由空间 θc
接收光 锥范围
纤芯
图一、光纤最大接收角和接收光锥示意图
θ ma x
包层
NA 的定义式是
NA
no*Sinθ=
n n
2 1
2 2
式中 no 为光纤周围介质的折射率,θ为最大接受角。n1 和 n2 分别为光纤纤芯和包层的折 射率。光纤在均匀光场下,其远场功率角分布与理论数值孔径 NAm 有如下关系:
-1-
曲线上光功率下降到中心值的 5%处的角度θe 的正弦值定义为光纤的数值孔径, 称之为有效 数值孔径:
NAeff sin e
本实验正是根据上述原理和光路可逆原理来进行的。
三、实验内容
本实验装置包括:光纤输出半导体激光器,多模光纤,半导体光源、五维调整架,电控 转台,电控制箱,计算机、光电探测器 1、 准直激光器和耦合系统 a. 调整半导体激光器,使激光束平行于实验平台面; b. 调整耦合透镜,使透镜出射光束主轴不变; c. 取待测光纤,一端经旋转台上的光纤微调架与激光束耦合,另一端与光 电控转台中心相连; d. 仔细调节光纤微调架,使光纤端面准确位于透镜焦点上,仔细调节使光 纤的输出功率最大。

实验三 多模光纤数值孔径

实验三  多模光纤数值孔径

实验三 多模光纤数值孔径(NA )性质及参数测量实验一. 实验目的1. 掌握测量多模光纤数值孔径的一种方法。

2. 了解光纤数值孔径的物理意义。

二. 实验原理光纤数值孔径NA 是表征光纤集光能力的主要参数,其理论表达式为:212221]n n [NA -= 式中:n 1—纤芯折射率,n 2—包层折射率。

可见光纤的数值孔径与直径无关。

在实际测量中,一般采用“远场法”。

“远场法”的定义是:光纤远场辐射强度分布下降到最大的5%时,远场辐射半角的正弦定义为数值孔径NA eff =Sin θ,与理论值关系为:NA eff =KNA ,K 为比例因子。

测量原理如附图2所示:三. 实验装置:He-Ne 激光器、10×显微物镜、精密光纤耦合器、直尺、白屏、多模光纤。

激光器 物镜 多模光纤 白屏光斑附图2 NA 测量原理图四.实验内容及步骤1.打开He-Ne激光器,校正实验系统;(1)调整He-Ne激光器,使激光束平行于实验台面;(2)取待测光纤,对其两端处理,一端经精密光纤耦合器与激光束耦合(参考实验二),一端夹持于白屏前,并与接收屏保持垂直;θ2.测试输出孔径角mo(1)固定光纤输出端;(2)置白屏与距光纤输出端L处,则在接收屏上显示出光纤输出光斑,其直径为D。

(3)用直尺准确测量L和D值,则得输出孔径角为:[tgθ1=D/(2L)]mo3.计算光纤数值孔径:θNA=Sinmo4.关闭He-Ne激光器电源,实验结束。

五.实验报告要求实验二光纤与光源耦合方法实验一.实验目的初步掌握光纤切割技术,光源与光纤耦合技术,体会透镜数值孔径对耦合效率的影响。

二. 实验原理光纤作为无源器件,是光纤传感器中基本组成部分。

其端面处质量的好坏,直接影响与光源的耦合效率及光信号的采集。

光纤端面的处理可分为两种形式,即平面光纤头和透镜光纤头,本次实验主要是平面光纤头的制作。

光耦合是将光源发出的光,注入到光纤中的一个过程。

光耦合效率与光纤端面质量和耦合透镜的数值孔径有关,当光纤端面处理的质量较好,其数值孔径与耦合透镜数值孔径相匹配时可得到最佳耦合效率。

多模光纤数值孔径性质及传输损耗特性实验误差分析

多模光纤数值孔径性质及传输损耗特性实验误差分析

多模光纤数值孔径性质及传输损耗特性实验误差分析
多模光纤的数值孔径是一个重要的光学参数,它决定了光在光纤中的传输性能,包括聚焦能力、分布模式和传输损耗等。

在实验中,要精确测量多模光纤的数值孔径和传输损耗,需要考虑以下几个因素可能会导致的误差:
1. 光源的稳定性和波长变化:在实验中使用的光源应具有足够的稳定性和可控性,以确保重复性和准确性。

