SATA gen3 测试

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EC3-1816CLD2NA-中英文说明书-C00-2413-023681

其操作必须遵照各自附带的文件说明，特别是其中的安全及警告提示。由于具备相关培训及经验，合格人员可以察觉本产品/系统的风险，并避免可能的危险。
EVOC产品请注意下列说明：
警告 EVOC产品只允许用于目录和相关技术文件中规定的使用情况。如果要使用其他公司的产品和组件，必须得到EVOC推荐和允许。正确的运输、储存、组装、装配、安装、调试、操作和维护是产品安全、正常运行的前提。必须保证允许的环境条件。必须注意相关文件中的提示。
危险表示如果不采取相应的小心措施，将会导致死亡或者严重的人身伤害。
警告表示如果不采取相应的小心措施，可能导致死亡或者严重的人身伤害。
小心带有警告三角，表示如果不采取相应的小心措施，可能导致轻微的人身伤害。
注意表示如果不注意相应的提示，可能会出现不希望的结果或状态。
合格的专业人员本文件所属的产品/系统只允许由符合各项工作要求的合格人员进行操作。
约定在本文档中，术语“本板”或“产品”有时特指EVOC EC3-1816CLD2NA产品。
说明安全相关注意事项为避免财产损失以及出于个人安全方面的原因，请注意本入门指南中关于安全方面的信息。文中使用警告三角来指示这些安全信息，警告三角的出现取决于潜在危险的程度。
目录 1. 产品介绍 .................................................................................................................1
1.1 简介 .................................................................................................... 1

SATA高频线性能试验规范

1212SATA性能试验规范作业文件GX-PE-034起草：审核：批准：20 年月日发布 20 年月日实施1.目的：以确保本公司生产的26AWG的SATA高频线材其外观及性能品质得到有效的管控，使高频实验室人员能及时得到线缆有关信息，正确检验，保证产品信息。

2.适用范围：适用于SATA高频线材的性能参数与外观和尺寸检验标准。

3.参考标准：UL758：2008；UL1581：2008；UL2556：2007；SATA 3.0版；产品性能试验程序（QAD-QP-0211）。

4.权责：4.1工程部：负责生产指令单的制定与工程图纸的制定；4.2品保部：负责制作高频线材检验规范，现场品保负责送样，记录与归档。

5.定义：高频线缆：凡是国际或国内标准中有规定必须使用TDR或NA检测某些参数的线材；或者是客户有指定用到TDR或NA检测某些参数的线材，都归类为高频线材。

6.检验内容：6.1外观检验：6.1.1导体外观：导体不能有氧化，腐蚀，断开等不良，导体轴中导体排线的排列按照“S型”顺序，不能有排位不良现象。

6.1.2芯线外观：芯线颗粒，焦料残留，刮伤，色差，水纹，气泡，鼓包，绞纹等不良按照《产品缺点判定标准》与不良样品和图片进行判定。

6.1.3地线外观：地线铜丝不允许有氧化，断股，跳股等现象。

6.1.4外被外观：外被颗粒，焦料残留，刮伤，色差，水纹，气泡，鼓包，绞纹等不良按照《产品缺点判定标准》与不良样品和图片进行判定。

外被内部排列位置图如下：图一外被的材质为PVC 80℃ 85A 红色，外被为充实亮面。

外被印字内容见工程图面。

6.2尺寸检验：6.2.1导体，绝缘，地线，包带，外被的尺寸要求按照工程图面来进行测量，其中：绝缘标称厚度的算法为：（绝缘外径-导体外径）/2；绝缘中心度计算方法为：{1-[（max - min）/(max + min)]}*100%外被标称厚度算法为：（外被外径-集合外径）/26.3试验送测性能测试项目：6.3.1产品热性能和化学性能测试：6.3.1.1老化前伸长率，老化前抗张强度试验UL758：14，15，16，17：老化前伸长率要求≧100%，老化前的抗张强度的要求为≧1.05kgf/mm2。

SATA信号和协议测试方法

ＳＡＴＡ信号和协议测试方法
胡冰
（是德科技）
１ＳＡＴＡ总线简介
在台式机、笔记本和服务器的应用中，硬盘是必不可少的存储介质，传统的硬盘和计算机主板间的
负责ＳＡＴＡ规范制定的组织是ＳＡＴＡ — ＩＯ（Ｓｅｉｒ —
工作组负责制定协议层规范（Ｄｉｇｉｔａｌｗ０ｒｋＧｒｏｕｐ），
有些工作组负责制定电缆规范（ＣａｂＣｏｎＷｏｒｋ
ｌ＿ｔ－一Ａ＋
● ＿Ａ－
Ａ＋一
Ａ－＿
ＧＮＯ
ｒＧＮＤ
历了３代标准。Ｇｅｎ１的数据速率到１．５Ｇｂｐｓ，Ｇｅｎ２的数据速率到３Ｇｂｐｓ，Ｇｅｎ３的数据速率到６Ｇｂｐｓ。根据不同的应用场合，可以参考不同的信号规范，比如同样对于ＳＡＴＡＧｅｎ２来说，根据不同的应用场合，其信号规范就有Ｇｅｎ２ｉ、Ｇｅｎ２ｍ、Ｇｅｎ２ｘ共３种对信号的要求。ｉ、ｍ、ｘ这三种规范对于信号的上
ａｌＡＴＡＩｎｔｅｒｎａｔｉｏｎａｌＯｒｇａｎｉｚａｔｉｏｎ，ｈｔｔｐｓ：／／ｗｗｗ．ｓａｔａ－ｉｏ．
ｏｒｇ／），按照ＳＡＴＡ — ＩＯ的规定，ＳＡＴＡ总线的一共经
Ｉ＼
．
２ＳＡＴＡ发送
信号质量测试

sata2和sata3区别M.2接口速度实测

sata2和sata3区别M.2接⼝速度实测sata2和sata3区别 M.2接⼝速度实测搜狐媒体平台 03-01 15:22 ⼤“快”应该是很多⼈使⽤过SSD之后的第⼀感觉。

这种“快”不仅仅体现在开关机的速度上，⽽是电脑使⽤的⽅⽅⾯⾯，SSD都让你⽿⽬⼀新。

不过，SSD固态硬盘有别于机械硬盘，SSD的“快”需要正确的使⽤⽅法。

要不然，花了⼤价钱买回来的⾼速SSD只能当低速⽤，那得多亏啊!今天，我们就来探讨⼀下SSD正确的“打开⽅式”。

SSD最常遇到的错误使⽤⽅式就是没有把它接在设备正确的接⼝上。

⽬前SSD的接⼝主要有两种分别是SATA与M.2接⼝。

这是两种完全不同类型的接⼝，且互不兼容。

我们先说⼀说SATA 接⼝。

傻傻要分清的sata2和sata3区别：sata2和sata3区别 M.2接⼝速度实测 1/13如今推出SATA接⼝SSD均采⽤SATA3.0，理论传输速度为600 MB/s，⽼旧SATA2.0 SSD已被淘汰。

