平晶使用_平面平晶使用方法

平面平晶的使用方法(一)

平面平晶的使用方法(一)平面平晶的使用了解平面平晶平面平晶是一种常用的创作工具，用于展示平面设计作品和图形。

它是一种可以让设计师更好地向观众传递信息和表达思想的方法。

本文将介绍平面平晶的使用方法，以及一些常见的技巧与注意事项。

使用平面平晶的方法1.选择适合的素材：在使用平面平晶时，首先要选择适合的素材。

这些素材可以是照片、插图、图标等。

确保所选素材与设计主题保持一致，并具有清晰的表达力。

2.排版与设计：正确的排版能够增强信息传递的效果。

合理地布局文字和图像，使用各种排版技巧，如对齐、行距、字间距等，使整个作品看起来更加美观和易读。

3.色彩运用：色彩对于平面平晶起着至关重要的作用。

合理、巧妙地运用色彩可以增强作品的吸引力和表现力。

注意色彩的协调性和对比度，不同的色彩搭配能够传递出不同的情感和信息。

4.字体的选择与运用：选择适合的字体能够提升作品的整体效果。

字体要与设计主题相匹配，并具有良好的可读性。

合理运用字体的大小、粗细和样式，突出重点信息，使整个作品更加清晰和易于阅读。

5.增加互动性：利用平面平晶的特点，可以增加作品的互动性。

例如添加按钮、链接或动画效果，使观众能够主动参与并与作品产生互动。

这种互动能够更好地吸引观众的注意力，提高信息的传递效果。

平面平晶的技巧与注意事项•简洁明了：在设计平面平晶时，应尽量保持简洁明了的风格。

避免过多的装饰和冗杂的信息，以免混淆观众的注意力和理解。

•有重点突出：通过排版、色彩和字体的运用，将重点信息突出显示。

这样能够使观众更容易理解作品的核心内容。

•兼顾不同视觉层次：在设计平面平晶时，要考虑不同观众的视觉层次。

例如，使用合适的字体大小和对比度，以及良好的排版，使观众可以更好地浏览和理解作品。

•注意版权：在使用素材时，要注意版权问题。

确保所使用的素材合法、可商用，并遵守相关的版权规定。

•不断尝试与学习：创作过程中，不断尝试和学习是非常重要的。

通过观察他人的作品、学习最新的设计趋势，能够不断提升自己的设计能力和创作水平。

千分尺计量检定规程

千分尺计量检定规程1.0目的规范千分尺校验的操作，确保千分尺的测量精度处于受控状态，检验结果真实、可靠，以确保产品品质。

2.0范围本规程适用于千分尺计量检定。

3.0校验设备外校合格的标准量块。

4.0环境条件温度（20±5）℃，湿度45%～75%RH。

校准前被检测量设备在规定温度下恒温不少于2h。

5.0技术要求和检定方法5.1外观5.1.1要求➢千分尺及其校对用的量杆不应有碰伤、锈蚀、带磁或其他缺陷，刻线应清晰、均匀。

➢千分尺应附有调整零位的工具测量上限大于25mm的千分尺应附有校对用的量杆。

➢千分尺上应标有分度值、测量范围、制造厂名（或厂标）及出厂编号。

➢使用中的和修理后的千分尺及其校对用的量杆不应有影响使用准确度的外观缺陷。

5.1.2检定方法：目力观察。

5.2各部分相互作用5.2.1要求➢微分筒转动和测微螺杆的移动应平稳无卡住现象。

➢可调或可换测砧的调整或装卸应顺畅，作用要可靠，锁紧装置的作用应切实有效。

➢带有表盘的千分尺，表针移动应灵活，无卡滞现象。

5.2.2检定方法试验和目力观察5.3测微螺杆的轴向串动和径向摆动。

5.3.1要求：测微螺杆的轴向串动和径向摆动均不大于0.01mm。

5.3.2检定方法➢测微螺杆的轴向串动，用杠杆千分表检定，检定时，使杠杆千分表与测微螺杆测微量面接触，沿测微螺杆轴向方向分别往返加力3N~5N。

➢测微螺杆的径向摆动示用杠杆千分表检定，检定时，将测微螺杆伸出尺架10mm后，使杠杆千分表接触测微螺杆端部，再往杠杆千分表测量方向加力2N~3N，然后以相反方向加力2N~3N，这一检定应在相互垂直的两个径向方向检定。

5.4测砧与测微螺杆工作面相对偏移5.4.1要求千分尺测砧与测微螺杆工作面的相对偏移量应不大于JJG21-2008标准中的规定。

5.4.2检定方法在平板上用杠杆百分表检定，对于测量范围大于300mm的千分尺用百分表检定，检定时借助千斤顶将千分尺放置在平板上，根据JJG21-2008要求，调整千斤顶使千分尺的测微螺杆与平板工作面平行，然后用百分表测出测砧与测微螺杆在这方位上的偏移量x，然后将尺架侧转90°按上述方法测出测砧与测微螺杆在另一方位上的偏移量y，测砧与测微螺杆工作面的相对偏移量Δ按下式要求的Δ=√x2+y2此项检定也可用其它专用检具检定。

