国内外集成电路标准体系

IEC 61964：1999
存储器引出端配置图
现行有效标准
61967-1(2002) 61967-1-1(2010)
61967-2(2005)
61967-3(2005) 61967-4(2006)
61967-4-1(2005)
61967-5(2003) 61967-6(2008) IEC 61967-8（2011） IEC 62132-1(2006) IEC 62132-2(2010) IEC 62132-3(2007) IEC 62132-4(2006) IEC 62132-5(2005) IEC 62132-8(2012) IEC/TS 62215-2(2007) IEC/TS 62228(2007) IEC/TS 62433-1(2011) IEC 62433-2(2008)
基础标准
环境和机械试验方 法(TC47)
能力批准和生产线 认证
电磁兼容试验方法
产品标准
半导体集成电路
混合集成电路
数
模
接
半
字
拟
口
定
集
集
集
制
成
成
成
集
wk.baidu.com
电
电
电
成
路
路
路
电
路
族规范、空白详细规范
现行有效标准
标准号
IEC 60748-1 ：1997 IEC 60748-2 ：1997 IEC 60748-2-1:1991
国内外集成电路标准体系
摘要
▪ 标准体系概念 ▪ 1、国际标准体系 ▪ 2、我国标准体系
标准体系
❖ 是对特定标准化对象按一定目标进行标准化活动的依据，是 由许多现行的、正在制定的和将要制定的标准组合成的具有 明确目的性、完整性、预见性及可行性、成文的概念系统
❖ 标准化活动基本是围绕它，筹划、论证、制定、贯彻、检查 和修订
法 集成电路 电磁发射测量 150kHz~1GHz 第4-1部分：传导发射测量—1Ω/150Ω直接耦
合法的应用指南 集成电路 电磁发射测量 150kHz~1GHz 第5部分：传导发射测量—工作台法拉第笼法
集成电路 电磁发射测量 150kHz~1GHz 第6部分：传导发射测量—磁场探头法 集成电路 电磁发射测量 第8部分：辐射发射测量—IC带状线法
❖ 结构合理、层次清楚、互相协调、水平先进、适应需求的标 准体系，以确保标准的时效性、配套性和权威性。
IEC SC 47A
❖组织名称：集成电路标准化（ Standardization for integrated
circuit）
❖ 工作包括： 制定半导体和混合集成电路国际标准 主要包括产品质量评定体系的相关标准、总 规范、分规范、族规范、空白详细规范等
IEC 60748-11-1:1992 第1篇：内部目检
IEC 60748-20:1988 第20部分：膜和混合集成电路总规范
IEC 60748-20-1:1994 第1篇：内部目检
IEC 60748-21:1997 基于鉴定批准的膜和混合集成电路分规范
IEC 60748-21-1:1997 空白详细规范
现行有效标准
标准号
IEC 60748-2-4:1992
IEC 60748-2-5:1992 IEC 60748-2-6:1991 IEC 60748-2-7:1992 IEC 60748-2-8:1993 IEC 60748-2-9:1994
标准名称
第4篇：CMOS数字集成电路 4000B和4000UB族详细 规范 第5篇：CMOS数字集成电路 4000B和4000UB空白详 细规范 第6篇：微处理器空白详细规范 第7篇：熔丝型可编程只读存储器空白详细规范 第8篇：静态读写存储器空白详细规范 第9篇：紫外光可擦除电可编程只读存储器空白详 细规范
IEC 60748-2-2:1992
IEC 60748-2-3:1992
标准名称
半导体器件 集成电路 第1部分：总则 第2部分：数字集成电路 第2部分：数字集成电路 第1篇：双极数字门电路 （不包括未授权的门阵列）空白详细规范 第2篇：HCMOS数字集成电路 54/74HC，54/74HCT， 54/74HCU，族规范 第3篇：HCMOS数字集成电路 54/74HC，54/74HCT， 54/74HCU，空白详细规范
IEC 60748-4-2:1993 第2篇：ADC转换器空白详细规范
IEC 60748-4-3:2006 第3篇：ADC转换器动态参数标准
IEC 60748-5:1997 第5部分：半定制集成电路
现行有效标准
标准号
IEC 60748-11:1990
标准名称
第11部分：半导体集成电路分规范，不包括混合 集成电路
IEC 60748-23-4:2002 空白详细规范
IEC 60748-23-5:2003 鉴定批准程序
IEC 61943:1999
集成电路 制造线批准 应用指南
IEC/TS 61944:2000 集成电路 制造线批准 验证试样
IEC/TS 61945:2000 集成电路 制造线批准 工艺和失效分析方法
IEC 60748-22:1997 基于能力批准的膜和混合集成电路分规范
IEC 60748-22-1:1997 空白详细规范
现行有效标准
标准号
标准名称
IEC 60748-23-1:2002 混合集成电路 生产线认证 总规范
IEC 60748-23-2:2002 内部目检和特定试验
IEC 60748-23-3:2002 制造商自我评定表和报告
现行有效标准
标准号
标准名称
IEC 60748-2-10:1994 第10篇：动态读写存储器空白详细规范
IEC 60748-3:1986 第3部分：模拟集成电路
IEC 60748-3-1:1991 第1篇：单片集成电路运算放大器空白详细规范
IEC 60748-4:1997 第4部分：接口集成电路
IEC 60748-4-1:1993 第1篇：DAC转换器空白详细规范
IEC/TR 62433-2-1(2010)
集成电路 电磁发射测量 150kHz-1GHz 第1部分：通用条件和定义 集成电路 电磁兼容测试方法 第1-1部分：通用条件和定义 近场扫描数据交换格式 集成电路 电磁发射测量 150kHz~1GHz 第2部分：辐射发射测量—TEM小室和宽带
TEM小室法 集成电路 电磁发射测量 150kHz~1GHz 第3部分：辐射发射测量—表面扫描法 集成电路 电磁发射测量 150kHz~1GHz 第4部分：传导发射测量—1Ω/150Ω直接耦合