毫米波辐射计的缩比测试

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微波毫米波技术基本知识

微波毫米波技术基本知识

微波毫米波技术基本知识目录一、内容概要 (2)1. 微波毫米波技术的定义 (2)2. 微波毫米波技术的历史与发展 (3)二、微波毫米波的基本特性 (4)1. 微波毫米波的频率范围 (5)2. 微波毫米波的传播特性 (6)3. 微波毫米波的波形与调制方式 (7)三、微波毫米波的传输与辐射 (8)1. 微波毫米波的传输介质 (10)2. 微波毫米波的辐射方式 (10)3. 微波毫米波的天线与馈电系统 (11)四、微波毫米波的探测与测量 (12)1. 微波毫米波的探测原理 (13)2. 微波毫米波的测量方法 (14)3. 微波毫米波的检测器件 (15)五、微波毫米波的应用 (16)1. 通信领域 (18)2. 雷达与导航 (19)3. 医疗与生物技术 (20)4. 材料科学 (21)六、微波毫米波系统的设计 (22)1. 系统架构与设计原则 (24)2. 混频器与中继器 (25)3. 功率放大器与低噪声放大器 (26)4. 检测与控制电路 (27)七、微波毫米波技术的未来发展趋势 (29)1. 新材料与新结构的研究 (30)2. 高速与高集成度的发展 (31)3. 智能化与自动化的应用 (32)八、结论 (34)1. 微波毫米波技术的贡献与影响 (35)2. 对未来发展的展望 (36)一、内容概要本文档旨在介绍微波毫米波技术的基本知识,包括其定义、原理、应用领域以及发展趋势等方面。

微波毫米波技术是一种利用微波和毫米波进行通信、雷达、导航等系统的关键技术。

通过对这一技术的深入了解,可以帮助读者更好地掌握微波毫米波技术的相关知识,为在相关领域的研究和应用提供参考。

我们将对微波毫米波技术的概念、特点和发展历程进行简要介绍。

我们将详细阐述微波毫米波技术的工作原理,包括传输方式、调制解调技术等方面。

我们还将介绍微波毫米波技术在通信、雷达、导航等领域的应用,以及这些领域中的主要技术和设备。

在介绍完微波毫米波技术的基本概念和应用后,我们将对其发展趋势进行分析,包括技术创新、市场前景等方面。

毫米波紧缩场天线测量技术和系统

毫米波紧缩场天线测量技术和系统

毫米波紧缩场天线测量技术和系统来源:互联网一、毫米波紧缩场天线测量技术紧缩场测量技术是为解决室外远场测量遇到的对准困难、保密性差、测量对气候条件要求高等问题而提出的一种测量方式。

由于远场天线测量的条件是要使天线表面的最大相位差达到22.5°,即要使待测天线的最小距离大于临界值。

这个距离随着天线运行频率的上升而不断增大。

紧缩场测量技术就是在这个背景下提出来的一个应对高频天线测量的解决方案。

紧缩场的基本原理是:使待测天线和发射天线之间的距离减小,从而使测量系统变得紧缩起来。

在紧缩场系统中,我们认为馈源出射的波是球面波,球面波经过一个或多个发射面镜的发射和转换后,将形成符合天线源场测量的类似与平面波的出射场,我们称之为伪平面波。

在实际环境中,绝对意义上的平面波是不存在的,通过球面波的远距离传输或者反射镜转换来无限逼近平面波是远场测试的宗旨,也是伪平面波的定义来源。

传统上,学术界普遍接受的紧缩场的评判指标有以下五项:■设计加工难度;■运行频带宽度;■静区质量;■高紧缩性;■交叉极化隔离度。

其中设计加工难度指的是紧缩场在研究设计和加工生产中遇到的难度。

按照不同类型来分,紧缩场的加工设计难度是不同的。

比如透镜型紧缩场有着中等的设计难度,但却有着较大的制造难度;而全息型紧缩场有着较大的设计难度,加工制造起来却是很方便的。

相对前两种紧缩场而言,反射面紧缩场的设计难度和制造加工难度属于中等水平。

在反射镜紧缩场中,实际运行的频带宽度还将最终系统中的馈源、反射镜面的加工误差等因素的影响。

因此在设计方案中能达到的宽度需要尽量的宽。

现在比较常见的单反射镜紧缩场的运行宽度可以达到。

静区的质量包括两个方面:静区扰动和静区的利用率。

在理想的远场天线测试中,测试天线接收的伪平面波,虽然不是理想形式的的平面波,但对于波前的扰动也有一定的限制范围。

在紧缩场中,静区的扰动也有着严格的范围控制。

静区的扰动包括静区幅度的变化值和相位的变化值。

趣味实验室系列:5G毫米波小暗箱(五)