不过，⼀些⽼旧的设备，⽐如G41主板只⽀持SATA2.0接⼝，或⼀些Intel 6系列主板同时配备SATA2.0与SATA3.0接⼝，如果升级电脑时，将⼀款超过500MB/s⾼速读写的SATA 3.0 SSD错接到SATA2.0接⼝上，根本⽆法发挥SSD的真实性能。

因为SATA2.0接⼝传输极限仅300MB/s。

接下来，就拿采⽤SATA3.0接⼝的HyperX Savage 240GB SSD接在SATA2.0接⼝，实际测试看看差距。

sata2和sata3区别 M.2接⼝速度实测 2/13HyperX Savage 240GB SSD接在SATA3.0接⼝上的测试成绩sata2和sata3区别 M.2接⼝速度实测 3/13HyperX Savage 240GB SSD接在SATA2.0接⼝上的测试成绩HyperX Savage 240G SSD接在原⽣的SATA3.0接⼝上的测试成绩完胜SATA2.0。

SSD固态硬碟M.2和SATA3哪个好对比测试

SSD固态硬碟M.2和SATA3哪个好对比测试SSD固态硬碟M.2和SATA3哪个好对比测试这个还是需要普及知识。

1.m2是介面，你可以理解为形状，并非本质，m2分多种，m key，b key，我简单说，m2分pcie x4控制器和sata3的控制器，如果是sata3的控制器，那么这个m2和sata3的固态就是同等效能，比如三星的850evo，就有2.5的sata3和m2的，两者效能一致；2.如果是pcie x4控制器，细分起来也很多，有早期ahci的，还有现在的nvme，比如三星的oem的 *** 951，分ahci和nvme，而现在的950pro 960pro，960evo则都是nvme；3.效能，这个要看具体型号对比，如果都是850evo，我上面说过，效能一样，因为都是sata3的，而如果是不同型号，要看具体的，比如intel 600p，这个虽然是nvme，但是由于是低端产品，如果是128GB的，那么持续写效能还不如一般的sata3。

SSD固态硬碟M.2和SATA3哪个更好对比测试更好？肯定是M.2 nvme 理论速度32GB/s速度取决主机板介面和固态协议！卡基们，求问SSD固态硬碟 SATA3 MSATA M.2怎么选sata3是桌上型电脑和一般笔记本都可以用的介面，msata和m2只有新出的笔记本支援，但传输更快。

ssd固态硬碟ngff，msata和sata3的区别SSD，即solid state disk（俗称固态硬碟），与传统机械硬碟最大的区别是没有机械部件，如马达、磁头、碟片。

工作原理类似于U 盘，是通过主控晶片和组raid的FLASH晶片颗粒工作，读写速度和反映时间远超普通机械硬碟。

优势有：速度快、无噪音、低功耗、不怕碰撞、更低重量、更小体积；唯一缺点就是目前价格尚高，像主流的128G容量价格在1000元上下。

但是随着FLASH制程的不断提升，成本会随之下降（FLASH颗粒的成本占SSD的80%左右），可见的几年内，SSD将会迎来需求应用的大爆发。

sata硬盘检测修复工具介绍

sata硬盘检测修复工具介绍有一个工具包集成了好几款检测工具破解了，不用钱的我截图给你看看硬件检测工具/down/59/43068.html参考[1] 界面截图(图片)sata硬盘坏道检测方法查硬盘坏道很多人都知道用效率源，但是我今天检测我sata硬盘的时候发现，效率源根本认不出sata的硬盘，于是上网找方法。

现与大家分享，也许对大家以后检测硬盘会有帮助哦h A N [ H)W:\:d方法是：进Bios将SATA硬盘设置成为了增强模式Enhanced Mode，将SATA模式设置为兼容模式Coombinde Mode，重启以后看看硬盘是不是在第一IDE设备上，如果不是，需要把SATA接口插在SATA0上（第一SATA接口），再用效率源，应该就可以认出硬盘了另外可以使用MHDD 來修復,它可以支持SATA硬盤。

下面是MHDD使用方法。

MHDD1、MHDD是俄罗斯Maysoft公司出品的专业硬盘工具软件，具有很多其他硬盘工具软件所无法比拟的强大功能，它分为免费版和收费的完整版，本文介绍的是免费版的详细用法。

2、MHDD无论以CHS还是以LBA模式，都可以访问到128G的超大容量硬盘（可访问的扇区范围从512到137438953472），即使你用的是286电脑，无需BIOS支持，也无需任何中断支持；3、MHDD最好在纯DOS环境下运行；4、MHDD可以不依赖于主板BIOS直接访问IDE口，但要注意不要使用原装Intel品牌主板；5、不要在要检测的硬盘中运行MHDD；6、MDD在运行时需要记录数据，因此不能在被写保护了的存储设备中运行（比如写保护的软盘、光盘等）；MHDD命令详解EXIT（热键Alt+X）：退出到DOS。

ID：硬盘检测，包括硬盘容量、磁头数、扇区数、SN序列号、Firmware固件版本号、LBA数值、支持的DMA级别、是否支持HPA、是否支持AAM、SMART开关状态、安全模式级别及开关状态……等）。

三通道硬盘检测开关详解

三通道硬盘检测开关详解：笔记本电脑里，为了检测识别光驱位内的光驱或者硬盘，必须有个“接地”的反馈信号给电脑主板。

上图中“从右向左起第6脚”，是通过4.7K 电阻(472)接地的，这个识别方式已成为大多数笔记本的标准。

但是，Thinkpad在推出T400S后，这个“识别脚”改在空闲的“右起第3脚”接地。

如果不接地，Thinkpad笔记本将切断光驱位的电源，硬盘因为缺电不工作，电脑系统内就找不到硬盘了。

新款的HP和富士通笔记本，还是采用原来的识别方式，如果“第3脚”接地，将引起干扰冲突，有可能会出现“软件关不了机”或“假死机”的症状。

我们全球首创的“三通道硬盘检测开关”完美解决了这个问题。

老电脑用了5年了，速度就跟老爷车似的，本打算重新买新的。

无意中听一朋友说他的改装电脑能3秒启动PS，出于好奇，一了解，果真要得。

已经很久没玩硬件了，IT的飞速发展使得本店主早已对当今硬件潮流几乎陌生了，这次改装升级电脑，重新唤起当年DIY的兴趣，一阵捣鼓，老电脑居然飞起来了。

只花了新电脑五分之一的价钱得到一台与新电脑毫不逊色的速度享受！（实际比较居然比许多新电脑本还快）老电脑已经飞了一段时间了，早就想把这种飞起来的喜悦与大伙共享。

除了正事太忙外，还想考虑用时间验证一下飞行的稳定性。

现在看来，无论是速度还是舒适性，飞的感觉真好！说起来，让老电脑飞起来其实就是改装、加装、升级，突破老硬件的速度瓶颈，让硬件各部件的速度匹配，充分发挥软硬件技术的潜力，废话少说，看图就明白了。

