广州大学数电实验报告TTL集成逻辑门的逻辑功能与参数测试
实验五 TTL集成逻辑门的逻辑功能与参数测试
实验五 TTL集成逻辑门的逻辑功能与参数测试一、实验目的1.掌握TTL集成与非门的逻辑功能和主要参数的测试方法2.掌握TTL器件的使用规则3.进一步熟悉数字电路实验装置的结构,基本功能和使用方法二、实验设备1.+5V直流电源2.逻辑电平开关3.逻辑电平显示器4.万用电压表5.74LS20×1三、实验内容本实验采用四输入双与非门74LS20,即在一块集成块内含有两个互相独立的与非门,每个与非门有四个输入端。
其逻辑符号及引脚排列如图 (a)、(b)所示1、验证TTL集成与非门74LS20的逻辑功能与非门的逻辑功能是:当输入端中有一个或一个以上是低电平时,输出端为高电平;只有当输入端全部为高电平时,输出端才是低电平(即有“0”得“1”,全“1”得“0”。
)2.74LS20主要参数的测试(1).I CCL是指所有输入端悬空,输出端空载时,电源提供器件的电流。
(2).I CCH是指输出端空截,每个门各有一个以上的输入端接地,其余输入端悬空。
通常I CCL>I CCH,它们的大小标志着器件静态功耗的大小。
(3).I iL是指被测输入端接地,其余输入端悬空,输出端空载时,由被测输入端流出的电流值。
在多级门电路中,I iL相当于前级门输出低电平时,后级向前级门灌入的电流,因此它直接影响前级门电路带负载的个数,因此希望I iL小些。
(4).I iH是指被测输入端接高电平,其余输入端接地,输出端空载时,流入被测输入端的电流值。
在多级门电路中,它相当于前级门输出高电平时,前级门的拉电流负载,其大小关系到前级门的拉电流负载能力,希望I iH小些。
在实验过程中,分别按图(a)、(b)、(c)、(d)接线并进行测试,将测试结果记入表2中。
表23、TTL与非门电压传输特性门的输出电压随输入电压而变化的曲线,称为门的电压传输特性。
测试电路如图所示,采用逐点测试法,即调节R W,逐点测得U i(v)及U o(v),然后填表。
TTL集成逻辑门的逻辑功能与参数测试
实验二TTL集成逻辑门的逻辑功能与参数测试一、实验目的1、掌握TTL集成与非门的逻辑功能和主要参数的测试方法2、掌握TTL器件的使用规则3、进一步熟悉数字电路实验装置的结构,基本功能和使用方法二、实验原理本实验采用四输入双与非门74LS20,即在一块集成块内含有两个互相独立的与非门,每个与非门有四个输入端。
其逻辑框图、符号及引脚排列如图2-1(a)、(b)、(c)所示。
(b)(a) (c)图2-1 74LS20逻辑框图、逻辑符号及引脚排列1、与非门的逻辑功能与非门的逻辑功能是:当输入端中有一个或一个以上是低电平时,输出端为高电平;只有当输入端全部为高电平时,输出端才是低电平(即有“0”得“1”,全“1”得“0”。
)其逻辑表达式为 Y=2、TTL与非门的主要参数(1)低电平输出电源电流ICCL 和高电平输出电源电流ICCH与非门处于不同的工作状态,电源提供的电流是不同的。
ICCL是指所有输入端悬空,输出端空载时,电源提供器件的电流。
ICCH是指输出端空截,每个门各有一个以上的输入端接地,其余输入端悬空,电源提供给器件的电流。
通常ICCL >ICCH,它们的大小标志着器件静态功耗的大小。
器件的最大功耗为PCCL =VCCICCL。
手册中提供的电源电流和功耗值是指整个器件总的电源电流和总的功耗。
ICCL 和ICCH测试电路如图2-2(a)、(b)所示。
[注意]:TTL电路对电源电压要求较严,电源电压VCC只允许在+5V±10%的范围内工作,超过5.5V将损坏器件;低于4.5V器件的逻辑功能将不正常。
(a) (b) (c) (d)图2-2 TTL与非门静态参数测试电路图(2)低电平输入电流IiL 和高电平输入电流IiH。
IiL是指被测输入端接地,其余输入端悬空,输出端空载时,由被测输入端流出的电流值。
在多级门电路中,IiL相当于前级门输出低电平时,后级向前级门灌入的电流,因此它关系到前级门的灌电流负载能力,即直接影响前级门电路带负载的个数,因此希望IiL小些。
数电实验一 TTL集成电路-逻辑门电路的参数测试
实验内容二:参数测试4
输入 电压 0 (V)
输出 电压 (V) 输入 电压 1.2 (V) 输出 电压 (V) 1.3 1.4 1.5 1.6 2.0 3.0 4.0 5.0 0.2 0.4 0.6 0.7 0.8 0.9 1.0 1.1
实验内容一:逻辑功能测试
输入变量A(1脚) 0 0 0 0 0 0 0 0 1 1 1 1 输入变量B(2脚) 0 0 0 0 1 1 1 1 0 0 0 0 输入变量C(4脚) 0 0 1 1 0 0 1 1 0 0 1 1 输入变量D(5脚) 0 1 0 1 0 1 0 1 0 1 0 1 输出变量F(6脚)
实验器件
电子技术实验台 万用表 74LS20:二-四输入与非门 1片
芯片引脚图
实验内容一:逻辑功能测试
1 74LS20为二-四输入与非门 2 按引脚图,7脚接地,14脚接+5V出端6脚接电平指示灯 5 输入和输出时:发光二极管灯亮为逻辑 “1”,灯灭为逻辑“0” 6 完成下表,推导输入与输出的关系:F=?