趣味实验室系列:5G毫米波小暗箱(五)

趣味实验室系列:5G毫米波小暗箱(五)“本来这个系列可以告一段落了,但技术的发展总是让人无法止步。

前面几篇,我们已经介绍了目前业界典型的几种5G毫米波小暗箱。

然而对于混响室,由于普遍的认知是只能进行TRP类测试,作为5G 测试手段的补充,是一个不错的选择。

但最近出现了一种可以进行方向性测试的混响室产品,这让人充满疑惑的“黑科技”,是否能真正成为5G测试的神器。

”混响室测试的原理,我们在前面的推送中已详细做过介绍。

本篇内容介绍瑞典Bluetest公司的5G终端混响室,在RTS65基础上,增加的新选件,以支持EIRP和EIS等方向性测试的新能力。

而且据说这一系统已成功与某些5G毫米波终端进行了测试验证。

01—CATR Inside Reverberation ChamberBluetest CATR选件可在静区内创建一个具有均匀振幅和相位的单平面波,这可以使EIRP和EIS测量符合3GPP NR测试规范。

说白了,是将一个紧缩场放到了混响室里面。

但是这个紧缩场跟前面几篇介绍的不同,它是一个双反射面的系统,称为格里高利双反射面(Gregorian dual reflector),也就是说包含了两个反射面。

格里高利双反射面可以实现非常紧凑的CATR安装,并精确管理射频辐射,最大限度地减少对周围混响室环境的射频溢出。

这是'混响室内CATR '解决方案的关键部件之一。

从下面这张图看到的右侧灰色部分是主反射面。

下面这张图上显示的是副反射面以及馈源:另一个重要的组成部分是Bluetest独特的专利频率选择性吸波材料,使得在FR1中能够保持一个低吸收各向同性的多径环境,同时在FR2中提供足够的反射衰减,所以使用CATR选件可以进行精确的EIRP和EIS测量,如下图所示:RTS65的外尺寸为以及CATR基本参数:•••宽: 1945 mm 高: 2000 mm 深: 1440 mm 静区:30cmFR2频率:24.25-42 GHz也就是说对于方向性指标EIRP等测量仅限于FR2频段。

毫米波探测技术

毫米波探测技术
由前述已知,辐射计就是一台超外差接收机,但辐射计与一般超外差接收 机有着十分明显的差别。例如,一般标准的外差接收机只覆盖一个很窄的 瞬时带宽,在一个有限的频率范围内调谐,而典型的辐射计的带宽很宽。
8.5.1 辐射计体制的选择 典型的辐射计有全功率辐射计和迪克比较辐射计,二者的灵敏度分别见式
(8-28)和式(8-29)。 全功率辐射计
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8.1 毫米波探测的物理基础
1. 大气成分 大气中绝大部分气体(如N2、O2、CO2)的含量随着离地面高度升高以指
数规律衰减,每升高15km 约减小9/10。大气中的水汽主要分布在5km 以 下,在12km 以上几乎不存在水汽,大气中的水汽也是造成天气现象的主 要因素,它以汽、云、雾、雨、冰等各种形态出现。大气中水的含量随气 候、地点变化很大。 2. 大气吸收及选择窗口 地球大气中99%的成分是N2 和O2。由于偶极子的作用,O2 在5mm (60GHz)及2.5mm (118.8GHz)处有两个强的吸收峰。CO2 对紫外线及红 外线有强的吸收峰出现,但对毫米波影响不大。
还可检测目标的辐射亮度、目标大小、速度、波的偏振效应、调制情况 及分辨率等。其中,亮度、大小和速度是最主要的识别特征。 通过扫描探测,在出现目标的地方会得到脉冲信号。该信号的宽度可以用 标准脉冲来测定。如一个脉冲代表目标5m,则2个脉冲即为10m 宽,方位 及尺寸探测示意图如图8-5所示。 一般弹载对地面目标的探测装置均采用非相干体制。绝大多数活动目标 的探测都采用杂波基准技术,图8-6为典型的以杂波为基准的活动目标指 示器处理机的原理框图。
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8.3 辐射模型及被动金属目标识别
8.3.3 物体的毫米波反射率和发射率 以空气与沙漠界面为例,沙漠的复介电常数为ε=3.2+j0,是实数并且无损