另外,光源的波长变化也会对测量结果造成影响。

2. 光路对准精度:光纤连接器和接口的几何参数影响光纤的连接质量,影响传输效率和传输损耗。

3. 测量设备的精度:测量数值孔径和传输损耗的仪器应具有足够的精度和分辨率,以减小误差。

4. 光纤的材料和制造工艺:光纤的材料和制造工艺会对其数值孔径和传输损耗带来影响,因此需要注意选择光纤的品质和制造工艺。

综上所述,测量多模光纤的数值孔径和传输损耗需要考虑到多个因素可能会导致的误差,需要精心设计实验和进行数据处理,以获得可靠的结果。

光纤数值孔径测量实验

光纤数值孔径测量实验

1实验一光纤数值孔径(N A)测量实验一、实验目的:1. 了解光纤导光的原理;2. 掌握测量石英光纤的数值孔径原理与方法;3. 掌握光电探测的基本原理及光功率计设计原理;4.掌握用CCD、matlab测量高斯光斑大小的方法及原理。

二、实验装置激光器及电源,导轨,读数旋转台,光纤,光纤耦合架,导轨滑块、支撑杆和套筒,光电探头,电阻盒,5V电源,万用表,CCD,电脑。

三、实验原理1、光纤数值孔径测量光纤,也称光纤波导,它的典型结构是多层同轴圆柱体,如图1,自内向外由纤芯、包层、涂敷层三部分组成。

纤芯位于光纤的中心部位。

纤芯和包层主要成分都是高纯度的二氧化硅,不同的是它们掺入的少量掺杂剂不同。

纤芯掺杂剂如五氧化二磷(P2O5)和二氧化锗(G e O2),掺杂的作用是提高纤芯的折射率。

包层掺杂剂有氟和硼,掺杂剂的作用是降低包层的折射率。

光纤纤芯折射率是稍大于包层折射率,纤芯的直径一般为4~60微米(单模光纤直径小于10um,多模光纤直径一般50-62.5um),为了使光纤具有较好的柔性,包层外径约为125um。

包层的外面涂敷一层很薄的涂敷层。

涂敷层材料一般为环氧树脂或硅橡胶。

该层的作用是增强光纤的机械强度。

为了加强光纤的机械强度,有的光纤在涂敷层之外加上套塑进行保护。

多模光纤损耗大、色散较强,因而脉冲畸变严重;而单模光纤损耗和色散性能都较佳,对光脉冲的影响较小。

光纤长距离通讯中的光纤是用单模光纤,就是这个原因。

实验用的单模石英光纤,它的芯和包层是由不同掺杂比例的石英材料拉制而成,保护层是环氧树脂。

光纤为什么能导光,能传送大量的信息?光纤是利用光的光的反射、折射和全反射等特性来导光的。

折射率小的物质称为光疏介质,折射率大的物质称为光密介质,当光从光密介质入射到光疏介质时,折射角大于入射角,当入射角增大到某一角度,使折射角达到90°时,折射光完全消失,只剩下反射光,这时的入射角就叫临界角。

入射角大于或等于临界角时,折射光线消失,发生了全反射现象。

光纤数值孔径测试及应用实验

光纤数值孔径测试及应用实验

光纤数值孔径测试及应用实验光纤数值孔径(Numerical Aperture,简称NA)是指光纤传输中心的一种重要参数,它决定了光纤对光信号的捕捉能力和传输效率。

光纤数值孔径测试及应用实验是一项关于光纤数值孔径的实验研究,旨在通过实验手段来测量光纤的数值孔径,并探索其在光通信和光传感领域的应用。

一、光纤数值孔径测试实验光纤数值孔径的测试主要通过测量光纤的入射角和出射角来确定。

常见的测试方法有两种:一种是使用显微镜观察法,另一种是使用光纤耦合仪进行测试。

1. 显微镜观察法该方法采用显微镜观察法,通过调整入射角度和观察出射光的亮度变化来确定数值孔径。

具体步骤如下:(1)将一束光线从显微镜下方照射到光纤末端;(2)调整显微镜的焦距,使光纤末端成像在观察平面上;(3)逐渐改变入射角度,观察出射光的亮度变化;(4)当入射角度与数值孔径匹配时,出射光最亮。