平面度等误差检测

平面度误差检测一、中小型零件1、检测工具：平面平晶2、检测方法：（1）对量块工作面、千分尺测蛅平面等高精度的小平面工件，一般多用平面平晶以光波干涉原理测量平面度；（2）测量时，将平面平晶贴在被测表面上，并稍加压力，当干涉条纹的数目为最少时，方可进行读数；（3）被测平面的平面度误差为封闭的干涉条纹数乘以光波波长λ的一半，即f=n*0.5λ；（4）对不封闭的干涉条纹，平面度误差为条纹的弯曲度与相邻两条纹间距之比乘以光波波长λ的一半，即f=0.5λ*a/b；（5）当干涉条纹为直线时，则说明被测表面是平整的。

注：比值a/b是靠目力估计的，其中：a：干涉带变曲度，b：干涉带宽度轴类零件圆度误差的检测1、两点法对圆度误差的检测（1）检测工具：检验平板、指示表、表架、支承。

（2）检测方法：a被测零件轴线应垂直于测量截面，同时固定轴向位置；B在被测件回转一周过程中，指示表读数的最大差值的一半为单个截面的圆度误差；C按上述方法，测量若干个截面，取其最大的误差值，为该零件的圆度误差；D转动时，可以转动被测零件，也可以转动量具。

f=0.5（M max-M min）2、三点法测量圆度误差（1）检测工具：V形块（90°、120°；72°、108°）或鞍形块、检验平板、指示表、表架（2）检测方法：适用于测量内外表面的奇数棱形状误差A、将被测零件放在V形块上，使其轴线垂直于测量截面、同时固定轴向位置；B、在被测件回转一周过程中，指示表读数的最大差值的一半为单个截面的圆度误差；C、按上述方法，测量若干个截面，取其最大的误差值，为该零件的圆度误差；D、此法测量结果的可靠性，取决于截面形状误差和V形块夹角的综合效果，通常用α=90°和120°或72°和108°两块V形块，分别测量；f=0.5（M max-M min）轴类零件圆柱度误差的检测计算一、三点法测量1、检测工具：检验平板、V形块、指示表、表架2、检测方法：（1）将零件放在检验平板上的长度大于零件长度的V形块内；（2）在被测零件回转一周过程中，测量一个横截面上最大与最小的读数。

千分尺测量面平行度的检定

千分尺测量面平行度的检定作者：姜建波张旭东来源：《魅力中国》2018年第47期千分尺（本文指外径千分尺）测量面平行度的检定是JJG21-2008检定规程中重要的一项检定项目，而我们在日常的工作检查和技术交流中发现，有些计量检定员对规程的要求没有吃透，在检定的过程中没有准确把握其要领，影响了千分尺准确度的评定，笔者愿借贵刊一角谈谈对千分尺测量面平行度的检定，并与广大读者商榷。

一、千分尺两测量面的平行度可用平行平晶检定目前，我国生产的平行平晶共分四组，可用来检定（0～100）mm四个规格的千分尺平行度。

检定前先用绸布把千分尺测量面和平行平晶擦洗干净，然后依次把四块厚度差为1/4螺距的平行平晶放入两测量面间，转动微分筒，在微分螺杆工作面接近平行平晶时，用测力装置继续转动微分筒，使测量面与平行平晶接触，在测力作用下使平行平晶夹在两测量面之间。

如图1所示。

调整平行平晶，并不断转动测力装置，当平行平晶一侧的干涉带调整到最少时，而且两测量面接触平行平晶位置又在同一侧时，读取两边干涉带条数（或圈数）。

紧固螺杆锁紧装置，再读取两边干涉带条数（或圈数），两次读数中以最多的那次计算出来的数值为这块平行平晶检定的平行度偏差。

其余三块也按以上方法进行检定和计算。

四块中以呈现干涉带总数最多的一块数值作为被检千分尺两测量面平行度偏差。

而有的计量检定员当调整平行平晶一侧出现干涉带为最少后，在读取另一测量面干涉条纹时又去调整平行平晶，找出这一侧最少干涉条纹，然后把两侧的最少条纹加起来计算千分尺紧固前的测量结果，这是错误的。

二、测量上限不超过100mm千分尺可用量块进行检定规程规定，外径千分尺两测量面的平行度用5等量块进行检定。

检定时需要采用其尺寸偏差为1/4螺距的4块量块进行，如检定（50～75）mm千分尺测量面平行度，选用四组量块的尺寸分别是：65.00mm，65.12mm，65.25mm，65.37mm。

检定时先把千分尺固定在专用底座上，左手带上手套，将第一组量块放在千分尺测量面之间，右手转动测力装置，按图2所示四个方位进行测量，并在微分筒上读取四数值，其中最大差值为两测量面一个相对位置上的平行度，其余三組量块依同样方法检出三个平行度数值，四组平行度数值中最大的一个就是该千分尺两测量面平行度偏差。

