膜厚测试仪_易高456基本型
关于膜厚仪的技术指标介绍
关于膜厚仪的技术指标介绍什么是膜厚仪？膜厚仪是一种利用物理性能实现膜厚测量的仪器，广泛应用于材料科学、电子工业、化学工业等领域。
在材料科学中，膜厚仪主要用于薄膜的制备和表征。
而在电子工业中，膜厚仪则可用于绘制电子线路图的制作。
膜厚仪的技术指标测量精度膜厚仪的测量精度是其最关键的技术指标之一，通常可达到0.1nm级别，甚至可以到达0.01nm级别，这意味着它可以对材料的膜厚进行高精度的测量。
膜厚的精度和粗糙度是膜厚仪测量结果的两个主要限制因素。
通常，越小的膜厚厚度，膜的精度就越高，对于较大厚度的膜材料，测试误差也随之增加。
测量范围顾名思义，测量范围是指膜厚仪可以测量的膜厚范围。
一般来说，膜厚仪的测量范围可以从几十个纳米到几百微米。
但是，在实际应用中，很多应用场景需要测量超薄或超厚的薄膜，此时就需要使用特定的型号膜厚仪或者与其他设备进行配合使用，以实现更广泛的测量范围。
分辨率分辨率是膜厚仪描述其检测性能的指标之一，它指的是膜厚仪可以分辨的最小相对厚度变化，其值决定了膜厚仪能够测量的最小膜厚变化量。
一般来说，膜厚仪的分辨率可以达到0.001nm甚至更小，这保证了膜厚仪对材料薄膜厚度变化的灵敏性以及测量精确性。
几何效应校正膜厚仪在进行薄膜厚度测量的时候往往会受到几何效应的影响。
因此，几何效应校正是膜厚仪的重要技术指标之一。
准确的几何效应校正能够克服膜厚仪在测量过程中存在的各种误差，保证测量结果的准确性和可靠性。
为了消除几何效应的干扰，膜厚仪通常采用自动或半自动补偿校正的技术手段，以消除几何效应对测量结果的影响。
自动化程序操作自动化程序操作是膜厚仪的一个重要技术特征，也是提高薄膜测量效率的关键因素之一。
自动化程序操作能够极大程度地简化膜厚仪的操作流程，节约了操作人员的时间和精力，同时也能够提高测量结果的准确性和可靠性。
目前，很多膜厚仪都配备了数码液晶显示器以及直观的菜单操作系统，使操作更加方便快捷。
总结以上是膜厚仪的几个技术指标介绍，这些指标可以帮助用户选择适合自己需要的膜厚仪设备。
Elcometer_456_说明书
易高456基本型涂层测厚仪目录原文页号译文页号1 介绍 1 22 开机3 23 菜单结构7 44 一般操作说明12 65 校准16 96 数据输出21 17 服务22 128 查错23 129 技术数据24 1210 可选附件31 1411 词汇表33 14注意：此仪器采用液晶显示，如果它的温度超过50摄氏度（华式120度），它可能被损坏。
它被放在强烈阳光照射下的汽车内时这种情况可能发生。
1．介绍：Elcometer-456 型涂层测厚仪测试范围广，有铁，非铁，及铁非铁混合型探头供选用。
F（铁）探头用于测量在钢或铁上的无磁性涂层。
它可以用在涂漆，塑料，电镀，磁釉，硬铬，粉末涂料敷层和其他的如无镍电镀层厚度测量。
N（非铁）探头用于测量非磁性金属上的无磁性敷层。
它可以测量铝、铜、非磁性不锈钢等上面的阳极氧化，涂漆，塑料，粉末等涂层。
FNF（铁非铁）探头为上述F和N型两种探头功能的混合。
Elcometer-456测厚仪有整体集成式探头和分离式探头。
所有分离式探头可互换。
整体集成式探头可从分离式探头型测厚仪的探头插孔（PINIP）处插入主机。
FNF探头在镀锌钢或外包金属（包铝、铜）钢上的测量：FNF探头用于测量镀锌钢或外包金属（包铝、铜）的钢上的涂层测量时，仪器应设定在手动模式。
然后应注意调零及校准。
注意：校准不应受到镀锌或铝的影响。
1．1特点：易高456基本型有图形显示，多种校准选择，背景光及红外数据输出接口。
标准型及高级型有记忆功能。
1．2套件包括：456主机456探头(请见探头附件表〕标准膜片皮盒电池操作说明2．开机2.1电池安装：用拇指打开电池盖，按照极性标记放进两节电池到电池槽内。
电池就安装好了。
2.2皮盒带安装：参见图示。
2.3探头连接：对准接头的红点，将插头直接插入插座，会被自动锁紧。
注意：在探头的插头和仪器插孔之间允许有一些移动，不会对测量结果有影响。
要拔出这个插头，抓住隆边环部位轻轻将探头拔出，注意：为确保数据的准确传送，并使仪器检测到新探头，在连接探头的时候，仪器必须处于关闭状态。
易高456C系列涂层测厚仪设备工艺原理
易高456C系列涂层测厚仪设备工艺原理易高456C系列涂层测厚仪是一款专门用于测量涂层膜厚度的仪器设备。
该系列仪器的工艺原理是基于X射线荧光光谱分析技术，能够快速、准确地测量涂层的厚度。
X射线荧光光谱分析技术X射线荧光光谱分析技术是利用X射线激发样品，使样品中的原子能级上电子被激发跃迁至较高的能级，产生荧光辐射的方法。
通过测量荧光辐射的能量和荧光强度，可以确定样品中各元素的含量和分子结构。
易高456C系列涂层测厚仪采用的是便携式X射线荧光光谱分析仪，该仪器是由激发源、样品台、荧光探测器和信号处理系统等部分组成。
激发源一般采用X射线管，能够产生高能的X射线；样品台用于放置待测样品；荧光探测器用于接收样品中产生的荧光辐射；信号处理系统用于处理荧光辐射的能量和强度信号。