第一步、检查老电脑硬件配置情况我的电脑是2008年出品的华硕笔记本F8VA，在当时算是中高档配置。

当然，必须首先对电脑实施开膛了，拆机是一个技巧活，需要找到关键的机关。

记录硬盘、内存、光驱的技术规格。

第二步：根据技术规格购买相应配件（略）第三步：安装固态硬盘卸下原机硬盘和可能存在的托架。

将固态硬盘安到托架上将固态硬盘装入电脑。

第四步：安装原硬盘拆卸电脑光驱将原硬盘安装至光驱托架别忘了将老光驱的面板拆卸下来，安装到光驱托架上，以保证恢复电脑外观，然后安装到光驱位置（见小图）。

SATA线缆测试步骤

SATA线缆测试步骤版本：1.001.DCA-J的系统校准在DCA-J开机预热30分钟后，点击86100C DCA-J窗口的Calibration菜单，选择All Calibration。

根据校准的向导依次校准Left Module 和Right Module。

2.测试步骤1）测试准备启动SataCableTester软件，点击软件界面右上角的“连接仪器”按钮，若显示“连接失败”，请检查GPIB转接器82357B是否正确的连接好仪器和计算机。

如仍然不能正常工作请与安捷伦公司取得联系；在“测试编号”的文本框输入测试编号，建议使用下列格式以便区分产生的测试报告：YYYYMMDD_CABLEID如：20070723_001点击“开始新的测试”按钮。

然后按下面的步骤依次测试各项参数。

2）差分阻抗测试用编号分别为1、2、3、4的SMA线缆分别连接到86100C DCA-J的通道1、2、3、4，然后将4根SMA线缆的另一端分别接到测试夹具1的4个端口，注意编号为1的SMA接端口2，编号为2的SMA接端口3，编号为3的SMA接端口5，编号为4的SMA接端口6。

然后，将被测得SATA线缆查到测试夹具的插座上。

连接好后，点击“开始测试”按钮。

3）同模阻抗测试连接方式同2）4）线材匹配阻抗测试连接方式同上2）5）连接器阻抗测试连接方式同上2）6）对内延迟差测试连接方式同上2）7）上升时间测试测试Pair1: 用编号分别为1、2、3、4的SMA线缆分别连接到86100C DCA-J 的通道1、2、3、4，然后将编号为1的SMA接夹具1的端口2，编号为2的SMA 接夹具1的端口3，编号为3的SMA接夹具2的端口2，编号为4的SMA接夹具2的端口3。

然后，将被测得SATA线缆的两头分别插到测试夹具1和测试夹具2的插座上。

连接好后，点击“开始测试”按钮。

测试Pair2: 用编号分别为1、2、3、4的SMA线缆分别连接到86100C DCA-J 的通道1、2、3、4，然后将编号为1的SMA接夹具1的端口5，编号为2的SMA 接夹具1的端口6，编号为3的SMA接夹具2的端口5，编号为4的SMA接夹具2的端口6。

SATA测试

Physical Layer Testing of: SERIAL ATA SERIAL ADVANCED TECHNOLOGY ATTACHMENTSATA TOPICS1. OUT-OF-BAND SIGNALING2. SPREAD SPECTRUM CLOCK ANALYSIS6. HARDWARE CONNECTIVITY3. 2ND ORDER PLL5. SERIAL ATA SIGTEST TOOL4. JITTER DECOMPOSITIONOUT OF BAND (OOB)INTERBURST GAP TIMINGSERIAL ATAAPPLICATION EXAMPLESerial ATA Out Of Band Signaling Compliance Timing ofOut of Band SignalsSerial ATA COMRESET Inter-Burst Gap MeasurementSerial ATA OOB (Out-Of-Band) Handshake Drive as Device Under TestSPREAD SPECTRUM CLOCKANALYSISSERIAL ATAAPPLICATION EXAMPLESSC is required for all Serial ATA ProductsSSC is required for all Serial ATA ProductsConfiguration for Analyzing SSCStep 1: Select Frequency Measurement ParameterStep 2: Set Input As Data Step 4: Track this ParameterStep3: Automatically Find Virtual Clock Frequency2.001 ns2.001 nsCycle 1Period2.004 ns2.004 nsCycle 2Period 1.991 ns1.991 nsCycle 3Period 2.001 ns2.001 nsCycle 4Period 1.999 ns1.999 nsCycle 5Period 1.995 ns1.995 nsCycle 6Period 2.008 ns2.008 nsCycle 7Period 1.986 ns1.986 nsCycle 8Period 2.001 ns2.001 nsCycle 9Period TimePeriodTimeVoltageParameter Tracking FunctionInput WaveformSerial ATA Host Spread Spectrum Clock Unique Noise Reduction Filtering Technique Allows Visibility into SSC Serial ATA WaveformUnfiltered TrackFiltered TrackConventional Track DisplayUnique LeCroy Filtered TrackSERIAL ATAAPPLICATION EXAMPLE2ND ORDER PLLSerial ATA Spread Spectrum Clocking In the past a compliance eye pattern was not possible during SSC2nd Order PLL for Serial ATA Gen II2nd Order PLLfor SATA II IEye Pattern: 1st Order PLL, 1667 Cutoff DivisorSSC Effects on EyeEye Pattern: 2nd Order PLL, 7 MHz Natural FreqCompliance Mask Testing With 30 kHz SSCCompliance Testing historicallynot possible during SSC Compliance Testing using 2nd Order 7 MHz PLL2nd order PLL with adjustable frequency range allows meaningful Serial ATA eye pattern even during presence of SSC. This is important because some Serial ATA devices do not allow SSC to be turned off. Signal quality of the device can still be determined while adjusting for the effect of SSC.SERIAL ATAAPPLICATION EXAMPLEJITTER DECOMPOSITION FOR SATA GEN IISATA Jitter Decomposition at f/10, f/500, f/1667Jitter Decomposition at f/10, f/500, f/1667 The Serial ATA II specification requires for Tj and Rj to bemeasured at fbaud /10,fbaud/500, and fbaud/1667.For a 2nd order filter,f cutoff= 2.06f naturalf c=f baud/10 = 3GHz/ 10 = 300 MHz;f n=f c/2.06 = 300 MHz/2.06 = 145.6 MHz f c=f baud/500 = 3GHz/ 500 = 6 MHz;f n=f c/2.06 = 6 MHz/2.06 = 2.91 MHzf c=f baud/1667 = 3GHz/ 1667 = 1.8 MHz;f n=f c/2.06 = 1.8 MHz/2.06 = 873.7 kHzf c =fbaud/10 = 3GHz/ 10 = 300 MHz;f n =fc/2.06 = 300 MHz/2.06 = 145.6 MHzf c =fbaud/500 = 3GHz/ 500 = 6 MHz;f n =fc/2.06 = 6 MHz/2.06 = 2.91 MHzf c =fbaud/1667 = 3GHz/ 1667 = 1.8 MHz;f n =fc/2.06 = 1.8 MHz/2.06 = 873.7 kHzSIGTEST TOOLSERIAL ATAAPPLICATION EXAMPLESerial ATA with Mask Violation LocatorUnique Mask Failure LocatorSimple edge triggerNo frame sync requiredCaptures all bits in a single recordZooms specific bits where violation occurredMask hits are correlated with data streamMask test failure was caused by this glitchHARDWARE CONNECTIVITYSERIAL ATAAPPLICATION EXAMPLESerial ATA Test Fixture (TF-SATA)Recommended Equipment for Serial ATA 5 GHz, 20 GS/s scope P/N:WaveMaster 8500A Standard Memory Price: $54,990Minimum Configuration for Serial ATA Testing (1.5Gb/s)Serial ATA Test Fixture P/N: TF-SATASerial ATA Sigtest Price: Free 6 GHz, 20 GS/s scopeP/N: SDA6000AOptions: ASDA , LRecommended Configurationfor Serial ATA Testing (1.5Gb/s)Serial ATA Test FixtureP/N: TF-SATA Serial ATA SigtestPrice: Free谢谢您参与和关注!。