1
1 1 1
1
1 1 1
0
0 1 1
0
1 0 1
实验内容二:参数测试1
测试门电路导通时的电源电流ICCL和门电路 截止时的电源电流ICCH
实验内容二:参数测试2
测试门电路低电平输入电流IIL(灌电流)和 高电平输入电流IIH(拉电流,较小)
实验内容二:参数测试3
间接测量低电平扇出 系数:如图连线,调 节电位器,使电压表 达到0.4伏,记录电 流表示数IOLM。低电 平扇出系数 N=IOLM/IIL , 注意,N要取整。
实验内容二:参数测试4
测试门电路的电压传输特性
实验一 TTL逻辑门的功能与参数测试
被测输入端接低电平,其余输入端悬空,输出端空载时,由 被测输入端流出的电流。(图4-1-2, c)
高电平输入_电流IiH
被测输入端接高电平,其余输入端接地,输出端空载时,由 被测输入端流入的电流。(图4-1-2, d)
IiH
& &
IiL
图4-1-2, c 图4-1-2, d
主要参数
内容与实验步骤
• • • • 1.在实验箱上找到74LS20 按书上表格验证逻辑功能 2.测试参数 3. 注意事项:
• 分清引脚标号,不能接错,输出引脚不能 线与,否则烧毁芯片
扇出系数No:
门电路能驱动同类门的个数,有低电平扇出系数NOL和高电平 扇出系数NOH,通常IiH<IiL,则NOH>NOL,故常以NOL作为扇出系 数。(按图4-1-3测试)。
电压传输特性
门的输出电压Vo随输入电压Vi变化的曲线Vo=f(Vi) 4测试) (按图4-1-
N OL
&
I OL I iL
&
图4-1-3测试
图4-1-4
主要参数
平均传输延迟时间Tpd
t pd
ቤተ መጻሕፍቲ ባይዱ
输出波形对输入波形的延迟时间 (按图4-1-5测试) 与非门的逻辑功能: 输入 A 0 0 0 0 0 1 B 0 0 0 0 1 ... 1 1 1 C 0 0 1 1 0 D 0 1 0 1 0 输出 Y 1 1 1 1 1 1 0
实验一 TTL逻辑门的功能与参 数测试
实验目的
• 1. 了解TTL与非门各参数的意义 • 2. 掌握TTL集成与非门的逻辑功能和主要参 数的测试方法。 • 3.掌握TTL器件的使用规则 • 4. 熟悉数字电路实验系统的使用方法。
ttl集成逻辑门的逻辑功能测试实验报告
ttl集成逻辑门的逻辑功能测试实验报告下载温馨提示:该文档是我店铺精心编制而成,希望大家下载以后,能够帮助大家解决实际的问题。
文档下载后可定制随意修改,请根据实际需要进行相应的调整和使用,谢谢!并且,本店铺为大家提供各种各样类型的实用资料,如教育随笔、日记赏析、句子摘抄、古诗大全、经典美文、话题作文、工作总结、词语解析、文案摘录、其他资料等等,如想了解不同资料格式和写法,敬请关注!Download tips: This document is carefully compiled by the editor. I hope that after you download them, they can help you solve practical problems. The document can be customized and modified after downloading, please adjust and use it according to actual needs, thank you!In addition, our shop provides you with various types of practical materials, such as educational essays, diary appreciation, sentence excerpts, ancient poems, classic articles, topic composition, work summary, word parsing, copy excerpts, other materials and so on, want to know different data formats and writing methods, please pay attention!TTL集成逻辑门的逻辑功能测试实验报告引言集成电路是现代电子技术的核心,其中的逻辑门在数字电路中扮演着至关重要的角色。
数电实验
Si Ai Bi Ci 1 Ai Bi Ci 1 Ai Bi Ci 1 Ai Bi Ci 1 Ci Ai Bi Ai Ci 1 Bi Ci 1
得 p78 图4 . 3. 6 ------太繁琐
教材p78图4.3.7 用异或门和与非门来实现全加运算。----自己推导公 式----p78。
实验预习要求 1、复习有关计数器部分内容 2、绘出各实验内容的详细线路图 3、拟出各实验内容所需的测试记录表格 4、查手册,给出并熟悉实验所用各集成块的引脚排列图 实验报告 1、画出实验线路图,记录、整理实验现象及实验所得的有 关波形。对实验结果进行分析。 2、总结使用集成计数器的体会。
移位寄存器及其应用
(5)平均传输延迟时间tpd :是衡量门电路开关速度的参数, 它是指输出波形边沿的0.5Um至输入波形对应边沿0.5Um点 的时间间隔。
tpd
1 tpd (tpdL tpdH ) 2
T 6
实验五:组合逻辑电路的设计与测试
一、实验目的 掌握组合逻辑电路的设计与测试方法
二、实验内容 1、设计用与非门及用异或门、与门组成的半加器电路。 要求按本文所述的设计步骤进行,直到测试电路逻辑功能符 合设计要求为止。 2、设计一个一位全加器,要求用异或门、与门、或门组成。 3、设计一位全加器,要求用与或非门实现。 4、设计一个对两个两位无符号的二进制数进行比较的电路; 根据第一个数是否大于、等于、小于第二个数,使相应的三 个输出端中的一个输出为“1”,要求用与门、与非门及或非 门实现。
实验预习要求 1、根据实验任务要求设计组合电路,并根据所给的标准器件 画出逻辑图。 2、如何用最简单的方法验证“与或非”门的逻辑功能是否完好? 3、“与或非”门中,当某一组与端不用时,应作如何处理?