平面平晶的使用方法与保养

平面平晶的使用方法与保养
1、测量前，先用高纯度酒精和乙醚混合液或乙醚清洗被测表面与平晶工作面。

再用纺绸或亚麻布轻揩，然后使平晶边缘与测量面接触，逐渐减少平晶倾斜，使整个面接触，调整平晶与被测表面之间的夹角；直到出现清晰的干涉条纹为止。

若出现的干涉条纹较密且不能减少时，说明被测表面上有灰尘或杂物，应再次清洗。

2、被测表面应光洁、无划痕、碰伤和锈蚀。

3、切勿把平晶压在被测表面上硬推，以免拉毛平晶工作面。

4、在平晶使用中要求室内温度稳定。

由于平晶的传热性能差，温度的不稳定会使平晶内部温度分布不均匀而引起变形，从而影响其平面度。

对于越大的平晶其影响也越严重。

如它的上下表面有温差时，会产生弯曲变形；中心与边缘有温差时，就会变凸或凹。

一般当温度上升时，平面变凹；反之变凸。

因此，在测量时平晶与被测表面应等温一段时间，直到干涉条纹形状不再变化或变化较少后方能进行测量，否则将由平晶与被测面之间的温差产生变形而影响测量的准确性。

为了减少温度对测量的影响，在高精度测量时，平晶应避免直接用手握持，而用专用夹具或垫以亚麻布等。

同时要有若干块平晶交换使用，以减少手热的影响。

5、两平晶的工作面不能相互研合，否则将会损坏平晶工作面。

平面平晶干涉条纹读数

平面平晶干涉条纹读数
平面干涉是一种光学实验技术，通过将两束或多束光线叠加在同一平面上，形成干涉条纹。

根据干涉条纹的分布和形态，可以进行读数和分析。

读数干涉条纹时，首先需要观察条纹的数量和密度。

通常，条纹的数量越多，密度越大，说明干涉程度越高。

可以使用显微镜或放大镜来更清楚地观察细微的条纹。

接下来，可以使用一个刻度尺或显微镜目镜上的刻度线来测量条纹的间距。

将刻度尺或目镜放在干涉条纹旁边，通过对比条纹与刻度线之间的关系，可以确定条纹的间距。

干涉条纹的读数可以用于测量样品的形状、薄膜厚度、折射率等物理特性。

通过观察和记录干涉条纹的变化，可以得出有关样品性质的定量信息。

需要注意的是，准确读取干涉条纹可能需要一些实验经验和专业知识。

在进行实验时，应遵循正确的操作步骤，并参考相关实验指南或专业教材。

检测和调修千分尺测量面的平面度及平行度

检测和调修千分尺测量面的平面度及平行度作者：暂无来源：《中国质量技术监督》 2015年第2期千分尺作为制造业中比较常用的计量器具，在使用中影响其示值误差的主要因素是测量面的平面度和平行度的优劣，检定及调修千分尺时，要严格检测其测量面的平面度和平行度，并对不符合要求的进行调整和修理，本文主要详细阐明了测量平面度和平行度的方法，详析说明了调修工具和方法，保证千分尺工作示值误差符合规程要求。

文/任莲千分尺（micrometer）又称螺旋测微器、螺旋测微仪，是机械制造业比较常用的测量工具，分度值为0.01mm，能估读到0.001mm，测量范围能达到500mm。

它的主要结构是一加工成螺距为0.5mm的螺纹螺杆，当螺杆在带有mm刻度固定螺套中转动时，将前进或后退，活动套管和螺杆连成一体，其周边等分成50个格。

螺杆转动的一周正好为固定螺套上一个刻度间隔0.5mm，不足一周的部分由活动套管周边的刻线去测量，最终测量结果还需估读到0.001mm位，所以称之为千分尺。

在我们日常检定和校准千分尺工作中，主要依据为JJG21-2008《千分尺》，其中计量特性中有对测量面的平面度的严格要求，如对外径千分尺测量面的要求应不大于0.6um，数显外径千分尺测量面的平面度应不大于0.3um，所以，我们在日常检定工作中，应能高效准确地检测出测量面的平面度，而且在测量面的平面度不符合规程要求的情况下，能修理调整合格，使我们计量工作能更好地服务企业要求。

1.千分尺测量面的平面度测量千分尺的测量面平面度的平晶检测方法，平晶即平面平晶，其工作面是理想平面，平晶是利用光波干涉现象，将微小几何形状误差变为干涉条纹进行读数的测量平面度和直线度的工具，我们在检定千分尺时用的通常为1级平面平晶。

检测时将平晶工作面和被检测量面用航空汽油擦净后，把平晶工作面靠在被测面上，当被测面是理想平晶时则平晶工作面与被测面紧密接触，没有空气层，所以看到的干涉条纹为平直状，如果被测面不是理想平面，平晶工作面与被测面之间有空气层，于是我们看到的不是平行明暗交替的干涉条纹，而变成了圆形多条干涉条纹。