SATA gen3 测试

Results for c:\Documents andSettings\Administrator\Desktop\KING\TEST1.0.40 Sigtest:Overall Sigtest Result: Fail!Mean Unit Interval (ps): 166.977852Min Time Between Crossovers (ps): 113.290218Data Rate (Gb/s): 5.988818Max Peak to Peak Jitter: 65.928052 psTotal Jitter at BER of 10E-12: 78.553076 psTotal Jitter at BER of 10E-12 Passes Sigtest Limits!Deterministic Jitter Delta-Delta: 41.036819 psDeterministic Jitter Delta-Delta Passes Sigtest Limits!Random Jitter (RMS): 2.668297 psRandom Jitter (RMS) Passes Sigtest Limits!Minimum Transition Eye Voltage: -0.300701 voltsMinimum Transition Eye Voltage Passes Sigtest Limits!Maximum Transition Eye Voltage: 0.299049 voltsMaximum Transition Eye Voltage Passes Sigtest Limits!Minimum Non Transition Eye Voltage: -0.341011 voltsMinimum Non Transition Eye Voltage Passes Sigtest Limits!Maximum Non Transition Eye Voltage: 0.344575 voltsMaximum Non Transition Eye Voltage Passes Sigtest Limits!Minimum Transition Eye Voltage Margin Above Eye: -0.022419 voltsMinimum Transition Eye Voltage Margin Above Eye Fails Sigtest Limits!Minimum Transition Eye Voltage Margin Below Eye: 0.041971 voltsMinimum Transition Eye Voltage Margin Below Eye Fails Sigtest Limits!Minimum Non Transition Eye Voltage Margin Above Eye: 0.052206 voltsMinimum Non Transition Eye Voltage Margin Above Eye Passes Sigtest Limits!Minimum Non Transition Eye Voltage Margin Below Eye: -0.086875 voltsMinimum Non Transition Eye Voltage Margin Below Eye Passes Sigtest Limits!Worst Non Transition Signal EyeWorst Transition Signal EyePage 3 of 3TEMPLATE FILE SETTINGSNominal Data Rate (bits/sec): 6000000000.0Target Unit Interval (s): 1.666667e-010Minimum Time Allowed Between Crossovers (s): 0.0Minimum Data For Testing (UI): 20000Ambiguous UI Resolution Method: EYE_AMBIGUOUS_NONE (0)Sigtest Version: 3.1.30。

SATA硬盘检测修复及MHDD的一些使用详解

SATA硬盘检测修复及MHDD的一些使用详解关于PA TA硬盘的测试和修复工具，可能很多人会选择效率源软件，因为它易用，直观，检测出硬盘有坏道的时候，能显示出坏道的位置，并能进行修复。

但是如果是SATA硬盘，由于在启动效率源工具的过程中无法加载SATA驱动，无法进入到软件界面，或者进入到软件界面的时候，选择硬盘全面检测提示无法找到硬盘。

在网络上搜索一番后，终于找到一款不错的硬盘检测修复工具，大名为MHDD，是由俄罗斯的“司机”们开发的，它的功能不是很强大，而是非常的强大，而且有免费版的（此工具光盘版可从VERYCD上下载，在深山红叶windows PE系统工具盘有包含此工具）。

比起一般的硬盘表面扫描，MHDD 有非常快的扫描速度，一块80G的硬盘只要几十分钟就可以扫描完成，支持PATA、SATE、SCSI接口的硬盘，可以深入硬盘修复坏道、磁性逆转、假死回复、调整转速等功能。

MHDD的工作原理上网查了一下，是先扫描硬盘后，会顺便列出每个磁簇的读写速度，接着再去修复这些读写速度太慢的磁簇，除了修复坏道的功能外，MHDD还能调整硬盘的转速，控制噪音，也可以手动标记坏道，将损坏严重的硬盘区域隐藏起来，避免以后使用。

此外，MHDD还能够对硬盘进行低级清除的操作，让想要卖掉硬盘的你不必担心硬盘中的数据被其他人盗用。

功能就不再说了，反正一句话，MHDD 它太有才了，现将它的使用方法整理出来。

一、MHDD工具的简单应用MHDD有两种修复模式，用光盘或软盘启动工具成功以后，按shift+F3选择要修复的硬盘，按相应硬盘对应的数字键后，然后按F4，出来一个对话框，第一项选择维修模式，简单的说就是一般维修模式和高级维修模式，如果坏道少，先用一般模式扫一遍，再用高级模式扫一遍。

其它所有选成ON的选项都选成ON，除了倒数第2项外。

如果坏道比较多，先用一般模式多扫几遍，再用高级模式扫一遍，这样修复成功率会比较高。

在坏道特别多的情况下，不要直接用高级模式进行扫描,会导致MHDD不认的,就是说直接用高级模式的话,一次好不了，再用MHDD的话,就认不到了。

SATA一致性测试和调试

SATA⼀致性测试和调试Serial ATA⼀致性测试和调试⾼级系统⼯程师：孙灯亮deng-liang_sun@/doc/af751cf79e31433239689300.html Tel:133********Copyright 2004 Agilent Technologies, Inc.内容提要4Serial ATA简介4Serial ATA 物理层⼀致性测试4Serial ATA协议层调试4⼩结Serial ATA简介Serial ATA 概况4Serial ATA 是⼀种演进⽅案，⽤来逐步代替并⾏ATA4Serial ATA 规定了⼀种标准，⽤来把硬盘驱动器串联到PC、PATA 笔记本电脑、服务器中的硬盘驱动控制器上SATASerial ATA 速度4Serial ATA I (GEN I)0⼯作速率1.5 Gbps(150 MBps)4Serial ATA II (GEN II)0⼯作速率3.0 Gbps(300 MBps)0保持兼容SATA I0采⽤相同的布线0串⾏ATA II设备预计将在2004年问世4Serial ATA III (GEN III)0⼯作速率6 Gbps(600 MBps)0设备预计将在2007年前后问世Serial ATA 特点4Serial ATA 发展路标图⽀持最长10年的存储设备发展空间4点到点串⾏传送数据4使⽤⼈们熟悉的8b/10b 编码⽅案4串⾏ATA 采⽤差分信令，更换了过时的IDE 电缆(并⾏ATA)4简化了系统设计0电压更低0针脚数量更少0软线缆0串⾏ATA 电缆不会阻碍空⽓流动串⾏ATA 的优势(相对于并⾏ATA)4电压更低(250 mV与5V相⽐)4针脚数量更少(7针与41针相⽐)4⽀持的电缆长度更长(1⽶与18英⼨相⽐)4提⾼了扩充能⼒0没有主从关系0⼀条总线专⽤于⼀台设备4提⾼了可靠性0循环冗余校验(CRC)4可以热插拔4规范要求更细更软的电缆4软件兼容并⾏ATA0不需重写设备驱动程序4可以⽤于连接电缆的应⽤和连接背板的应⽤Serial ATA ⼯作⼩组4由⾏业领袖推动0Intel0Seagate0DELL0Maxtor0Vitesse(APT Tech)4SATA-I和SATA-II⼯作⼩组拥有130多家会员4如需与会员有关的更详细的信息，请访问：/doc/af751cf79e31433239689300.html /about/members.shtml市场规模4Gartner DataQuest预测，到2006年，SATA磁盘驱动器的数量将从现在的不到100万台增长到3.5亿台4在将销售的3亿多部笔记本和台式机驱动器中，94%将带有SATA接⼝4许多公司预计SATA将代替SCSI0与SCSI相⽐，类似的SATA配置成本不到SCSI的⼀半⼀致性测试需求和状态4开发⼈员需要检验⼯具和检定⼯具4英特尔专门设计了⼀个物理层信号品质测试软件：SigTest4Agilent的物理层⼀致性测试⽅案集成了SigTest，是与Intel完全兼容的测试⽅案。