2. 光纤耦合仪测试光纤耦合仪是一种专门用于测试光纤参数的仪器,它通过测量入射和出射光的功率来确定光纤的数值孔径。

具体步骤如下:(1)将待测试的光纤端面与光纤耦合仪的接收端面对齐;(2)调整光纤耦合仪的入射角度,使其与光纤的数值孔径匹配;(3)测量入射光和出射光的功率,并计算数值孔径。

二、光纤数值孔径的应用实验光纤数值孔径在光通信和光传感领域有着广泛的应用。

以下是两个具体的应用实验示例:1. 光纤传感应用实验光纤传感是利用光纤作为传感器进行测量的一种技术,其中光纤数值孔径的选择和匹配对传感器的性能至关重要。

通过一个光纤传感实验,我们可以验证光纤数值孔径对传感器的影响,并研究最佳的数值孔径选择。

具体步骤如下:(1)选择不同数值孔径的光纤,并将其作为传感器放置在不同环境中;(2)通过测量光纤传感器的信号强度变化,分析不同数值孔径光纤的传感性能;(3)通过实验结果,选择最佳的数值孔径用于特定的传感应用。

2. 光纤通信应用实验光纤通信是一种高速、大容量的数据传输方式,而光纤数值孔径对通信质量和传输距离具有重要影响。

光纤数值孔径测量

光纤数值孔径测量

光纤数值孔径测量一、实训目的1、掌握光纤及其端面的处理技术2、增强对光纤数值孔径的理解3、熟悉常见光无源器件的连接和常用仪器的使用,掌握光纤主要参数的测量方法。

一、实训主要设备1.He-Ne激光光源(1mW)和电源; 2.耦合装置(测损耗时接);3.光纤(F-MLD50:100/140多模光纤); 4.光功率计和光检测器;5.光纤调角度器(测数值孔径时接上); 6.光纤切割刀7.显微镜三、实训原理与说明1. 光纤的几何构造一般裸光纤具有纤芯,包层及敷层(套)的三层结构,芯和包层由硅玻璃组成,典型单模光纤的芯径为4-8μm,多模光纤为50-100μm,几何形状为圆对称;包层直径一般达百微米以上;高质量通信光纤的纤芯和包层由硅玻璃组成,纤芯中掺有少量杂质使纤芯折射率有所提高。

也有低质量的光纤是由塑料包层和玻璃纤芯构成,或由全塑料构成。

敷层是一个保护外套,直径一般达百微米或几百微米,由塑料制成,也有用极薄的清漆或丙烯酸制作。

2. 光纤的机械特性在测量光纤的数值孔径之前,需要对光纤端面进行处理,即获得一个垂直平整端面,以使光可以有效地耦合进和耦合出光纤。

这将采用划裂拉断方法完成,原理是先用碳化合物或金刚刀片在去除敷层后的光纤上沿垂直方向划开一个小裂口,然后从光纤两头贴近裂口处沿水平方向拉动光纤,均匀地加应力,使裂口穿过光纤并使光纤断裂,在垂直于光纤轴方向形成平整截面。

3. 光纤的数值孔径NA(Numerical Aperture)光纤的数值孔径NA(numerical aperture)是光纤的一个重要光学参数,它在一定程度上表征光纤集光能力和与光源耦合的难易程度,同时对连接损耗及衰减特性也有影响。

它与光纤传输系数的计量有密切的关系,对光纤的传输带宽有着很大的影响,在光学系统中的作用非常重要。

现在就最简单的阶跃折射率光纤为例,假设光线以入射角ϕ进入纤芯,如果纤芯的折射率比包层折射率稍大,则进入纤芯的光线在纤芯与包层界面上有可能发生全反射,设这个临界角为max ϕ,则数值孔径体现了光纤利用全反射将光保持在光纤中的能力,体现了光纤收集光的能力。