毫米波辐射计缩比测试研究

毫米波辐射计缩比测试研究
r d o t rf s y h e e c n a t l・ c e a u e n n h o r s o d n cu a u e n a o e a w c e f a i mee rt .T n t o t ci e s a d me s r me ta d te c re p n i g a t a me r me tW d n tt o s a s o i l h r b l l s s l h ih .T e r s l e o t se r v h ai i h o ta b l ・c e a u e n .T e meh d i i l 。c n e in e g t h u t w r c nr t d t p o et e v d t O t e c nr c i s a d me s r me t h t o ssmpe o v ne t e s e a o l y e l n c n mia a de o o c . 1
费。缩 比测试为我们提供 了一种经济实用 的测 量方 法, 特别是在全尺寸 目 标不易得到时, 只有利用其缩 比
模型才能推算 目 标的全尺寸情况。
目 标信 息 相关的钟型脉冲信号, 该信号可表示为…
Z HOU He g n
(D p.o o m nct n aj gIstt o eho g 。 N nig2 C ia et f m u i i 。N ni ntue f cnl y aj 1 7。 hn ) C ao n i T o n 1 16
【 bt c】 I cnatl s l esr ett a oeW e u d to tue o qat t e u . A s at n otcb ・ a d a e n。h s l m dl a m a r waid u e c am a r r r ie c e m u m em l s se al l t te l h a u l s e

微波毫米波RCS测试系统-Ceyear

微波毫米波RCS测试系统-Ceyear

微波毫米波RCS测试系统产品综述微波毫米波RCS测试系统主要应用于飞机、战车、导弹、舰船等装备雷达隐身性能测试与评估领域,具有RCS精确测试与评估、目标体强散射分布成像与诊断、目标局部散射特性成像分析、隐身涂层修复效果评估等功能。

系统以矢量网络分析仪为核心仪器,通过外配天线、校准件、运动装置等设备,可满足1~40GHz频段雷达散射特性测试需要,选配扩频设备后,可实现到325GHz毫米波频段的覆盖。

系统具有智能化程度高、配置灵活、测量速度快、精度高、参数种类齐全等特点。

在该系统平台基础上,中电科仪器仪表有限公司还可提供近/远场测试方法、暗室/室外场测试方案选型及场地环境设计,扫描架/转台及测试仪器设备对比选型,以及全系统集成设计与施工等服务,全面满足用户需求。

主要特点◆一维、二维、三维RCS成像功能,可实现目标体强散射分布的成像诊断分析;◆目标体局部散射特性快速成像功能,可在现场环境近距离下完成快速成像;◆近场测试外推远场RCS技术,扩展用户测试范围;◆系统配置形式灵活,可以灵活选择本振、发射源的形式,快速方便地实现频率扩展;◆多域测量功能,系统提供频域、时域、角域三种测量模式;◆RCS测量校准功能,可有效消除测量误差对测量结果的影响,提高测量精度;◆硬件时域门功能,利用脉冲测量技术实现背景干扰抑制,提高测量精度;◆独立的外部中频输入接口,可以实现外部中频接入,提高系统使用灵活性;●一维、二维、三维RCS成像功能系统具备一维、二维、三维RCS成像能力,满足用户对各种复杂目标体散射点分布情况进行分析诊断的测试需要。

●局部散射特性快速成像功能系统采用天线阵列电扫控制技术、近场多维空间散射成像与干扰滤波处理技术,实现了非标准外场环境下的快速成像,成像分辨率达厘米级。

●毫米波高分辨率成像功能系统利用毫米波频率高、带宽大的特点,采用线性调频工作体制,配合扫描架快速二维扫描,获取待测目标的全3D信息,实现高分辨率三维成像或二维层析成像,可广泛用于复合材料检测、内部缺陷判断、食品检测等无损检测领域。