主板上的SATA接口和硬盘连接技巧

主板上的SATA接口和硬盘连接技巧在主板上，SATA接口是连接硬盘的关键。

正确的连接和使用SATA接口对于硬盘的性能和稳定性至关重要。

本文将介绍主板上的SATA接口以及硬盘连接的技巧。

一、SATA接口的类型SATA接口有三个主要类型：SATA 1.0、SATA 2.0和SATA 3.0。

每个类型都有其特定的数据传输速度和功能。

1. SATA 1.0SATA 1.0接口是最早的版本，支持最高传输速度为1.5 Gbps （Gigabits per second）。

它已经过时，但仍然被一些老旧主板所采用。

2. SATA 2.0SATA 2.0接口支持最高传输速度为3.0 Gbps，是SATA接口的较为常见的版本。

它与旧版的SATA 1.0兼容，因此可以连接SATA 1.0和SATA 2.0硬盘。

3. SATA 3.0SATA 3.0接口是目前最新的版本，支持最高传输速度为6.0 Gbps。

它比SATA 2.0有更高的数据传输性能，适用于高速硬盘或固态硬盘（SSD）。

二、硬盘连接技巧正确连接硬盘至SATA接口可以确保数据的稳定传输，并提高硬盘的性能。

下面是一些硬盘连接的技巧：1. 硬盘选用在连接硬盘之前，确保已选择适合的硬盘类型。

根据需求和预算，选择传统硬盘（HDD）或固态硬盘（SSD）。

固态硬盘的读写速度更快，但相对更贵。

2. SATA数据线的选择选用高质量的SATA数据线。

较好的数据线有助于稳定数据传输。

此外，注意数据线的长度，避免拉伸或交叉布线。

3. 多硬盘连接如果要连接多个硬盘，主板上通常会有多个SATA接口。

根据需求，选择适当的接口进行连接。

主板上的SATA接口通常会标有数字或字母，用来区分不同的接口。

4. 主硬盘设置将操作系统安装在主硬盘上，以提高系统的启动速度和整体响应速度。

主硬盘通常被标记为SATA 0或SATA 1，注意正确连接。

5. 数据线的插入将一端插入主板上的SATA接口，确保插头完全插入到插槽中，并固定好连接。

硬盘芯片检测

硬盘芯片检测硬盘芯片检测硬盘芯片检测是一种经常用于检测和评估硬盘性能的方法。

它可以通过测试芯片的读写速度、数据传输速率、响应时间等指标，来评估硬盘的性能表现。

在硬盘制造过程中，芯片的质量直接影响到硬盘的性能和可靠性。

因此，对硬盘芯片进行检测是至关重要的。

硬盘芯片检测通常需要使用专门的测试设备和工具。

这些设备和工具可以通过一系列的测试和分析，检测芯片的各项性能指标，并生成相应的报告。

下面将介绍一些常用的硬盘芯片检测方法。

1. 读写速度测试读写速度是衡量硬盘性能的重要指标之一。

通过读写速度测试，可以评估芯片的数据传输效率和响应能力。

测试时，使用专业的测试软件，通过读取和写入大量的数据，计算芯片的读写速度和平均响应时间。

通常，读写速度越快，芯片的性能越好。

2. 数据传输速率测试数据传输速率是指芯片在数据传输过程中的速度。

它反映了芯片的数据读取和写入能力。

测试时，使用专业的测试工具和测试设备，通过读取和写入大量的数据，计算芯片的传输速率和平均传输时间。

一般来说，数据传输速率越高，芯片的性能越好。

3. 芯片响应时间测试芯片的响应时间是指芯片响应请求的速度。

它反映了芯片的处理能力和稳定性。

测试时，使用专业的测试软件或工具，模拟大量的读写请求，计算芯片的响应时间和平均响应时间。

一般来说，响应时间越短，芯片的性能越好。

4. 芯片稳定性测试芯片的稳定性是指芯片在长时间运行中的表现。

稳定性测试通常需要运行芯片在不同工作负荷和环境条件下的测试，以评估芯片的稳定性和可靠性。

测试时，可以使用专业的测试工具和测试设备，对芯片进行长时间的读写操作，以观察芯片在运行过程中是否出现异常或错误。

在进行硬盘芯片检测时，需要注意以下几点：1. 使用专业的测试设备和工具，以确保测试的准确性和可靠性。

2. 运行测试前，要确保硬盘芯片处于正常、稳定的工作状态。

3. 在进行测试时，要遵守相关的安全操作规程，防止对硬盘芯片造成意外损坏。

4. 对测试结果进行仔细分析和评估，以便对芯片的性能和可靠性进行准确的判断。

了解电脑硬盘接口SATAvsNVMe

了解电脑硬盘接口SATAvsNVMe 了解电脑硬盘接口SATA vs NVMe随着科技的不断发展，电脑硬盘接口也在不断改进与升级。

其中，SATA（串行ATA）和NVMe（非易失性内存表达）是目前最常见的两种接口类型。

本文将为您详细介绍SATA和NVMe接口，并比较它们的优缺点，帮助您更好地了解电脑硬盘接口。

一、SATA接口SATA接口是目前使用最广泛的电脑硬盘接口类型之一。

它以串行方式传输数据，通常用于连接传统机械硬盘（HDD）和部分固态硬盘（SSD）。

SATA接口的速度相对较慢，通常为SATA III接口的最大传输速度达到6Gb/s。

SATA接口简单易用，兼容性强，适合一般用户的需求。

然而，SATA接口存在一些限制。

首先，由于其较低的传输速度，无法充分发挥高速固态硬盘的性能优势。

其次，SATA接口的物理接线较多，导致连接距离和灵活性受限。

此外，SATA接口的I/O队列深度较浅，限制了同时处理多个IO请求的能力。

二、NVMe接口NVMe接口是一种新一代的高性能硬盘接口，专为固态硬盘（SSD）设计。

与SATA接口相比，NVMe接口采用了基于PCI Express（PCIe）总线的架构，大大提高了数据传输速度和响应时间。

NVMe接口的最大传输速度可达到32Gb/s以上，远远超过SATA。

NVMe接口的优点不仅仅在于速度。

它还支持更大的I/O队列深度，能够同时处理更多的IO请求。

此外，NVMe接口还提供更低的延迟和更强的稳定性，提升了系统的整体性能和响应能力。

对于需求高性能的用户，如专业设计师、游戏玩家或数据中心运营商，NVMe接口是一个更好的选择。

然而，NVMe接口并非没有缺点。

首先，NVMe接口的价格相对较高，相比SATA接口，NVMe接口的SSD价格更高昂。

其次，NVMe接口的兼容性相对较差，老旧系统可能无法直接支持NVMe接口的固态硬盘。

因此，在购买之前，请先确保您的计算机硬件和操作系统支持NVMe接口。

SATA SAS 一致性测试

Serial ATA and Serial SCSI Physical Layer TestingSATA and SAS Industry OverviewParallel to Serial Migrationf In Desktop, parallel interface would be replaced by SATAf In Enterprise computing, Ultra SCSI would be replaced by SASSATA and SAS Data Rate f SATA– 1.5 Gbps and 3 Gbps data rate–Planned for 6Gbps–Both AC and DC coupling allowed–Spread Spectrum clockingf SAS– 1.5 Gbps, 3.0Gbpsdata rates–Planned for 6 and 12Gbps–No spread spectrum clocking–AC coupling onlyApplicationsf Characterize the physical layer design of SATA and SASTechnologies–Jitter measurements–Parametric measurements–Protocol testing between Host Bus adapter and Drives (Devices)–Impedance AnalysisSerial ATA Usage Modelf Usage model for SATA I–Gen1i, Gen1m, Gen1Xf Usage Model for SATA II–Gen2i, Gen2m, Gen2Xf Measurements are same butlimit values will vary Gen 1i/2i Gen1m/2m Gen1X/2XMeasurements in SATAf General Measurements at TX and Rx–Bit Rate–Unit Intervalf Measurements at TX and RxTransmitter Gen1i Gen1x Gen2i Gen2x V dif f TX, TX Differential Output Voltage9999t20-80TX, TX Rise/Fall Time9999t skewTX, TX Differential Skew9999 AC Common Mode Voltage9999SATA Measurementsf Jitter Measurements at TX and RXSATAParametersTransmitter Gen1i Gen1x Gen2i Gen2x TJ at Connector, Data-Data, 5UI9X X XDJ at Connector,Data-Data, 5UI9X X XTJ at Connector, Data-Data, 250UI9X X XDJ at Connector, Data-Data, 250UI9X X XTJ at Connector, Clk-Data, f BAUD/10X X9XDJ at Connector, Clk-Data, f BAUD/10X X9XTJ at Connector, Clk-Data, f BAUD/500X X9XDJ at Connector, Clk-Data, f BAUD/500X X9XTJ after CIC, Clk-Data, f BAUD/1667X9X9 DJ after CIC, Clk-Data, f BAUD/1667X9X9SATA Measurementsf Communication Initiation testing between HBA and Drives–COMINIT–COMWAKE–COMRESETSerial Attached SCSIIRCRXR ITCTXTReceive eye mask 999888Max/Min rise and fall time 888999Skew 999999Total Jitter 999888Deterministic Jitter 999888Receiver Jitter ToleranceSinusoidal Jitter999888Deterministic Jitter 999888Total Jitter 999888OOB timing measurements 999999SAS 1.5Gbps & 3GbpsParmetersI Initiator, C Target, X ExpanderProductSATA Measurement Techniquesf AWG Method–AWG provides stimulus–SATA/SAS Device generate ALIGN Test patternsf BIST FIS (Built In Self Test Frame Information Structure)Method–Test software places the SATA/SAS devices in Test mode–Test Software stimulates SATA/SAS device to generate different Test patternsAWG Method Test Setupf AWG provides the stimulusf AWG is controlled usingLAN/GPIB control fromOscilloscope using SSTf Initially AWG files needs to bemanually loadedf Manual method is feasibleBIST FIS Test Method f BIST FIS software triggersHBA/Device to generate testpatternf BIST FIS software is vendorspecificf AWG Not RequiredParametric Measurementsf Differential Voltagef Rise/Fall Timef Differential Skewf Common mode Voltagef Eye Diagram analysisf Unit Intervalf Bit rateMinimum Differential Voltage Measurementf Measured for bits in representative data patternsf SATA WG recommends to make this using HFTP, MFTP and LBP orLFTP test patternsf Voltage level is measured at O.45UI to O.55 UIComputing Minimum Differential Voltage f To Compute V diff min–Using LBP (Lone Bit Pattern); Also called option 1 WG specs –Compute A and B, similar to UH–Compute VTestLBPVtestLBP=A-BVTest=Min(VtestLBP, DHM)–Test for minimum amplitude is passedVtest> Vdiff(Min)–Follow option 2 using LFTP; If LBP pattern is not a available –Ensure there are greater than 100 hits in the histogram and 1537(s/(X))2<= n–Compute