ICP- Training
安捷伦大学教育培训计划-Agilent
信赖源于专业 专业成就未来
Trust comes from expertise，Profession builds future
化学分析认证体系
CONTENTS
体系概述
11
NTC 概述
11
NTC 考培班
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参与流程
16
整体设置
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“春晖”人才储备计划
18
课程与认证
20
更多课程信息：https:///crosslab/cn/university/ 10
课程改期
为保证培训资源的合理使用，能使更多的用户及时得到相应的培训，请在选择培训课程日期时慎重考虑，如需改期请务必于 开课前两周通知培训中心，超过一次变更则视为自动放弃本次培训。
谢绝旁听
为保障所有参训用户的权益并保证培训效果，培训中心谢绝“未邀请人员参观或旁听”。（温馨提示：实验室环境不适合未 成年人长时间滞留，为保证您的培训效果和您家人的身心健康，请勿携带子女进入培训中心。）
食宿自理
您参加培训期间的差旅费、食宿费，敬请自理。培训期间我们向每位学员提供免费工作午餐。培训结束时将向完整学习课程 的合格学员发放结业证书。
更多课程信息：https:///crosslab/cn/university/ 5
报名流程图
开�报�
• 登陆：https:///crosslab/cn/university/ 或致电：800-820-3278 转 3
NTC（全国分析检测人员能力培训委员会）
National Training Committee for Analyzing & Testing Personnel
理论考核 & 现场实操考核
NTC 证书的作用
ICP培训课件
离子・发射光谱的产生
离子化（游离）
E2 E1 E0 激发状态 ２ １ 离子 电子 原子核 能级 エネル ギ－ Ｅ２ Ｅ１ ΔＥ ｈν
离子化
频率ν
◆在等离子体中元素原子化、离子化 ◆在等离子体中元素发射特征波长的光
9
ICP发射光谱分析的基本原理
1.
2. 3.
ICP发射光谱分析过程主要分为三步, 即激发、分光和 检测. 利用等离子体激发光源（ICP）使试样蒸发汽化, 离解 或分解为原子状态，原子可能进一步电离成离子状态， 原子及离子在光源中激发发光。 利用光谱仪器将光源发射的光分解为按波长排列的光 谱。 利用光电器件检测光谱，按测定得到的光谱波长对试 样进行定性分析，按发射光强度进行定量分析
ICP-AES
2 基体效应的干扰
喷射管 样品与标准溶液粘度的差异
干扰因素
ICP-AES
2 基体效应的干扰
使用内标。
干扰因素
ICP-AES
3 电离效应的干扰
@
易电离的元素引起的电离干扰。ICP-MS 更为严重。包括增强或抑制效应。
干扰因素
ICP-AES
3 电离效应的干扰的消除
仪器条件的最佳化 加入电离效应缓冲液
ICP发射光谱分析方法
定性分析
定量分析
半定量分析 需进行使样品溶液化的前处理
定性分析
定性分析
要确认试样中存在某个元素，需要在试样 光谱中找出三条或三条以上该元素的灵敏 线，并且谱线之间的强度关系是合理的； 只要某元素的最灵敏线不存在，就可以肯 定试样中无该元素。
定量分析
工作曲线法
标准样品的组成与实际样品一致 在工作曲线的直线范围内测定
轴向和横向观测
ELEDE 330 ICP刻蚀机操作培训介绍
TM ELEDE
330
ICP Etching System Operation Training
1
设备外观
NMC Confidential – Do Not Copy – NMC Training
பைடு நூலகம்
2
感谢您购买北京北方微电子公司制造的高密度电感耦合等离子体刻蚀机 ——ELEDE 330。 ELEDE 330是用于2英寸/4英寸LED生产线的先进刻蚀系统，面向图形化蓝宝石衬底（PSS） 刻蚀和GaN刻蚀等刻蚀工艺的需要。 本培训文档基于为ELEDE 330 ICP刻蚀机的操作和维护等相关人员提供介绍和指导目 的编写。旨在介绍ELEDE 330 ICP刻蚀机的结构，硬件特点，软件操作和工艺操作，更多 资料请参考手册《ELEDE 330安装指导手册》，《ELEDE 330操作指导手册》，《ELEDE 330维护指导手册》。 本培训文档按以下几个方面展开。 • • • 硬件介绍 软件操作 工艺操作
NMC Confidential – Do Not Copy – NMC Training
3
愿北方微电子成为您真诚的合作伙伴
4
4. ICP-MS 用户培训手册 (中文)
VARIAN 810/820-MS 用户培训手册美国Varian公司南区市场部Varian 810/820-MS 客户培训手册1. 仪器设置2. 检测器衰减设置3. 方法建立4. 方法优化5. CRI 气体流量设置(仅820-MS)一. 仪器设置简介Varian 810/820-MS，在进行样品分析或者检测之前必须预先对系统参数进行适当的设置，仪器设置窗口可以在“window”菜单中选择，也可以从工具栏中“instrument setup”的下拉菜单中选择。
仪器设置窗口的主要内容：“Status”页面可查看仪器状态“Details”页面展示仪器细节内容，包括仪器版本和仪器安装的详细信息“Ignition”页面可设置等离子体点火参数“Plasma Align”页面可进行等离子体/炬管位置校正“Resolution and trim”页面可设置四极杆质量分析器的分辨率“Mass Cal”页面可进行质量校正“Detector Setup”页面可设置适当的检测器电压“Detector Attenuation”页面可进行检测器校准，确定检测器衰减参数建议“plasma alignment”和“mass calibration ”要每天开机都要进行，其他设置则要根据仪器的使用情况和具体的应用内容而定。
仪器初始化和溶液的准备确保仪器进样系统安装正确（包括炬管，连接管，雾化室，雾化器和泵管）检查氩气，冷却水和主电源。
按下仪器前面板上的主电源开关来打开仪器，然后打开操作软件并检查仪器状态，确保氩气供应和仪器冷却水及气体的流动顺畅。
在工具栏中选择具体的按钮打开真空系统并点燃等离子体，确保仪器预热至少30分钟。
（在仪器预热期间，建议运行时间扫描以确保四极杆处于扫描状态）准备系统设置所需要的溶液，例如：稀释到5ppb或10ppb的Varian Tuning 溶液（Ba，Be，Ce，Co，In，Pb，Mg，Tl，Th），用这个溶液将仪器设置在“normal sensitivity”。
安捷伦ICPMS现场培训教材
安捷伦ICPMS现场培训教材Agilent 7500cx ICP-MS 现场培训教材安捷伦科技有限公司化学分析仪器部Agilent 7500cx ICPMS 现场培训教材7500 cx ICP-MS 现场培训教材⼀、培训⽬的:基本了解7500 cx ICP-MS 硬件操作。
掌握化学⼯作站的开机，关机，参数设定, 学会数据采集，全定量分析的基本操作。
⼆、培训准备：1、仪器设备: Agilent 7500 cx ICP-MSConcentric Nebulizer(同⼼雾化器)。
２、⽓体准备：氩⽓压⼒ 700KPa±3.5%反应⽓（氢⽓和氦⽓）压⼒ 40KPa±20KPa3、循环⽔：循环⽔的要求为：蒸馏⽔; 温度：15-20 ?C；压⼒：230-400Kpa(33—58PSI)循环⽔中加⼊50ml IPA ，防⽌⽣菌。
