SPC和MSA考试试题答案.doc
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SPC和 MSA 培试考试试题
部门:姓名:成绩
一、判断题(每题 1 分,共10 分)
1、在任何工作过程中都有可能应用统计技术。(√)
2、全数检验可以清除批中的全部不合格产品。()
3、稳定性是偏移随时间的变化,也就是漂移;(√)
4、测量系统分析的样品必须是选自于过程并且代表整个的生产的范围;()
5、 ANOVA 分析中的方差被分解成零件、评价人、量具,以及评价人与量具的交互作用所造成的重复误差
四部份;()
6、测量系统分析要求必须要用到图解法;()
7、研究重复性再现性时每人必须至少测量三次。
8、做测量系统分析的零件应产生于稳定的生产过程。
9、必须对每个生产过程进行SPC的控制。(√
10、测量系统分析就是对检具自身的分析。(( )
(√
)
)
)
二、选择题 (20 X 2 分,共 40 分 )
1、重复性是由(A)个以上评价人,采用同一种测量仪器,多次测量同一零件的同一特性时获得的测量变差。
A 、 1
B 、 2 C、 3 D、 4
2、位置误差通常是通过分析( A )和线形来确定。
A、偏倚
B、精密度
C、重复性
D、再现性
3、以下哪种分析方法不是用于基本计量型的测量系统。(C)
A极差法B均值和极差法C假设检验分析 D ANOVA
4、测量仪器分辨力的第一准则应该至少是:(B)
A 公差的 1/5 B公差的1/10C过程变差的1/5 D过程变差的1/10
5、(A)是指重复性随时间的变化程度;
A 、稳定性B、一致性C、均一性D、线性
6、测量系统的稳定性分析不能通过( D )控制图来实现的。
A、平均值极差
B、 P
C、单值移动极差图
D、 U
7、 a 随机误差就是由于普通原因造成的误差; b 系统误差是由于特殊原因造成的误差; a 和b 中D。
A、只有 a 正确
B、只有 b 正确
C、 a\ b 均正确
D、 a\b 均不正确
8、测量系统的重复性和再现性相对于公差的百分比可以接受的标准是A。
A、必须小于10%;
B、必须小于5%;
C、可以大于30%;
D、必须小于30%
9、()是指重复性随测量的预期量程的变化程度;( C )
A 、稳定性B、一致性C、均一性D、线性
10、( B )若一个过程属于正态分布,则落在 3 σ之外的概率为():
A. %
B. %
C. % %
11、( A)以下哪几种说明测量系统分辨力不足()
A、极差图上1/ 3 的极差为零;
B、数据分级数为 6
C 、量具精度为公差的百分之一;
D 、以上都不对
12、( B )某工厂在计算一产品的控制上下限时,共抽取了25 组数据,每组为 5 个,现计算得出
X 的平均值为,极差平均值为,则UCL 和LCL为
A 、B、C、D、
13、( A )用大样法分析测量系统时,人数至少为
A、3
B、1
C、 2 D 、以上都对
14、对于重要的生产过程,提交PPAP的生产件必须来源于 1 到8 小时生产的至少( D )件
的零件。
A、30
B、50
C、100
D、300
15、( C )若顾客无明确规定,公司应按( )级提交准备相关资料。
A、1 级
B、2 级
C、3 级
D、4 级
PV%为 % 、 R&R% 为 %,则ndc 为
16、(C)某公司在分析GRR时,得
出
A 、
B 、
C 、D、
17、(A )在进行稳定性的测量系统分析时,样品的数量为
A、 1
B、 5
C、10
D、50
18、( A)下列说法正确的是
A、不良数管制图样本大小(n )必须相等;
B、不良数管制图样本数量通常小于10 个;
C、 PPK用于稳定的过程
D、在 FMEA 中,建议的措施其意图在于先降低严重度,其次是探测度,再次是频度。
19、( A)CPK值为
()表示制程能力非常充足 :
A. >;
B. >CPK>;
C. >CPK> D 、> CPK
20、( C)通常情况下, X-R图所要求的组内样品数为() :
A、 10 B、 N=1 C、 2 D、没有要求 三、、填空题( 2x10=20 分) 1.对于 PSW(零件提交保证书)上产品重量的要求单位为KG,一般要求精确到小数点后 4 。2. PPAP提交人等级共 5 级。 3.测量系统的重复性和再现性小于10% 是可接受的;10-30% 是条件接受; 大于等于 30%是不可接受的 4.数据分级数是说明测量系统的分辨能力的;一般我们认为分级数不小于 5 。 5. CPK表示稳定过程能力指数;PPK表示性能指数。 6. PSW(零件提交保证书)的保存期限为零件在用时间加一个日历年。 7.在 PFMEA 中,当 PPK 为时,则对应的频度为 3 。 8、偏移分析的对象是测量值与基准值之间的误差。