计量器具(测量设备)校验规程

检量器具（测量设备）校验规程1目的为了规范计量器具校验方法和周期,确保计量器具都在良好的状态下工作,特制订本规程。

2适用范围厂内所有计量器具的校验。

3职责和权限3.1设备部电气分部负责所有计量器具的校验。

3.2计量器具使用部门负责计量器具的日常维护和点检,并配合设备部电气分部进行计量器具的校验。

4工作程序4.1指针式显示表校验4. 1.1校验条件1）信号发生器2）毫安表3）环境条件：现场检定4. 1.2校验项目及方法D外观检查指针是否弯曲，外壳无破损2）零点校验：首先把毫安表按正确的方法串入被校仪表与信号发生器的接线中，毫安表的负极连接被校仪表的正极，正极连接信号发生器的正极，调整信号发生器的输出，到毫安表的指示为4mA,被校仪表的指针应停留在起始位置，其误差不能超过允许误差3）量程校验：再将信号发生器调至毫安表显示为20mA,被校仪表的指针应指在上限位置，误差不能超过允许误差4）零点和量程上限校验完后分别将信号发生器调到4mA、8mA、12mA、16mA、20mA,把被校仪表全量程五等分进行校验，被校表所指示的数值分别对应量程的0%、25%、50%.75%、100%,各点的误差不能超过允许误差，其允许误差计算公式：允许误差W±（上限一下限）X精度％4. 1.3校验要求和周期1）计算后合格的仪表贴上合格证，对于不合格的仪表可按4.1.2步骤重做一次，如果还是不合格，作报废处理2）校验周期：一年3）此方法适用于接受标准直流信号的转速表、液位表、电压表、电流表。

4.2游标卡尺校验4.2.1本方法适用于新制造、使用中和修理后的分度值O.02mm、0.05mm、0.10mm,测量上限至IOOOmm的游标卡尺的检定。

4.2.2检定用的主要工具和检定条件D卡尺专用量块（5等）2）刀口尺（0级）3）杠杆千分尺4）检定游标卡尺的室内温度对0.02级为20÷3度，对0.05级和0.10级为20±5度，检定前被检卡尺（量块）置室内平衡温度时间对测量上限W300mm最少为2小时,对于测量上限＞30Omnl的最少为3小时。

千分尺检定

色的干涉环或干涉带。
两测量面的平行度
1、技术要求：
测量范围/mm
外径千分尺两测量面的平行度/μm 2 3 4
数显千分尺两测量面的平行度/75，75～100 100～125，125～150
1、检定设备：专用平行平晶、4等量块、平行度专用钢球检具。
两平行面平行度在（0.6～ 0.8）µm
使用量块检定时，采用其尺寸差为1/4螺距的4块量块进行。每个量块以其同一部位放入图11所示测量面间的4个位置上分别在微分筒上读数，并求出其差值。以四组差值中最大值作为被检千分尺两测量面的平行度。
每日一题
一、千分尺测量面用什么方法进行检定？答：使用平面平晶，利用技术光波干涉法进行检定。平面度=光波条纹数×0.3微米
1、技术要求：外径千分尺测量面的平面度应不大于0.6μm。数显外径千分尺测量面平面度应不大于0.3μm。 2、检定用辅助测量设备：二级平面平晶（平面度0.1 μm） 3、检定方法：技术光波干涉法，将平面平晶的测量面与千分尺测量面研合，调整平晶使测量面上的干涉环或干涉带的数目尽可能少。外径
千分尺测量面不应出现2条以上，数显千分尺不应出现1条以上相同颜
谢谢！
千分尺检定
— — 魏立军
检定条件
平衡等温是指被检计量器具与标准计量器具及辅助测量设备一起在室内平衡等温，等温前所有计量标准器具、辅助测量设备及其他工器具均要做好使用的准备工作。包括被检计量器具的外观及功能性检查、
清洗、清洁、毛刺打磨、研磨等。标准计量器具及辅
助测量设备的清洁、通电等。
测量面平面度
2、检定方法：使用平行平晶检定时，依次将4快厚度差为1/4螺距的
平行平晶放如两测量面间，使两测量面与平行平晶接触，转动棘轮机构，并轻轻转动平晶，使两测量面出现的干涉换或干涉带数目减至最

平面平晶工作面平面度测量结果的不确定度评定

xxxxx 作业指导书测量不确定度评定xxxxxxxxxxxxxx 平面平晶工作面平面度20xx-0*-0*批准 20xx-0*-0*实施平面平晶工作面平面度测量结果的不确定度评定1 概述1.1 测量方法: 依据JJG28-2000《平晶检定规程》。

1.2 环境条件：温度（20±5）℃，相对湿度≤80%，室温变化不大于D 60mm : 2.5℃/24h,0.5℃/h;D 80mm 、D 100mm :1.5℃/24h,0.2℃/h 。