4、排风：要求排风量为：7—8m3/min(8—10m/s) 。
Agilent 7500 SeriesAgilent 7500cx ICPMS 现场培训教材Agilent 7500cx ICPMS 现场培训教材7500 ICP-MS 化学⼯作站基本操作步骤:⼀、开机：1、开PC 显⽰器、打印机。
2、开PC 主机。
(password: 3000hanover)3、开ICP-MS 7500 电源开关。
（仪器总电源及前⾯的电源开关）4、双击桌⾯的“ICP-MS Top ”图标进⼊⼯作站，如下图所⽰：ICPMS ⼯作站⼯具栏上提供了以下快捷⽅式5、从Instument 菜单中选择“Instrument control ”或者单击“Instrument control ”图标进⼊下图Agilent 7500cx ICPMS 现场培训教材所⽰的仪器控制画⾯。
从“Vacuum ” 菜单中选择“vacuum on”，抽真空，仪器由shutdown 状态向 standby 状态装换*** 从Meters 菜单中选择Meter Control Panel ，进⼊如下图所⽰的画⾯，可以对真空、⽔流量、环境温度、雾室温度、⽓体压⼒及射频功率进⾏实时监测。
ICP基本原理培训课件.ppt
(6) 试样消耗少。
(7) ICP光源校准曲线线性范围宽可达4～6个数量级。这样可测定 元素各种不同含量（高、中、微含量）。一个试样同时进行多 元素分析，又可测定各种不同含量。目前ICP-AES已广泛地应 用于各个领域之中。
3）用检测器检测光谱中谱线的波长和强度。
激发
+
不同的原子具有不同的能级，在一般的情况下，原子处于能 量最低的状态，即基态，当电子或其他粒子与原子相互碰撞 ，如果其动能稍大于原子的激发能，就可使该气态原子获得 一定的能量，从原子的基态过渡至某一较高能级，这一过程 叫做激发。
发射
+ 光
电子返回低能级 发出特定波长的光 DE=k/l k 12400
2. 历史：
3.原子发射光谱分析的特点
(1) 多元素同时检测能力。可同时测定一个样品中的多种元素。每 一个样品一经激发后，不同元素都发射特征光谱，这样就可同 时测定多种元素。
(2) 分析速度快。若利用光电直读光谱仪，可在几分钟内同时对 几十种元素进行定量分析。分析试样不经化学处理，固体、液 体样品都可直接测定。
为了方便起见，我们可先看看AES所用到的光源， 并比较其各自的特征：
1.5.1 AES光源种类
光源
经典光源 现代光源
火焰 电弧 火花
直流电弧 交流电弧
电感耦合等离子体，ICP 激光光源
1.5.2 AES光源的比较
光源
蒸发温度 K
ICP发射光谱分析
目录
1. 原子发射法简介 2.ICP发射光谱分析原理 3.ICP发射光谱仪的构成 4.ICP发射光谱分析方法 5. 样品的前处理
ICP-MS简单培训资料
ICP-MS简单培训资料ICP-MS简介ICP-MS是基于电离原子光谱学（ICP-AES）发展起来的一种新型分析技术。
它是将样品中的原子或离子通过高温等离子体电离后，在高强度磁场中分离并计数，然后进一步测定其相对浓度的分析方法。
ICP-MS具有高选择性、高灵敏度、多元素分析等特点，广泛应用于地球化学、环境科学、岩石矿物、生物医学和食品检测等领域。
ICP-MS分析步骤1.样品预处理：样品需要进行前处理，以达到ICP-MS要求的浓度和配比。
例如，化学沉淀、萃取、稀释等方法。
2.仪器准备：将ICP-MS仪器设备进行预准备，包括对仪器进行冷却、功率控制、精细调校等。
3.样品进样：将样品通过进样器送入ICP-MS仪器，加以电离和分离。
4.数据采集：通过数据采集系统，得到ICP-MS分析后的结果，包括各元素的信号强度、加入的质量数、各元素的定量分析结果等。
5.结果处理：将采集到的数据进行计算、处理，得到相应的分析结果。
ICP-MS检测技巧1.标样制备：在ICP-MS分析过程中，标准品的制备是必不可少的。
标准品可以在理论上为贵金属分析提供极大的帮助。
根据具体分析的元素特征，选取适当的纯化方法，制备标准样品。
2.冷却水选择：冷却水的选择非常重要，对仪器分析起到了很大的作用。
建议使用高纯度的去离子水或超纯水，保证冷却水对分析结果的影响达到最小。
3.元素干扰处理：在ICP-MS分析中会遇到元素间相互干扰，误差较大。
因此要针对具体干扰，采用合适的干扰处理方法，如化学修饰剂法、内标法或单扫描法等。
ICP-MS常用应用1.稀土元素地球化学：ICP-MS广泛应用于地球化学、矿床成因和地壳演化等领域。
其应用范围涉及稀土元素、放射性元素、有机金属、微量元素等。
2.食品检测：ICP-MS能够快速准确地检测食品中的多种元素。
如镉、铅、铜、锌等在食品中的含量，保证食品安全性。
3.生命科学：ICP-MS技术在生命科学领域的应用范围较广，包括基因表达、蛋白质组学、代谢物组学等方面。
ICP OES售后培训教材和使用方法 安捷伦 瓦里安
– 测试溶液的物理性质，例如总溶解固体、粘度、表面张力和挥发性。 – 使用的雾化器类型，例如低流速、同心或v-槽。
33
雾化器
将溶液转化为喷雾。
样品被泵入雾化器。
– 和高压Ar雾化气碰撞产生细小的样品液滴。 – 雾化效率2 – 3%。
雾化器的类型：
26
等离子体的产生
27
ICP 炬管
炬体 3 重同心石英管
等离子体应该是对称的
样品通道 磁场
水冷却的感应线圈
eAr+ eAr+ Ar+ eeAr+ e- Ar+ e Ar+
Ar – 辅助气流 （1.5 － 2.25 L/min）
Ar – 等离子体气流 （12 － 18 L/min） Ar – 雾化器气流和样品气溶胶 (0.6 － 0.9 L/min)
好
好 103
优秀
低 102 高达20%
耐盐份
0.1~0.4%
3~30%
0.5~3%
光谱干扰 化学干扰
很少 中等
中等 很少
一些 很多
很少 很多
22
ICP-OES的特性
– 元素分析技术 – 宽动态范围：ppb－% 水平
ICP可分析78种元素
– 精密度往往好于1% – 化学干扰少 – 和其它的技术相比更为快速 – 通常样品制备简单 – 操作相对容易 – 气体消耗量较大
在ICP中 失去电子
9Be原子 9Be+离子
4个质子 5个中子 4个电子
4个质子 5个中子 3个电子
13
第一电离能
(eV)
第一电离能
He Ne
icp-20100例程
icp-20100例程
ICP (Iterative Closest Point) 算法是一种广泛用于点云配准的方法。
在2010年，David A. Fellner 和John A. Stetson 发表了一篇关于使用ICP 算法进行点云配准的教程，该教程详细描述了如何实现一个基于Python 的ICP 程序。
由于我不具备搜索特定代码的能力，所以无法提供您提到的"icp-20100例程"。
不过，如果您希望了解ICP 的基本原理和实现，我建议您参考这篇教程：David A. Fellner and John A. Stetson, "An Introduction to Iterative Closest Point Algorithms for 3D Shape Reconstruction", Tutorial Notes, Second International Symposium on 3D Data Processing, Visualization, and Transmission (3DPVT'10), pages 513-526, 2010.
