膜厚测试仪使用说明书

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测厚仪使用方法说明书

测厚仪使用方法说明书

测厚仪使用方法说明书概述:本说明书旨在提供测厚仪的使用方法,以帮助用户正确、高效地操作测厚仪。

一、产品介绍:测厚仪是一种用于测量材料厚度的仪器。

它适用于各种金属材料、塑料、玻璃等非金属材料的测量。

本测厚仪采用最先进的超声波技术,具备高精度和稳定性。

二、测厚仪的组成部分:1. 主机:包含仪器的显示屏和操作面板。

2. 超声波探头:用于发射超声波并接收反射信号。

3. 电池:用于供电。

4. 数据线:用于与计算机或其他设备的连接。

三、使用准备:1. 将测厚仪主机打开,并确保电池电量充足。

2. 清洁探头:使用干净的布擦拭探头表面,确保其清洁。

3. 检查测厚仪的尺寸、重量等参数是否符合要求。

四、操作步骤:1. 打开电源:按下测厚仪主机上的电源按钮,确保仪器已开启。

2. 选择材料类型:根据待测材料的类型,在操作面板上选择相应的材料类型。

3. 校准仪器:将探头贴紧待测物体表面,按下校准按钮,待仪器校准完成后方可进行测量。

4. 进行测量:将探头贴紧待测物体表面,观察显示屏上的测量数值。

确保探头与物体表面保持平行。

测量过程中,可以按下测量按钮来记录测量数值。

5. 记录数据:可选择将测量数据存储在测厚仪内存中,或通过数据线将数据传输至计算机或其他设备。

6. 关闭测厚仪:测量完成后,按下主机上的电源按钮,将仪器关闭。

五、注意事项:1. 请定期清洁测厚仪,以确保其正常工作。

2. 在测量过程中,探头与物体表面的贴合度对测量结果有较大影响,应保持探头与物体表面的垂直度和平行度,以获得准确的测量结果。

3. 避免将测厚仪接触到水、污垢等可能对仪器造成损坏的物质。

4. 在使用测厚仪时,应注意人身安全,避免接触到探头上的尖锐物体。

六、维护保养:1. 定期检查电池电量,确保有足够的电量进行正常使用。

2. 定期校准测厚仪,以确保测量结果的准确性。

3. 当测厚仪长时间不使用时,应将电池取出,以免电池漏液损坏仪器。

七、故障排除:如果测厚仪出现故障,请联系售后服务中心进行维修或更换。

膜厚测试仪操作规范

膜厚测试仪操作规范

膜厚测试仪操作规范膜厚测试仪是一种用于测量材料表面膜层或薄膜的厚度的仪器设备,广泛应用于电子、化工、包装等行业。

为确保测试结果的准确性和可靠性,使用膜厚测试仪时需要遵守一定的操作规范。

以下是膜厚测试仪操作规范的详细内容:1.设备准备1.1确保膜厚测试仪处于良好的工作状态,检查仪器主体及相关附件是否完好,如有损坏或异常应及时维修或更换。

1.2准备好所需的测试样品及校准标准,将其放置在干净、无尘的工作台上。

1.3打开膜厚测试仪的电源开关,待仪器自检完成后方可进行操作。

2.校准操作2.1使用之前需要对膜厚测试仪进行校准,保证测试结果的准确性。

2.2选择适当的校准标准样品,根据仪器说明书进行校准操作,调整仪器的相关参数至合适的数值。

2.3校准完成后,进行零位调整,确保仪器零位偏差在规定范围内。

3.测试操作3.1将待测样品放置在仪器的测量台上,确保样品与测量台稳定接触。

3.2调整仪器的测试范围和测试速度,根据待测样品的特性选择合适的测试参数。

3.3启动仪器进行测试,记录测试结果。

4.数据处理4.1测试完成后,将仪器显示屏上的数据记录下来,确保测试数据的准确性。

4.2对测试数据进行合理的处理和分析,如平均数、标准差等统计指标的计算。

4.3将测试结果与规定的膜厚要求进行对比,判断样品是否合格。

5.仪器维护5.1使用完毕后及时清理膜厚测试仪的测量台和相关部件,保持仪器的清洁,并避免灰尘或杂质对测试结果的影响。

5.2定期进行仪器的维护和保养,包括清洁、校准、零点调整等工作,确保仪器的长期稳定运行。

5.3对出现故障或异常的膜厚测试仪进行及时维修或更换,以免影响测试结果的准确性和可靠性。

6.安全注意事项6.1在操作膜厚测试仪时,应注意自身的安全,避免发生意外事故。

6.2使用时应佩戴适当的防护设备,如手套、护目镜等。