涂层测厚原理易高456C系列涂层测厚仪是通过测量不同能量范围内的荧光辐射强度，针对不同的元素能量辐射峰进行分析，最终精准地测量出涂层的厚度。
涂层在激发源的照射下会产生荧光辐射，该荧光辐射所包含的能量与样品中的元素种类和数量有关。
易高456C系列涂层测厚仪通过对荧光辐射强度进行检测和分析，能够判断出不同元素的存在和相对含量，从而确定涂层的厚度。
涂层测厚时，首先需要对待测样品进行校准。
校准涂层厚度时，需要在已知厚度的标准样品上进行校准，记录荧光辐射强度和标准厚度的对应关系。
然后，在待测样品上进行测量时，可以计算出荧光辐射强度与标准样品的对应关系，从而推算出待测样品上涂层的厚度。
易高456C系列涂层测厚仪的特点易高456C系列涂层测厚仪具有以下几个特点：1.高精度：该系列仪器采用高精度荧光探测器和信号处理系统，能够实现0.1um级别的精确测量。
2.非破坏性：易高456C系列涂层测厚仪的测量原理基于X射线荧光光谱分析技术，不会对样品造成任何破坏。
3.高效便捷：该系列仪器体积小、重量轻、操作简单，能够在实验室或现场进行快速测量。
4.多种测量模式：易高456C系列涂层测厚仪可以选择不同的测量模式，包括单层测量、多层测量等模式，满足不同需求的实际应用。
易高456涂层测厚仪
校准
蓝牙密码
01234
仪器信息 探头信息 联系方式 专利
关于
新建数据组 打开 数据组1 重新命名数据组 1 数据组校准 数据组类型 数据组限值 固定数据组容量
回顾数据组
数据组 1
统计
数据组信息
校准信息
读数
○
图表
○
被删除的读数
删除带标签
○
校准锁定 启用PIN码
数据组校准
校准
校准方法
使用 校准记忆 1
○
zh
zh
R
12 菜单结构—易高Elcometer456标准型仪器
单位 语言 时间和日期
设定
单位
µm
○
mm
3
8 腕带连接
4
目录 §易高456涂层测厚仪
§校准膜片（整体式仪器）
§检验证书
5
§腕带
§保护套（基本型、标准型及高级型）
§手提箱（高级型）
§1个屏幕保护器（标准型和高级型）
§2节干电池 §USB线及ElcoMaster™ 2.0软件（标准型和高级型）
§用户使用指南
2
zh
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2 仪器使用
zh
m
a
b
v
n
8
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R
9 分批记录数据
1 使用数据组记忆功能，按下“分批记录”键 2 选择创建新的数据组或打开已有数据组进行读数 3 复制、重新命名、回顾数据组中的数据及清除数据组中的读数、删除整个数据组 4 数据组数据容量可由用户预先设定，当数据组中的数量达到了预定值后，仪器后自动建立一个新的数
c
s
s
d
o
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膜厚仪作业指导书
膜厚仪作业指导书1. 简介膜厚仪是一种用于测量材料表面膜层厚度的仪器。
本作业指导书旨在提供膜厚仪的正确使用方法，以确保准确测量和数据记录。
2. 仪器准备2.1 确保膜厚仪处于稳定的工作环境中，远离振动和干扰源。
2.2 检查仪器的电源和连接线是否正常，确保仪器处于正常工作状态。
2.3 检查测量探头的清洁程度，如有污垢应及时清洁，以免影响测量结果。
3. 校准3.1 打开膜厚仪的电源，并等待仪器的初始化完成。
3.2 使用已知厚度的标准样品进行校准。
将标准样品放置在测量台上，并按照仪器说明书的指引进行校准操作。
3.3 校准完成后，检查校准结果是否符合要求，如有误差应重新进行校准。
4. 测量操作4.1 将待测样品放置在测量台上，并确保样品与测量台接触良好。
4.2 打开膜厚仪的测量程序，并根据需要选择合适的测量参数，如测量范围和测量速度等。
4.3 将探头轻轻贴近样品表面，确保与样品接触良好，并启动测量程序。
4.4 等待测量结果稳定后，记录测量数值，并进行必要的数据处理。
5. 数据记录与分析5.1 将测量结果记录在指定的数据表格或文件中，包括样品编号、测量日期、测量参数和测量数值等。
5.2 对测量结果进行必要的数据分析，如计算平均值、标准偏差等统计量，并根据需要绘制相应的图表。
6. 仪器维护6.1 每次使用结束后，及时清洁仪器和探头，避免污垢积累影响测量精度。
6.2 定期检查仪器的电源和连接线，确保其正常工作。
6.3 根据仪器说明书的要求，进行定期的校准和维护操作，以保证仪器的准确性和稳定性。
7. 安全注意事项7.1 在使用膜厚仪时，应注意避免直接接触探头和样品，以免造成伤害。
7.2 使用过程中应注意避免碰撞和摔落，以免损坏仪器。
7.3 在清洁仪器时，应使用柔软的清洁布或棉签，避免使用有腐蚀性的溶剂。
7.4 如发现仪器存在异常情况或故障，应及时停止使用并联系维修人员进行检修。
以上为膜厚仪的作业指导书，通过正确的操作和维护，可以确保膜厚仪的准确测量和可靠性。
膜厚仪作业指导书
膜厚仪作业指导书一、引言膜厚仪是一种用于测量薄膜或者涂层厚度的仪器，广泛应用于材料科学、电子工程、化学工业等领域。