TTL集成逻辑门的逻辑功能与参数测试
哈尔滨信息工程学院
教师:宿文玲 日期:2016-10
一·实验目的 二·实验原理 三·实验设备与器件 四·实验内容 五·实验报告 六·集成电路芯片简介 七·TTL集成电路使用规则
(1)掌握TTL集成与非门的逻辑功能和主要参数方法; (2)掌握TTL器件的使用规则;
地,输出端空载 端接地,其他输入端 悬空,输出端空载 Vcc 5 V ,被测输入 端 Vin 2.4 V ,其他 输入端接地,输出端 空载 Vcc 5 V ,被测输 V ,其他 入端 Vin 5 输入端接地,输出端 空载
直 流 参 数
低电平输入电流
Vcc 5 V ,被测输入
50 A
1.与非门的逻辑功能 与非门的逻辑功能是:当输入中有一个或一个以上是低电 平时,输入端为高电平;只有当输入端全部为高电平时, 输出端才是低电平,即有“0”得“1”,全“1”得“0”。 其逻辑表达式为 Y AB ... 2.TTL与非门的主要参数 (1)低电平输出电源 I CCL 和高电平输出电源电流 I CCH 与非门处于不同对工作状态,电源提供的电流使不同的。 I CCL 是指所有输入端悬空,输出端空载时,电源提供器 ICCH 是指输出端空载,每个门各有一个以上的 件的电流。 输出端接地,其余输入端悬空,电源器件的电流。通常 ICCL ICCH 它们的大小标志着器件静态功耗的大小。器件 的最大功耗为 PCCL VCC ICCL 。手册中提供的电源电流和 功耗值是指整个器件总的电源电流和总的功耗。 I CCL 和 ICCH 测试电路如图1-2(a)、(b)所示。
输入
输出
A
B
C
Y1
Y2
实验TTL集成逻辑门地逻辑功能与全参数测试
一、实验目的1、掌握TTL集成与非门的逻辑功能和主要参数的测试方法2、掌握TTL器件的使用规则3、进一步熟悉数字电路实验装置的结构,基本功能和使用方法二、实验原理本实验采用双四输入与非门74LS20,即在一块集成块内含有两个互相独立的与非门,每个与非门有四个输入端。
其逻辑框图、符号及引脚排列如图1(a)、(b)、(c)所示。
(b)(a) (c)图1 74LS20逻辑框图、逻辑符号及引脚排列1、与非门的逻辑功能与非门的逻辑功能是:当输入端中有一个或一个以上是低电平时,输出端为高电平;只有当输入端全部为高电平时,输出端才是低电平(即有“0”得“1”,全“1”得“0”。
)其逻辑表达式为 Y=2、TTL与非门的主要参数(1) 输出低电平V OL:输出低电平是指与非门的所有输入端都接高电平时的输出电平值。
测试电路如图2(a)所示。
(2)输出高电平V OH:输出高电平是指与非门有一个以上输入端接低电平时的输出电平值。
测试电路如图2(b)所示。
(a )(b )图2 V OH 、V OL 测试电路图(3)低电平输出电源电流I CCL 和高电平输出电源电流I CCH与非门处于不同的工作状态,电源提供的电流是不同的。
I CCL 是指所有输入端悬空,输出端空载时,电源提供器件的电流。
I CCH 是指输出端空截,每个门各有一个以上的输入端接地,其余输入端悬空,电源提供给器件的电流。
通常I CCL >I CCH ,它们的大小标志着器件静态功耗的大小。
器件的最大功耗为P CCL =V CC I CCL 。
手册中提供的电源电流和功耗值是指整个器件总的电源电流和总的功耗。
I CCL 和I CCH 测试电路如图3(a)、(b)所示。
[注意]:TTL 电路对电源电压要求较严,电源电压V CC 只允许在+5V ±10%的范围内工作,超过5.5V 将损坏器件;低于4.5V 器件的逻辑功能将不正常。
(a) (b) (c) (d)图3 TTL 与非门静态参数测试电路图(4)低电平输入电流I iL 和高电平输入电流I iH 。
实验一TTL集成逻辑门的逻辑功能与参数测试
1.纪录、整理实验结果,并对实验结果进行分析。 2.画出实测的电压传输特性曲线,并从中读出各有 关参数。 3.心得体会。
2.TTL与非门的主要参数
(1)低电平输出电源电流ICCL和高电平输出电源电流ICCH
ICCL是指所有输入端悬空,输出端空载时电源提供器件的 电流。
ICCH是指输出端空载,有一个以上输入端接地,其余输入 端悬空时电源提供器件的电流。通常ICCL> ICCH。
ICCL和ICCH测试电路如图(1)、(2)。
vcc +5v ICCL mA
&
(1)
vcc +5v ICCH mA
&
vcc +5v
&
vcc +5v
mA IiH
&
mA IiL
(2)
(3)
(4)
电流较小,无法测 量可不作.