此外，开源的点云库（PCL）也提供了ICP 的实现，并提供了详细的文档和示例代码。
如果您使用的是PCL，您可以查阅其官方文档以获取更多信息。
如果您能提供更多关于"icp-20100例程" 的详细信息，我可能能提供更有针对性的帮助。
电子组件验收与装配ICP标准列表
SOLDERABILITY IPC-WP-001 J-STD-002 J-STD-003 IPC-WP-005 IPC-TR-461 IPC-TR-462 IPC-TR-464 IPC-TR-465-1 IPC-TR-465-2 IPC-TR-465-3 IPC-TR-466ACCEPTANCEFra bibliotekand Assy
电子组件的可接受标准 SPC实施的通用指导方针 表面贴装组件焊点评估培训与参考指导
电子与电气组件焊接要求 J-STD-001D标准学员手册与指导，包含对J-STD-001B，C，D版本的 比较 组装过程中百万分之不良率和评价机率 印制线路板组装中最终产品的百万分之不良率
带型自动贴装细间距器件技术介绍 片式元件贴装技术 倒装芯片与芯片级技术实施 BGA和其它高密度元件技术的实现 半导体设计标准中倒装芯片的应用 倒装芯片与芯片级结构碰撞表现标准 板上连接式芯片技术实施指南 多层芯片模组技术使用指南
导线准备与剥线便携手册 电缆、线束装配的技术条件及验收要求
生产过程中处理光纤的工艺运载工具规范
ASSEMBLY J-STD-001
IPC-HDBK-001
IPC-9261 IPC-7912
电子组装 J-STD-001D - Requirements for Soldered Electrical and Electronic Assemblies HDBK-001 - IPC-HDBK-001 with Amendments 1 and 2 - Handbook and Guide to Supplement J-STD-001 (Includes JSTD-001 B-C-D Comparisons)
湘潭大学ACM-ICPC新人训练导引
0 POJ 1306 Combinations
3 HDU 2074 叠筐
0 POJ 1503 Integer Inquiry
3 HDU 2516 取石子游戏
0 POJ 1936 All in All
3 HDU 2540 遮挡判断
0 POJ 1979 Red and Black
3 HDU 3809 Decrypt coordinate
期越来越快，一天刷 20-30 道水题完全无难度的。主要不要一味的刷水题过瘾，需要结合学
习的知识点，有针对性地做题，这样才能保证上水平。低水平重复是没有什么意义的。
3. 三人行必有我师。善于与周围的队员交流，乐于分享自己的学习感悟。团队的进步 和个人的进步是相互促进的。善于利用网络资源，比如 QQ 群等，和全国的 ACMer 进行交
7. 建议有一定基础的同学在网上多多参加比赛，比如 USACO，TopCoder，Codeforce，
HDOJ，ZJU，FZU 等，经常有比赛的。国内流行的做题网站如下表。
名称
地址
备注
USACO Training
/usacogate
OI 风格，进阶练习模式
USACO Contest
五、 知识点及推荐习题
考虑到时间关系，暂时推荐大家从刘汝佳的《算法竞赛入门经典》入手，掌握基本的知
识点。预计到下个学期前半段，大家能掌握这本书的大部分内容就已经很不错的。这个学期
马上进入考试阶段，暂时不会有集训或者讲座的活动。
作业题列表及 OJ 地址 难度 题目
难度 题目
0 HDU 2030 字符统计
34th ACM-ICPC 亚洲分区赛-上海 34th ACM-ICPC 亚洲分区赛-哈尔滨
通用缩略语abbreviation
版本号:20061101) 缩写单词汇编 (版本号 版本号
1. 2. 3. 4. 5. 6. 7. 8. 9. 10. 11. 12. 13. 14. 15. 16. 17. 18. 19. 20. STS---STShenzhen---深圳赛意法微电子有限公司 SmOP---Smart Optical Package---精密光学封装 BGA---Ball Grid Array---球状栅格阵列封装 IC---Integrated Circuit---集成电路 EGS---Engineering Support---工程支持部 EQS---Equipment Support---设备支持部 PRD---Production---生产部门 MPA---Micro Power Analog---微型功率模拟器件 PWR---Power---功率器件部 FC---Flip Chip---倒装片 WH---Ware House---库房 TNT---一种国际邮寄方式 CCD---Cellular Communication Division---蜂窝通讯事业部 21. 22. 23. 24. 25. 26. 27. 28. 29. 30. 31. 32. 33. TECH---Technician---技术员 OPT---Operator---操作员 PM---Preventive Maintenance---预防性维护(人员) ENG---Engineer---工程师 GL---Group Leader---组长 UO---Utility Operator---在线培训员 MH---Material Handler---领料员 EO---Engineering Operator---工程师助理 MNG---Manager---经理 GM---General Manager---总经理 WM---Wafer Mount---贴膜 DS---Die Saw---芯片切割 DA---Die Attach---粘片 WB---Wire Bond---焊线 RL---Raw Line---外观检查工位 TF---Testing and Finishing---测试包装 MAT—Material---物料 EWS---Electrical Wafer Sort---晶圆电测 MC---Machine---机器 SOP---Standard Operation Procedure---标准操作规程
HORIBA Raman 光谱仪操作指南说明书
6Who should attendFrom Monday 9 am to Wednesday 5:30 pmDates: February 10-12, 2020 May 11-13, 2020September 21-23, 2020 November 16-18, 2020Users of HORIBA Scientific Raman spectrometers • A cquire theoretical and practical knowledge on Raman spectrometers • L earn how to use the software • L earn methodology for method development and major analytical parameters • H ow to set up an analytical strategy with an unknown sample • H ow to interpret results• L earn how to follow the performances of theRaman spectrometer over the time.Day 1• The theory of the Raman principle • R aman Instrumentation • P ractical session – System and software presentation, Acquisition Parameters: - L abSpec 6 presentation and environment: useraccounts, file handling, display of data, basic functions - S et up of acquisition parameters and singlespectra measurement - Templates & ReportsDay 2• Analysis of Raman spectra • P ractical session: Raman spectrum measurement and Database Search - O ptimization of the parameters: how to chosethe laser, the grating, the confocal hole, the laser power- How to use the polarization options - Library Search using KnowItAll software - How to create databasesRaman imaging • H ow to make a Raman image (1D, 2D and 3D) • D ata evaluation: cursors, CLS fitting, peakfitting•Image rendering, 3D datasets •Fast mapping using SWIFT XSDay 3Data processing• Processing on single spectra and datasets • Baseline correction • Smoothing • Normalization• Spectra subtraction, averaging • Data reduction • Methods• Practical exercisesCustomer samples: Bring your own samples!Duration: 3 daysReference: RAM1Raman Microscopy for Beginners7Acquire technical skills on DuoScan, Ultra Low Frequency (ULF), Particle Finder or TERS.Users of HORIBA Scientific Raman spectrometers who already understand the fundamentals of Raman spectroscopy and know how to use HORIBA Raman system and LabSpec Software. It is advised to participate in the basic Raman training first (RAM1).Introduction to DuoScan• Principle and hardwareDuoScan Macrospot• Practical examplesDuoScan MacroMapping• Practical examplesDuoScan Stepping Mode• Practical examplesCustomer samples: Bring your own samples!Presentation of the ULF kit• Principle and requirements • Application examplesInstallation of the ULF kitIntroduction to Particle Finder• Principle and requirementsPractical session• Demo with known sample• Customer samples: Bring your own samples!Practical session• Demo with known samplesCustomers samples: Bring your own samples! Presentation of the TERS technique• Principle and requirements • Application examplesDemo TERS• Presentation of the different tips and SPM modes • Laser alignment on the tip • T ERS spectra and TERS imaging on known samplesPractical session• Hands-on on demo samples (AFM mode)• Laser alignment on the tip • T ERS spectra and TERS imaging on known samplesRaman Options: DuoScan, Ultra Low Frequency, Particle Finder, TERS8Users of HORIBA Scientific Raman spectrometers who already understand the fundamentals of Raman spectroscopy and know how to use HORIBA Raman system and labSpec Software. It is adviced to participate in the basic Raman training first.Who should attendDates: February 13, 2020 September 24, 2020 November 19, 2020Duration: 1 dayReference: RAM2From 9 am to 5:30 pm• Acquire theoretical and practical knowledge on SERS (Surface Enhanced Raman Spectroscopy)• Know how to select your substrate • Interpret resultsRaman SERSIntroduction to SERSPresentation of the SERS technique • Introduction: Why SERS?