本作业指导书旨在提供详细的操作指南，以确保用户正确、安全地使用膜厚仪进行测量。
二、设备准备1. 确保膜厚仪处于稳定的工作环境，远离振动和强磁场等干扰源。
2. 检查膜厚仪的电源线是否正常连接，电源是否稳定。
3. 确保膜厚仪所需的标准样品和测试样品已准备齐全。
三、操作步骤1. 打开膜厚仪电源，待其自检完成后进入工作状态。
2. 选择合适的测试模式和参数设置，如测量范围、测量时间等。
根据具体需要，可以选择单点测量或者连续测量模式。
3. 将标准样品放置在膜厚仪的测量台上，并调整其位置，确保与探测器的光束对齐。
4. 按下“测量”按钮，膜厚仪将开始测量并显示结果。
记录测量值，并与标准样品的厚度进行比较，以验证膜厚仪的准确性。
5. 将待测样品放置在测量台上，按下“测量”按钮，膜厚仪将对待测样品进行测量，并显示结果。
记录测量值，并与标准要求进行比较，以评估样品的质量。
6. 如需连续测量多个样品，重复步骤4和步骤5，直至所有样品测量完成。
7. 关闭膜厚仪电源，清理测量台和探测器，确保设备处于良好的工作状态。
四、注意事项1. 在操作膜厚仪之前，请子细阅读并理解操作手册，确保熟悉设备的使用方法和安全注意事项。
2. 在操作过程中，应佩戴适当的个人防护装备，如手套和护目镜，以防止意外伤害。
3. 避免将膜厚仪暴露在潮湿、高温或者恶劣的环境中，以免影响其性能和寿命。
4. 定期对膜厚仪进行校准和维护，以确保其测量结果的准确性和可靠性。
5. 如发现膜厚仪存在故障或者异常情况，请即将住手使用，并联系专业技术人员进行维修。
五、常见问题解答1. 为什么膜厚仪的测量结果与标准样品的厚度不一致？可能是由于膜厚仪的校准不许确或者标准样品的厚度有误差。
请重新校准膜厚仪，并使用准确的标准样品进行比对。
2. 如何选择合适的测量模式和参数设置？根据待测样品的特性和要求，选择适当的测量模式和参数设置。
膜厚仪作业指导书
膜厚仪作业指导书引言概述：膜厚仪是一种常用于测量薄膜厚度的仪器，广泛应用于材料科学、化学工程、电子工程等领域。
本文将详细介绍膜厚仪的操作方法和注意事项，以帮助用户正确使用膜厚仪进行测量。
一、准备工作1.1 仪器准备在使用膜厚仪之前，首先需要确保仪器处于正常工作状态。
检查仪器的电源线是否连接稳固，仪器表面是否有损坏。
同时，还需要确认仪器内部的测量探头是否清洁，以保证测量结果的准确性。
1.2 校准膜厚仪的准确性需要通过校准来保证。
在进行测量之前，应先进行校准操作。
校准过程中，需要使用标准样品进行比对，根据标准样品的厚度值来调整仪器的测量参数，确保测量结果的准确性和可靠性。
1.3 样品准备在进行测量之前，需要准备好待测样品。
样品应具备一定的平整度，表面应清洁无杂质，以免影响测量结果。
对于柔性样品，需要将其固定在测量台上，确保测量过程中的稳定性。
二、操作方法2.1 打开仪器将膜厚仪接通电源，并按照仪器说明书的要求打开仪器。
在仪器开机后，需要等待一段时间，使其进入工作状态。
2.2 设置测量参数根据待测样品的特性，设置合适的测量参数。
一般来说，需要设置测量模式（如单点测量、扫描测量）、测量范围、测量速度等参数。
这些参数的选择应根据实际需求和样品特性来确定。
2.3 进行测量将待测样品放置在测量台上，并调整仪器的焦距，使其与样品表面保持一定的距离。
按下测量按钮，仪器将开始进行测量。
在测量过程中，需要保持样品的稳定，并确保测量探头与样品表面的接触良好。
三、注意事项3.1 避免干扰源在进行测量时，应尽量避免外部干扰源的影响。
例如，避免在有强磁场或强电场的环境中进行测量，以免影响测量结果的准确性。
3.2 防止污染膜厚仪的测量探头非常敏感，容易受到污染物的影响。
在使用过程中，应注意避免手指直接接触探头，以免留下指纹或其他污染物。
3.3 定期维护为了保证膜厚仪的正常工作和准确测量，应定期对仪器进行维护。
包括清洁测量探头、检查电源线和连接线的连接状态、更新仪器软件等。
膜厚仪作业指导书
膜厚仪作业指导书一、引言膜厚仪是一种用于测量材料表面薄膜厚度的仪器。
它广泛应用于材料科学、纳米技术、涂层工艺等领域。
本作业指导书旨在提供膜厚仪的操作指南，帮助操作人员正确、准确地使用膜厚仪进行测量。
二、膜厚仪的基本原理膜厚仪通过测量入射光线经过材料表面后的反射光线，根据光的干涉原理来计算薄膜的厚度。
膜厚仪通常由光源、探测器、光学系统和计算机控制系统组成。
三、膜厚仪的准备工作1. 确保膜厚仪处于稳定的工作环境中，避免强烈的光线、振动和温度变化。
2. 检查膜厚仪的电源是否正常连接，确保电源稳定。
3. 清洁膜厚仪的探测器和光学系统，避免灰尘和污垢对测量结果的影响。
4. 校准膜厚仪，确保其准确性和稳定性。
四、膜厚仪的操作步骤1. 打开膜厚仪的电源开关，等待仪器启动。
2. 设置测量参数，包括入射角度、波长范围等。
根据需要选择合适的参数。
3. 将待测样品放置在膜厚仪的测量台上，确保样品表面光洁平整。
4. 调整膜厚仪的焦距和焦平面，使得光线能够准确地照射到样品表面。
5. 点击开始测量按钮，膜厚仪开始进行测量。
根据仪器显示的实时数据，可以观察到薄膜厚度的变化。