实习一光纤的处理与数值孔径之量测

实习一光纤的处理与数值孔径之量测
η=
PO × 100 % PI
以不同之光纖重覆此實驗,比較耦合效率。
4. 4.光纖數值孔徑之測量: 光纖數值孔徑之測量:
a.打開氦氖雷射電源,將光纖耦合器固定於雷射光前,調整光點 剛好入射物鏡之中央。 b.取一已切平端面之光纖,以夾具固定在耦合器上,調整光纖耘 合器使入射至光纖的光達到最強。 c.以白紙作為屏幕分別依 2cm、4cm、6 ㎝、8cm、10 ㎝之距離
其中步驟 2 需俐落的輕擊;然後取出已切割之光纖,並清理 切割刀器上之殘餘光用光纖熔接機之放大鏡觀察光纖切面, 若不平整則必須重新切割。光纖殘渣需立即放入垃圾桶中, 以防扎到人。
3. 3.光纖與氦氖雷射之耦合: 光纖與氦氖雷射之耦合:
a.打開氦氖雷射電源,將光纖耦合器固定於雷射光前,調整光點 剛好入射物鏡之中央。 b.取一已切平端面之光纖,以夾具固定在耦合器上,調整光纖耦 合器使入射至光纖的光達到最強。 c.將光功率錶置於氦氖雷射之輸出光束前,量取未經耦合前之光 功率值 Pi,再用功率錶測量光纖的另一端功率 Po,其耦合效 率為:
Core Cladding
Step index fiber
折射率分佈
Core Cladding
graded index fiber
折射率分佈
Core Cladding
single mode fiber
折射率分佈
Fig.2 常見三種光纖之物理特性圖
折射率差 光纖種類 纖心直徑 纖殼直徑 N.A 比∆
SI Fiber GI Fiber GI Fiber SM Fiber 100 µm 50 µm 62.5 µm 9 µm 140 µm 125 µm 125 µm 125 µm 0.3 0.2 0.3 0.1

光纤结构观察与数值孔径测量实验

光纤结构观察与数值孔径测量实验

光纤结构观察与数值孔径测量实验GCS-FIB 光纤结构观察与数值孔径测量实验实验特点:光纤作为重要的导光器件,认识测量光纤的参数是学习相关课程的重要环节。

本实验使用400X 的光学系统对不同种类光纤(单模、多模、保偏光纤)端面进行观察并使用大恒图像处理软件对图像进行计算分析,测量模场直径和数值孔径。

光纤耦合机械调整部件均使用大恒高精度机械调整部件。

知识点:光纤几何参数,数值孔径(NA),模场直径涉及课程:光纤通信原理,光电检测对学生的要求:有搭建普通物理实验的经验,具有通信和光通信的基本知识。

原理示意图:技术指标光纤:单模 9/125 多模:50/125 65/125 光纤观察仪:400倍光学放大,内部LED寿命100,000小时光学元件:材料: K9精退火焦距(f): ±2%直径 (Φ): -0.20mm中心厚 (Tc): ±0.1mm中心偏: 3’光圈: 1~5局部光圈: 0.2~0.5表面质量: 60-40 scratch-dig 机械和调整部件:直线精度: 0.1mm 分辨率:0.001mm实验内容:●激光光纤耦合●各种光纤端面特征识别●各种光纤模场直径测量●光纤数值孔径(NA)测量实验效果原理示意图实验配置:钢结构安装测量技术实例摘要:超高层钢结构安装测量技术关键词:钢结构,测量一、工程概况咸阳丽彩广场C座商住楼工程位于咸阳市宝泉路3号,总建筑面积为39721㎡,建筑总高度为114.32m,抗震设防烈度8度。

地下两层,地上31层,结构类型为钢框架-钢支撑体系。

二、控制点的布置及施测1、从实际情况,施工场地狭小,对场外布控有影响,故采用内控天顶垂准测量。

2、布设的控制点均引用现有控制轴线D轴、3轴、10轴。

根据实际情况对钢结构分两步控制测量。

3、±0.000以下钢结构:±0.000以下有一节钢柱,在土建基础底板浇筑完后,利用现有控制轴线,在基础底板上投放出各轴线或各轴线的引线,来对各钢柱进行垂直度控制。

多模光纤数值孔径

多模光纤数值孔径

多模光纤数值孔径多模光纤的数值孔径(Numerical Aperture,NA)是衡量光纤传输光束品质和收光能力的重要参数之一,也是光纤传输距离和带宽的关键因素之一。