• What is SERS?• Surface Enhanced Raman basics • SERS substratesIntroduction to the SERS applications• Examples of SERS applications • Practical advice • SERS limitsDemo on known samplesCustomer samples: Bring your own samples!Raman Multivariate Analysis9Users of HORIBA Scientific Raman spectrometerswho already understand the fundamentals of Ramanspectroscopy and know how to use HORIBA Ramansystem and LabSpec Software. It is advised toparticipate in the basic Raman training first (RAM1).• Understand the Multivariate Analysis module• Learn how to use Multivariate Analysis for data treatment• Perform real case examples of data analysis on demo and customer dataIntroduction to Multivariate Analysis• Univariate vs. Multivariate analysis• Introduction to the main algorithms: decomposition (PCA and MCR), classification and quantification (PLS)Practical work on known datasets (mapping)• CLS, PCA, MCRIntroduction to classification• HCA, k-means• Demo with known datasetsIntroduction to Solo+MIA• Presentation of Solo+MIA Array• Demo with known datasetsData evaluation: cursors, CLS fitting, peak fitting• Fast mapping using SWIFT XSObjective: Being able to select the good parameters for Raman imaging and to perform data processScanning Probe Microscopy (SPM)• Instrumentation• T he different modes (AFM, STM, Tuning Fork) and signals (Topography, Phase, KPFM, C-AFM, MFM,PFM)Practical session• Tips and sample installation• Molecular resolution in AFM tapping mode• M easurements in AC mode, contact mode, I-top mode, KPFM• P resentation of the dedicated tips and additional equipment• O bjective: Being able to use the main AFM modes and optimize the parametersimaging)Practical session• Hands-on on demo samples (AFM mode)• Laser alignment on the tip• T ERS spectra and TERS imaging on known sample Day 3TERS Hands-on• T ERS measurements, from AFM-TERS tip installation to TERS mapping.• TERS measurements on end users samples.• Bring your own samples!26Dates: By appointmentDuration: Mutually agreed Reference: TRAINSITE • B asic training on techniques (ICP-OES, GDOES, PP-TOFMS, SPRi, Ellipsometry, Raman, Fluorescence ...)• P resentation and use of the specific software • U se of accessoriesSchedule of On-site Training (Example)• Daily use of the instrument (start up, checking, routine analysis)• Software review • Maintenance• Operating conditions optimizationAgenda is discussed and prepared by mutual agreementOn-site TrainingOn-line Training27All users of HORIBA analyzers equipped withinternet accessTraining or analytical assistance on any kind of instrument commercialized by HORIBA Scientific with thepossibility to use the 4 hour package in modules (30 minutes minimum each)To be defined when making the appointmentPrerequisiteA first connection (free of charge) will be done to ensure that the connection works properlyPackaging use follow upAn e-mail will be sent to the customer after each connection to keep him informed about time remaining in hispackage28Practical informationCourses range from basic to advanced levels and aretaught by application experts. The theoretical sessions aim to provide a thorough background in the basic principles and techniques. The practical sessions are directed at giving you hands-on experience and instructions concerning the use of your instrument, data analysis and software. We encourage users to raise any issues specific to their application. At the end of each course a certificate of participation is awarded.Standard, customized and on-site training courses are available in France, G ermany, USA and also at your location.Dates mentionned here are only available for HORIBA France training center.RegistrationFill in the form and:• Emailitto:*********************** • Or Fax it to: +33 (0)1 69 31 32 20• More information: Tel: +33 (0)1 69 74 72 00General InformationThe invoice is sent at the end of the training.A certificate of participation is also given at the end ofthe training.We can help you book hotel accommodations.Following your registration, you will receive a packageincluding training details and course venue map. Wewill help with invitation letters for visas, but HORIBA FRANCE is not responsible for any visa refusal.PricingRefreshments, lunches during training and handbook are included.Hotel transportation, accommodation and evening meals are not included.LocationDepending on the technique, there are three locations: Longjumeau (France, 20 km from Paris), Palaiseau (France, 26 km from Paris), Villeneuve d’Ascq (France 220 km from Paris) or at your facility for on-site training courses. Training courses can also take place in subsidiaries in Germany or in the USA.Access to HORIBA FRANCE, LongjumeauHORIBA FRANCE SAS16 - 18 rue du canal - 91165 Longjumeau - FRANCEDepending on your means of transport, some useful information:- if you are arriving by car, we are situated near the highways A6 and A10 and the main road N20- if you are arriving by plane or train, you can take the train RER B or RER C that will take you not far fromour offices.