6. 等待测量完成后，保存测量数据，并进行必要的数据处理和分析。
五、膜厚仪的注意事项1. 在操作膜厚仪之前，应仔细阅读并理解膜厚仪的操作手册，熟悉仪器的使用方法和注意事项。
2. 在进行测量之前，应先进行样品的预处理，确保样品表面干净、光滑。
3. 在测量过程中，应注意避免外界干扰，如强光、震动等，以确保测量结果的准确性。
4. 定期对膜厚仪进行校准，以保证测量结果的准确性和稳定性。
5. 注意膜厚仪的维护保养，定期清洁仪器的探测器和光学系统，确保其正常工作。
六、膜厚仪的应用案例1. 纳米材料研究：膜厚仪可用于测量纳米材料的薄膜厚度，帮助研究人员了解纳米材料的生长和性质。
2. 涂层工艺控制：膜厚仪可用于测量涂层的厚度，帮助生产工艺控制和质量检测。
3. 光学薄膜设计：膜厚仪可用于测量光学薄膜的厚度，帮助光学薄膜的设计和优化。
Elcometer456涂层测厚仪和EPK湿膜测厚仪最大量程
产品名称：Elcometer 456 涂层测厚仪∙产地：英国销售：沧州欧谱∙易高Elcometer456仪器分为4个类型：E型、B（基本型）、S（标准型）、T（高级型），从最初的易高456E型到现在的456T型，仪器功能不断增加，易高456T型带有记忆、字母数字组合记录数据批次和蓝牙传输功能。
∙一、仪器特点新版易高Elcometer 456测量涂层厚度更快、更可靠、更准确。
易高Elcometer456仪器分为4个类型：E型、B（基本型）、S（标准型）、T（高级型），从最初的易高456E型到现在的456T型，仪器功能不断增加，易高456T型带有记忆、字母数字组合记录数据批次和蓝牙传输功能。
整体式仪器适合单手操作，因为在测量中，“大脚探头”的大接触面具有更好的稳定性，使用户得到持续且重复性强的精确结果。
分体式提供多种探头，测量机动性更强。
所有探头可互相更换，铁基仪器可接受任何铁基探头，非铁基仪器可接受任何非铁基探头，两用仪器可接受所有铁基探头、非铁基探头及两用探头。
简便易用·大按键，即使戴上手套也可方便操作·多语言菜单设置·高对比度彩色LCD, 并带有自动旋转功能·高、低限值指示标志·工厂已校准，拆包即用读数准确·测量精确度±1%·符合多项国家及国际标准·热稳测量·薄涂层上读数的分辨率提高·在平滑、粗糙、稀薄表面及曲面上都可准确测量测量可靠·重复性和再现性强· 2 年主机保修期·提供全套可追溯检验证书·数据组合备日期和时间标记功能功能强大·多种探头可互换使用· USB 和蓝牙Bluetooth数据输出·可分999组存储75000个数据·能在金属基体上测量厚度达30mm（1200mils）的涂层高效·快速读数，每分钟超过70个·多种校准记忆·字母数字组合命名数据组·用户可选校准方法坚固·密封、耐用、抗冲击性强·防尘防水，防护等级相当于IP64 ·显示器抗划性及防溶剂性强·仪器及探头结构持久耐用·和所有易高Elcometer软件（包括ElcoMaster 2.0软件）兼·适合在恶劣环境下使用容高温探头：可用在温度高达250℃的涂层上软涂层探头：大块面积表面探头，用于检测软性覆盖材料(经HVCA认证)项目测量范围精确度分辨率型式量程10-500μm±1-3% 或±2.5μm 0.1μm: 0-100μm;1μm: 100-500μm铁基、非铁基、两用型量程20-1500μm±1-3% 或±2.5μm 0.1μm: 0-100μm;1μm: 100-1500μm铁基、非铁基、两用型量程30-5mm±1-3% 或±20μm 1μm: 0-1mm;10μm: 1-5mm铁基、非铁基、两用型量程40-13mm±1-3% 或±50μm 1μm: 0-2mm;10μm: 2-13mm铁基、非铁基、两用型量程5F 0-25mmN 0-30mm±1-3% 或±100μm10μm: 0-2mm;100μm: 2-30mm铁基、非铁基、两用型量程60-31mm±1-3% 或±100μm 10μm: 0-2mm;100μm: 2-31mm铁基产品名称：EPK湿膜测厚仪∙产地：德国销售：沧州欧谱∙简介：湿膜测厚仪用于对新涂的湿涂层进行快速简易的厚度测量。
ELcometer456系列涂层测厚仪使用说明书文档
一、说明456涂镀层测厚仪可选择铁的、非铁的和双探头的。
铁探头是测量钢或铁表面非磁性涂层的厚度，它能在涂料、塑料、电镀、瓷漆、粉末、硬质铬合金和其它例如无电镀的镍的其它涂层上使用，非铁探头测量在非磁性金属上。
它们能在阳极电镀处理、涂料、涂层、粉末等铝、铜非瓷性的不锈钢上使用。
铁和非铁探头具有自动选择的功能。
这个测厚仪既有内置探头又有可分离的探头。
所有分离探头都可互换并且有一个PINIP键可选择，这样一个内置探头就可被插入分离探头的测厚仪上使用。
在电镀或金属（铝或锌）钢涂层上使用铁、非铁探头。
铁和非铁探头是安装在N模式，可用来测量在电镀、铝或锌喷在钢基体上的涂料、涂层。
在选择N模式前仪器必须社置成手动模式。
这个装置必须要校零并且在钢涂层样品上校准。
不要更换锌或铝的校零标准。
这将决定在电镀或金属钢涂层上已检查过的零位，在钢上的金属涂层栽50um以上应该是相一致的，并可能作为一个稳定的零位在金属层上。