(2)低电平输入电流IiL和高电平输入电流IiH
IiL是指被测输入端接地,其余输入端悬空,输出端空载时,由 被测输入端流出的电流值。
三.实验原理
本实验采用四输入双与非门74LS20,即在一块集 成块内含2个互相独立的与非门,每个与非门有四个输 入端。其逻辑符号及引脚排列如图。
Vcc 14 13 12 11 10 9 8 &
国标符号
1 2 3 4 5 6 7 GND
74LS20引脚排列图
1.与非门的逻辑功能
当输入有一个或一个以上是低电平时,输出为高电平;只 有输入全是高电平时,输出才是低电平(即:输入有0输出1, 输入全1输出0)。
ICCL
ICCH
IiL
I0L
N0
表2
3.按图6接线,调节电位器RW,使Ui 从0向高电平变化,逐点测量Ui和U0 的对应值,记入表3中。
TTL集成逻辑门的逻辑功能与参数测试
实验五TTL集成逻辑门的逻辑功能与参数测试一、实验目的1、掌握TTL集成与非门的逻辑功能和主要参数的测试方法2、掌握TTL器件的使用规则3、进一步熟悉数字电路实验装置的结构,基本功能和使用方法二、实验原理本实验采用四输入双与非门74LS20,即在一块集成块内含有两个互相独立的与非门,每个与非门有四个输入端。
其逻辑框图、符号及引脚排列如图2-1(a)、(b)、(c)所示。
(b)(a) (c)图2-1 74LS20逻辑框图、逻辑符号及引脚排列1、与非门的逻辑功能与非门的逻辑功能是:当输入端中有一个或一个以上是低电平时,输出端为高电平;只有当输入端全部为高电平时,输出端才是低电平(即有“0”得“1”,全“1”得“0”。
)其逻辑表达式为 Y=2、TTL与非门的主要参数(1)低电平输出电源电流ICCL 和高电平输出电源电流ICCH与非门处于不同的工作状态,电源提供的电流是不同的。
ICCL是指所有输入端悬空,输出端空载时,电源提供器件的电流。
ICCH是指输出端空截,每个门各有一个以上的输入端接地,其余输入端悬空,电源提供给器件的电流。
通常ICCL>I CCH ,它们的大小标志着器件静态功耗的大小。
器件的最大功耗为P CCL =V CC I CCL 。
手册中提供的电源电流和功耗值是指整个器件总的电源电流和总的功耗。
I CCL 和I CCH 测试电路如图2-2(a)、(b)所示。
[注意]:TTL 电路对电源电压要求较严,电源电压V CC 只允许在+5V ±10%的范围内工作,超过5.5V 将损坏器件;低于4.5V 器件的逻辑功能将不正常。
(a) (b) (c) (d)图2-2 TTL 与非门静态参数测试电路图(2)低电平输入电流I iL 和高电平输入电流I iH 。
I iL 是指被测输入端接地,其余输入端悬空,输出端空载时,由被测输入端流出的电流值。
在多级门电路中,I iL 相当于前级门输出低电平时,后级向前级门灌入的电流,因此它关系到前级门的灌电流负载能力,即直接影响前级门电路带负载的个数,因此希望I iL 小些。
实验二 TTL集成门电路的逻辑功能与参数测试
图 3 扇出系数测试电路
图 4 传输特性测试电路
(4)电压传输特性
门的输出电压Vo 随输入电压Vi 而变化的曲线称为门的电压传输特性,通常它 可读得门电路的一些重要参数。测试电路如图 4 所示,采用逐点测试法,即调节
Rw ,逐点测得Vo 及Vi ,然后绘成曲线。
2
3.TTL 集成电路使用规则 (1)插集成块时,要认清定位标记,不得插反。 (2)使用电源电压范围为+4.5V~+5.5V。实验中要求使用VCC =+5V。电源极性 绝对不允许接错。 (3)闲置输入端处理方法
*若前级驱动能力允许,可以与使用的输入端并联。 (4)输入端通过电阻接地,电阻值的大小将直接影响电路所处的状态。当 R≤0.5KΩ 时,输入端相当于逻辑“0”;当 R≥2KΩ 时,输入端相当于逻辑“1”。 对于不同系列的器件,要求的阻值不同。 (5)输出端不允许并联使用(三态门和 OC 门除外)。否则不仅会使电路逻辑功 能混乱,并会导致器件损坏。 (6)输出端不允许直接接电源VCC 、不允许直接接地,否则会损坏器件。
*悬空,相当于正逻辑“1”,对于一般小规模集成电路的数据输入端,实验 时允许悬空处理。但易受外界干扰,导致电路的逻辑功能不正常。因此,对于接 有长线的输入端,中规模以上的集成电路和使用集成电路教多的复杂电路,所有 控制输入端必须按逻辑要求接入电路,不允许悬空。