A, B, C, D, E, F using Low frequency test pattern – A and B are similar to UH–C,D, E, F are mean of the voltage samples in the histogramHigh Frequency Test Pattern (HFTP)f Step 1 & 2f High Frequency Test Pattern–010101010101010101010101Bit 11UIBit 0Histogram window 0.45UI to 0.55UI Compute UHHistogram window 0.45UI to 0.55UI Compute LHMedium Frequency Test Pattern (MFTP)f Step 3 & 4f MFTP Pattern–00110011001100110011Histogram window 0.45UI to 0.55UI Compute UMBit 11UIBit 1Histogram window 0.45UI to 0.55UI Compute LMBit 0Bit 0Lone Bit Test Pattern for 1 bit f Option #1; Step 6f LBP Pattern–1101000010001101101111010000100011011011000100011011010Histogram window Compute ALone Bit Pattern (LBP) for 0 Bitf Option #1 1; Step 7f Lone Bit Pattern–001101101111010000100011011011110100010110111101000Histogram window Compute BPattern (LFTP)f Option #2; Step 6f LFTP 01111000111000011100Histogram Window Compute A00111000011 110Pattern (LFTP)f Option #2; Step 7f LFTP 01111000111000011100Histogram window Compute B00111000011 110Pattern (LFTP)f Option #2; Step 8f LFTP 0111100011100001110000111000011110Histogram window Compute CPattern (LFTP)f Option #2; Step 9f LFTP 0111100011100001110000111000011110Histogram window Compute DPattern (LFTP)f Option #2; Step 10f LFTP 01111000111000011100110001110000110Histogram window Compute E Histogram Window Compute FTesting for Maximum Differential Voltage Amplitudef Test needs to be carried out using LFTP and MFTP test pattern f High Test–IN LFTP, Use 4th1 bit in a string of 4 1 bits–IN MFTP, use 1st1 bit in a string of 2 1 bitsf Low test–IN LFTP, Use 4th0 bit in a string of 4 0 bits–IN MFTP, use 1st0 bit in a string of 2 0 bitsf Compute different parameters such as–NU, nu, NL and nlf Compute pu and plHigh Test Using LFTPNumber of hits nu11000111000 110 Number of hits NUGNDHigh Test Using MFTPNumber of hits nu Number of Hits NUGND1100Low Test Using LFTP0Number of hits nl11000111000110Number of hits NLGNDLow Test Using MFTPNumber of hits NLGND1100Number of Hits nlComputing pu & pl and Checking for Limitsf Computepu=nu/(nu+NUP)pl=nl/(nl+NL)f Maximum amplitude is passed ifpu<0.05pl<0.05f Test should pass for LFTP and MFTPDifferential Voltage Measurement in Opt. SSTf Captures a test patternf Identifies each test pattern segmentf Overlaps each test patternf Identifies the relevant UI and places histogramf Checks for different conditions recommended by SATA WG f Computes the different parameters as per SATA WGf Offers pass or fail info in the result panelResults of Differential Voltage Measurement f Opt. SST makes it fully automated measurementsf Details of testEye Diagram Analysis for SATAf Recommended as a diagnosis test in SATA WG f Normally done when Go-No Go tests are failed f Used as Debugging toolf Supports SSC and NON SSC SATA Signalsf What is SSC–Spread Spectrum Clocking–SATA signal is frequency modulated by 33KHz–Helps in meeting EMI/EMC requirementsSetting Up for Eye Diagram Analysisf Clock Recovery Window Size (UI)–Determines Data window for Clock Recoveryf Scan Increment–Increment steps to Analyze the UIf Clock Recovery method–Constant Clock-Mean–Constant Clock-Median f Analysis Window–250 UI and 5 UISetting Up for Eye Diagram AnalysisWindow SizeCenter 250 UI or 5UI Acquired DataClock Recovery WindowSATA Eye DiagramHigh RailTop MarginJitterBottom marginLow railAnalyzing Eye Diagramf High Rail–Worst case window displayed out of the all the analysisf Low Rail–Worst case window displayed out of the analysis windowf Top Margin–Worst case window displayed out of the analysis windowf Bottom Margin–Worst case window displayed out of the analysis windowf Jitter–Worst case jitter window displayed out of the analysis windowf All Eyes–All (High rail, Low Rail, Top margin, Bottom Margin and Jitter) the worst case windows in a single displayTransitional and Non-Transitional EyeTransitionEye Non-TransitionEyeOut Of Band (OOB) Measurementf Test for communication between Host Bus Adapter (HBA) andDevice (HDD)f Testing Technique–Using Arbitrary Waveform Generator (AWG)OOB Measurementsf COMRESET–Originates from Host and reset the Devicef COMINIT–Originates from Device and request for communication initialization f COMWAKE–Originates either from the HBA or Devicef Possible to make this measurement using AWG onlyOOB Measurement Setup for HBA Using AWGOOB Measurement Setup for Device Using AWGOut Of Band Measurementf Host responds to in-spec COMINIT inter-burst gap–Verify there are sixbursts of COMWAKEsignal from the DUTfollowing the AWGCOMWAKE.–Use the ZOOM functionof the DSO to measurethe inter-burst gap ofthe COMWAKE sequenceresponse from the DUT.–Verify it is within spec.101.3ns < Valid Inter-burst Gap < 112ns(106.7ns nominal).COMWAKE COMINITMaking OOB MeasurementsCursor Value is read and pass/fail is declaredJitter Measurement for SATAParameters Serial ATA Measurementswith TDSJIT3V2.0 Transm itter Gen1i Gen1x Gen2i Gen2x 9Tj at Connector, Data-Data,5UI99 Dj at Connector, Data-Data,5UITj at Connector, Data-Data,250UI99 Dj at Connector, Data-Data,250UITj at Connector, Clk-Data,f BAUD/1099 Dj at Connector, Clk-Data,f BAUD/10Tj at Connector, Clk-Data,f BAUD/50099 Dj at Connector, Clk-Data,f BAUD/500Tj after CIC, Clk-Data,f BAUD/1667999 Dj after CIC, Clk-Data,f BAUD/1667SAS Physical Layer MeasurementsIRCRXR ITCTXTReceive eye mask 999888Jitter tolerance eye mask 999888Max/Min rise and fall time 888999Skew 999999Total Jitter 999888Dterministic Jitter 999888Receiver Jitter TolerenaceSinusoidal jotter999888Deterministic Jitter 999888Total Jitter 999888Minimum OOB aligh busrt amplitude 999888Maximum noise durring OOB idle time 999888OOB timing measuremnts 999999SAS 1.5Gbps & 3GbpsParmetersReceiver Eye Diagram Analysis for SASf Test is Far endf Clock Recovery using Constant clock recovery withmean/median techniquef Reconstruct the Clock for eye diagram by applying single poleHP filter at Bit rate/1667–Remove LF Jitter (wonder) in Eye diagram–Retain HF Jitter in Eye diagramf View All UI , transitional and Non transitional in Eye diagramformReceiver Eye Mask Analysis for 1.5/3.0 Gbpsf All UI Plot f Transitional and Non-TransitionalUI plot。