1特征Elcometer456基本版本有一个图行显示、多种刻度选择，背光和红外线参数输出。
读数存储有标准和高级两种版本。
二、开始1．安装电池用拇指指甲在凹槽处向外打开电池门。
注意电池的极性。
可使用充电电池，但它们仅有碱性电池寿命的25-30%。
2．安装分离探头对准接头的键槽向上推。
这个接头会自动锁住。
注意：探头接头的设计准许在探头和仪器中进行一些移动。
这种故意的移动不会影响测量。
为了放下探头，抓住有凸边的部分，并从仪器处向外拉。
接头不是锁住的，释放探头。
装配PINIP:扭PINIP直到接头拧紧，并按顺时针方向旋转锁环11/2次锁紧。
注意：为了确保从探头处得到正确的传输数据并检测新的探头，安装分离探头时仪器必须关闭。
3．开关所有版本的EIcometer456可按功能键来开关。
内置探头的仪器可按表面的内置探头来开关。
4．软键软键的操作依靠上述例子的屏幕显示。
一些屏幕准许特点转换的壮态，例如开至关或选择或取消选择等等。
Elcometer-456 基本型涂层测厚仪操作手册说明书
易高456基本型涂层测厚仪目录原文页号译文页号1介绍122开机323菜单结构744一般操作说明1265校准1696数据输出2117服务22128查错23129技术数据241210可选附件311411词汇表3314注意：此仪器采用液晶显示，如果它的温度超过50摄氏度（华式120度），它可能被损坏。
它被放在强烈阳光照射下的汽车内时这种情况可能发生。
北京时代山峰科技有限公司北京市海淀区清河小营西路27号1202室(100085)1．介绍：Elcometer-456型涂层测厚仪测试范围广，有铁，非铁，及铁非铁混合型探头供选用。
F（铁）探头用于测量在钢或铁上的无磁性涂层。
它可以用在涂漆，塑料，电镀，磁釉，硬铬，粉末涂料敷层和其他的如无镍电镀层厚度测量。
N（非铁）探头用于测量非磁性金属上的无磁性敷层。
它可以测量铝、铜、非磁性不锈钢等上面的阳极氧化，涂漆，塑料，粉末等涂层。
FNF（铁非铁）探头为上述F和N型两种探头功能的混合。
Elcometer-456测厚仪有整体集成式探头和分离式探头。
所有分离式探头可互换。
整体集成式探头可从分离式探头型测厚仪的探头插孔（PINIP）处插入主机。
FNF探头在镀锌钢或外包金属（包铝、铜）钢上的测量：FNF探头用于测量镀锌钢或外包金属（包铝、铜）的钢上的涂层测量时，仪器应设定在手动模式。
然后应注意调零及校准。
注意：校准不应受到镀锌或铝的影响。
1．1特点：易高456基本型有图形显示，多种校准选择，背景光及红外数据输出接口。
标准型及高级型有记忆功能。
1．2套件包括：456主机456探头(请见探头附件表〕标准膜片皮盒电池操作说明2．开机2.1电池安装：用拇指打开电池盖，按照极性标记放进两节电池到电池槽内。
电池就安装好了。
2.2皮盒带安装：参见图示。
2.3探头连接：对准接头的红点，将插头直接插入插座，会被自动锁紧。
注意：在探头的插头和仪器插孔之间允许有一些移动，不会对测量结果有影响。
要拔出这个插头，抓住隆边环部位轻轻将探头拔出，注意：为确保数据的准确传送，并使仪器检测到新探头，在连接探头的时候，仪器必须处于关闭状态。
易高456膜厚仪简单校准步骤
456测厚仪校准步骤：
先开机，待显示稳定后，画面停留于正常测量状态，此时开始校准。
1. 按屏幕下方对应的四个键中的左边第一个键，进入校准界面；
2. 按照显示提示，将标准膜片置于零板之上，用探头测量，测量后会
得到一个读数，比较所得读数与标准片的数值，按第二个（向上）或第三个（向下）按键，将所测读数调整到与标准膜片数值一致，然后按第四个（设定）按键；
3. 按照显示提示，拿开标准膜片，用探头直接在零板上测量，得到一
个读数后，按第三个键（对应“零”），然后按第四个（设定）按键；
4. 按照显示提示，“测量读数”，按第四个（是）按键，将校准膜片重
新放在零板上面，再次测量后得到一个读数，该读数应与标准膜片的数值相近，若相近，则证明校准成功，请按第四个键（对），进入正常测量界面，校准完成，即可开始正常测量；如果相差较大，请按第一个键（校准），重复以上2-4步骤。
备注：1.尽量选择待测面处理之前的面板作为校准零板，比如要测一块铁板上面所涂的油漆厚度，请拿一块相同的未涂油漆的铁
板作为校准零板，这样得到的读数才更接近真实数值。
2. 尽量选择平坦光滑的面作为校准零板。
3. 所选择的校准膜片的厚度尽量接近待测面的厚度，比如待测
面的厚度约40微米，则选择四块标准片中最薄的蓝色那片
（50微米左右）作为校准膜片。
膜厚仪