(Around 15 €, 150 € by taxi from Charles de G aulle airport, 50 € from Orly airport).We remain at your disposal for any information to access to your training place. You can also have a lookat our web site at the following link:/scientific/contact-us/france/visitors-guide/hAccess to HORIBA FRANCE, PalaiseauHORIBA FRANCE SAS14, Boulevard Thomas Gobert - Passage Jobin Yvon - CS 45002 - 91120 Palaiseau - FRANCEFrom Roissy Charles de Gaulle Airport By Train • T ake the train called RER B (direction Saint Remy Les Chevreuse) and stop at Massy-Palaiseau station • At Massy-Palaiseau station, take the Bus 91-06and stop at La Ferme de la Vauve.•The company is a 5 minute walk from the station (see the map below).•Around 150 € by taxi from Charles de Gaulle airport.29 Practical InformationFrom Orly Airport By Train• A t Orly airport, take the ORLYVAL, which is a metro line that links the Orly airport to the Antony RER station.• A t Antony station, take the RER B (direction St Remy Les Chevreuse) and stops at Massy-Palaiseau station.• A t Massy-Palaiseau station, take the Bus 91-06 and stop at La Ferme de la Vauve.• T he company is 5 minutes walk from the station, (see the map opposite).• Or at Orly take the Bus 91-10 stop at La Ferme de la Vauve. The company is 5 minutes walk from the station, (see the map opposite). We remain at your disposal for any information to access to your training place. You can also have a look at our web site at the following link:/scientific/contact-us/france/ visitors-guide/Around 50 € by taxi from Orly airport.Access to HORIBA FRANCE, Villeneuve d’Ascq HORIBA FRANCE SAS231 rue de Lille,59650 Villeneuve d’Ascq - FRANCEBy Road from Paris• When entering Lille, after the exit «Aéroport de Lequin», take the direction «Bruxelles, G and, Roubaix». Immmediatly take the direction «Gand / Roubaix» (N227) and No «Bruxelles» (A27) Nor «Valenciennes» (A23).• You will then arrive on the ringroad around Villeneuve d’Ascq. Take the third exit «Pont de Bois».• At the traffic light turn right and follow the road around, (the road will bend left then right). About 20m further on you will see the company on the right hand side where you can enter the car park. By Road from Belgium (GAND - GENT)Once in France, follow the motorway towards Lille. After «Tourcoing / Marcq-en-Baroeul», follow on the right hand side for Villeneuve d’Ascq. Take the exit «Flers Chateau» (This is marked exit 6 and later exit 5 - but it is the same exit). (You will now be following a road parallel to the motorway) Stay in the middle lane and go past two sets of traffic lights; at the third set of lighte, move into the left hand lane to turn under the motorway.At the traffic lights under the motorway go straight, (the road shall bend left then right). About 20 m further you shall see the company on the right hand side where you can enter the car park.AeroplaneFrom the airport Charles de Gaulle take the direction ‘Terminal 2’ which is also marked TG V (high speed train); where you can take the train to ‘Lille Europe’. Train - SNCFThere are two train stations in Lille - Lille Europe or Lille Flandres. Once you have arrived at the station in Lille you can take a taxi for HORIBA FRANCE SAS, or you can take the underground. Please note both train stations have stations for the underground.Follow the signs:1. From the station «Lille Flandres», take line 1, direction «4 Cantons» and get off at the station «Pont de bois».2. From the station «Lille Europe», take line 2, direction «St Philibert» and get off at the following station «Gare Lille Flandres» then take line 1, direction «4 Cantons» and get off at the station «Pont de Bois».BusBus n°43, direction «Hôtel de Ville de Villeneuve d’Ascq», arrêt «Baudoin IX».InformationRegistration: Fill in the form and send it back by FAX or Email four weeks before beginning of the training.Registration fees: Registration fees include the training courses and documentation. Hotel, transportation and living expenses are not included except lunches which are taken in the HORIBA Restaurant during the training.Your contact: HORIBA FRANCE SAS, 14, Boulevard Thomas Gobert - Passage Jobin Yvon - CS 45002 - 91120 Palaiseau - France Tél: +33 (0)1 69 74 72 00Fax: +33 (0)1 69 31 32 20E-Mail:***********************Siret Number: 837 150 366 00024Certified ISO 14001 in 2009, HORIBA Scientific is engaged in the monitoring of the environmental impact of its activitiesduring the development, manufacture, sales, installation and service of scientific instruments and optical components. Trainingcourses include safety and environmental precautions for the use of the instrumentsHORIBA Scientific continues contributing to the preservation of theglobal environment through analysis and measuring technologymentisnotcontractuallybindingunderanycircumstances-PrintedinFrance-©HORIBAJobinYvon1/22。
如何开展员工安全自主管理活动 安环部马志民授课
2020/4/1
• 7：七种工具
• 七种工具的由来 • 常用的管理工具有若干种， • 日本人经过多年的归纳、 • 总结、应用和推广，取得 • 了巨大的成功。传说日本 • 古代武士在出征作战时通常随身携带七种武器（1弓 、2枪 、3大日
活动结束后，全体组员手工签名，主持人就本次KYT活动情况进 行讲评，提出改进意见，并宣布下一次活动内容。
2020/4/1
2020/4/1
2020/4/1
5、手指口述
2020/4/1
手指口述的三种类别
作业场合
组合形式
内容
班前会
指认唱和
接触齐呼 （T&C）
全体班组成员用手指着前方，跟着喊口号进 行确认例如：“安全第一 ，OK!”