6.3严禁使用过期或损坏的测试标准样品进行测试,以免影响测试结果的准确性。

6.4禁止在湿度较高的环境中使用膜厚测试仪,以防止损坏设备或影响测试结果。

膜厚测试作业指导书

膜厚测试作业指导书

LOGO膜厚测试作业指导书Film Thickness Testing Operational Guidelines一、目的 为了确保使用检查的仪器准确的检验出涂膜厚度,特指定本作业指导书。

二、适用范围 本指导书适用于膜厚计QNIX 4500规格的内置探头式规格。

三、作业步骤见下图及说明1、启动归零2、校验3、校验4、模式选择5、单位选择取出膜厚计并将膜厚计归零测量调零板,接触后不要抬起,用另一只手按住红色按键,听到响声后,拿开仪器,调零完毕取出调零板专用的校正片并确保放置于平面 的调零板上 将探头对准校正片并根据膜厚计显示的数值与标准校正值对照,如数值有差异,按键或键和显示屏显示的步骤进行调整到标准校正片的相同数值为准。

根据产品基材选择按下按钮选择合适的选项Fe :基材铁 NFe :基材非铁,如铝、铜等Fe/Nfe :自动选择基材模Unit 为公英制选项,在Unit 选项短暂停留进入单位选择选项。

6、测量7、记录8、收纳注意事项:1、请保持标准校正片表面的清洁,并尽可能不要把表面磨损;2、屏幕提示“BAT”时,则表明电量不足、需换电池,请正确使用对应规格的两节 5# 电池3、请在使用过程中轻拿轻放,不准摔、碰、磕的储存及放置和搬运的过程;4、请现场部门与品管部门所使用的仪器要分开使用,确保仪器的准确性的互相监督!测量时,分别选择被测产品的5 个不同的点进行测量,去除其中的最大和最小值的平均 值即为该产品的涂膜厚度所得数值。

将检查得到的数值记录在《喷塑质量检验记 录表 》或相关表单上。

使用完毕后,将膜厚仪收进盒中,仪器无操作10秒自动关机编制/日期: 审核/日期: 核准/日期:013/A00。

膜厚仪作业指导书

膜厚仪作业指导书

膜厚仪作业指导书一、概述膜厚仪是一种用于测量薄膜或者涂层的厚度的仪器。

本文档旨在提供膜厚仪的详细操作指导,以确保准确测量和记录薄膜或者涂层的厚度。

二、安全注意事项1. 在操作膜厚仪之前,请确保您已经阅读并理解了使用说明书,并严格按照说明进行操作。

2. 在操作膜厚仪时,请戴上适当的个人防护设备,如手套和护目镜,以防止意外伤害。

3. 在使用膜厚仪之前,请确保仪器处于良好的工作状态,如有异常请及时联系维修人员。

三、操作步骤1. 准备工作a. 确保膜厚仪已经连接到电源,并处于开启状态。

b. 检查膜厚仪的探头是否干净,如有污垢请使用干净的布擦拭。

c. 将待测样品放置在膜厚仪的测量台上,并确保其表面光洁。

2. 开始测量a. 打开膜厚仪的测量程序,选择适当的测量模式。

b. 将膜厚仪的探头轻轻贴近待测样品的表面,确保探头与样品表面平行。

c. 按下测量按钮,膜厚仪将开始测量样品的厚度。

d. 等待膜厚仪完成测量,并记录测量结果。

3. 结束测量a. 将膜厚仪的探头从样品表面移开,并关闭测量程序。

b. 将测量结果记录在相应的记录表格或者文件中。

c. 清洁膜厚仪的探头和测量台,以确保仪器的长期使用。

四、常见问题与解决方法1. 仪器无法开启解决方法:检查电源连接是否正常,确认电源是否正常工作。

2. 测量结果不许确解决方法:检查探头是否干净,如有污垢请进行清洁。

同时,确保样品表面光洁,无杂质。

3. 仪器显示异常解决方法:重新启动仪器,并联系维修人员进行进一步检查和维修。

五、维护保养1. 定期清洁膜厚仪的探头和测量台,以防止污垢影响测量结果。

2. 避免将膜厚仪暴露在潮湿或者高温环境中,以防止损坏仪器。

3. 定期进行校准,以确保膜厚仪的测量结果准确可靠。

六、附录1. 膜厚仪操作说明书:提供更详细的操作指导和维护保养信息。

2. 膜厚仪测量记录表格:用于记录测量结果的表格,方便后续数据分析和比对。

本文档提供了膜厚仪的操作指导,包括安全注意事项、操作步骤、常见问题与解决方法以及维护保养等内容。

德国Mahr薄膜测厚仪C1208M和C1216M中文说明书(完整版)