1.3 测量标准：2等标准平晶，平面等厚干涉仪。

1.4 被测对象：（D 30~D 100）mm 1级、2级平面平晶。

1.5 测量过程平面平晶工作面的平面度是在等厚干涉仪上检定的,检定时仪器箱内工作台上安装D 150mm 2等标准平晶,并使其工作面朝上,然后将被检平面平晶工作面朝下放到标准平晶中部，同时在两块平面平晶工作面之间均匀放入三片尖角薄纸垫，以便调整干涉条纹。

点亮仪器钠灯,在目镜视场可见干涉条纹,通过调整纸垫使视场中出现3或5条干涉条纹。

等温后,用目镜测微器测得干涉条纹间距a 和干涉条纹弯曲量b,即可计算出被检平晶工作面的平面度。

1.6 评定结果的使用在符合上述条件下的测量结果，可使用本不确定度的评定结果。

2 数学模型()()t F d a bF ∆+⨯-⋅=02962λ (1)式中：λ――钠光波长0.590m μ；a ――干涉条纹间距（格）；b ――干涉条纹弯曲量（格）； F ――被检平晶工作面平面度(μm )； d ――被检平晶有效直径（mm ）；t ∆――温度波动时对平面度的影响（计算平面度时不计入）（μm ）；F 0――标准平晶96mm 范围内平面度(μm )。

3 方差：依()()i i cx u x f F u 222⋅⎥⎦⎤⎢⎣⎡∂∂=∑(2)由（1）式得：()()()()()()()()()t t o o c u c F u F c a u a c b u b c F u ∆∆++⋅+⋅=222222222(3)式中： ()b u ――干涉条纹弯曲量测量引入的不确定度（格）；()a u ――干涉条纹间距测量引入的不确定度（格）；()0F u ――标准平晶96mm 范围内平面度引入的不确定度(m μ )； ()t u ∆――温度波动对平面度的影响引入的不确定度(m μ )。

平晶使用方法平行平晶

平晶使用方法批发平面平晶，平行平晶.电话：向生.137********平面平晶具体规格有Ф30mm；Ф45mm；Ф60mm；Ф80mm；Ф100mm；Ф150mm；Ф200mm；Ф250mm；Ф300mm共计九款。

平面平晶主要和NG-C2高精度钠光灯箱配套使用，用于以干涉法检验块规、量规、零件密封面、测量仪器以及测量工具量面的研合性和平面度，适用于光学加工厂、厂矿企业计量室、精密加工车间、阀门密封面现场检测使用，也适用于高等院校、科学研究等单位做平面度等检测。

测量时，把平晶放在被测表面上，且与被测表面形成一个很小的楔角，以单色光源照射时会产生干涉条纹。

干涉条纹的位置与光线的入射角有关。

如入射光线垂直于被测表面，且平晶与被测表面间的间隙很小，则由平晶测量面P 反射的光线与被测表面反射的光线在测量面 P 发生干涉而出现明或暗的干涉条纹。

若在白光下，则出现彩色干涉条纹。

如干涉条纹平直，相互平行，且分布均匀，则表示被测表面的平面度很好；如干涉条纹弯曲，则表示平面度不好。

其误差值为，式中为两干涉条纹间距离，为干涉条纹的弯曲值，为光波波长，白光波长一般以0.6微米计算。

当干涉条纹平直、互相平行，且又均匀分布时，则说明其平面度好；当干涉条纹不规则、且无规律时，则说明其平面度不好。

平面平晶的干涉条纹平直则表示平面好.如果是彩色光圈一圈则是0.3微米,如看到不是一圈而是多圈则用所看到的圈数乘以0.3则是它的平面度.如是弧形则表示是0.3以下根据干涉条纹计算平面度误差1）测量时若出现向一个方向弯曲的干涉条纹，如图所示，调整平晶位置，使之出现3～5条干涉带，则平面度误差的近似值为：f= (v/w)×(λ/2)λ为光波波长，白光的平均波长为0.58μm,v为干涉带弯曲量，w为干涉带间距但是如何精确确定v和w的值,我也很迷惑!2）根据光圈计算平面度误差若被测平面凹或凸，则会出现环形干涉带，调整平晶的位置，使干涉带数为最少，则平面度误差的近似值为：f＝(λ/2) ×nλ为光波波长，白光的平均波长为0.58μm；n为平晶直径方向上的光圈数。

平晶的概念和工作原理(三)

平晶的概念和工作原理（三）用法前要按照被测量平面的大小挑选平晶的规格(直径D)，选好后，要检查平晶的质量：工作面不允许有划痕和碰伤，而且平晶是在周期检定期内，这样的平晶才干用法。