毫米波芯片测试指标

毫米波芯片测试指标

毫米波芯片测试指标
1. 工作频率范围
- 测试毫米波芯片的工作频率范围是否符合设计要求。

- 通常需要测试从24GHz到77GHz等毫米波频段。

2. 发射功率
- 测量毫米波芯片在不同工作频率下的发射功率。

- 确保发射功率满足规格要求,并符合相关法规限制。

3. 噪声指数
- 测试毫米波芯片的噪声指数,评估接收灵敏度。

- 噪声指数越低,接收灵敏度越高。

4. 线性度
- 测试毫米波芯片的线性度,包括增益压缩点和输入/输出third-order intercept point (IP3)等指标。

- 线性度影响信号质量和动态范围。

5. 相位噪声
- 测量毫米波芯片的相位噪声性能。

- 相位噪声过高会导致频率稳定性下降。

6. 电流消耗
- 测试毫米波芯片在不同工作模式下的电流消耗。

- 评估功耗和热设计。

7. EVM (Error Vector Magnitude)
- 对于支持调制的芯片,测试EVM以评估调制精度。

- EVM越低,调制质量越好。

8. 辐射特性
- 测试毫米波芯片的辐射模式和辐射效率。

- 评估天线设计和系统性能。

以上是毫米波芯片常见的测试指标,具体测试项目和要求取决于芯片的应用场景和设计规格。

适用ACC毫米波标牌的透波性能测试方法及测试设备的制作方法

适用ACC毫米波标牌的透波性能测试方法及测试设备的制作方法

本技术属于外饰件技术领域,提供了一种适用ACC毫米波标牌的透波性能测试方法及测试设备,主要包括控制电脑、脉冲雷达、喇叭天线、动作控制装置、水平角度调节器、倾斜角度调节器、上下位置调节器、前后位置调节器、左右位置调节器、标牌固定治具、角形反射器以及定位夹具,在大幅度的减少了测试仪器安装空间和设备成本的前提下,在产品水平、倾斜两个方向的各个角度组合状态下,其较传统测试方法而言,设备更加简易,设备成本更低,测试面更加广、更加全面,更加贴近实车使用状态。

并且在测试透波衰减量的同时,对波发射和接收之间的角度误差进行的大范围的测试,更为全面可靠。

技术要求1.适用ACC毫米波标牌的透波性能测试设备,其特征在于,主要包括控制电脑、脉冲雷达、喇叭天线、动作控制装置、水平角度调节器、倾斜角度调节器、上下位置调节器、前后位置调节器、左右位置调节器、标牌固定治具、角形反射器以及定位夹具,脉冲雷达、喇叭天线、动作控制装置、水平角度调节器、倾斜角度调节器、上下位置调节器、前后位置调节器、左右位置调节器、标牌固定治具、角形反射器安装在带定位夹具上,被测物体固定在标牌固定治具正中间位置,控制电脑通过动作控制装置与上下位置调节器、水平角度调节器、前后位置调节器、倾斜角度调节器以及左右位置调节器电连接,动作控制装置控制倾斜角度调节器、水平角度调节器让标牌固定治具摆出一组组水平和倾斜角度组合,动作控制装置控制控制上下位置调节器、前后位置调节器以及左右位置调节器,使标牌固定治具进行上下、左右位置按照一定线路进行寸动,控制电脑与脉冲雷达电连接并由喇叭天线雷达毫米波信号发送到角度发射器上进行反射。