圣经中说：人就是赚得 全世界，赔上自己的生命， 又有什么益处？人还能拿什 么换生命呢？
生命是自己的，自己都 不爱护，还有谁能比自己更 加珍惜自己的生命。
2020/4/1
2020/4/1
毛主席在《论持久战》一文 中明确指出：只有有效的保护好 自己才能更好的消灭敌人。
三不伤害的关键是自己不伤害自己。
交接班
2020/4/1
指认呼唤 指认唱和
主要包括对作业现场的环境，使用的设备、 机械器材，工具及作业操作质量进行安全确 认，为下一班的操作安全打好坚实的基础。
6 、“5831”
一个目标（零事故）
职业健康 安全活动 应急预案
作班危 隐 行现 过 标 业前险 患 为场 程 准 准后辨 排 控管 控 化 备会识 查 制理 制 作
ICP-MS 7700现场培训资料
ٛ
- HNO3 。
ٛ
- DI 水。
ٛ
- Agilent Tuning 溶液：1ppb Li, Co, Y, Ce, Tl 。
ٛ
•PA Factor 溶液：将Part# 5188-6525, 100ug/mL 6Li, Sc, Ge, Rh, In, Tb, Lu,Bi) 稀释5000倍，得到
ٛ
PA factor Tune 溶液(20ppb 6Li, Sc, Ge, Rh, In, Tb, Lu,Bi )。或稀释200倍，内标管进样相当于20ppb
Test Item
Sensitivity灵敏度(0.1sec,1ppb)
Oxide氧化物(CeO/Ce)
随机背景
反应气模式(H2 或He) 同左 同左 同左 同左 -40（-40~ -30） -60（-60~ -40） 0（-5~ 4） -60(固定) 同左 -18(固定) -15(固定) 4.5（4~ 5） 6（5~ 7）
ICP-MS简单培训资料
ICP-MS简单培训资料一、ICP-MS 简介ICP-MS全称电感耦合等离子体质谱（Inductively Coupled Plasma Mass Spectrometry），可分析几乎地球上所有元素（Li-U）ICP-MS技术是80年代发展起来的新的分析测试技术。
它以将ICP的高温（8000K）电离特性与四极杆质谱计的灵敏快速扫描的优点相结合而形成一种新型的最强有力的元素分析、同位素分析和形态分析技术。
该技术提供了极低的检出限、极宽的动态线性范围、谱线简单、干扰少、分析精密度高、分析速度快以及可提供同位素信息等分析特性。
自1984年第一台商品仪器问世以来，这项技术已从最初在地质科学研究的应用迅速发展到广泛应用于环境保护、半导体、生物、医学、冶金、石油、核材料分析等领域。
被称为当代分析技术最激动人心的发展。
•光刻胶和清洗剂二、ICP-MS 仪器和原理介绍标准样品引入系统由两个主要部分组成：样品提升部分和雾化部分。
样品提升部分可以使用蠕动泵或自提升的雾化器。
蠕动泵用于提升样品或提升经T 接头混合的样品/内标混和液，可以便捷地实现内标的在线加入。
使用标准的1.02mm内径的样品管时，在0.1rps转速下，蠕动泵提升样品的能力大约为0.4ml/min。
而内标管的直径为0.19mm，因此内标液的流速更慢，在0.1rps转速下，蠕动泵提升内标的能力大约为20µl/min。
也就是说，内标溶液相对于被稀释20倍，所以虽然我们要求引入系统的内标元素浓度为50ppb，但使用的内标溶液浓度为1ppm(1000ppb)。
注：即使用自提升的雾化器，仍需要使用蠕动泵，因为雾化器里的废液是通过蠕动泵排到废液桶中的。
如果雾化器不排废液，将导致信号不稳定，如果过多的液体流入炬管，将导致熄火，对仪器造成危害。
样品引入系统的第二部分是雾化器和雾化室。
样品以泵入方式或者自提升方式进入雾化器后，在载气作用下形成小雾滴，并进入雾化室。
ICP培训报告
ICP培训报告为了使我们更好的了解实验室仪器的性能，掌握仪器的操作方法等，公司安排我们进行为期三天的ICP-AES学习。
下面就是我对培训所学的总结，主要有五大板块：1、ICP发射光谱的介绍及分析原理；2、仪器的概述；3、ICP的主要分析性能；4、Si样品的前处理；5、ICP-AES程序的方法编辑。
1、ICP发射光谱的介绍及分析原理原子发射光谱分析是一种已有一个世纪以上悠久历史的分析方法，原子发射光谱分析的进展，在很大程度上依赖于激发光源的改进。
到了60年代中期，Fassel和Greenfield分别报道了各自取得的重要研究成果，创立了电感耦合等离子体原子发射光谱新技术，这在光谱化学分析上是一次重大的突破。
后来随着CCD检测器件的使用使多元素同时分析的能力大大提高。
与此同时，其它等离子体光谱分析技术（直流等离子体、微波等离子体）也得到了长足的进步。
ICP-AES可以对被测物质进行定性定量分析。
定性分析的原理是建立在量子力学的基本理论上：电子绕核作圆周运动，可以有若干个分离的圆形轨道，在不同的轨道上运行的电子处于不同能量状态，在这些轨道上运行的电子不辐射能量，即处于定态，在多个可能的定态中，能量最低的态叫基态，其它称为激发态。
原子可以由某一定态跃迁至另一定态，在此过程中发射或吸收能量，两态之间的能量差等于发射或吸收一个光子所具有的能量，即hv=E2-E1(式中，E2＞E1。
若E2为起始态能量，则发生辐射；若为E2终止态能量，则吸收辐射)。
原子或离子可处于不连续的能量状态，该状态可以用谱线来描述，当处于基态的气态原子或离子吸收了一定得外界能量时，其核外电子就从一种能量状态（基态）跃迁到另一种能量状态（激发态），此时处于激发态的原子和离子很不稳定，经约10~8秒便跃迁返回基态，并将激发所吸收的能量以一定得电磁波辐射出来，将这些电磁波按一定波长排序排列即为原子光谱（线状光谱），由于原子或离子的能级很多并且不同元素的结构是不同的，因此，对特定元素的原子或离子可产生一系列不同波长的特征光谱，通过识别待测元素的特征谱线存在与否进行定性分析。
ICPMS
体内药物分析
与常规药物分析相比，体内药物分析在 选择性、灵敏度和分析对象等方面都有 许多差异。生物样品更为复杂：微量药 物分布在大量生物介质中，并伴有大量 内源性物质和代谢物的干扰，这大大增 加了分析的难度，同时生物样品量少， 不易重新获得。因此，选择灵敏度高和 选择性好的分析方法较为重要。