①用平晶测量小型平面的平面度：所谓小型平面是指比所用平晶的工作面积小的平面。

例如所用平晶的直径为60 mm，面积小于的平面均称为小型平面。

用平晶测量小型平面的平面度时，一次读数即可求出平面度误差。

图1.4.28是用平晶检定千分尺的测砧测量面的平面度的暗示图。

用平晶测量小型平面时．因为被测面的平面度值的大小不同、凸凹的外形和方向不同，听以看到的干涉条纹或光圈的外形也不同，而且是各种各样的：用大平晶测量小型平面时，按理说，从平晶上读出几条干涉条纹或光圈，就是几条干涉条纹或光圈。

但事实上读得的干涉条纹数或光圈数比实际的多，例如从平晶上读得3条干涉条纹，实际可能是两条。

为什么会浮现这种现象呢？是由于平晶没调节好，所以在测量时要精心调节平晶和被测件，使它们的两个面接触好再读数，即光圈最少时为两个面接触好。

图1.4.28 用平面平晶检定千分尺的测砧测量面的平面度示例1.平面平晶；2．光圈假如所用平晶的直径与被测面的直径相等，则从平晶上读得几条干涉条纹或光圈，实际就是几条干涉条纹或光圈。

②用平晶测量大型平面的平面度：所谓大型平面是指比所用平晶的工作面积大的平面。

这种状况在生产现场中也常常遇到。

例如，有一个制件，其平面的长度ι=300 mm，宽b=50 mm，平面度要求不大于1um。

为测量该平面的平面度，选用一块2级直径为80 mm的平晶，测量办法1.4.29(a)所示。

用平晶检定高精度小型平尺测量面的平面度属于这种状况。

图1.4.29 用平面平晶测量示例1．平面平晶：2．被测件操作过程如下：将平晶和被测件一起放到计量室的平台上恒温18h以上(室内温度为20±5℃)，然后再举行测量。

测量前先用脱脂棉花和航空汽油或酒精把平晶和被测面擦净，用60～100W一般白炽灯作为照明灯。

平晶使用平面平晶使用方法

平晶使用平面平晶使用方法平晶是一种用于能源调节和改善空间能的装饰品。

它使用类似于剋架的原理，通过平面上特定的图案和结构，将能量引入我们的生活环境。

平晶通常由天然石材、金属或玻璃等材料制成，可以放置在家居、办公室或其他空间中，来帮助平衡和激活能量。

平晶的使用方法主要分为以下几个方面：1.选择合适的平晶：平晶有很多不同的形状和材质可供选择。

选择适合特定目的和需要的平晶是非常重要的。

比如，玛瑙可以提升自信和勇气，紫水晶可以促进平静和放松。

了解不同石材的特性和功效，可以根据自身的需求来选择适合的平晶。

2.放置平晶的位置：平晶的位置也是非常重要的。

一般来说，平晶可以放在家中的重要区域，如门口、客厅和卧室等地方。

可以根据平晶的功效来确定放置的位置。

比如，玛瑙可以放在门口来增加自信和勇气，紫水晶可以放在卧室来促进放松和睡眠。

3.清洁和充能：平晶在使用一段时间后会积累负面能量，因此需要定期清洁和充能。

清洁平晶可以使用清水和盐来浸泡，也可以放在阳光下晒一段时间。

充能平晶可以放在水晶簾或木炭上，也可以使用香薰灯或声音来进行充能。

4.配饰和摆放：平晶可以搭配其他物品来提升其效果。

可以使用绿植、盆景或装饰品来增加平晶的美观性和能量。

同时，平晶的摆放也有一定的技巧。

一般来说，平晶可以摆放成固定的形状，如正方形、三角形或五角星，也可以按照自己的喜好和直觉来进行摆放。

5.使用意向和祈愿：在使用平晶时，可以根据自己的意向和祈愿来进行。

可以通过冥想和内心的祈祷来集中注意力，并向平晶传递自己的意向和祈愿。

这样可以增强平晶的能量，并帮助实现自己的目标。

总结起来，平晶的使用方法主要包括选择合适的平晶、放置平晶的位置、清洁和充能、配饰和摆放以及使用意向和祈愿。

通过正确地使用平晶，可以改善和平衡生活空间的能量，并带来更多的积极影响。

平面平晶检定装置计量标准技术报告

计量标准技术报告
计量标准名称平面平晶检定装置计量标准负责人
建标单位名称（公章）
填写日期2020年02月20日
目录
一、建立计量标准的目的…………………………………………………… ( 3 )
二、计量标准的工作原理及其组成……………………………………( 3 )
三、计量标准器及主要配套设备…………………………………………( 4 )
四、计量标准的主要技术指标 (5)
五、环境条件……………………………………………………………( 5 )
六、计量标准的量值溯源和传递框图………………………………………( 6 )
七、计量标准的稳定性考核…………………………………………………( 7 )
八、计量标准的重复性试验……………………………………………………( 8 )
九、检定或校准结果的不确定度评定…………………………………( 9 )
十、检定或校准结果的验证…………………………………………………( 20 ) 十一、结论……………………………………………………………………( 21 ) 十二、附加说明…………………………………………………………………( 21 )
()0.149
u L=
c i
、合成标准不确定度有效自由度的计算
)57
=
、扩展不确定度评定
取置信概率p=95%，按有效自由度
21。