在这篇文章中,我们将介绍多模光纤数值孔径的概念、计算方法以及它在光纤传输中的应用。

首先,什么是多模光纤的数值孔径?数值孔径是衡量光纤不同模式之间传输光束的品质的参数,它决定了光纤的收光能力和传输距离。

在一条光纤中,有许多不同传播方向的光波,这些光波可以被看做光的不同模式。

数值孔径表示光纤中不同模式的有效传输范围,也就是光束的扩展范围。

一个光纤的数值孔径越大,它能传输和捕捉的光束的范围就越广阔。

那么,如何计算多模光纤的数值孔径呢?它是根据光纤的折射率(Refractive Index,n)和接收光线两侧介质的折射率之差(delta n)决定的。

数值孔径的计算公式为:NA = n * s inθ,其中θ是入射光线的最大进入角度。

NA越大,光纤的收光能力越强,能够传输的光束品质越高。

但是要注意,如果NA过大,就会引起多模色散和相位失配等问题,影响光纤的传输质量。

在光纤传输中,多模光纤数值孔径常常和光纤直径、光源波长等因素一起考虑。

比如,当光源的波长改变时,它会影响光纤中不同模式的传输距离。

此时,数值孔径的大大小小就显得尤为重要。

例如,当使用较长波长的光源时,光线的半波范围变大,需要使用数值孔径较大的光纤来保证光的传输质量。

此外,光纤直径也是影响光纤传输性能的重要因素之一。

当光纤直径变大时,它的数值孔径也要相应增加,以保证光纤的收光能力。

总之,多模光纤数值孔径是光纤传输中不可或缺的参数,它决定着光纤的传输距离和带宽,是保证光的传输质量的关键因素之一。

在实际应用中,我们需要根据不同的光源、光纤直径和传输距离等因素来选择合适数值孔径的光纤,以保证光的传输质量。

光纤数值孔径与衰减系数的测量实验

光纤数值孔径与衰减系数的测量实验

光纤数值孔径与衰减系数的测量实验近年来,随着光纤技术的发展,光纤的数值孔径和衰减系数的测量实验受到了越来越多的重视。

在光纤传输系统中,光纤数值孔径(Numerical Aperture,简称NA)以及衰减系数等技术参数,为传输系统和光纤组件设计提供了重要的参考。

在光纤数值孔径和衰减系数的测量实验中,采用的是两个测量装置,一个是NA测量装置,另一个是测量衰减系数的设备。

NA测量装置采用了一种新型的可变激光束采集技术,能够更好地测量光缆的NA。

NA测量装置可以可靠的测量出光纤的尺寸和NA。

测量衰减系数的设备,通常采用的是测试发射和接收机测量方式,发射每个波长的光信号,接收机测量每个波长的光信号衰减程度,从而得出光缆每个波长的衰减系数。

为了提高测量的准确度,在进行测量实验之前,需要对测量设备进行校准。

NA测量装置的校准首先要计算出各个位置的发射光强和接收光强,在两种参数并行测量出来后,比较结果,从而确定测量装置的准确度水平。

在测量衰减系数的设备校准阶段,首先需要测量出发射功率以及波长,其次要测量每个波长的接收光强,然后确定发射和接收机的准确度水平。

在实验中,可以使用NA测量装置、衰减系数测量装置和计算机结合来进行实验。

首先,通过NA测量装置对光缆做NA测量,再通过衰减系数测量装置对光缆做衰减系数测量,最后通过计算机将采集的数据进行处理,得出光缆的NA和衰减系数的最终结果。

在光纤数值孔径与衰减系数的测量实验中,正确的测量结果对于提升传输系统的性能至关重要。

只有正确的测量结果,有助于厂家更好地设计光纤组件,从而实现精确的光缆通信。

同时,在进行测量实验之前,也要确保测量设备具有良好的准确度,从而有助于测量结果的准确性。

总之,光纤数值孔径与衰减系数的测量实验,是一个十分重要的实验工作,有助于更好地提升光缆通信的性能。

正确的测量结果,有助于提高传输系统的可靠性和稳定性,从而有效提升光缆通信的性能。

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多模光纤数值孔径的测量
人类社会现在已发展到了信息社会,声音、图象和数据等信息的交流量非常大。

以前的通讯手段已经不能满足现在的要求,而光纤通讯以其信息容量大、保密性好、重量轻体积小、无中继段距离长等优点得到广泛应用。

其应用领域遍及通讯、交通、工业、医疗、教育、航空航天和计算机等行业,并正在向更广更深的层次发展。

光及光纤的应用正给人类的生活带来深刻的影响与变革。

[实验目的]
学习光纤与光源耦合方法的原理; 实验操作光纤与光源的耦合; 学习光纤数值孔径的测量方法
[实验仪器]
GY-10型He-Ne 激光器1套;光功率测量仪1台;633nm 多模光纤1m ;光纤切割刀1套;
[实验原理]
1光纤结构与传光原理
目前用于光通讯的光纤一般采用石英光纤,它主要由纤芯和包层组成:纤芯的折射率分布可以一常数(称为阶跃型光纤),也可是具有轴对称的径向坐标的函数(称为梯度型光纤)。