2.根据权利要求1所述的适用ACC毫米波标牌的透波性能测试设备,其特征在于,所述的脉冲雷达下设置有泡棉。

3.适用ACC毫米波标牌的透波性能测试方法,其特征在于,包括以下步骤:步骤一、控制电脑内安装有特定控制程序,该程序通过动作控制装置,来控制水平角度调节器和倾斜角度调节器,让标牌固定治具摆出一组组水平和倾斜角度组合;步骤二、通过控制电脑内安装的特定控制程序,通过动作控制装置,在每一组水平和倾斜角度组合状态下,控制上下位置调节器、前后位置调节器以及左右位置调节器,使标牌固定治具进行上下、前后左右位置按照一定线路进行寸动;步骤三、通过控制电脑内安装的特定控制程序,控制脉冲雷达在标牌固定治具的每一个寸动位置上,发射雷达毫米波信号,毫米波通过喇叭天线形成水平偏波或垂直偏波后,穿过被测物体之后被角形反射器反射后,再次从正面穿过被测物体后接收,接收后的信息被处理后存入控制电脑;步骤四、控制电脑将接受到的能量值排除掉空气传输影响后,与信号发出时候的能量值进行差异分析后得到往返传输衰减值,所述的往返传输衰减值即标牌或雷达罩等被测物体在该组合角度下该点位上的雷达波衰减量;步骤五、控制电脑将接受到的相位角度值排除掉空气传输影响后,与信号发出时候的相位角度值进行差异分析后得到往返相位角度值,往返相位角度值即标牌或雷达罩等被测物体在该组合角度下该点位上的雷达波角度误差;步骤六、在完成一次雷达毫米波信号的发射和接收后,标牌固定治具寸动到下一个位置,再次重复雷达毫米波信号的发射和接收动作,之后重复该动作,直至该组水平和倾斜角度组合下的被测范围内的所有寸动位置的透波情况全都被测试完成;步骤七、一组水平和倾斜角度组合下的被测范围内的所有寸动位置的透波情况全都被测试完成后,在水平角度调节器和倾斜角度调节器的作用下,标牌固定治具被调整到第二组角度组合,随后继续寸动及测试,以此类推,直至所有角度组合全部被测试完毕。

毫米波波段目标隐身缩比测试方法的研究

毫米波波段目标隐身缩比测试方法的研究

参考文献 1.王保义.时振栋.电磁场在目标识别中的应用.北京.电子工业出版社.1995 2.阮颖铮等.雷达截面与隐身技术.北京.国防工业出版社.1993.11
3.(美)克拉特(Knott.E.F.)等.雷达散射截面:预估.测量和减缩.北京.电子工业出
版社.1988.II
259
关键词:毫米专隐身缩比;反专8。5>/
Study of MMW Band Target’S Conceall ing and Contracting Test
StlI xlang LOb"Ou01ei ZtlU Li
(Research Institute of m甜and Light Wave Near—sensing Technology. Nanjing University of Science and Technology,Nanjing Jiangsu 210094)
4结束语
本文对毫米波波段嚣标的隐身缩比测试方法进行了研究,从缩比测试的理论衍生 并推广到隐身缩比测试的理论,因为缩比测试的最终目的是为了研究真实目标的目标 特性,因此傲了从缩比测试的结果反演出真实目标的理论推导和实际反演工作,随着 隐身缩比测试理论的进一步完善.目标特性的测量将得到进一步的完善和发展.
从以上对装甲目标毫米波散射特性的测试结果,以及反演真实装甲目标的结果 中,可以得出以下结论: (1)对于装甲目标36矿方位角RCS的测试,以及隐身效果的测试,本文所采取的方 法体现出理论与实践上的真实可靠性。
(2)本文所采取的缩比测试的反演方法是从理论上推导而得,从反演结果的RCS曲 线图来看,达到了良好的测试和评估效果,可以在今后的目标RCS的测量中进行。但 由于真实情况的复杂性和毫米波自身的特点,从精确意义上来说,仍需对真实装甲目 标以及隐身条件下的RCS进行测试,以严格验证.

毫米波频段辐射杂散发射测试研究

毫米波频段辐射杂散发射测试研究

论文引用格式:熊宇飞,张辉.毫米波频段辐射杂散发射测试研究[J].现代电信科技,2017,47(2):1-6.XIONG Yufei,ZHANG Hui.Research on spurious emission testing in Millimeter-Wave Band[J].Modern Science&Technology of Telecommunications,2017,47(2):1-6.毫米波频段辐射杂散发射测试研究熊宇飞,张辉(中国信息通信研究院泰尔终端实验室,北京100191)摘要:当前,鉴于传统通信频段基本饱和的情况,各国都在研究如何扩展通信频段,毫米波频段是其中一个热门研究领域。