《平晶检测平面度》课件

制定质量标准：明确检测指标和标准，确保检测结果的准确性
培训检测人员：提高检测人员的专业素质和操作技能，确保检测过程的规范性和准确性
定期校准设备：确保检测设备的准确性和稳定性，避免因设备误差导致的检测结果偏差
建立质量管理体系：建立健全的质量管理体系，确保检测过程的规范化和标准化，提高检测结果的可靠性和可信度。
PPT,a click to unlimited possibilities
汇报人：PPT
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课程名称：《平晶检测平面度》
课程目标：掌握平晶检测平面度的原理和方法
课程内容：包括平晶检测原理、平晶检测方法、平晶检测应用等
课程对象：适用于从事平晶检测工作的技术人员和研究人员
介绍平晶检测平面度的基本
概念和原理
讲解平晶检测平面度的操作步骤和注意事
项
提供平晶检测平面度的实例
和案例分析
提高学员对平晶检测平面度的理解和应用
能力
检测工程师质量控制人员生产管理人员技术研发人员相关专业的学生和教师
引言：介绍《平晶检测平面度》的重要性和目的理论基础：介绍平晶检测平面度的基本原理和理论实验方法：介绍平晶检测平面度的实验方法和步骤结果分析：分析实验结果，得出结论结论与展望：总结实验结果，提出未来研究方向和展望参考文献：列出参考文献，供读者参考
行度等参数
显微镜：用于观察平晶表面
的微观结构
量具：如千分尺、游标卡尺等，用于测量平晶的尺寸和
精度
温度计：用于测量平晶的温度，确保其在适宜的温度下

平面平晶读数

平面平晶是一种测量工具，通常用于光学仪器、透镜、棱镜等光学元件的检测和校正。

在使用平面平晶进行测量时，需要读取其上的读数。

平面平晶的读数通常包括以下内容：
平面度：表示平面平晶表面的平整度，单位为μm或nm。

平面度越小，表面越平整。

平行度：表示平面平晶上、下两面的平行程度，单位为角秒(″)或角分(′)。

平行度越小，两面的平行度越好。

角度：表示平面平晶上、下两面的夹角，单位为度(°)。

角度越小，两面的夹角越接近90°。

其他参数：根据具体需要，可能还有其他需要读取的参数，如曲率半径、折射率等。

在读取平面平晶的读数时，需要注意以下几点：
确保平面平晶已经放置稳定，避免因震动或移动导致读数不准确。

使用高精度的测量工具和设备，以确保读数的准确性。

根据需要选择合适的参数进行测量和读取，以满足具体的应用需求。

在使用过程中，要注意保护平面平晶，避免其受到划伤、撞击等损伤，影响测量结果。

如果您想了解更多关于平面平晶读数的信息，建议您咨询专业的测量机构或技术专家。

平晶使用平面平晶使用方法

平晶使用Webon快速平面度检测一．首先采用平面检测仪器对研磨后的器件平面采用平面度检测仪定初步精度如研磨后的器件达到5um以内可以用平晶进行检测未达到继续研磨器件可以不用下盘。

FG-5 检测120以内FG-7 检测170以内FG-9 检测220以内FG-30 检测650以内二达到5um以内用平面平晶体检测．首先看是否有条纹。

是否合格以300的密封器件为例的。

检测的整个面必须首先看到同心圆才合格2um的面型精度整个面的同心圆条纹小于3个1个同心圆条纹精度大于在0.8um3个就是2.4um左右也就是说必须是小于3个的同心圆条纹才合格。

N<3Cdw-30I30mmΦ3015mmCdw-45I45mmΦ4515mmCdw-60I60mmΦ6020mmCdw-80I80mmΦ8020mmCdw-100I100mmΦ10025mmCdw-150I150mmΦ15030mmCdw-200I200mmΦ20040mmCdw-250I250mmΦ25045mmCdw-300I300mmΦ30045mmCdw-350I350mmΦ35045mmCDX-ML18 CDX-ML30三。

以下是检测中会出现的问题。

条纹非常密集。

两种情况。

1. 加工出得元件精度远远不够。

2. 平晶和元件之间有异物灰尘没处理干净条纹非常乱情况是加工的研磨盘凹凸不平不在一个平面上。

元件研磨后整个面就是乱的、同心圆条纹圈数太多。

情况是元件精度还不达标继续研磨直到圆圈数少于3个。

以上的假设的情况现场情况有变化请及时联系我们成都威博恩科技有限公司我们致力于做全球最好的光测试产品。

平晶使用平面平晶使用方法

Webon快速平面度检测
一.首先采用平面检测仪器
对研磨后的器件平面采用平面度检测仪定初步精度
如研磨后的器件达到5um以内可以用平晶进行检测未达到
继续研磨器件可以不用下盘。

