全面射频IC EDA及测试工具方案介绍
合集下载
相关主题
- 1、下载文档前请自行甄别文档内容的完整性，平台不提供额外的编辑、内容补充、找答案等附加服务。
- 2、"仅部分预览"的文档,不可在线预览部分如存在完整性等问题,可反馈申请退款(可完整预览的文档不适用该条件!)。
- 3、如文档侵犯您的权益，请联系客服反馈,我们会尽快为您处理(人工客服工作时间：9:00-18:30)。
HARDWARE + SOFTWARE + PEOPLE= IC INSIGHTS
提参建模：生成 PDK model 文件，完美表征成熟半导体工艺线 设计仿真：MMIC，RFIC，电路级设计，电磁和热分析，封装模拟 电路测试：片上测试，封装后测试；
射频芯片，模拟芯片，数字芯片
Electro-thermal
是德科技 芯片测试宝典
及其他半导体IC 数字芯片测试 ...................................................................................... 04 技术概述 .................................................................................................................. 04 手机 baseband ....................................................................................................... 08
FROM MODELING,
SIMULATION TO TEST
覆盖IC全产业链，是德科技提供最 全面IC EDA及测试工具
Start IC Specs
是德科技（原安捷伦电子测量事业部），不仅是世界上最大的硬 件电子测试测量仪器公司，也是 RFIC design EDA 软件 ADS 的 生产厂商。我们提供大量的软件，硬件，覆盖 IC 全产业链测试 与仿真需求。
－编解码器逻辑测试 ........................................................................................... 08 －FPGA 调试方案.................................................................................................. 08 －MIPI手机内部高速数字接口测试 ..................................................................... 09 高速 I/O 芯片测试 ................................................................................................. 10 －USB 3.0 ............................................................................................................. 10 －USB3.1/3.2测试方案......................................................................................... 11 －LVDS ................................................................................................................. 11 －SerDes ............................................................................................................... 12 显示芯片测试 .......................................................................................................... 14 －HDMI ................................................................................................................. 14 －DisplayPort ....................................................................................................... 15 Analog IC 模拟芯片测试 ..................................................................................... 16 高速 ADC 的测试方案 ............................................................................................ 16 高速 DAC 的测试方案 ............................................................................................ 19 PLL/VCO 的测试方案 ............................................................................................. 21 DC-DC/PMU 等电源管理芯片的测试方案 ............................................................. 21 RFIC 射频芯片设计与测试 ................................................................................. 24 PA功放的设计与测试 .............................................................................................. 24 存储器及其 controller 芯片测试方法 ............................................................. 28 存储器单元设计、评估及建模 ............................................................................... 28 工厂晶圆级自动化测试 .......................................................................................... 29 芯片级协议分析 DDR ............................................................................................. 29 UFS2.1 总线的分析验证方法 .................................................................................. 31 SSD 高速接口的设计与验证 ................................................................................... 33 超低功耗芯片及芯片低功耗模式分析与测试................................................. 34 MMIC 微波单片设计与测试 ............................................................................... 36 ADS 射频微波电路的设计仿真方法 ....................................................................... 36 MMIC 片上测试 on-wafer test ................................................................................ 40 MMIC 封装后单片性能测试 .................................................................................... 46 微封装/微组装电路的仿真与测试 .......................................................................... 48 功率器件芯片测试 ............................................................................................... 50 针对上游（晶圆芯片）的测试解决方案 ................................................................ 51 针对下游（封装器件）的测试解决方案 ................................................................ 51 光电芯片测试 ........................................................................................................ 52 MEMS 测试 ............................................................................................................ 56 半导体和功率半导体参数分析仪/曲线追踪仪 ............................................... 63 IC foundry 参数测试 ............................................................................................ 67 半导体工艺中的纳米级测量 .............................................................................. 68 原子力显微镜 .......................................................................................................... 68 扫描微波原子力显微镜 ........................................................................................... 69 扫描电镜 ................................................................................................................. 69
提参建模：生成 PDK model 文件，完美表征成熟半导体工艺线 设计仿真：MMIC，RFIC，电路级设计，电磁和热分析，封装模拟 电路测试：片上测试，封装后测试；
射频芯片，模拟芯片，数字芯片
Electro-thermal
是德科技 芯片测试宝典
及其他半导体IC 数字芯片测试 ...................................................................................... 04 技术概述 .................................................................................................................. 04 手机 baseband ....................................................................................................... 08
FROM MODELING,
SIMULATION TO TEST
覆盖IC全产业链，是德科技提供最 全面IC EDA及测试工具
Start IC Specs
是德科技（原安捷伦电子测量事业部），不仅是世界上最大的硬 件电子测试测量仪器公司，也是 RFIC design EDA 软件 ADS 的 生产厂商。我们提供大量的软件，硬件，覆盖 IC 全产业链测试 与仿真需求。
－编解码器逻辑测试 ........................................................................................... 08 －FPGA 调试方案.................................................................................................. 08 －MIPI手机内部高速数字接口测试 ..................................................................... 09 高速 I/O 芯片测试 ................................................................................................. 10 －USB 3.0 ............................................................................................................. 10 －USB3.1/3.2测试方案......................................................................................... 11 －LVDS ................................................................................................................. 11 －SerDes ............................................................................................................... 12 显示芯片测试 .......................................................................................................... 14 －HDMI ................................................................................................................. 14 －DisplayPort ....................................................................................................... 15 Analog IC 模拟芯片测试 ..................................................................................... 16 高速 ADC 的测试方案 ............................................................................................ 16 高速 DAC 的测试方案 ............................................................................................ 19 PLL/VCO 的测试方案 ............................................................................................. 21 DC-DC/PMU 等电源管理芯片的测试方案 ............................................................. 21 RFIC 射频芯片设计与测试 ................................................................................. 24 PA功放的设计与测试 .............................................................................................. 24 存储器及其 controller 芯片测试方法 ............................................................. 28 存储器单元设计、评估及建模 ............................................................................... 28 工厂晶圆级自动化测试 .......................................................................................... 29 芯片级协议分析 DDR ............................................................................................. 29 UFS2.1 总线的分析验证方法 .................................................................................. 31 SSD 高速接口的设计与验证 ................................................................................... 33 超低功耗芯片及芯片低功耗模式分析与测试................................................. 34 MMIC 微波单片设计与测试 ............................................................................... 36 ADS 射频微波电路的设计仿真方法 ....................................................................... 36 MMIC 片上测试 on-wafer test ................................................................................ 40 MMIC 封装后单片性能测试 .................................................................................... 46 微封装/微组装电路的仿真与测试 .......................................................................... 48 功率器件芯片测试 ............................................................................................... 50 针对上游（晶圆芯片）的测试解决方案 ................................................................ 51 针对下游（封装器件）的测试解决方案 ................................................................ 51 光电芯片测试 ........................................................................................................ 52 MEMS 测试 ............................................................................................................ 56 半导体和功率半导体参数分析仪/曲线追踪仪 ............................................... 63 IC foundry 参数测试 ............................................................................................ 67 半导体工艺中的纳米级测量 .............................................................................. 68 原子力显微镜 .......................................................................................................... 68 扫描微波原子力显微镜 ........................................................................................... 69 扫描电镜 ................................................................................................................. 69