下面以阶跃型光纤为例进行说明。

假设光纤端面与其轴线垂直,若光线射到光纤入射端面时包含了光纤的轴线,则这样的光线称为子午光线。

子午光线进入到纤芯后,在光纤中的传输路径是一条在光纤子午面内按“Z ”字形前进的平面射线。

若投射到光纤端面上的光射线的入射面不包含轴线,则称为偏射线,它在光纤内的传播行径不再是一条平面折线,而是一条空间折线。

为论述方便,下面仅就子午面内的传播规律作定量分析。

如图1所示,假设光纤端面与其轴线垂直,根据
Snell 定律,有:
z i n n θθsin sin 10= (1) 式中απ
θ-=2
z 有
αθcos sin 10n n i = (2)
其中0n 是光纤入射端面左侧介质的折射率。

图1 光在光纤内的传播 通常,光纤端面处于空气介质中,故0n =1。

由(2)式知:如果光线在光纤端面处的入射角i θ较小,则它折射到光纤内部后投射到芯子--包层界面处的入射角α有可能大于由芯子和包层材料的折射率1n 和2n 按下式决定的临界角c α:
()12sin n n arc c =α (3)
在此情形下,光射线在芯子—包层界面处发生全内反射。

该射线所携带的光能就被局限在纤芯内部而不外溢,满足这一条件的射线称为传导射线。

随着图1中入射角i θ的增加,α角就会逐渐减小,直到c αα=时,光线均可被局限在纤芯内。

在此之后,若继续增加i θ,则角α就会变得小于c α,这时射线在芯子—包层界面
处发生全内反射的条件受到破坏,致使光射线在芯子—包层界面的每次反射均有部分能量溢出纤芯外。

于是,光导纤维再也不能把光能有效地约束在纤芯内部,这类射线称为漏射线。

设与c αα=对应的i θ为max i θ,由上所述,凡是以max i θ为张角的锥体内的光线,投射到光纤端面上时,均能被光纤有效地接收而约束在纤芯内。

根据(2)式有:
c i n n αθcos sin 1max 0= 因其中0n 表示光纤入射端面空气一侧的折射率,其值为1,故: ()
(
)
122
2
12
12
1m a x s i n 1s i n n n n c i -=-=αθ
通常把()
2
12
2
21max sin n n i -=θ定义为光纤的理论数值孔径(Numerical Aperture ),即NA :
()
()
2
112
122
2
1m a x 2s i n ∆=-==n n n NA i θ (4)
它是一个表征光纤对射线俘获能力的参数,其值只与纤芯和包层的折射率1n 和2n 有关,与
光纤的半径无关。

在(4)式中:
(
)
()1212
12
2
212n n n n n n -≈-=∆ (5)
称为纤芯—包层之间的相对折射率,∆越大,光纤的理论数值孔径NA 越大,表明光纤对光线的收集能力越强,即由光源发出的光功率更易于耦合到光纤的纤芯内,这对于作传光用途的光纤来说是有利的,但对于通讯用的光纤,数值孔径越大,模式色散也相应增加,这不利于传输容量的提高。

对于通讯用的多模光纤,∆值一般限制在1%左右。

对于一段足够长的光纤,在入射端面处会有这样两种情况出现:一是在其入射端面处若入射光束与它的耦合能够使得所有的传导子午射线都能进入光纤内部,若传导子午光射线以入射角i θ投射到光纤入射端面,则在光纤出射端面处,从光纤内部折射到空气介质一侧后,与光纤出射端面法线方向的夹角等于i θ。

二是当入射处只有部分传导射线进入到光纤内部,由于光纤某些部分的严重弯曲,使得传导光线在经过弯曲部分后,它们在光纤内部投向芯子—包层界面时的入射角会较以前变小,这样被耦合到光纤内部的光束,在到达出射端面前,也会包含了全部的传导子午射线,它们在光纤出射端面处从光纤内部向空气一侧折射时表现为一发散光束,该光束所张的顶角就为2max i θ,所以通常测定这一出射光束发散角的大小就可以粗略地估测出光纤对子午射线的数值孔径。