同时随着5G技术的快速发展,对于未来毫米波频段杂散发射测试的研究将具有重要的理论与实际意义。

本研究将在现有毫米波相关研究成果基础上,着重于就毫米波频段天线和电磁波传播特性与辐射杂散发射测试结合,分析应用于毫米波频段的辐射杂散发射测试系统所需考虑的诸如测试距离、测试环境、待测设备定位、测试设备等问题,为实际测试系统搭建提供理论支持和指导方案。

关键词:毫米波频段;杂散发射测试;传播特性中图分类号:TM930.1文献标识码:AResearch on spurious emissiontestingin Millimeter-Wave BandXIONG Yufei,ZHANG Hui(China Academy of Information and Communications Technology,China Telecommunication Technology Lab-Terminal,Beijing100191)Abstract:Nowadays,based on the situation of the saturation in traditional communication bands,many countries are focusing on the issue of spreading communication limeter-Wave band is a hot spot of this issue.At the same time,with the fast development of5G technologies,doing the research on Spurious Emission Testing in Millimeter-Wave band will become very meaningful in both theoretical and pragmatic aspects.This research focuses on combining propagation characteristics of Millime⁃ter-Wave and spurious emission testing,to analyze problems like measurement distance,test sites,EUT location andmeasure⁃ment instrumentation,which shall be considered for spurious emission testing in Millimeter-Wave band,and provide theoretical support and guidelines for practical testing system.Keywords:Millimeter-Wave band;Spurious emission testing;Propagation characteristics1简介无线通信技术作为现代世界一项最为成功的技术之一,正在成为世界上超过50亿人生活中不可分割的一部分[1]。

提高被动式毫米波测速精度的方法

提高被动式毫米波测速精度的方法

提高被动式毫米波测速精度的方法张松;张亚;蔡亦清【摘要】针对被动式毫米波测速系统对测速信号处理不精确导致测速精度不高的问题,提出了改善系统硬件电路和软件程序以提高被动式毫米波测速精度的方法。

该方法根据辐射计输出模拟信号的电压及频率规律,设计出合理的硬件电路对信号进行相关处理以增强信号的可读性,然后利用 TMS320F28335芯片对处理后的信号进行特征提取、设置对应的判别门限阈值以及对采集的数据进行快速计算。

实验表明采用该方法对输出的模拟信号具有较好的处理能力,使得直接检波式辐射计的输出信号在示波器中有良好的可识别波形,利用该信号测得移动金属速度误差小于2%。

%Aiming at passive millimeter wave velocity measuring system for speed signal processing inaccurate result in speed measuring precision is not high,a system of hardware circuit and software program in order to improve the passive millimeter wave speed measuring precision was proposed.According to the radiometer out-put analog signal voltage and frequency regulation,a reasonable hardware circuit of signal processing was de-signed to enhance the readability of the signal,then theTMS320F28335 chip was used for featuring extraction of the signal processing,corresponding discriminant threshold and fast calculation of data acquisition was set.Ex-periments showed that,by using the method of output analog signal,the method had a good ability to make di-rect detection radiometer output signal in the oscilloscope,which had good identifiable waveform,and the sig-nals of measured mobile metal velocity error was less than 2%.【期刊名称】《探测与控制学报》【年(卷),期】2016(038)005【总页数】4页(P64-67)【关键词】被动式毫米波;测速系统;特征提取;判别门限【作者】张松;张亚;蔡亦清【作者单位】中北大学机电工程学院,山西太原030051;中北大学机电工程学院,山西太原 030051;中北大学机电工程学院,山西太原 030051【正文语种】中文【中图分类】TP242毫米波的研究逐渐得到重视,无论是在军事还是在民用中都得到较好的应用。

毫米波紧缩场天线测试系统概述

毫米波紧缩场天线测试系统概述

毫米波紧缩场天线测试系统概述(总2页)R>——根据天线测量和RCS测量的远场条件:乂。

当口标尺寸D很大、波长久很短时,测试距离R必须很大。

人们希望能在测量距离小、占地不大的条件下,找到进行远场天线和RCS测量的场地。

紧缩场天线测量系统就是这样一种天线测量系统,可以在近距离内提供一个性能优良的准平面波测试区。

紧缩场的英文名称为CATR(Compact Anternna Test Range) o它采用精密的反射面,将电源产生的球面波在近距离内变换为平面波,从而满足远场测试要求。