从理论上说，ICP-MS的高灵敏度和选择 性为分析来自生物样品中含有可被其检 测的元素提供了较为理想的分析手段。 ICP-MS在含砷、铋、铝和铂等药物的体 内药物分析中有很好的分析效果。特别 是对AAS无法测定的含铂类药物分析， ICP-MS更是理想的方法。
在ICP-MS 的应用过程中，对定量分析研 究较为重要的元素有：（1）碱金属和碱 土金属；（2）过渡元素中的铬、铁、铜、 锌等；（3）贵重金属铂；（4）非金属 磷、硫、硒、氯、溴、碘；（5）其它元 素，包括汞和砷等。 ICP-MS也常被用于 分析放射性元素，因此只要待测物中含 有上述任何一种元素就可以用ICP-MS进 行快速定量分析。
三、ICP-MS在药物分析中的应用
ICP-MS已被应用于药物研究分析领域中， 主要包括药物及其代谢产物定量分析、 体内药物分析、药物的一般杂质检查及 中药质量评价和控制等领域和方向。
药物及其代谢产物定量分析
现行的含量测定方法，对含金属或卤素 等元素的有机药物分析之前，需要作适 当处理，这样不仅费时费力，还会消耗 大量样品，特别对于生物样品的分析而 言不可取。
ICP-MS应用中存在的问题
ICP-MS作为一种新的分析技术，尽管在 各方面都表现出了不凡的优点，但其在 应用中存在的问题却不容忽视。如：信 号的波动，氧化物、双电荷离子、多原 子离子、同量异位素等因素的校正信号波动是行之有效 的办法，质量数接近的被分析元素受信 号波动和基体效应的影响相近，所以内 标的选择以质量数接近为好；而在进行 多元素分析时，应用双内标或多内标是 较好的解决办法，且也应选择质量数尽 可能相近的元素作内标。
《妊娠期肝内胆汁淤积症》课件模板
妊娠期肝内胆汁淤积症-护理措施
• （3）地塞米松：遵医嘱每日12mg，连用一周，在 后3日内应逐渐减量至停药，以防止不良反应的发 生。
• （4）通过使用缩宫素和维生素K1，积极有效地进 行产后子宫按摩，促进子宫收缩，改善凝血功能， 明显减少了产后出血。
妊娠期肝内胆汁淤积症-临床表现
• 3，其他症状和体征：瘙痒严重时可有失眠和 情绪上的改变，四肢皮肤可见抓痕。少部分患 者可伴有恶心、呕吐、食欲减退、疲劳等症状。 临床可无急、慢性肝病体征，肝大但质软，可 有轻微压痛。
妊娠期肝内胆汁淤积症-处理原则
• 积极缓解瘙痒症状，恢复肝功能，降低血胆 酸水平等对症处理；加强胎儿宫内状况及母 亲监护，适时终止妊娠以改善妊娠结局。由 于目前尚无特殊治疗方法，临床以对症和保 肝治疗为主。
3．病理检查 毛细胆管胆汁淤积及胆栓形成。
电镜切片发现毛细胆管扩张合并微评分法：将基线胎心率 变异消失作为预测ICP胎儿宫内缺氧的指标。
妊娠期肝内胆汁淤积症-护理诊断
• 有皮肤完整性受损的危险：与瘙痒抓伤有关 • 睡眠形态紊乱：与夜间瘙痒症状加重，或全身严
胞含有色素，并可见嗜碱性的颗粒聚集。由于病变
不明显有时可被忽略。 电镜下细胞结构完整，毛 细胆管扩张，微绒毛扭曲、水肿或消失。 • 2，胎盘：滋养细胞肿胀，绒毛基质水肿及间隙 缩小，绒毛板及羊膜有胆盐沉积。
妊娠期肝内胆汁淤积症-临床表现
• 临床表现： ICP孕妇因母体脂溶性维生素K吸收减 少，肝脏合成凝血因子减少，导致产后出血发生 率增加；由于母血中胆汁酸含量过高，引起子宫 平滑肌收缩导致流产、早产发生率增加；胎盘病 理改变使胎盘功能低下，导致胎儿宫内窘迫、生 长受限、死胎、死产的发生率均明显升高；此外 还可引起新生儿颅内出血及新生儿神经系统后遗 症等。 ICP在妊娠中、晚期出现瘙痒，或瘙痒与 黄疽同时共存，分娩后迅速消失。
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双单色仪光学设计
Optima 2000 双阵列 背投式 固态检测器
DBI-CCD 检测器原理图
参比谱线
Output
Register for the reference measurement 2 mm CCD array
分析array
Register for the analytical measurement 3 mm l
二、仪器
1.ICP光源
RF发生器 ICP矩及进样系
独特的双观测结构
2.光谱仪和检测器
OPTIMA 4000 OPTIMA 2000
电感耦合等离子体发射光谱仪系统
光学传递 等离子炬
高频发生器
等离子炬管
检测器
光谱仪系统
样品喷射管 雾化器 氩气 废液口
雾化室
微处理器 和电子控制系统
数据系统 样品 蠕动泵
Wavelength (picometers)
部分重叠干扰
部分重叠干扰
MSF: Multi-Component Spectral Fitting 多谱拟合
Emission spectrum = sum of n contributions
快速雾化气系统
固态射频发生器
小巧和低成本的射频 系统
对OPTIMA4000和 OPTIMA2000所有部件 全部通用
Optima 5000DV
Optima 3300DV 落地型454 kg
增加可靠性 降低成本 减小体积及重量
Optima 5000 DV
桌面型193 kg
固态 RF 发生器的特点
• 可靠性和稳定性更好 • 无需使用大功率管 • 热平衡时间短 • 无需进行 RF 功率校正 • 更高的能量传输效率可达77%
Optima 5300 DV 精湛的光学系统
Parabola Schmidt Cross Disperser Visible Prism Telephoto Lens
Entrance Slit Echelle
Fold Flat
Field Flattener
UV Camera Sphere ICP Torch Computercontrolled Mirror Output CCD Subarray
OPTIMA5000和其他光谱仪 光通量的比较
D/F = 1/ f 1/f=6.7 F=504mm D=75mm S=4400mm2 1/f=8.5 F=381mm D=45mm S=1600mm2 S 准直镜面积
面向实际分析的检测器SCD
• • • •