光纤数值孔径的测量分为远场光强法和远场光斑法两种。

远场光强法定义为光纤远场辐射图上光强值下降到最大值 5 %处的半张角的正弦值, 该方法对测试光纤样品的严格的要求,测量系统所需组件较多,对仪器设备的要求也较高,需要强度可调的非相干稳定光源,具有良好线性的光检测器等,应用不便。

远场光斑法原理本质上类似于远场光强法,只是结果的获取方法不同。

虽然不是标准的方法,但简单易行,而且可采用相干光源,原理性实验多采用这种方法。

其测量原理如图2
测量时,在暗室中将光纤出射远场投射到白屏,测量光斑直径,通过下边式子计算出数值孔径
图2 远场光斑法原理图
图4 聚光器件耦合原理示意图
NA=k •d
式中k 为一常数,可由已知数值孔径的光纤标定;d 为光纤输出端光斑的直径。

对于未知的k ,我们可以由上述的距离和光斑直径,根据d 和L 计算出θ值,再根据定义NA=sin θ求出NA 的近似值。

光纤与光源的耦合:
在实际应用中,在实验光信号的光纤传输,首先必须想办法使光能够进入到光纤中,即光源与光纤的耦合。

光纤与光源的耦合有直接耦合和经聚光器件耦合两种。

聚光器件有传统的透镜和自聚焦透镜之分。

自聚焦透镜的外形为“棒状”,也称为自聚焦棒,它是折射率分布指数为2(即抛物线型)的渐变形光纤棒的一小段。

直接耦合是使光纤直接对准光源输出的光进行的“对接”耦合。

示意如图3,这种方法是将用专用设备切制好并经清洁处理的光纤端面靠近光源的发光面,并将其调整到最佳位置(光纤输出端的输出光强最大),然后固定其相对位置的耦合方法,这种方法简单,可靠,但必须有专用设备。

如果光源输出光束的横截面面积大于光纤纤芯的横截面面积,将引起较大的耦合损耗。

经聚光器件耦合是将光源发出的光通过聚光器件聚焦到光纤端面上,并调整到最佳位置(光纤输出端的输出光强最大),这种耦合方法的耦合效率较高。

常用耦合效率来评价光纤耦合的好坏,它定义为
%1002
1⨯=
P P η, 或 )(log
102
1dB P P -=η
式中P 1为耦合进光纤的光功率(近似为光纤的输出光功率);P 2为光源的输出功率。

[实验内容]
1. 光纤与光源的耦合,判断耦合效率;
2. 应用远场光斑法估算多模光纤的数值孔径。

[实验步骤]
一、纤与光源的耦合及耦合效率的计算:
图3 直接耦合原理示意图
1、 用光功率计测量激光功率记下功率值P 2
2、 调节激光束的轴线合这与光具座的走向平行,并距光具座参面的高度与架设在五维
调节架的光纤入射端端面的高度接近。

3、 将切好的光纤固定在五维调整架上
4、 将自聚焦透镜安上,使激光经聚焦后入射到光纤的端面。

调节光纤入射端的五维调
节架使激光束与光纤的直接耦合效果最佳(根据接收屏上光斑亮度判断) 5、 在光纤的出射面测量出射光的光功率P 1,计算耦合效率; 二、测量光纤的数值孔径:
1、 接步骤5,在耦合效果最佳的前提下,观察接收光接收屏上的光斑是否为一轮廓清晰
的圆斑,如果带有许多毛剌,则表明光纤出射端面不为平整镜面,需要进行重新处理;若接收屏上光斑的轮廓清楚但为椭圆,则表明光纤出射端与接收屏不垂直,需调节光纤出射端面一侧的调节架,使得接收屏上出现一个轮廓清晰的圆斑为止 2、 把接收光屏与光纤出射端面接触,记下接收屏在光具座上的对应刻度L o 值,
3、 移动接收光屏到光具座上的另一适当位置,记下光具座上相应的刻度值L ,并利用
接收屏上的坐标格子,估测此位置下接收上光斑的直径D 。

4、 改变光具座的位置,重复3 5、 重复测量5次
数据记录: P 2=
经自聚焦透镜耦合后:P 1=
数值孔径角的测量
数据处理:
根据)(tan 2
0L L D
-∙=θ
用最小二乘法求出tan θ 再求NA。

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