FG-5 检测120以内
FG-7 检测170以内
FG-9 检测220以内
1个同心圆条纹精度大于在
3个就是左右
也就是说必须是小于3个的同心圆条纹才合格
N<3
Cdw-30 I 30mm ①30 15mm
Cdw-45 I 45mm ①45 15mm
Cdw-60 I 60mm ①60 20mm
Cdw-80 I 80mm ①80 20mm
Cdw-100 I 100mm ①100 25mm
h干涉杲垃的辻胖
三。

以下是检测中会出现的问题。

条纹非常密集。

两种情况。

1.加工出得元件精度远远不够。

CDX-ML18 CDX-ML30
2. 平晶和元件之间有异物灰尘没处理干净
条纹非常乱
情况是加工的研磨盘凹凸不平不在一个平面上。

元件研磨后整个面就是乱的、
同心圆条纹圈数太多。

情况是元件精度还不达标继续研磨直到圆圈数少于3个。

以上的假设的情况现场情况有变化请及时联系我们成都威博恩科
技有限公司
我们致力于做全球最
好的光测试产品。

平面平晶标准装置操作程序

xxxx 作业指导书
计量标准操作程序
xxxxxxxxxxxxx 平面平晶标准装置
20xx-0*-0*批准 20xx-0*-0*实施
平面平晶标准装置操作程序
一、依据:
根据JJG28-2000检定规程制定本程序.
二、适用范围:
适用于新制的、使用中和修理后的平晶和等厚干涉仪的检定.
三．检定前的准备:
1．检定时室温应保持在（20±5）℃,在一小时内温度变化不应大于
0.1℃，在24小时内温度变化不应大于1℃且防潮、防震；
2．检定用的等厚干涉仪，需有周期检定合格证，并有较准确的钠光波长、谱线数值；
3．平晶放检定室内不少于（10～30）小时，检定前被检平晶应按规程要求平衡温度，检定用仪器应提前打开，预热不少于30分钟；
4．将被检平晶擦洗干净，准备好所需用的锡薄纸片，准备工作完毕，及开始检定。

四、检定过程方法：
平晶平面的检定用标准平面平晶，将被检平晶同标准平晶同时放到等厚干涉仪中，调整被检平晶待调出清晰的3～5干涉条纹后，开始测量，按公式b/a×λ/2计算后得出被检平晶的平面度数值。

五、数据处理：
1．按照检定规程，检出各个项目的有关数值后，确定是否合格；
2．平晶经检定合格后，发给检定证书，写明型号、规格、编号、级别、制造厂家，周期为一年；
3．不合格发给检定结果通知书，并注明不合格原因，以便用作修理或报废处理。

六、使用维护保养：
平晶检定完毕后，应将仪器电源切断，蒙上仪器防尘罩，以备下次再用。

本操作程序由长度室编写批准：审核：。

平面平晶标准

平面平晶标准一、形状和尺寸平面平晶应为矩形平面，其长度和宽度应符合标准规格。

尺寸偏差应在规定范围内，以确保平晶的稳定性和精度。

二、材质和表面处理平面平晶应采用高精度、高硬度的材料制作，如光学玻璃、石英等。

表面应进行抛光处理，以减小误差和反射率。

此外，应采用防雾涂层或镀膜处理，以提高平晶的稳定性。

三、精度和误差范围平面平晶的精度和误差范围是衡量其质量的重要指标。

精度应符合相应的国家标准或行业标准。

误差范围应包括平面度、平行度、粗糙度等方面的参数。

四、稳定性平面平晶应具有较好的稳定性，以保证其长期使用的精度。

稳定性测试包括温度变化、湿度影响、时间推移等因素的检测。

五、使用寿命平面平晶的使用寿命取决于其材质、表面处理、使用环境等多个因素。

一般而言，高质量的平面平晶具有较长的使用寿命。

六、测试和检验方法对平面平晶的质量进行测试和检验是保证其精度的必要手段。

测试方法包括光学检测、干涉仪检测、轮廓仪检测等。

检验方法应包括外观检验、尺寸检测、性能测试等方面。

七、包装和运输要求为保证平面平晶的安全运输和存储，应采用适当的包装方式，如防震材料、纸箱等。

在运输过程中，应避免剧烈震动和碰撞。

在存储时，应保持干燥、清洁的环境，并避免阳光直射。

八、维护和保养指导为保证平面平晶的长期使用和精度，应定期进行维护和保养。

保养指导包括清洁处理、防尘保护、储存环境等方面的说明。

在清洁时，应使用柔软的布或无尘纸进行擦拭，避免使用粗糙的布或化学物质。

同时，应避免将平面平晶长时间暴露在空气中，以免受到灰尘和污垢的污染。

在储存时，应将平面平晶放在干燥、通风良好的地方，并避免阳光直射和高温环境。

此外，应定期检查平面平晶是否有裂纹、划痕或其他损伤，并及时进行处理或更换。