235个子陈列5000多条谱线——包含ICP分析所需全派 部谱线避免无用的大量存储空间 每个陈列编上地址码——迅速读数个CCD顺序读出节 省时间 每个每个陈列包括一套照相快门和信号处理放大系统 ——自动接谱线强弱选定积分时间（低至1毫秒）避免 信号饱和 每个陈列到四周设有屏蔽——超饱和也不会溢出到其 它陈列
一、ICP发射光谱概述及分析原理
电感耦合等离子体发射光谱仪系统
光学传递 等离子炬
高频发生器
等离子炬管
检测器
光谱仪系统
样品喷射管 雾化器 氩气 废液口
雾化室
微处理器 和电子控制系统
数据系统 样品 蠕动泵
氢原子的玻尔模型 （基态）
-
+
激发
+
加入量子化的能量
发射
+
光
电子返回低能级 发出特定波长的光 DE=k/l k =12400
SCD
MD March 1997
37
SCD示意图(二维光谱)
高
波长和级次
Cu 221.458
Pb 220.353
低
130
120
110
100
90
80
70
60
高 低
级次 波长
低 高
MD March 1997
38
SCD 子阵列原理图
时钟线
接口 光电寄存器 控制线 地址线
存储寄存器 输出寄存器
输出电路
世界领先科技
电感耦合等离子体发射光谱仪
Inductively Coupled Plasma - Atomic Emission Spectrometry
ICP - AES
ICP用户培训提要
• 一、ICP发射光谱概述及分析原理 • 二、仪器 • 三、ICP的分析参数 • 四、应用中的一些问题 • 五、其它
Cs
Ba La Hf Ta W Re Os Ir Pt Au H Tl Pb Bi Po At Rn g Fr Ra Ac Fr Ce Pr Nd Pm Sm Eu Gd Tb Dy Ho Er Tm Yb Lu Bk Cf Es Fm Md No Lr A Th Pa U Np Pu AmCm
m
光谱干扰
双阵列背投式固态检测器
• • •
光从背面照射 光仅通过9微米的薄层
光能量最小吸收
实时动态波长校正原理图
Detec tor Ec helle grating
Unsorted neon sp ec trum Interm ed ia te slit
Prism sp ec trum
Op tic al fib er Sing le ord er a nalytic a l sp ec trum
ICP 发射光谱中元素谱线干扰情况
产生干扰较大的元素 ICP不产生谱线的元素
H
产生干扰较小的元素
He B C N O F Ne
谱线很少的元素
Li Be
Na Mg
Al Si P
S Cl Ar
K Ca Sc V Ti Cr Mn Fe Co Ni C Zn Ga Ge As Se Br Kr u Rb Sr Y Nb Zr Mo Tc Ru Rh Pd Ag Cd In Sn Sb Te I Xe
检测器上得到分析谱线外的光得到不准确结果
简单背景校正
简单背景校正
倾斜的背景校正
倾斜的背景校正
完全重叠干扰
6000.00
5000.00
Emission Intensity/Second
4000.00
3000.00
2000.00
1000.00
0.00 0.3 10.3 20.3 30.3 40.3 50.3 60.3
积分时间和检出限的关系
四、应用中的一些问题（准确度）
1.样品前处理 2.分析方法中的干扰校正
物理干扰 粘度 表面张力 酸度 溶液浓度等
光谱干扰
背景校正
直接干涉校正 IEC 多谱拟合 MSF
3.基体效应的消除
样品前处理
取样量和稀释倍数(溶液中离子总浓度) 尽量避免碱溶
物理干扰
影响样品提升和雾化 粘度 酸度 表面张力 溶液浓度
Prism
三、ICP的主要分析性能和参数
1．检出限
2．稳定性
3．分辨率
4. ICP主要工作参数
检出限
DL = K x C / I-I0 x RSD0% = K x C / I-I0 x RSD0% = K x BEC x RSD0%
= 0.01 K BEC
(RSD0% = 1%)
K=3
背景等效浓度BEC
ICP光源主要部件
• RF发生器
• ICP炬 • 进样系统
27.12MHz---40.68MHz 大功 率管---固态电路 体积 15 X 15 X 10 cm3
可拆卸 双向观测 耐腐蚀雾室 质量
正交雾化器
流量计 0.01升/分
全新的固态 RF 高频发生器
恒温系统 方便的维修和诊断系统
可拆卸矩管系统
光 学 系 统 设 计 思 想
ICP主要谱线集中在紫外区 除碱金属锶及轻稀土元素外所有元素灵敏线均在 400nm以内 光通量 透射率 大面积光学元件紫外区用光栅代替棱镜 紫外区用光栅代替棱镜
• 灵敏度： • 分辨率：
色散率 光栅刻线 焦距 狭缝宽度 二档狭缝 相元宽度12.5u 像差 抛物面准直镜Schmidt光栅消除聚光镜 球面像差
OPTIMA5000DV 2100DV双向观测
轴向 切割气
径向
ICP-AES 的发展
• 照相法 • ICP多道直读光谱仪 • ICP单道直读光谱仪 • ICP全谱直读光谱仪
PMT PMT CCD
传统单道多道光谱仪简图
全谱直读光谱仪简图
OPTIMA 5000DV
• 紫外区：
• • • • • • •
光学系统优异的性能
•
与分辨率成正比的光学参数
– 光栅宽度：160mm – 中阶梯光栅刻线密度：79 条/mm – 闪耀角：63.4 – 焦距： 0.5m
– 消像差：抛物面准直镜 Schmidt光栅
•
与灵敏度成正比的光学参数
– 光栅面积 ：80×160mm 保障了大光通量 – 大光圈： f /6.7 能量大
正常观测区
尾焰
Calibration With Tail Plume Removed
切割气
Concentration
• • •
PHZ (予热区) IRZ (开始发射区) NAZ (正常观测区)
Dominantly Ionic Emission
尾焰
形成分子氧化物 自吸
Primary zone for excited states
C
C 0 BEC
I0 C / BEC = I-I0 / I0 I0
I BEC = C / I-I0 / I0
I
稳定性
短期 长期 RSD < 0.5 % RSD < 1.5 %