基本概述膜厚仪又叫膜厚测试仪、干膜测厚仪、镀膜测厚仪、膜厚仪价格、干漆膜测厚仪、干油漆漆膜测厚仪、漆膜测厚仪价格、油漆漆膜涂层测厚仪、漆膜厚度测厚仪、漆膜厚度检测仪、干漆膜测厚仪价格、漆膜涂层测厚仪、油漆漆膜涂层测厚仪、玻璃鳞片防腐层测厚仪、玻璃鳞片涂层测厚仪、玻璃片涂层测厚仪、涂层厚度测试仪、涂层测厚仪价格、涂层测厚仪厂家、磷化膜检测仪、磷化膜测试仪、磁阻法磷化膜测厚仪、磁阻法镀层测厚仪、磁性磷化膜测厚仪、磁阻法测厚仪、磁式测厚仪、磁感应测厚仪、磁性覆层测厚仪、磁性镀层测厚仪、磁性涂层测厚仪价格、油漆镀层测厚仪、油漆覆层测厚仪、油漆涂层测厚仪厂家、油漆涂层测厚仪价格、油漆涂层测试仪、油漆涂层检测仪、电泳镀层测厚仪、电泳漆覆层测厚仪、电泳漆漆膜测厚仪、电泳漆厚度测试仪、涂镀层测量仪、电镀层测试仪、防腐层检测仪、涂镀层测试仪、涂镀层测量仪、油漆测厚仪价格、油漆层测厚仪、油漆膜厚仪、钢结构油漆层测厚仪、钢板油漆测厚仪、钢管油漆测厚仪、油漆防腐层测厚仪、油罐防腐层测厚仪可无损地测量磁性金属基体（如钢、铁、合金和硬磁性钢等）上非磁性涂层的厚度（如铝、铬、铜、珐琅、橡胶、油漆等）及非磁性金属基体（如铜、铝、锌、锡等）上非导电覆层的厚度（如：珐琅、橡胶、油漆、塑料等）。
涂镀层测厚仪具有测量误差小、可靠性高、稳定性好、操作简便等特点，是控制和保证产品质量必不可少的检测仪器，广泛地应用在制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。
附表一：功能OU3500F OU3500N OU3500FN 测量原理磁性涡流磁性/涡流测量范围标准配置探头（F1/N1)：0猇1250μm测量精度±（3%H+1）μm（零点校准）±（1%H+1）μm（二点校准）统计量平均值(MEAN)、最大值(MAX)、最小值(MIN)、测试次数(NO)、标准偏差(S.DEV)存贮和统计500个测量值零点校准√√√二点校准√√√删除功能√√√自动关机√√√蜂鸣声提示√√√错误提示√√√标准配置主机、F1探头、基体、校准片、说明书、包装箱主机、N1探头、基体、校准片、说明书、包装箱F1(N1)探头、基体、校准片、说明书、包装箱选配件F400、N400、F1/90、F10、CN02F400、N400、F1/90、F10、CN02F400、N400、F1/90、F10、CN02、打印机、通讯软件一、概述本仪器根据探头类型的不同，分别运用磁感应和涡流原理测量覆层厚度，并符合以下工业标准：JB/T 8393-1996 磁性和涡流式覆层厚度测量仪1.1 应用本仪器是便携式、快速、无损、精密地进行涂、镀层厚度的测量。
膜厚测试仪使用说明书
被测面积的直 径小于10mm
N400型探头 0猇400mm
N1型探头 0猇1250mm N400型探头 0猇400mm
探头选用参考表（2）
基体
覆盖层
如铁、钢等磁性金属
非磁性的有色金属覆盖层 (如:铬、锌、铝、铜、锡、银等)
覆盖层厚度不超过100mm
覆盖层厚度超过100mm
被测面积的直 径大于30mm
OU3500 膜厚测试仪使用说明书
基本概述
膜厚测试仪又叫便携式膜厚测试仪、高精度膜厚测试仪、膜厚测试仪价 格、膜厚测试仪厂家、膜厚测试检测仪、磷化膜测试仪、磁阻法膜厚测试仪、 磁阻法膜厚测试仪、磁性膜厚测试仪、磁阻法测厚仪、磁式测厚仪、磁感应测 厚仪、磁性覆层测厚仪、磁性膜厚测试仪、磁性涂层测厚仪价格、油漆镀层测 厚仪、油漆覆层测厚仪、油漆涂层测厚仪厂家、油漆涂层测厚仪价格、油漆涂 层测试仪、油漆涂层检测仪、电泳镀层测厚仪、电泳漆覆层测厚仪、电泳漆漆 膜测厚仪、电泳漆厚度测试仪、涂镀层测量仪、电镀层测试仪、防腐层检测 仪、涂镀层测试仪、涂镀层测量仪、油漆测厚仪价格、油漆层测厚仪、油漆膜 厚仪、钢结构油漆层测厚仪、钢板油漆测厚仪、钢管油漆测厚仪、油漆防腐层 测厚仪、油罐防腐层测厚仪可无损地测量磁性金属基体（如钢、铁、合金和硬 磁性钢等）上非磁性涂层的厚度（如铝、铬、铜、珐琅、橡胶、油漆等） 及 非磁性金属基体（如铜、铝、锌、锡等）上非导电覆层的厚度（如：珐琅、橡 胶、油漆、塑料等）。涂镀层测厚仪具有测量误差小、可靠性高、稳定性好、 操作简便等特点，是控制和保证产品质量必不可少的检测仪器，广泛地应用在 制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。
Байду номын сангаас
1.6.3.2 探头的技术参数 用户根据需要测量工件的特点选用下列不同探头与仪器。
易高456涂层测厚仪安全操作及保养规程
易高456涂层测厚仪安全操作及保养规程一、前言涂层测厚仪是一种用于测定金属和非金属表面上涂层厚度的仪器，涉及到非常细微的测量，所以在使用时应特别小心、注意安全。
易高456涂层测厚仪是一款常见的涂层测厚仪，本文将就易高456涂层测厚仪的安全操作和保养方法，做一简单介绍。
二、易高456涂层测厚仪安全操作规程1.仪器在使用前，应仔细查看仪器及相关部件的外观，防止出现影响测量的缺陷和故障。
2.在使用前，确定自己已经明确理解了具体的测量原理、操作方法、题头及相关规则，并防止出现不当的操作。
3.在测量时，应严格根据相关规则操作，不得随意改变仪器的参数和相关测量值，以免误操作产生不正确测量结果。
4.在测量时，应保持仪器及相关部件的清洁和整洁，防止细小的尘埃和颗粒进入仪器影响测量精度。
5.若使用绝缘手套操作过程中不能改变手套，操作时需特别谨慎，不能撕坏手套，避免电击伤害。
6.仪器使用过程中，应确保电源稳定可靠，并注意仪器内部的相关技术参数规定。
7.在操作过程中如遇风、震等影响精度的外界干扰，应立即停止操作打开电源开关，在彻底消除外界干扰后再进行测量。