硬盘io读写速度标准

硬盘io读写速度标准硬盘的I/O读写速度是评估硬盘性能的重要指标之一，它反映了硬盘的数据传输能力。

相关的参考内容主要包括硬盘的顺序读写速度、随机读写速度、IOPS值以及不同硬盘接口的速度标准等。

1. 顺序读写速度：硬盘的顺序读写速度是指在连续的数据块上进行的读写操作的速度。

它能够反映硬盘的大文件传输能力。

参考内容通常以MB/s（兆字节每秒）为单位。

例如，一块SSD硬盘的顺序读取速度可能为500MB/s，写入速度可能为350MB/s。

2. 随机读写速度：硬盘的随机读写速度是指在随机分布的数据块上进行的读写操作的速度。

它能够反映硬盘的小文件传输能力。

参考内容通常以IOPS（每秒I/O操作次数）为单位。

例如，一块HDD硬盘的随机读取速度可能为100IOPS，写入速度可能为80IOPS。

3. IOPS值：IOPS值是指硬盘每秒可以进行的I/O操作的次数。

它能够反映硬盘的数据处理能力。

不同类型的硬盘在IOPS值上可能有较大的差异。

例如，一块高性能SSD硬盘的IOPS值可能达到100,000，而一块传统HDD硬盘的IOPS值可能只有几百。

4. 不同接口的速度标准：硬盘的接口类型也会对其I/O读写速度产生影响。

常见的硬盘接口类型包括SATA、SAS和NVMe。

SATA接口是一种主流接口，其传输速度标准分为SATA I（1.5Gb/s）、SATA II（3Gb/s）、SATA III（6Gb/s）等。

SAS接口主要用于服务器硬盘，其传输速度标准分为SAS 2.0（6Gb/s）和SAS 3.0（12Gb/s）等。

NVMe（Non-Volatile Memory Express）是一种高速传输的新型接口，其传输速度要高于SATA和SAS接口。

NVMe接口目前的主流速度标准为PCIe Gen3 x4，可以达到最高的传输速度。

总结：以上是硬盘I/O读写速度的一些参考内容。

这些参考内容在购买硬盘或评估硬盘性能时可以作为参考指标，但需要注意的是，不同厂商和不同型号的硬盘性能可能会有所差异，因此最终选择硬盘时需要根据具体需求和实际测试结果来进行决策。

