【CN209878636U】一种热电参数测试装置【专利】

(19)中华人民共和国国家知识产权局

(12)实用新型专利

(10)授权公告号 (45)授权公告日 (21)申请号 201920641925.2

(22)申请日 2019.05.07

(73)专利权人 合肥科晶材料技术有限公司

地址 230000 安徽省合肥市长江西路669号

华源实业园

(72)发明人 邾根祥　朱沫浥　王亚东　李超　

(74)专利代理机构 合肥东邦滋原专利代理事务

所(普通合伙) 34155

代理人 张海燕

(51)Int.Cl.

G01N 25/00(2006.01)

G01N 27/04(2006.01)

(54)实用新型名称

一种热电参数测试装置

(57)摘要

本实用新型公开了一种热电参数测试装置，

分别在上导热块和下导热块上插设加热片以及

制冷管，在待测试样品上下表面产生变动的或恒

定的温差，并通过插接在上导热块和下导热块内

的热电偶测量出待测试样品上下表面的温差，通

过Seebeck检测线测量样品上下表面的电压，从

而有效的计算出待测试样品的赛贝克系数，且利

用四芯探针穿过真空腔体的上盖、上导热块和上

陶瓷片顶在待测试样品上，采用四探针法测量待

测试样品的电阻率，本实用新型结构简单，可有

效提高样品测量数据的准确性和稳定性。权利要求书1页 说明书3页 附图1页CN 209878636 U 2019.12.31

C N 209878636

U

权　利　要　求　书1/1页CN 209878636 U

1.一种热电参数测试装置，其特征在于：包括真空腔体(1)，所述真空腔体(1)内设有相对的上导热块(2)和下导热块(3)，所述上导热块(2)和下导热块(3)之间设有相对的上陶瓷片(4)和下陶瓷片(5)，所述上陶瓷片(4)和下陶瓷片(5)之间形成放置待测试样品的样品台(6)；

所述上导热块(2)上方连接有空心的上支柱(7)，所述上支柱(7)穿过真空腔体(1)的上盖连接有接线板(8)，所述上支柱(7)内部设有四芯探针(11)，所述四芯探针(11)一端连接接线板(8)，另一端依次穿过上导热块(2)和上陶瓷片(4)，与待测试样品接触；

所述上导热块(2)和下导热块(3)上均设有一个插槽和两个相对的插孔，所述上导热块(2)和下导热块(3)上的插孔内均插接有热电偶(12)，所述上导热块(2)上的插槽内插接有加热片(13)，所述下导热块(3)的插槽内插接有制冷管(14)；

所述下导热块(3)通过保温层(15)连接真空腔体(1)的底座，所述样品台(6)一侧设有Seeback检测线(16)。

2.根据权利要求1所述的一种热电参数测试装置，其特征在于：所述真空腔体(1)的上盖上设有卡箍(9)，所述上支柱(7)插入卡箍(9)内与卡箍(9)活动连接，并通过安装在卡箍(9)一侧的锁紧螺栓(10)固定。

3.根据权利要求1所述的一种热电参数测试装置，其特征在于：所述上导热块(2)和上陶瓷片(4)中部均设有探针通孔。

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