德国Mahr薄膜测厚仪C1208M和C1216M中文说明书(完整版)

3.4 设置测量值的分辨率/显示格式………………………9 14.1 选择接口协议………………………………………28
3.5 选择显示的数字特性/测试结果………………………9 14.2 选择数据传输格式…………………………………29
4 测量设备的测头定位(安装)…………………………10 14.3 选择信息交换………………………………………29
10.5 输入一个启动延时…………………………………22
在操作说明中,你将看到以下图标: 普通信息
重要信息。 如不遵照执行将造成错误结果或对设备造成损伤!

Millimar C1208/C1216
1
0 初始运行 1. 小心打开 Millimar, 测头及电源适配器包装盒.
请不要丢弃出厂包装盒. 一旦发生投诉及维修, 需使用出厂包装盒将物品返还生产厂家. 由于没有 使用规定的包装盒而造成运输损伤, 将不能享受 Mahr 公司的质保承诺!
对参数设置中的数值进行更改 - 为此, 根据上述内容按 MENU 键选择相应参数的数值. 在数值的最前方位置会有一个代数符号在闪
动. - 使用 DATA 及 MASTER 键对代数符号进行设置(“+”或“-”). - 使用 MENU 键移动至第一位数(开始闪动), 并使用 DATA 及 MASTER 键设置为所需的值. - 使用 MENU 键移动至下一位数并进行设置.
键盘(2) 键盘包含 8 个按键. 4 个按键用于 Millimar 的功能及参数菜单操作(DATA, MENU, MASTER 及 ESC).
Millimar C1208/1216 特性: • 统计或动态测量 • 模拟结果显示 • 数字结果显示 • 使用 8 个功能键可以便捷的进行功能调节 • 可将功能定义至可 SELECT 键, 以便于快速调用最多 6 项常用功能. • 将设备连接至计算机, 运用基于 Windows 的 MarTalk 软件可以便捷地进行程序编辑. • RS232 接口可应用于顺序控制或综合品质管理系统. • (只针对 C1216!)并行接口应用于带 3 个 optocoupler 数字输入, 3 个 optocoupler 数字输出及 1 个模拟输