Gen 3 测试方法

Gen 3 测试方法一，Linux系统下测试Gen 3:1.前提：必须有支持Gen 3的主板，测试的显卡也必须支持Gen 3支持Gen 3的主板支持Gen 3的显卡2.把显卡垂直插入支持Gen 3的主板上并开机：3.开机进入Ubuntu系统中，如下图所示：Linux系统DOS系统4.进入系统后出现以下画面：按Ctrl + C后键入nano bashrc5. 回车后修改此显卡的测试版本，如下图所示：6.修改好测试版本后键入：Ctrl +X 选Y按回车保存退出。

如下图：7.保存之后键入cd verde1207(测试版本)，回车后再键入./tserver进行配置所测试的程序,如下图所示：注：Choose error reporting method: 选P测试Enable clock speed guard band? 选Y或N测试都可以Run PCIE Gen3 Tests? 选Y测试Run visual tests? 选Y测试其它选项一律选N测试8.配置OK后会出现以下画面：9.在verde1207#根目录下输入：./tserver –boardtest=extmfg (运行密令)运行后会出现以下画面：10.出现以上画面后按数字键“1”会出现另一个画面如下图：11.出现以上画面后再次按数字键“1”会出现PASS画面，如下图：12.出现以上画面就说明测试PASS，直接关机或者输入密令Halt关机。

注：Total Pass项必须是7 若非7则是配置版本时漏选一项或多项！1.前提：必须有支持Gen 3的主板，测试的显卡也必须支持Gen 3支持Gen 3的主板支持Gen 3的显卡2. 把显卡垂直插入支持Gen 3的主板上并开机进入Windows 7 系统中先把之前的驱动全部卸载掉，然后在根据Setup List中Driver Rev 安装相应的驱动，安装完成之后重新启动计算机。

3.进入桌面之后双击TechPowerUp GPU-Z软件，打开之后会出现以下画面：1.前提：必须有支持Gen 3的主板，测试的显卡也必须支持Gen 3支持Gen 3的主板支持Gen 3的显卡2. 把显卡垂直插入支持Gen 3的主板上并开机进入Windows 7系统中先把之前的驱动全部卸载掉，然后在根据Setup List中Driver Rev 安装相应的驱动，安装完成之后重新启动计算机。

用效率源检测修复SATA硬盘的方法

用效率源检测修复SATA硬盘的方法在解决SATA硬盘问题时，可以采用以下方法来进行效率源检测和修复:第一步:效率源检测1.检查硬盘接口和电源连接:确保SATA硬盘的数据线和电源线与主板和电源连接牢固。

可以尝试更换数据线和电源线，检查是否有断裂或松动现象。

2.检查电源供应问题:如果硬盘无法正常工作，可以尝试将其连接到另一台机器上，以确定是否为电源供应问题。

也可以使用电源测试仪来检查电源是否正常工作。

4. 使用磁盘健康工具: 有许多第三方工具可以帮助检测和修复硬盘问题，例如CrystalDiskInfo、HD Tune等。

这些工具可以提供硬盘的健康状态和SMART信息，以及进行硬件故障诊断和修复。

第二步:故障修复1. 使用Windows自带工具: Windows操作系统提供了一些内置的工具来修复硬盘问题。

例如，可以通过运行“Chkdsk”命令来扫描并修复硬盘上的文件系统问题。

打开命令提示符窗口，输入以下命令: chkdsk /f /r ，然后按回车键执行修复操作。

2. 使用数据恢复工具: 如果硬盘上的数据无法读取或丢失，可以尝试使用数据恢复工具来恢复丢失的文件。

有一些商业软件和免费软件可以帮助恢复已删除、格式化或损坏的文件。

例如，Recuva、EaseUS Data Recovery等。

3.专业硬盘维修:如果硬盘出现物理故障，上述方法可能无法解决问题。

这时候需要寻求专业硬盘维修服务，找到可靠的硬盘数据恢复专家或实验室，他们可以使用专业的设备和技术来修复硬盘并恢复丢失的数据。

总结:在修复SATA硬盘问题时，首先要进行效率源检测，检查数据线、电源线、电源供应和硬盘固件是否正常。

如果问题仍然存在，可以尝试使用磁盘健康工具来检测和修复硬盘故障。

如果软件方法无法解决问题，可以尝试使用Windows自带的工具或数据恢复工具来修复文件系统或恢复丢失的数据。

若以上方法仍然无效，需寻求专业硬盘维修服务。

SATA Ⅲ重炮逆袭(下)

SATA Ⅲ重炮逆袭(下)SATA从1.5Gbps升级到3Gbps，低价的优势在内接储存市场无敌称霸王；如今，SATA Ⅲ的6Gbps，飞上了更高的云端。

其诱人的庞大带宽，不仅威胁到高阶企业市场。

也是拉拔USB 3.0的催化剂；SATA Ⅲ加上了USB 3.0的光环，无论在HDD还是SSD市场。

始终还是要纵横天下。

SATA的技术观点：SATA的确好用，几乎即插即用；完全沿用了过去PATA上所累积的所有软件资产，丢弃了PATA的包袱，改用点对点的连接方式，又有芯片组的内建与驱动程序的充分支持。

这点不难确认，从设备管理器画面上，就可以看的一清二楚。

若是来俯瞰SATA的架构，它如同PCI Express一般，多是阶层式的架构i SATA共有四层架构，由上而下分别是“应用层(Application bayer)”、“传载层(Transport layer)”、“连结层(Link layer)”与“物理层(PHY)”：底下两层容易理解，比较容易陷入迷惑的地方在于上层。

应用层是担当了所有ATA命令的执行，而传载层的任务就是双端数据封包框的传送，SATA采用了一种数据结构，称之为FIS(FrameInformation St ructure)。

主机与应用层之间的互动，其实就是成群的缓存器，与PATA相同；这就是为何SATA可以沿用所有PATA软件资产的主要原因所在。

SATA野心庞大，除了取代PATA的内接式市场，还垂涎于背板(backplane)以及外接市场。

不过，看起来还是以内接应用为大宗。

背板市场可是企业专用的领域。

至于SAS，就是重重地依赖着SATA的底下三层，同时赚到低价又快速的优势。

SATA的连接器与连接线，算是简单明了；信号线与电源线各自分离，好处是减少不必要的干扰，缺点是需要两条线，不像USB的简单一条鞭。

如果就信号线来说，就是一对传送一对接收，用地线的隔离，得以让连接线的成本降到最低。

而内部连接线的最大长度，定在一米。