论氮化物衬底材料的开发(精)

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《宽禁带半导体发光材料》3.1MOCVD设备与氮化物材料生长基础

《宽禁带半导体发光材料》3.1MOCVD设备与氮化物材料生长基础
不同厂商的MOCVD系统间最大差异在于反应室设计和温度控制。
MOCVD通常的性能指标
硬件性能参数
衬底温 度
反应室 压力
衬底转速 范围
稳定性 均匀性 升温速率
范围
控制精度
系统气 密性
管路系统漏气率 反应室漏气率
0-2000转/分钟 100~1200℃
±1℃ ±3℃(在1000℃)
0.5 ℃-3℃/s 20-760Torr
MOCVD技术由于能在纳米尺度上精确控制外延层的厚度、组分 、掺杂及异质结构界面,所以其与分子束外延技术(MBE)一起 成为制备化合物半导体异质结、低维结构材料的重要方法。
MOCVD技术是一种动态非平衡生长技术,外延生长是高度受控 的相转变。因此,热力学完全决定着所有生长过程的驱动力,进 而确定最大生长速率。此外,在许多生长条件下对于外延热力学 的了解,可以确定合金的组分以及固体的化学配比。
Desorption
Diffusion
Pyrolysis
Adsorption
Surface reaction
Substrate
NH3
H
N
Ga(CH3)3
CH3
Ga
MOCVD的优势
高质量外延层
高生长速率 掺杂均一 重复性好
高量产,不需要超高真空(对比MBE)
成本优势 降低生长周期
高灵活性
同一系统可生长多种不同材料体系
陡峭界面适宜生长异质结
MQW,SLs
MOCVD生长的关键过程
化学反应
单相反应─气相中形成内核
源的高温分解及其加合物 复杂的激活反应
多相反应─衬底表面
台阶,结,及其引起的“缺陷”的性质和密度 源及其中间态的吸附和解吸作用 高温分解,包括复杂的激活反应 产品的吸附作用

《宽禁带半导体发光材料》3.3氮化物材料的发展1

《宽禁带半导体发光材料》3.3氮化物材料的发展1

不同In组分InGaN材料中的微结构
CL Spectra for x~(0.07-0.35)
SEM and XTEM images for x~(0.07-0.35)
InGaN材料中的位错缺陷主要 来自于下层材料; In组分越高,缺陷浓度越高, 晶体质量越差; In组分升高,光谱红移,强度 下降。
1994年,经过多年InGaN层的优化生长,第一颗InGaN双异质结高亮 度蓝光LED诞生(2.5 mW Output Power @ 450 nm) 。
InGaN/AlGaN Double Heterostructure LED
Output Power vs. Current
InGaN材料的发展
InGaN材料可用于制备近紫外、蓝、绿、黄光LED
InGaN材料生长的困难
氮化物材料发展历史关键点
InGaN材料的发展
1989 年,Nagamoto等人利用MOVPE首次制备出InGaN材料,高能 电子衍射显示已获得小颗粒单晶材料,XRD结果显示随着 In组分的增 加,材料晶格常数增大;由于生长设备及技术限制,材料质量差,缺 陷发光明显,尚不能实现带边发射。
In组分非均匀性
In组分的不均匀性在器件结果上表现为外延片发光波长的不一致
WLD
平均 -21 值项 -18 -15 -12 -9 -6 -3 0 3 6 9 12 15 18 -18 -15 -12 -9 -6 -3 0 3 6 9 12 15 18 总计 526.3 526.7 526.7 526.4 525 526 526 526 527 527 525 526 526 527 527 527 528 528 528 525 526 526 526 527 527 527 528 528 528 527 523 526 526 526 527 526 526 527 527 528a)纤锌矿结构(b)闪锌矿结构

氮化镓衬底

氮化镓衬底

氮化镓这是一种具有较大禁带宽度的半导体,属于所谓宽禁带半导体之列。

它是微波功率晶体管的优良材料,也是蓝色光发光器件中的一种具有重要应用价值的半导体。

简介GaN材料的研究与应用是目前全球半导体研究的前沿和热点,是研制微电子器件、光电子器件的新型半导体材料,并与SIC、金刚石等半导体材料一起,被誉为是继第一代Ge、Si半导体材料、第二代GaAs、InP化合物半导体材料之后的第三代半导体材料。

它具有宽的直接带隙、强的原子键、高的热导率、化学稳定性好(几乎不被任何酸腐蚀)等性质和强的抗辐照能力,在光电子、高温大功率器件和高频微波器件应用方面有着广阔的前景。

化学式GaNGaN材料的特性总述GaN是极稳定的化合物,又是坚硬的高熔点材料,熔点约为1700℃,GaN具有高的电离度,在Ⅲ—Ⅴ族化合物中是最高的(0.5或0.43)。