膜厚仪的使用方法

膜厚仪的使用方法

膜厚仪的使用方法
膜厚仪是一种用于测量材料表面薄膜厚度的仪器。

下面是膜厚仪的使用方法:
1. 打开膜厚仪电源开关,等待其预热和稳定。

2. 将待测样品放置在膜厚仪的台面上,并确保其表面清洁。

3. 根据待测样品的性质和仪器型号选择合适的测试模式和参数。

4. 调节膜厚仪上的测量头以使其与待测样品接触,并保持垂直。

5. 启动测量程序,膜厚仪将自动进行测量。

6. 等待测量结果显示完成,并记录测量得到的薄膜厚度数值。

7. 根据需要,可以重复上述步骤进行多次测量和取平均值。

8. 测量结束后,关闭膜厚仪的电源开关,并清理测量头和台面。

需要注意的是,在使用膜厚仪进行测量时,应根据具体的样品类型和要求,调节仪器的参数和测量模式,以确保精确的测量结果。

同时,要保证样品表面的清洁
和光滑,以避免对测量结果的影响。

具体的操作步骤和注意事项可以参考仪器的操作手册。

膜厚仪作业指导书

膜厚仪作业指导书

膜厚仪作业指导书1. 简介膜厚仪是一种用于测量材料表面膜层厚度的仪器。

本作业指导书旨在提供膜厚仪的正确使用方法,以确保准确测量和数据记录。

2. 仪器准备2.1 确保膜厚仪处于稳定的工作环境中,远离振动和干扰源。

2.2 检查仪器的电源和连接线是否正常,确保仪器处于正常工作状态。

2.3 检查测量探头的清洁程度,如有污垢应及时清洁,以免影响测量结果。

3. 校准3.1 打开膜厚仪的电源,并等待仪器的初始化完成。

3.2 使用已知厚度的标准样品进行校准。

将标准样品放置在测量台上,并按照仪器说明书的指引进行校准操作。

3.3 校准完成后,检查校准结果是否符合要求,如有误差应重新进行校准。

4. 测量操作4.1 将待测样品放置在测量台上,并确保样品与测量台接触良好。

4.2 打开膜厚仪的测量程序,并根据需要选择合适的测量参数,如测量范围和测量速度等。

4.3 将探头轻轻贴近样品表面,确保与样品接触良好,并启动测量程序。

4.4 等待测量结果稳定后,记录测量数值,并进行必要的数据处理。

5. 数据记录与分析5.1 将测量结果记录在指定的数据表格或文件中,包括样品编号、测量日期、测量参数和测量数值等。

5.2 对测量结果进行必要的数据分析,如计算平均值、标准偏差等统计量,并根据需要绘制相应的图表。

6. 仪器维护6.1 每次使用结束后,及时清洁仪器和探头,避免污垢积累影响测量精度。

6.2 定期检查仪器的电源和连接线,确保其正常工作。

6.3 根据仪器说明书的要求,进行定期的校准和维护操作,以保证仪器的准确性和稳定性。

7. 安全注意事项7.1 在使用膜厚仪时,应注意避免直接接触探头和样品,以免造成伤害。

7.2 使用过程中应注意避免碰撞和摔落,以免损坏仪器。

7.3 在清洁仪器时,应使用柔软的清洁布或棉签,避免使用有腐蚀性的溶剂。

7.4 如发现仪器存在异常情况或故障,应及时停止使用并联系维修人员进行检修。

以上为膜厚仪的作业指导书,通过正确的操作和维护,可以确保膜厚仪的准确测量和可靠性。

膜厚仪作业指导书

膜厚仪作业指导书

膜厚仪作业指导书引言概述:膜厚仪是一种常用于测量薄膜厚度的仪器,广泛应用于材料科学、化学工程、电子工程等领域。

本文将详细介绍膜厚仪的操作方法和注意事项,以帮助用户正确使用膜厚仪进行测量。

一、准备工作1.1 仪器准备在使用膜厚仪之前,首先需要确保仪器处于正常工作状态。

检查仪器的电源线是否连接稳固,仪器表面是否有损坏。

同时,还需要确认仪器内部的测量探头是否清洁,以保证测量结果的准确性。

1.2 校准膜厚仪的准确性需要通过校准来保证。

在进行测量之前,应先进行校准操作。

校准过程中,需要使用标准样品进行比对,根据标准样品的厚度值来调整仪器的测量参数,确保测量结果的准确性和可靠性。

1.3 样品准备在进行测量之前,需要准备好待测样品。

样品应具备一定的平整度,表面应清洁无杂质,以免影响测量结果。

对于柔性样品,需要将其固定在测量台上,确保测量过程中的稳定性。

二、操作方法2.1 打开仪器将膜厚仪接通电源,并按照仪器说明书的要求打开仪器。

在仪器开机后,需要等待一段时间,使其进入工作状态。

2.2 设置测量参数根据待测样品的特性,设置合适的测量参数。

一般来说,需要设置测量模式(如单点测量、扫描测量)、测量范围、测量速度等参数。

这些参数的选择应根据实际需求和样品特性来确定。

2.3 进行测量将待测样品放置在测量台上,并调整仪器的焦距,使其与样品表面保持一定的距离。

