DIN_4768-1990_用电接触式记录仪测定粗糙度特征值Ra、Rz、Rmax—术语_测量条件_中文译文共9页文档

DK 62-408.8: 621.9.05 德国标准
1990年5月
用电接触式（铁笔）记录仪测定表面粗糙度数值R a、R z、
R max：
术语，测量条件替代DIN 4768 第1部分-08.74
与国际化标准组织发布的国际标准ISO 3274：1975和ISO 4288之间的关系见注释。

单位：mm
1 应用范围
该标准规定了通过具有电传输、高通滤波和分析功能的接触式尖笔记录仪来测定技术表面的可比粗糙度测量值的术语和测量条件。

备注：波纹度和其它的形状偏差不属本标准范畴。

但是在某些功能情况，它对表面适用性的影响比起其对表面粗糙度的影响来说可能会更大。

2 术语
按照DIN 4760、DIN 4762以及DIN 4777中用相位校正滤波器测量粗糙度中的术语。

此外，按照2.1和2.2中的术语。

2.1 滤波器（高通滤波器）
滤波器为轮廓滤波器1，根据滤波器特性曲线，实际轮廓的长波部分只1按照DIN 4777/05.90中的概念
有部分或根本就不计入粗糙度轮廓或测量结果。

按照极限波长称之为滤波器。

备注：在文献中，滤波器也叫做波分离器或斩波器。

图1：表面粗糙度轮廓的平均峰谷高度图R z
2.2 测量段
2.2.1 初试段（见图1）
初试段是投影垂直于中线、不用来分析的接触段的长度。

刚开始的瞬态过程必须在初试段内逐渐消失。

2.2.2 总测量段l m（见图1）
总测量段是投影垂直于中线、直接用来分析表面粗糙度轮廓部分的长度。

2.2.3 各具体的测量段l e（见图1）
各具体的测量段为总测量段l m的五分之一。

备注：各具体的测量段l e相当于DIN 4762/01.89中的基准段l。

2.2.4 后续段（见图1）
后续段是投影垂直于中间直线、不再用来分析的描画段的表面粗糙度轮廓的最后一部分的长度。

2.2.5 描画段l r（见图1）
描画段等于初试段、总测量段l m和后续段的总和。

2.3 粗糙度特征值
本标准意义中的粗糙度特征值从表面粗糙度轮廓1）中得出。

2.3.1 算术平均粗糙度值R a
算术平均粗糙度值是基准段l2内轮廓偏差y的绝对值的算术平均值。

备注1：这相当于长等于基准段长度l且面积等于表面粗糙度轮廓和中线之间面积之和的矩形的高。

图2：算术平均粗糙度值R a
备注2：按照DIN 4775和ISO 4288：1985，R a和R z直至16％时表面上所测的各具体值允许大于规定的极限值。

2.3.2 各表面峰谷高度Z
i （Z
i
Δ Z
1
~Z
5
）（见图1）
具体的粗糙高度为平行于中心线的两条直线之间的距离，它在具体的测量段内在最高点或最低点与表面粗糙轮廓接触。

2.3.3 平均峰谷高度R z
平均峰谷高度为5段彼此相邻的测量段的表面峰谷高度的算术平均值。

备注1：按照ISO 4287/1:1984和DIN 4762，该特征参数的缩写符号为R ys。

备注2：本标准中的R z定义与ISO 4287/1：1984中的定义不一致。

如有必要，使用缩写符号R z DIN或R z ISO，以示区别。

因测量技术的原因，测量ISO 4287/1: 1984中的特性参数R z应用DIN 4768中适用于R z DIN的测量条件变得越来越普遍。

这也适用于ISO 4288：1985中的规定。

当规定的R z ISO 最大值不超过R z DIN，该规定的R z ISO可视为遵守规定。

详细说明见DIN 4762/01.89第5.7至5.9中的说明。

备注3：见2.3.1中的备注。

2按照DIN 4762/01.89中的概念
2.3.4 最大的表面峰谷高度R max（见图1）
最大的表面峰谷高度为整个测量段所测得的表面峰谷高度的最大值。

Z
i
备注1：按照DIN 4775和ISO 4288：1985，各测量所得的R max值不得超过所规定的极限值。

这在诸如交互变化的表面也必须满足。

备注2：按照ISO 4287/1:1984和ISO 4288：1985，该特征参数的缩写符号为R y max。

3 测量条件
3.1 描画记录方向
必须在出现最大粗糙度值的方向进行描画记录。

特殊情况时务必就描画记录方向进行协商。

，测量段长度l e
3.2 极限波长λ
c
，测量段长度l e和3.2.1周期性外形轮廓（车削和刨削等）的极限波长λ
c
总测量长度l m
为周期性外形轮廓时，适用于表1中的规定。