*直接接电源电压 VCC(也可以串入一只 1∽10KΩ 的固定电阻)或接至某一固 定电压(+2.4V≤V≤4.5V)的电源上,或与输入端为接地的多余与非门的输出端 相接。
3
图 5 与非门逻辑功能测试电路 2.74LS20 主要参数的测试 (1)分别按图 2、3 接线并进行测试,将测试结果记入表 2 中。 (2)按图 4 接线,调节电位器 Rw 使从 0V 向高电平变化,逐点测量Vo 和Vi 的对 应值,记入表 3 中。 五、实验记录:表 1
2022年广州大学数电实验报告TTL集成逻辑门的逻辑功能与参数测试
广州大学学生实验报告
开课学院及实验室:年月日
学院
机电学院
年级、专业、班
姓名
学号
实验课程名称
数字电子技术实验
成绩
实验项目名称
TTL集成逻辑门旳逻辑功能与参数测试
指导教师
一、实验目旳
二、实验原理
三、使用仪器、材料
四、实验环节
五、实验过程原始记录(数据、图表、计算等)
六、实验成果及分析
一、实验目旳
一般NOL≥8
三、使用仪器、材料
+5V直流电源、逻辑电平开关、逻辑电平显示屏、直流数字电压表、直流毫安表、直流微安表、74LS20
四、实验环节
五、实验过程原始记录(数据、图表、计算等)
与非门逻辑功能测试电路
输 入
输 出
An
Bn
Cn
Dn
Y1
11Leabharlann 1100
1
1
1
1
1
0
1
1
1
1
1
0
1
1
1
1
1
0
1
ICCL
(mA)
IiH是指被测输入端接高电平,其他输入端接地,输出端空载时,流入被测输入端旳电流值。在多级门电路中,它相称于前级门输出高电平时,前级门旳拉电流负载,其大小关系到前级门旳拉电流负载能力,但愿IiH小些。由于IiH较小,难以测量,一般免于测试。
IiL与IiH旳测试电路如图5-2-2(c)、(d)所示。
(3)扇出系数NO
0.17
0.17
0.17
六、实验成果及分析
虽然这次旳实验比较简朴,但总旳感觉就是收获还是蛮多旳···通过本次旳实验我初步掌握 TTL集成与非门重要参数旳测试措施和掌握TTL器件旳使用规则,进一步熟悉数字电路实验装置旳构造,基本功能和使用措施。
实验1-TTL集成逻辑门的逻辑功能与参数测试
实验1 TTL集成逻辑门的逻辑功能与参数测试一、实验目的1、掌握TTL集成与非门的逻辑功能和主要参数的测试方法2、掌握TTL器件的使用规则3、进一步熟悉数字电路实验装置的结构,基本功能和使用方法二、实验原理本实验采用四输入双与非门74LS20,即在一块集成块内含有两个互相独立的与非门,每个与非门有四个输入端。
其逻辑框图、符号及引脚排列如图5-2-1(a)、(b)、(c)所示。
(b)(a) (c)图5-2-1 74LS20逻辑框图、逻辑符号及引脚排列1、与非门的逻辑功能与非门的逻辑功能是:当输入端中有一个或一个以上是低电平时,输出端为高电平;只有当输入端全部为高电平时,输出端才是低电平(即有“0”得“1”,全“1”得“0”。
)其逻辑表达式为 Y=2、TTL与非门的主要参数(1)低电平输出电源电流ICCL和高电平输出电源电流ICCH与非门处于不同的工作状态,电源提供的电流是不同的。
ICCL是指所有输入端悬空,输出端空载时,电源提供器件的电流。
ICCH是指输出端空截,每个门各有一个以上的输入端接地,其余输入端悬空,电源提供给器件的电流。
通常ICCL>ICCH,它们的大小标志着器件静态功耗的大小。
器件的最大功耗为PCCL=VCCICCL。
手册中提供的电源电流和功耗值是指整个器件总的电源电流和总的功耗。
ICCL和ICCH测试电路如图5-2-2(a)、(b)所示。
[注意]:TTL电路对电源电压要求较严,电源电压VCC只允许在+5V±10%的范围内工作,超过5.5V将损坏器件;低于4.5V器件的逻辑功能将不正常。
(a) (b) (c) (d)图5-2-2 TTL与非门静态参数测试电路图(2)低电平输入电流IiL和高电平输入电流IiH。
IiL是指被测输入端接地,其余输入端悬空,输出端空载时,由被测输入端流出的电流值。