8.使用过程中需要及时清洁相关部件，避免油漆、涂层等残留影响测量。
9.使用完毕后，需及时关机、关闭电源并进行相关操作说明和规定的保养方法。
三、易高456涂层测厚仪保养规程1.在使用过程中，应保持涂层测厚仪及相关部件的清洁和整洁，防止细小的尘埃和颗粒进入仪器影响测量精度。
2.涂层测厚仪的保养应进行定期检查，关注电池寿命、涂装表面清洁情况等经常遇到问题，确保其保养过程符合相关规定。
3.在仪器不使用时，应及时进行清洁工作，防止在存储过程中出现机器毁坏或失效等问题。
4.准备使用仪器时，应检查涂层测厚仪电池是否充足，若出现电量不足等问题，应进行及时充电或更换电池，确保其保养过程符合相关规定。
5.在仪器使用过程中，如遇机器故障，应及时向厂家反映，进行修理或更换，确保在最短时间内实现机器功能正常。
膜厚仪作业指导书
膜厚仪作业指导书一、设备检查1.1 电源连接确认膜厚仪已正确连接电源，无松动或短路现象。
1.2 仪器校准在使用膜厚仪之前，应确保仪器已经过专业校准，以确保测量结果的准确性。
1.3 探头清洁检查探头是否清洁，无异物或磨损。
如有需要，进行清洁或更换。
1.4 参数设置根据所测材料和工艺需求，正确设置膜厚仪的参数。
二、操作步骤2.1 操作准备确保操作区域安全，无影响测量的障碍物。
穿戴适当的防护装备，如防护眼镜、手套等。
2.2 样品放置将待测样品放置在稳定的工作台上，确保探头与样品表面平行且无直接接触。
2.3 测量操作按照设定的参数，进行膜厚测量。
操作过程中应保持稳定，避免突然的移动或震动。
2.4 数据记录测量完成后，及时记录相关数据，包括测量时间、样品编号、膜厚值等。
2.5 设备关闭完成测量后，关闭膜厚仪，断开电源，整理好设备。
三、注意事项3.1 避免剧烈震动或撞击膜厚仪，以免影响测量精度。
3.2 在测量过程中，避免探头与样品表面产生直接接触，以免划伤样品或探头。
3.3 在使用过程中，确保环境温度、湿度在设备允许范围内，以获得准确的测量结果。
3.4 定期对膜厚仪进行维护和保养，确保设备的正常运行。
3.5 对于不熟悉的材料或工艺，建议先进行小范围的测试，以确认测量结果的准确性。
四、异常处理4.1 如出现设备故障或测量异常，应立即停止操作，检查设备连接和参数设置是否正确。
4.2 如问题无法解决，应联系专业技术人员进行维修或校准。
4.3 对于异常的测量结果，应进行复测，以确定数据的有效性。
如有必要，可重新测试样品。
Elcometer456说明书
易高456基本型涂层测厚仪目录原文页号译文页号1 2 介绍 13 开机2 27 4 3 菜单结构12 4 一般操作说明616 校准 9 521 数据输出1 622 服务12 723 查错12 824 技术数据9 1231 可选附件10 1433 11词汇表14注意：此仪器采用液晶显示，如果它的温度超过50摄氏度（华式120度），它可能被损坏。
它被放在强烈阳光照射下的汽车内时这种情况可能发生。
1．介绍：Elcometer-456 型涂层测厚仪测试范围广，有铁，非铁，及铁非铁混合型探头供选用。
F（铁）探头用于测量在钢或铁上的无磁性涂层。
它可以用在涂漆，塑料，电镀，磁釉，硬铬，粉末涂料敷层和其他的如无镍电镀层厚度测量。
N（非铁）探头用于测量非磁性金属上的无磁性敷层。
它可以测量铝、铜、非磁性不锈钢等上面的阳极氧化，涂漆，塑料，粉末等涂层。
FNF（铁非铁）探头为上述F和N型两种探头功能的混合。
Elcometer-456测厚仪有整体集成式探头和分离式探头。
所有分离式探头可互换。
整体集成式探头可从分离式探头型测厚仪的探头插孔（PINIP）处插入主机。
FNF探头在镀锌钢或外包金属（包铝、铜）钢上的测量：FNF探头用于测量镀锌钢或外包金属（包铝、铜）的钢上的涂层测量时，仪器应设定在手动模式。
然后应注意调零及校准。
注意：校准不应受到镀锌或铝的影响。
1．1特点：易高456基本型有图形显示，多种校准选择，背景光及红外数据输出接口。
标准型及高级型有记忆功能。
1．2套件包括：456主机456探头(请见探头附件表〕标准膜片皮盒电池操作说明2．开机2.1电池安装：用拇指打开电池盖，按照极性标记放进两节电池到电池槽内。
电池就安装好了。
2.2皮盒带安装：参见图示。
2.3探头连接：对准接头的红点，将插头直接插入插座，会被自动锁紧。
注意：在探头的插头和仪器插孔之间允许有一些移动，不会对测量结果有影响。
要拔出这个插头，抓住隆边环部位轻轻将探头拔出，注意：为确保数据的准确传送，并使仪器检测到新探头，在连接探头的时候，仪器必须处于关闭状态。
光学膜厚仪测量原理
光学膜厚仪测量原理光学膜厚仪是一种测试薄膜厚度的测量仪器，广泛应用于各种行业的制造和研究中，比如电子、光电、航空等领域。
本文将围绕“光学膜厚仪测量原理”进行阐述，为大家详细介绍它的工作原理、使用步骤等相关内容。
一、光学膜厚仪的测量原理通过波长为λ的光线垂直入射到待测膜层上，经过膜层内部不同材料的反射和折射，再从膜层表面反射回来，经过一个光学系统形成干涉图像，可以由此测出膜层的厚度。
这里的关键是通过观察干涉图像，确定膜层的厚度，因为不同厚度的薄膜会产生不同的干涉图像。