表1：表面波纹间距配合
可以通过表面轮廓简图或对工件的10个表面波纹宽度进行测量确定表面波纹间距。

3.2非周期性外形轮廓（研磨、圆周铣削、无过梁端面铣削、铰孔、成型等见表2或表3）的极限波长λc ，测量段长度l e 和总测量长度l m
表2：平均表面峰谷高度R z 配合
表3：平均粗糙度值R a 配合
非周期性外形轮廓时，表2中的配合适用于R z的测量，表3中的配合适用于R a的测量。

周期性外形轮廓R max的测量时，极限波长取决于R a。

对于表2和表3的实际应用来说，可通过目测法估计工件或外形轮廓记录中的粗糙度值，以得出极限波长。

当表面含有重叠的波纹时，可能出现：极限波长为0.25 mm时所测得的平均表面峰谷高度R z < 0.5μm，极限波长为0.8 mm时所测得的平均表面峰谷高度R z > 0.5μm。

在这种极限情况，适用较小的粗糙度值。

同样适用于0.1μm、10μm、50μm的 R z值和相应极限情况下相关的R a。

3.3 测量段
如果工件不符合表1至表3总测量段为5.l e的规定，也可以应用各具体测量段数较少的总测量段。

随后在给出粗糙度值时必须对此做出说明，例如当l m = 3.l e时，R a =1.1μm。

如果因特殊原因必须给出不同于表1至表3中的极限波长配合，在给
＝0.25 mm时，R a= 1.1μm。

出粗糙度值时必须规定，例如λ
c
3.4 适用于仲裁情况的附加条件
如果预计的粗糙度值大于Rz = 2μm或大于R a=0.4μm时，仲裁时需
使用按照DIN 4772标准、描画记录最大半径为5μm的参考面描画记录系统。

小于预计的粗糙度值时使用描画记录最大半径为2μm的描画记录系统。

引用标准
DIN 4760 外形轮廓偏差；术语，分级系统
DIN 4762 表面粗糙度；术语，表面及其特性参数；等同于ISO 4287/1：1984
DIN 4772 按照描画记录法测量表面粗糙度用电描画记录器
DIN 4775 工件表面粗糙性检测；目检和描画记录比较，描画记录法DIN 4777 表面测量技术；电描画记录器中所使用的外形轮廓滤波器；相校正滤波器
ISO 4287/1：19843英文版：表面粗糙度；术语－第1部分：表面及其特性参数
德文版：表面粗糙度；术语－第1部分：表面及其特性参数
ISO 4288：19853）英文版：使用接触式记录仪测量表面粗糙度的规则和程序
德文版：使用电描画记录器测量表面粗糙度的固定和程序
其它标准
ISO 3274：19753）英文版：轮廓法表面粗糙度测量用仪器，接触尖笔记录3通过Beuth Verlag GmbH(出版公司)（国外标准销售）可以获得，地址：Burggrafenstraße 6, 1000 Berlin 30
仪，具有连续的外形轮廓传输的描画记录仪，描画记录
仪，M系统
德文版：轮廓法表面粗糙度测量用仪器；具有连续的外
形轮廓传输的描画记录仪，描画记录仪，M系统
旧版本：
DIN 4768第1部分：1970年10月，1974年8月。

修订：
较之DIN 4768 第1部分/08.74，做了以下修正：
a)删除了有关滤波器的规定，相关规定见DIN 4777。

b)为使用DIN 4777标准中相校正的滤波器或至今常用的2 RC-滤波器
时得到可比结论，仅对表面波纹距的分级做了极小修正。

详见说明。

c)增加了3.4仲裁调节。

d)编辑上的修订。

注释：
在DIN 4768 Teil 1/08.74标准化的滤波器为2 RC-滤波器，从此被符合DIN 4777标准的相校正滤波器所取代。

从而互补滤波器既可用于粗糙度测量，又可用于DIN 4774中波纹度测量。

对表1中的极限波长配合做了一些修改，以便同一配合适用于波纹度测量。

符合DIN 4777标准的相校正滤波器方面的修订以及表1中的配合变动实际上对粗糙度特征参数R max、R z和R a没有影响，也就是说新测量仪器和旧测量仪器可以配合使用。

国际上也出现了这样的发展趋势。

在ISO/TC 57中推荐DIN 4777和
本标准的表1至表3用作ISO 3274：1975和ISO 4288：1985的修正。

国际专利分类
G 01 B
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