按下测量按钮,仪器将开始进行测量。

在测量过程中,需要保持样品的稳定,并确保测量探头与样品表面的接触良好。

三、注意事项3.1 避免干扰源在进行测量时,应尽量避免外部干扰源的影响。

例如,避免在有强磁场或强电场的环境中进行测量,以免影响测量结果的准确性。

3.2 防止污染膜厚仪的测量探头非常敏感,容易受到污染物的影响。

在使用过程中,应注意避免手指直接接触探头,以免留下指纹或其他污染物。

3.3 定期维护为了保证膜厚仪的正常工作和准确测量,应定期对仪器进行维护。

包括清洁测量探头、检查电源线和连接线的连接状态、更新仪器软件等。

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0猇1250
1
±(3%H+1)
± (1%H+1)
1.5
平直
F7
F7
0.5
0.5
F10 0猇10000
10 ±(3%H+10) ±(1%H+10)
10 F40
2
N型:
工作原理
探头型号
测量范围(mm)
低限分辨力(mm)
一点校准(mm) 示值
误差 二点校准(mm)
最小曲率半径(mm)
测试 条件
最小面积的直径(mm)
被测面积的直 径小于30mm
F400型探头 0猇400mm
F1型探头 0猇1250mm F400型探头 0猇400mm
如铜、铝、黄铜、 锌、锡等有色金属
被测面积的直 N400型探头0猇400mm N400型探头 0猇400mm 径大于10mm N1型探头 0猇1250mm N1型探头 0猇1250mm
1.3.2 可选件 其他型号探头 ---------------------------(适用于OU3500) 打印机 ------------------------------------1台(适用于OU3500B) 通讯电缆 ---------------------------------1条(适用于OU3500B)
被测面积的直 径小于10mm
N400型探头 0猇400mm
N1型探头 0猇1250mm N400型探头 0猇400mm
探头选用参考表(2)
基体
覆盖层
如铁、钢等磁性金属
非磁性的有色金属覆盖层 (如:铬、锌、铝、铜、锡、银等)
覆盖层厚度不超过100mm
覆盖层厚度超过100mm
被测面积的直 径大于30mm
1.6.3.2 探头的技术参数 用户根据需要测量工件的特点选用下列不同探头与仪器。
表一:主机可选用探头表
探头
F1
F1/90
N1
F400
N400
F10
CN02
主机
OU3500A ★
OU3500B

OU3500A ★






OU3500B ★






-3-
OU3500膜厚测试仪
沧州欧谱
键开机,正
D Fe
50.0 mm
说明:开机时若电池电压不足则显示低压指示约1秒钟后自动关 机。这时应立即更换电池;
-6-
OU3500膜厚测试仪
沧州欧谱
(b)如果需要校准仪器,则选择适当的校准方法进行校准(参见第 三章);
(c)测量 迅速将测头与测试面垂直地接触并轻压测头定位套,随着一声鸣 响,屏幕显示测量值,提起探头可进行下次测量; (d)关机 在无任何操作的情况下,大约2-3min后仪器自动关机。按一下 键,立即关机。
JB/T 8393-1996 磁性和涡流式覆层厚度测量仪
1.1 应用 本仪器是便携式 、快速、无损、精密地进行涂、镀层厚度的测
量。既可用于实验室,也可用于工程现场。本仪器能广泛地应用在电 镀、防腐、航天航空、化工、汽车、造船、轻工、商检等检测领域。
配置不同的探头,适用于不同场合。
1.2 测量原理 本仪器根据探头类型的不同,采用了磁性法和涡流法两种测厚方法。 F型探头采用磁性法,可测量磁性金属基体(如钢、铁、合金和硬
1.6.2 液晶显示
7
6
5
1
D
PRINT
LIMIT
4 Fe
2
50.0 m m 3
MAX=50.2
MIN=49.9
MEAN=50.1
NO=10
1. 工作方式指示 5. 低电压指标
2. 测量厚度值 6. 设限界指示
3.统计值 7. 打印指示
4. 测头类型指标
-2-
OU3500膜厚测试仪
沧州欧谱
-----
N400型探头 0猇400mm
-----
N1型探头 0猇1250mm N400型探头 0猇400mm
塑料、印刷线路非金 被测面积的直
属基体
径大于7mm
CN02型探头10猇200mm
-5-
OU3500膜厚测试仪
沧州欧谱
二、仪器使用前的准备
500个测量值
零点校准