二、光学膜厚仪的使用步骤1. 首先需要在样品上涂覆一层薄膜，并使其平坦均匀，以确保测量的准确性。
2. 将待测样品放置在光学膜厚仪上，并固定好。
3. 打开光学膜厚仪，设置好波长和角度等参数，让光线从样品表面垂直入射，并保证其稳定。
4. 通过观察干涉图像，确定样品上的薄膜层的厚度，可以通过光学软件或者手动测量的方式来完成。
5. 测量完成后，记得关闭仪器并清理样品表面，以便下次使用。
三、光学膜厚仪的注意事项1. 在使用光学膜厚仪时，需要注意其精度和准确性。
因为干涉图像的解释很难，而且很容易受到干扰，因此需要专业的技术人员进行操作和读取数据。
2. 保持测试环境的一致性，比如温度、湿度、光线等条件应该保持恒定，以确保测量的精度。
3. 样品表面应该清洁，避免灰尘、污物等对测量结果的干扰。
同时，应该尽可能避免在样品表面留下按碰痕迹或被划伤。
综上所述，光学膜厚仪能够帮助我们待测样品上的薄膜层的厚度，从而为我们的工程制造提供支持和便利。
不过，在使用时还需要我们严格遵循使用步骤，保持测量的准确性和精度。
膜厚仪作业指导书
膜厚仪作业指导书引言概述：膜厚仪是一种用于测量薄膜厚度的仪器，广泛应用于材料科学、光学、电子等领域。
本文将详细介绍膜厚仪的操作步骤和注意事项，以帮助用户正确使用膜厚仪，获取准确的测量结果。
正文内容：1. 准备工作1.1 确保膜厚仪处于稳定的工作环境，避免震动和干扰。
1.2 检查膜厚仪的电源和连接线是否正常，确保仪器能够正常启动。
1.3 清洁测量探头，确保其表面干净，无污染物。
2. 启动和校准2.1 打开膜厚仪电源，待仪器启动完成后，进行校准操作。
2.2 根据膜厚仪的使用说明书，选择适当的校准方法，进行校准操作。
2.3 校准完成后，进行零点校准，确保测量结果准确可靠。
3. 测量操作3.1 将待测薄膜样品放置在膜厚仪的测量平台上，确保样品与探头接触良好。
3.2 根据膜厚仪的使用说明书，选择适当的测量模式，如单点测量或扫描测量。
3.3 启动测量程序，等待测量结果显示完成。
4. 数据处理4.1 根据测量结果，计算薄膜的平均厚度和厚度分布情况。
4.2 对于多层薄膜的测量，根据膜厚仪的使用说明书，选择适当的数据处理方法。
4.3 将测量结果保存并备份，以便后续分析和比较。
5. 注意事项5.1 在使用膜厚仪之前，仔细阅读并理解膜厚仪的使用说明书，遵循操作规程。
5.2 避免在高温、高湿度或强磁场等环境下使用膜厚仪，以免影响测量结果。
5.3 定期检查膜厚仪的探头和仪器的性能，确保其处于良好的工作状态。
总结：本文详细介绍了膜厚仪的操作步骤和注意事项。
在使用膜厚仪时，用户应该进行准备工作，启动和校准仪器，进行测量操作，并进行数据处理。
同时，用户还应注意膜厚仪的环境要求和定期维护。
通过正确使用膜厚仪，用户可以获得准确的测量结果，为材料科学和工程领域的研究和应用提供有力支持。
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易高456基本型
涂层测厚仪
操作说明书
分体式仪器，应该将探头插入主机内并确认连接好。
1) 按动◓键，启动仪器；
2) 如果第一次测量该类型的产品，要在未喷涂的工件上进行仪器校准，校准方式：
A按最左边按键，显示Place probe on cal standard or press next,将仪器探头垂直的放在工件上的校准片上，(校准片仪器自带,最好选择比喷涂的涂层或者镀层稍微高一些的校准片校准以得到准确的涂层厚度)
B提起探头，通过第二三个按钮调节读数值和校准片标定值相同，然后按第四个键确认；
C显示place probe on uncoated base or press next,然后拿开校准片，将探头垂直的放在工件上，
D提起探头，重复步骤B调节读数为0；
E然后按第四个键两次，结束校准。
然后放上校准片检验刚才校准是否正确，如果相差很小，说明校准没问题，如果偏差很大，说明刚才校准过程中有问题，重复进行步骤A-E即可。
3) 统计功能
该仪器有简单的统计功能，可以进行最大值，最小值，平均值等的简单统计，开启和关闭该功能，可以通过仪器在开启待机状态下，按动第三个按钮，然后通过第二三个按钮选择”LCD上统计”菜单，然后按第四个按钮进行选择，然后按第一个按钮退出即可。
4) 背光功能
为了能够正常的在光线差的地方使用者正常工作，该仪器有背光功能，通过按动功能表按钮，然后可以选择或取消该功能，按第一个键退出即可。
5) 更换电池
当屏幕出现BATT时，需要更新电池。
选用两个七号普通电池。
长期不使用仪器应该取出电池以免电池露液损坏主板。
备注：
1) 有些客户由于误操作选择了其他语言，致使无法正确操作。
可以通过如下方式进行
调节。
按住第一个键，然后按开关键启动仪器，通过第二三个按钮选择中文，然后按动第一个按钮退出即可。
2) 仪器不用的时候，应该及时放入包装盒内，避免放在口袋里，容易造成液晶屏损坏。
3) 仪器不用的时候，探头不能折死结存放，以免折断信号线造成仪器无法使用。
4) 以上描述中按键为从左至右顺序。
技术参数表。