在多级门电路中,IiL相当于前级门输出低电平时,后级向前级门灌入的电流,因此它关系到前级门的灌电流负载能力,即直接影响前级门电路带负载的个数,因此希望IiL小些。
实验一TTL 集成逻辑门的逻辑功能与参数测试报告(1)
数字电子技术2实验报告(人工智能与电气工程学院)实验课程:数字电子技术2专业班级:网安191班指导教师:杜永强学生姓名:陈胜迪学生学号:2019240401实验地点:第二实验楼320实验日期:2021.5.29贵州理工学院实验报告1、验证 74LS20 的逻辑功能在数字电路试验台上合适的位置选取一个 14P 插座,按定位标记插好74LS20 集成块。
按图 1-3 连线,门的四个输入端接逻辑开关输出插口,以提供“0”与“1”电平信号,开关向上,输出逻辑“1”,向下为逻辑“0”。
门的输出端接由 LED 发光二极管组成的逻辑电平显示器。
图1-374LS20 有 4 个输入端,有 16 个最小项,在实际测试时,只要通过对输入1111、0111、1011、1101、1110 五项进行检测就可判断其逻辑功能是否正常。
2、74LS20 主要参数的测试(1)ICCL、ICCH、IiL与 IiH测试电路如图 1-4(a)、(b) 、(c)、(d)所示。
按图接线并进行测试将测试结果表 1-5 中。
由于 IiH较小,难以测量,一般免于测试。
图 1-4 TTL 与非门静态参数测试电路图(2)扇出系数 NONOL的测试电路如图 1-5 所示,门的输入端全部悬空,输出端接灌电流负载 RL,调节 RL使 IOL 增大,VOL随之增高,当 VOL达到 VOLm(手册中规定低电平规范值 0.4V)时的 IOL就是允许灌入的最大负载电流,则通常NOL≥8 。
按图接线并进行测试,将测试结果表 1-5 中,并计算出扇出系数 NO图 1-5 扇出系数试测电路(3)电压传输特性测试电路如图 1-6 所示,采用逐点测试法,即调节 RW,使得 Vi的值逐一达到表 1-6 中的值,记录此时对应的 VO,所有值测量完成后绘成曲线。
图 1-6。
实验10TTL集成逻辑门的逻辑功能与参数测试0
TTL 集成逻辑门的逻辑功能与参数测试一.实验目的1.掌握TTL 集成与非门的逻辑功能,外特性和主要参数的测试方法。
2.掌握TTL 器件的使用规则。
3.进一步熟悉数字电路实验装置的结构,基本功能和使用方法。
二.实验原理本实验采用四输入双非门74LS20,即在一块集成块内含有两个独立的与非门,每个与非门又是个输入端。
其图如下&61245U1:A74LS20&89101213U1:B74LS20&61245U2:A74LS2074LS20 逻辑框图、逻辑符号、及引脚排列1.与非门的逻辑功能与非门的逻辑功能:当输入端中有一个或一个以上是低电平时,输出端为高电平;只有当输入端全部为高电平时,输出端才是低电平。
其逻辑表达式:Y=AB 2.TTL 与非门的主要参数(1)低电平输出电源电流CCL I 和高电平输出电源电流CCH I与非门处于不同的工作状态,电源提供的电流是不同的。
CCL I 是指所有输入悬空,输出端空载时,电源提供器件的电流。
CCH I 是指输出端空载,每个门各有一个以上的输入端接地,其余输入端悬空,电源提供器件的电流。
通常CCL I >CCH I ,它们的大小标志着器件静态功耗的大小。
器件最大功耗CCLI CC CCLV P =。
手册中提供的电源电流和功率值是指整个器件总的电流和总耗。
CCL I 和CCH I 测试电路如下图: (TTL 电路对电源的电压要求较严,电源电压只能在+5V±10%的工作范围,超过5.5v将损坏器件,低于5.5V 时器件逻辑功能将不正常。
)(2)低电平输入电流iL I 和高电平输入电流iH I 。
iLI 是指被测输入端接地,其余输入悬空,输出端空载时,从被测输入端流出的电流值。
在多级门电路中,iL I 相当于前级门输出电平时,后级向前级门灌入的电流,因此它关系到前级门的灌电流负载能力,即直接影响前级门电路带负载的个数,因此希望iL I 小些。
实验五TTL集成逻辑门的逻辑功能与参数测试