二点校准



删除功能



自动关机



蜂鸣声提示



错误提示



标准配置
主机、F1探头、基 主机、N1探头、 F1(N1)探头、基
体、校准片、说明 基体、校准片、说 体、校准片、说明
书、包装箱
明书、包装箱
书、包装箱
选配件
F400、N400、 F1/90、F10、
CN02
OU3500 膜厚测试仪使用说明书
基本概述
膜厚测试仪又叫便携式膜厚测试仪、高精度膜厚测试仪、膜厚测试仪价 格、膜厚测试仪厂家、膜厚测试检测仪、磷化膜测试仪、磁阻法膜厚测试仪、 磁阻法膜厚测试仪、磁性膜厚测试仪、磁阻法测厚仪、磁式测厚仪、磁感应测 厚仪、磁性覆层测厚仪、磁性膜厚测试仪、磁性涂层测厚仪价格、油漆镀层测 厚仪、油漆覆层测厚仪、油漆涂层测厚仪厂家、油漆涂层测厚仪价格、油漆涂 层测试仪、油漆涂层检测仪、电泳镀层测厚仪、电泳漆覆层测厚仪、电泳漆漆 膜测厚仪、电泳漆厚度测试仪、涂镀层测量仪、电镀层测试仪、防腐层检测 仪、涂镀层测试仪、涂镀层测量仪、油漆测厚仪价格、油漆层测厚仪、油漆膜 厚仪、钢结构油漆层测厚仪、钢板油漆测厚仪、钢管油漆测厚仪、油漆防腐层 测厚仪、油罐防腐层测厚仪可无损地测量磁性金属基体(如钢、铁、合金和硬 磁性钢等)上非磁性涂层的厚度(如铝、铬、铜、珐琅、橡胶、油漆等) 及 非磁性金属基体(如铜、铝、锌、锡等)上非导电覆层的厚度(如:珐琅、橡 胶、油漆、塑料等)。涂镀层测厚仪具有测量误差小、可靠性高、稳定性好、 操作简便等特点,是控制和保证产品质量必不可少的检测仪器,广泛地应用在 制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。
基体临界厚度(mm)
涡流
N400
N1
0猇400
0猇1250
铜上镀铬 0猇40
1
1
±(3%H+0.7)
±(3%H+1.5)
±(1%H+1)
± (1%H+1.5)
凸1.5
凸3
F4
F5
0.3
0.3
CN02 10猇200
1 ±(3%H+1)
----仅为平直
F7 无限制
-4-
OU3500膜厚测试仪
沧州欧谱
关机。这时应立即更换电池。
2.2 更换电池 (a) 按 键关机; (b) 打开电池仓盖; (c) 取出电池,放入新电池; (d) 盖好电池仓盖。
注意:仪器长时间不使用时应将电池取出,以避免电池漏液腐 蚀仪器。
2.3 选择探头 根据被测工件选择探头(请阅1.6.3探头),安上并拧紧。
2.4 测量操作
(a)准备好待测试件,将测头置于开放空间,按一下 常开机后显示上次关机前的测量值;如:
-1-
OU3500膜厚测试仪
1.4 使用环境 温度:0℃猇40℃ 湿度:20%RH猇90%RH 无强磁场环境
1.5 电源 一节9V碱性干电池
1.6 仪器各部件的名称 1.6.1 主机
沧州欧谱
1、RS232接口 (OU3500B) 2、探头插座 3、液晶显示器 4、键盘
-7-
OU3500膜厚测试仪
沧州欧谱 ) 仪器开机后,自动进入直接工作方
式,工作方式区显示【D】。按 键,显示如右图:
系统设置 限界设置 功能选择 浏览数据
(b) 按 键,进入系统设置;按 或 键,选择【工作方式】设置;
使用本仪器前,请务必仔细阅读第3章(校准)和第8章(影响测量精 度的因素) 2.1 检查电源 (a) 本仪器使用9V碱性电池。
(b) 按 键,检查电池。 ● 开机时无显示,表示无电池或电池电压太低,无法显示。需更换电池。 ● 无低电压指示,表示电池电压充足。 ● 有低电压指示,表示电池电压不足则显示低压指示约1秒钟后自动
1.6.3 探头 1.6.3.1 探头结构
所有探头(CN02除外)都安装在滑套里,以确保探头安全稳定地 定位,并保持探头适当的接触压力。滑套前端的V型槽可保证在凸面 上准确测量。测量时须握住探头上的滑套,保持探头轴线与被测面垂 直。探头的顶端由耐用的硬质材料制成。
1、测头部分 2、滑套
3、插头 (与主机连接)
OU3500膜厚测试仪
附表一:
沧州欧谱
功能
OU3500F
OU3500N
OU3500FN
测量原理
磁性
涡流
磁性/涡流
测量范围 测量精度 统计量 存贮和统计
标准配置探头(F1/N1):0猇1250μm
±(3%H+1)μm(零点校准) ±(1%H+1)μm(二点校准) 平均值(MEAN)、最大值(MAX)、最小值(MIN)、 测试次数(NO)、标准偏差(S.DEV)
表二:探头技术参数表:H——标称值 F型:
工作原理
探头型号
F400
测量范围(mm)
0猇400
低限分辨力(mm)
1
一点校准(mm) 示值 误差
二点校准(mm)
±(3%H+0.7) ±(1%H+0.7)
最小曲率半径(mm)
测试 条件
最小面积的直径(mm)
基体临界厚度(mm)

1
F3
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