AD574双极性单通道AD转换实验

实验一AD574双极性单通道A/D转换实验
一．实验目的
1.掌握AD574A单极性输入和双极性输入时与8031的不同接法；
2.熟悉AD574A控制信号的功能及工作时序；
3.熟悉AD574A的双极性输入与转换输出的对应关系；
4.熟练掌握应用性教学实验系统的使用；
二．实验要求
A/D转换就是将一个模拟量转换成数字量的过程，它是数据采集的重要组成部分。

该实验要求：
1.记录AD574A双极性单通道A/D转换输入输出的对应关系。

把不同的输入电压的
转换结果填写在下表：
三、芯片应用特性
具体内容参见教材或相关的参考书。

四、图1为单片机实验应用系统地址译码图
74LS154
图1 单片机实验应用系统地址译码图
五、实验步骤
1.线路连接：
因为用D/A转换的输出作为A/D转换调整电压的输入（注意：由于D/A转换为0-+5V，故只能用于单极性的0—+5V调整），短接CN9的DAOUT 和ADIND。

因为采用双极性A/D 转换，短接J4、J5的1和2。

因为程序采用查询方式读取A/D转换结果，短接CN8的ADCIRQ 和P1.7。

2.注意事项：
A/D转换的+5.000V输入电压不能直接取自直流稳压电源+5V（3A）端，一者电压不精确，二者电流过大。

3.外接晶振：
由于A/D转换的芯片0832的反应速度较慢，不能利用系统提供的12MHZ的频率，必须外接6MHZ的晶振，否则，0832不工作。

4.程序设计（查询方式）：
程序所用片内RAM：20H（存放D/A转换数字量），21H-38H（可存放12次A/D转换结果）
5.程序调试：
执行程序，可采用单极性输入（0.000V—+5.000V）（步进0.500V）对应转换结果（顺
序值）将依次存放在21H—38H单元中。

详见示例程序。

6.程序联调：
用逻辑笔可观察到STS信号的变化。

根据STS信号的跳变，用示波器还可测A/D转换的时间。

六、结果说明
在该实验系统中，由于D/A转换电路被设计成单极性输出形式，不具有-5V--+5V的双极性电压输出能力，因此，在做该实验时只能观察单极性输入时的数值变化（0.000V--+5.000V）对应的转换结果（12位二进制）为800H---FFFH。

七、实验报告要求
1.说明实验的目的和原理。

2.给出实验结果，并进行分析。

3. 编写程序，将内部RAM 21H-36H存放的A/D转换结果打印出来。

八、附程序清单：
ORG 0000H
MAIN: MOV R0, #20H
MOV R2, #19H
CLR A
CLR_1: MOV @R0,A ;清零所用片内RAM
INC R0 ;RAM地址加1
DJNZ R2,CLR_1 ;如未清零完则继续清零
MOV R0, #21H ;R0指向转换结果存储区首址
DAC: MOV DPTR,#57FFH ;DPTR指向DAC0832
MOV A,20H ;D/A转换数字量
MOVX @DPTR,A ;启动D/A转换获取所需电压
MOV DPTR,#4FFCH ;DPTR指向AD574
MOVX @DPTR,A ;启动A/D转换
SETB P1.7
WAIT: JB P1.7,W AIT ;判断是否转换完毕.
INC DPTR ;R/C脚置位,高八位并行输出
MOVX A,@DPTR ;读取高八位的值.
MOV R4,A ;暂存高八位于R4中.
INC DPTR
INC DPTR ;将AD574的A0脚置位,准备读出低八位的值.
MOVX A,@DPTR ;读出低四位的值,及尾随的4个0.
ANL A,#0F0H ;将低四位的值置为0.
SWAP A ;交换高低四位.
MOV R3,A ;将此结果存于R3中.
MOV A, R4
SWAP A
MOV R4, A
ANL A, #0F0H
ORL A, R3
MOV R3, A
MOV A, R4
ANL A, #0FH
MOV R4, A
MOV A, R3
MOV @R0,A ;存放顺序值于R0、R0+1所指片内RAM
INC R0
MOV A, R4
MOV @R0, A
INC R0
MOV A, 20H
ADD A, #19H
MOV 20H,A
CJNE R0, #36H,DAC
END。