实验五TTL集成逻辑门的逻辑功能与参数测试实验五 TTL集成逻辑门的逻辑功能与参数测试⼀、实验⽬的1.掌握TTL集成与⾮门的逻辑功能和主要参数的测试⽅法2.掌握TTL器件的使⽤规则3.进⼀步熟悉数字电路实验装置的结构,基本功能和使⽤⽅法⼆、实验设备1.+5V直流电源2.逻辑电平开关3.逻辑电平显⽰器4.万⽤电压表5.74LS20×1三、实验内容本实验采⽤四输⼊双与⾮门74LS20,即在⼀块集成块内含有两个互相独⽴的与⾮门,每个与⾮门有四个输⼊端。
其逻辑符号及引脚排列如图 (a)、(b)所⽰1、验证TTL集成与⾮门74LS20的逻辑功能与⾮门的逻辑功能是:当输⼊端中有⼀个或⼀个以上是低电平时,输出端为⾼电平;只有当输⼊端全部为⾼电平时,输出端才是低电平(即有“0”得“1”,全“1”得“0”。
)2.74LS20主要参数的测试(1).I CCL是指所有输⼊端悬空,输出端空载时,电源提供器件的电流。
(2).I CCH是指输出端空截,每个门各有⼀个以上的输⼊端接地,其余输⼊端悬空。
通常I CCL>I CCH,它们的⼤⼩标志着器件静态功耗的⼤⼩。
(3).I iL是指被测输⼊端接地,其余输⼊端悬空,输出端空载时,由被测输⼊端流出的电流值。
在多级门电路中,I iL相当于前级门输出低电平时,后级向前级门灌⼊的电流,因此它直接影响前级门电路带负载的个数,因此希望I iL⼩些。
(4).I iH是指被测输⼊端接⾼电平,其余输⼊端接地,输出端空载时,流⼊被测输⼊端的电流值。
在多级门电路中,它相当于前级门输出⾼电平时,前级门的拉电流负载,其⼤⼩关系到前级门的拉电流负载能⼒,希望I iH⼩些。
在实验过程中,分别按图(a)、(b)、(c)、(d)接线并进⾏测试,将测试结果记⼊表2中。
表23、TTL与⾮门电压传输特性门的输出电压随输⼊电压⽽变化的曲线,称为门的电压传输特性。
测试电路如图所⽰,采⽤逐点测试法,即调节R W,逐点测得U i(v)及U o(v),然后填表。
实验二 TTL集成逻辑门的功能测试
实验二 TTL集成逻辑门的功能测试2数字电子电路实验实验2.1 TTL集成逻辑门的功能和参数测试一、实验目的(1)熟悉数字电路实验箱各部分电路的基本功能和使用方法。
(2)熟悉TTL集成逻辑门电路实验芯片的外形和引脚排列。
(3)掌握实验芯片门电路的逻辑功能和主要参数的测试方法。
二、实验设备及材料数字逻辑电路实验箱及扩展板,双踪示波器,直流电压表,毫安表,数字万用表,集成芯片74LS00(四2输入与非门)、74LS04(六反相器)、74LS10(三3输入与非门)、74LS20(二4输入与非门)和导线若干。
三、实验原理1、数字电路基本逻辑单元的工作原理数字电路工作过程是数字信号,而数字信号是一种在时间和数量上不连续的信号。
(1)反映事物逻辑关系的变量称为逻辑变23量,通常用“0”和“1”两个基本符号表示两个对立的离散状态,反映电路上的高电平和低电平,称为二值信息。
若变量Y的状态由变量A、B、C……的状态决定,则称Y是A、B、C……的逻辑函数。
A、B、C……称为输入变量,Y称为输出变量。
(2)数字电路中的二极管有导通和截止两种对立工作状态。
三极管有饱和、截止两种对立的工作状态。
它们都工作在开、关状态,分别用“1”和“0”来表示导通和断开的情况。
(3)在数字电路中,以逻辑代数作为数学工具,采用逻辑分析和设计的方法来研究电路输入状态和输出状态之间的逻辑关系,而不必关心具体的大小。
2、TTL集成与非门电路的逻辑功能的测试TTL集成与非门是数字电路中广24(a)引脚排列(b)逻辑符号图2-1-1 74LS20集成芯片引脚排列和逻辑符号泛使用的一种逻辑门。
实验采用双4输入与非门74LS20芯片,其内部有两个互相独立的与非门,每个与非门有4个输入端和1个输出端。
74LS20芯片引脚排列和逻辑图如图2-1-1所示。
与非门的逻辑功能是:“输入信号只要有低电平,输出信号为高电平;输入信号全为高电平,输出则为低电平”(即有0得1,全1得0)。
- 1、下载文档前请自行甄别文档内容的完整性,平台不提供额外的编辑、内容补充、找答案等附加服务。
- 2、"仅部分预览"的文档,不可在线预览部分如存在完整性等问题,可反馈申请退款(可完整预览的文档不适用该条件!)。
- 3、如文档侵犯您的权益,请联系客服反馈,我们会尽快为您处理(人工客服工作时间:9:00-18:30)。
附件2:
广州大学学生实验报告
开课学院及实验室:机电学院电子410 2015 年 5 月8 日