紧缩场天线测量系统就是能在较小的微波暗室里模拟远场的平面波电磁环境,利用常规的远场测试设备和方法,进行多项测量和研究,如天线方向图测量、增益比较、雷达散射截面测量、微波成像等,同时可以进行微波电路、元器件的网络参数测量和高频场仿真。

微波暗室是一个能够屏蔽外界电磁干扰、抑制内部电磁多路径反射干扰、对来波能够儿乎全部吸收的电磁测量环境,是进行天线参数测试及电磁波辐射、散射特性测试的理想场所。

它具有工作频带宽、信号电平稳定、易于保密、可全天候工作、不受外界电磁环境干扰等一系列优点。

在毫米波波段,由于对暗室尺寸和吸波材料的高度要求不大,这个暗室的造价非常低。

使得毫米波天线测量系统的构成成本大幅度下降。

与外场和室内近场比较,紧缩场的优点是:1.)收、发天线间的距离短,大大减小了实际占有的空间。

2.)紧缩场产生的平面波将聚集在平面波束内,暗室内四侧壁的照射电平低,从而降低了对暗室的要求。

在微波暗室设计合理,并采用背景对消的条件下,可使紧缩场的背景电平达到-60、-70dBsnu 3.)便于实现待测天线发射波瓣的测试(换接容易,不需电缆)。

4・)安装在微波暗室的紧缩场保密性好,而且可全天候高效地工作,便于测试管理。

列外,室内紧缩场受气候环境影响小,改善了测试条件,因而提高了RCS的测量效率。

5.)紧缩场的工作频率可以从儿白MHz到儿百GHz,能满足毫米波和亚毫米波测试要求。

RCS的测量测量目标RCS的基本方法

RCS的测量测量目标RCS的基本方法
– 背景噪声的RCS的值越大则测量误差也就越大。 – 如果要求测试精度在±3dB之间,则背景信号 应比目标的RCS低10dB – 如果精度要求为±1dB,则背景信号需比目标 的RCS低20dB。
隐身结构RCS的测量Biblioteka 关于背景噪声与测试精度的关系
• 测试系统所接收的信号是目标信号场强和背景信号场 强的矢量和
σ m = σ t + σ b + 2 σ tσ b cosψ
σm- 所测量得的RCS σt- 目标的RCS σb- 背景的RCS ψ - 目标场强与背景场强之间的相位角。
关于背景噪声与测试精度的关系
• 说明
零电平支路 接收天线 接收机 T接头
典型的RCS测量系统原理图
某飞机模型RCS测量结果
RCS测量的远场条件
• 为什么需要远场条件
– 如果把测试系统的信号源看成是点源,入射波则实际 上是球面波。 – 测量点距离被测目标越近,则目标上不同部位入射波 的相差越大。 – 测量点距目标的距离越远越好,但不可能无限制地增 大测试距离。
为了得到缩比尺寸模型是全尺寸目标系统的完全复制不仅要求缩比尺寸是全尺寸真实目标尺寸的线性模拟而且要求?采用缩比尺寸模型测量要求满足相似准则对于金属目标采用缩比尺寸模型测量要求满足相似准则对于金属目标ffllmm真实全尺寸目标的尺寸为l真实全尺寸目标的尺寸为l测试频率为f测试频率为f缩比尺寸目标模型的尺寸为lm缩比尺寸目标模型的尺寸为lm缩比模型系统中测试的频率fm缩比模型系统中测试的频率fm缩比因子?相似准则表明模型尺寸缩小或增加m倍则要求测量的频率要增加或缩小m倍
RCS的测量
测量目标RCS的基本方法 • 外场动态测量 • 地面静态测量 • 微波暗室内
RCS测量的基本工作原理
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毫米 波 辐射 计 的缩 比测 试
周 珩 娄 国伟 ,
( . 京工 程学 院通信 工程 系 , 1南 江苏 南 京 201 ; 103
2 南京 理工 大学 毫米 波光波 近感 技术 研究所 ,江苏 南 京 2 09 ) . 10 4