学院机电学院姓名学号
实验课程名称数字电子技术实验成绩
指导
实验项目名称TTL集成逻辑门的逻辑功能与参数测试
教师
一、实验目的
二、实验原理
三、使用仪器、材料
四、实验步骤
五、实验过程原始记录(数据、图表、计算等)
六、实验结果及分析
一、实验目的
1、掌握TTL集成与非门的逻辑功能和主要参数的测试方法
2、掌握TTL器件的使用规则
3、进一步熟悉数字电路实验装置的结构,基本功能和使用方法
二、实验原理
TTL与非门的主要参数
(1)低电平输出电源电流ICCL和高电平输出电源电流ICCH
与非门处于不同的工作状态,电源提供的电流是不同的。
ICCL是指所有输入端悬空,输出端空载时,电源提供器件的电流。
ICCH是指输出端空截,每个门各有一个以上的输入端接地,其余输入端悬空,电源提供给器件的电流。
通常ICCL>ICCH,它们的大小标志着器件静态功耗的大小。
器件的最大功耗为PCCL=VCCICCL。
手册中提供的电源电流和功耗值是指整个器件总的电源电流和总的功耗。
ICCL和ICCH测试电路如图5-2-2(a)、(b)所示。
[注意]:TTL电路对电源电压要求较严,电源电压VCC只允许在+5V±10%的范围内工作,超过5.5V将损坏器件;低于4.5V器件的逻辑功能将不正常。
(a) (b) (c) (d)
图5-2-2 TTL与非门静态参数测试电路图
(2)低电平输入电流IiL和高电平输入电流IiH。
IiL是指被测输入端接地,其余输入端悬空,输出端空载时,由被测输入端流出的电流值。
在多级门电路中,IiL相当于前级门输出低电平时,后级向前级门灌入的电流,因此它关系到前级门的灌电流负载能力,即直接影响前级门电路带负载的个数,因此希望IiL小些。
IiH是指被测输入端接高电平,其余输入端接地,输出端空载时,流入被测输入端的电流值。
在多级门电路中,它相当于前级门输出高电平时,前级门的拉电流负载,其大小关系到前级门的拉电流负载能力,希望IiH小些。
由于IiH较小,难以测量,一般免于测试。
IiL与IiH的测试电路如图5-2-2(c)、(d)所示。
(3)扇出系数NO
扇出系数NO 是指门电路能驱动同类门的个数,它是衡量门电路负载能力的一个参数,TTL 与非门有两种不同性质的负载,即灌电流负载和
拉电流负载,因此有两种扇出系数,即低电平扇出系数NOL 和高电平扇出系数NOH 。
通常IiH <IiL ,则NOH >NOL ,故常以NOL 作为门的扇出系数。
NOL 的测试电路如图5-2-3所示,门的输入端全部悬空,输出端接灌电流负载RL ,调节RL 使IOL 增大,VOL 随之增高,当VOL 达到VOLm (手册中规定低电平规范值0.4V )时的IOL 就是允许灌入的最大负载电流,则
通常NOL ≥8 三、使用仪器、材料
+5V 直流电源、逻辑电平开关、逻辑电平显示器、直流数字电压表、直流毫安表、直流微安表、74LS20 四、实验步骤
五、实验过程原始记录(数据、图表、计算等) 与非门逻辑功能测试电路
74LS20主要参数的测试
六、实验结果及分析
虽然这次的实验比较简单,但总的感觉就是收获还是蛮多的···通过此次的实验我初步掌握 TTL 集成与非门主要参数的测试方法和掌握TTL 器件的使用规则,进一步熟悉数字电路实验装置的结构,基本功能和使用方法。
输 入 输 出 An Bn Cn Dn Y1 1 1 1 1 0 0 1 1 1 1 1 0 1 1 1 1 1 0 1 1 1
1
1
1
ICCL (mA)
ICC
H
(mA
) IiL
(mA
)
IOL
(mA)
N0
tpd = T/6
(ns) 1.342
0.456
0.228
11.9
52.19
6.5
Vi
(V)
.2
.4
.6
.8 1
1.0 1
1.5
2.5
3.0 3.5
4.0
VO
(V)
4.44 4.44 4.42 4.39
4.2
8
0.7
6
0.1
7
0.1
7
0.1
7
0.1
7
0.1
7
说明:各学院(实验中心)可根据实验课程的具体需要和要求自行设计和确定实验报告的内容要求和栏目,但表头格式按照“实验项目名称”栏以上部分统一。
iL
OL OL I I N =
iL OL
O I I N =。