要 : 用缩 比方法 测试 毫米 波 辐射 计 目标 , 采 较之 传 统 的机 栽 或 塔 栽的 方 法可 以节约
a d a ay e h u c me o o ta t l. c e ts . T e ut s o h tt i t o i i l , n n z s t e o to s f a c nr ci e 8 a d et l b l he r s l h ws t a h s meh d s smp e c n e in n r dbe. o v n e 种 进行 近距探 测 的有 效设 备 。对 于形 状 简 单 的 目标 , 直 接计 算 出 辐 可
牧 一 日期 :06—0 —2 20 8 5
标 , 接计 算 十 分 困难 , 度 难 以保 证 , 能使 用 直 精 只
测试 方 法 。在 实 际测 试 条件 下 , 射 计 探 测 的高 辐 度一 般 为数 十米 到 数 百 米 , 目标 的天 线 温度 对 比
ZHOU ln . Ie g - LOU G . e 。 w ¥ ‘
( . et o C m u i t n, aj gIst eo eho g , aj gJ ns 10 3 1 D p . f o m n a o N n n tu f cnl y N .i i gu20 1 ; ci i n it T o n a
理 和 目标识 别 的研 究 。
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第4 期
周 珩, : 等 毫米波辐 射计 的 缩 比测 试
3 7
的测 试 经费 , 此 必 须寻 求 一 种 经 济 而 又 实用 的 因

测量 方法 。


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缩 比测 试提 供 了一 个 重 要 方法 , 特别 是 在 全
关键 词 :毫米波辐射 计 ; 比测试 ;目标识 剐 缩 中图分类 号 :Tr f3 7 文献标 识 码 : A
Co ta t l.c ld Dee t n o e M i i ee a e Ra i mee n r ci e s ae tci ft lm tr W v d o tr b o h l
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第2 7卷 第 4期 20 06年 l 月 2
制 导 与 引 信
GUI DANCE & FU ZE
V0 . 7 No. 12 4 De 2 o c. O 6
文章编 号 :6 1 5 6 20 )40 3 . 17 . 7 (0 6 0 0 60 0 4
度 又是 天气状 况 和 季 节 的 随机 函数 , 以 必须 采 所
用 机 载或塔 载 的方法 , 真实 目标 进行 反复测 量 , 对 然后 进行 统计 分 析 , 到 天线 温度 对 比度 的可 靠 得 资料 , 这不仅 需要 良好 的测试 条件 , 且需要 巨额 而
作者筒介 { 周 珩(96 ) 女 , 17 一 , 硕士 , 教师 , 主要从 事信息处
Ke r s:mil trwa e r do tr o ta tb e s ae ee t n;tr e e o nt n y wo d l mee v a i mee ;c nr ci l—c d d tc i i l o ag tr c g ii o
射计 的天线温 度 对 比度 ; 但是 对 于 形 状 复 杂 的 目
c rid meh d i li trwa e r do tr tre tcin.T i t o e t h o ta t l— C e are t o n mi mee v a imee a g tdee to l h s meh d tss te c nr ci e S a d b l
2 I tu f er es gTcnqewt M W &O ta Wae N S , aj g i g 104 C i ) 、 steo N a Sni ehi i M n it n u h p c v , U T N ni a s 209 , h a il n Jn u n
Absr c : o ta t l.c e ee to Smo ee o o c ha r dto a c i e c rid o o r t a t C nr ci e sa d d tcin i r c n mia t n ta i n ma h n . a re rtwe— b l t i l
大量 经费 。该 方 法是在较 低的 高度 上测量 满足 缩 比条件 的 较 小 目标 , 等效 在 实 际使 用 高度 以
上 测量 真 实大 目标 的结果 。文 章讨论 了测 试 的远 场条 件 , 对 一 个具 体 的缩 比测 试 实验 的结 并 果进行 分析 , 结果表 明 : 该方 法 简便 易行 , 据 可信 。 数
mo e tc nrc il eg tt q iae tt ea ta u c me .T e p p rd s u s st efrfed c n i o d la o ta t eh ih oe u v ln h cu o to s h a e ic se h a -il o dt n b l i
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