在大气压力下,GaN晶体一般是六方纤锌矿结构。

它在一个元胞中有4个原子,原子体积大约为GaAs的一半。

因为其硬度高,又是一种良好的涂层保护材料。

化学特性在室温下,GaN不溶于水、酸和碱,而在热的碱溶液中以非常缓慢的速度溶解。

NaOH、H2SO4和H3PO4能较快地腐蚀质量差的GaN,可用于这些质量不高的GaN 晶体的缺陷检测。

GaN在HCL或H2气下,在高温下呈现不稳定特性,而在N2气下最为稳定。

结构特性表1列出了纤锌矿GaN和闪锌矿GaN的特性比较。

电学特性GaN的电学特性是影响器件的主要因素。

未有意掺杂的GaN在各种情况下都呈n型,最好的样品的电子浓度约为4×1016/cm3。

一般情况下所制备的P型样品,都是高补偿的。

很多研究小组都从事过这方面的研究工作,其中中村报道了GaN最高迁移率数据在室温和液氮温度下分别为μn=600cm2/v·s和μn= 1500cm2/v·s,相应的载流子浓度为n=4×1016/cm3和n=8×1015/cm3。

AlN晶体

AlN晶体

晶体简介AlN晶体是第三代半导体材料的典型代表之一,具有宽带隙、高热导率、高电阻率、良好的紫外透过率、高击穿场强与较强的抗辐射能力,因而更适合用于制造高温、高频、抗辐射及大功率器件,如高能效光电子器件、高功率电子器件、固态激光探测器、高密度固态存储器等。

同时,AlN晶体也是外延生长Ⅲ族氮化物的理想衬底材料,能够弥补Si衬底、蓝宝石衬底、SiC衬底等所存在的晶格失配大、热失配大的缺点。

国际状况国外多家研究机构进行了大量的工作,在晶体的尺寸、商品级AlN晶圆的开发以及紫外LED的研制等方面取得了一定的成果。

美国CrystalIS公司制备的高质量AlN衬底已成功应用于紫外LED、深紫外量子阱LED以及毫瓦级深紫外LED等器件的制造。

俄罗斯N-Crystals公司也利用商品级AlN衬底,制造了深紫外LED,其性能明显优于利用蓝宝石衬底制造的同类器件。

德国埃朗根-纽伦堡大学进行的研究包括籽晶晶向对AlN生长的影响、AlN晶圆的光吸收图谱分析,到2011年已利用AlN籽晶生长出直径为25mm、厚度为15mm的AlN体单晶。

美国北卡罗莱纳州立大学于2010年获得了直径为15mm、高度为15mm的无裂纹AlN晶圆,并于2011年利用AlN衬底外延生长了高质量的AlN、AlGaN薄膜等AlN。

同年的工作还包括完成了265nmLED的制造与表征。

国内状况国内对于AlN晶体生长技术的研究尚处于起步阶段,主要研究机构有山东大学、中国科学院半导体研究所、中国科学院物理研究所、深圳大学光电子研究所等。

2006年,山东大学研究了在BN坩埚内制备AlN单晶,着重分析了生长温度对晶体形貌的影响,其中,在2200~2300℃得到了长度为几毫米的块状晶体。

2007年,中国科学院半导体研究所利用物理气相传输法制备出长40~50mm、厚8~10mm的多晶锭。

深圳大学郑瑞生教授的小组报道了一种制备AlN晶体的新方法,通过在钨坩埚盖中心位置开小孔来控制反应条件与结晶过程,制备出直径大于2mm的AlN单晶。

浅谈氮化铝的性质、制备及应用

浅谈氮化铝的性质、制备及应用

浅谈氮化铝的性质、制备及应用浅谈氮化铝的性质、制备及应用1氮化铝的性质氮化铝(AlN)是一种综合性能优异的先进陶瓷材料,是一种被国内外专家一致看好的新型封装材料,也是目前公认的最有发展前途的高热导陶瓷材料。

对其的研究开始于一个多世纪以前,但当时仅将其用作固氮剂化肥使用。

作为共价化合物的氮化铝,由于其具有较高的熔点和较低的自扩散系数,导致其难以烧结。

直到上世纪50年代,氮化铝陶瓷才被人们首次制得,并作为一种耐火材料使用,而后广泛应用于纯铁、铝以及铝合金的熔炼。

从上世纪70年代以来,随着研究的进一步深入,氮化铝的制备工艺逐渐走向成熟,其应用的领域和规模也不断扩大。

氮化铝是一种共价键化合物,具有六方纤锌矿型结构形态,晶格常数为a=3.11、c=4.98,如图1-1所示。

其理论密度为3.26g/cm3,莫氏硬度为7~8,分解温度为2200~2250℃。

[1]图1-1氮化铝的晶体结构氮化铝陶瓷具有较高的热导率,适应于高功率、高引线和大尺寸芯片;它的热膨胀系数与硅匹配,介电常数较低;其材质机械强度高,在严酷的条件下仍能照常工作。

因此,氮化铝可以制成很薄的衬底,以满足不同封装基片的应用要求。

氮化铝陶瓷作为高热导、高密封材料有很大的发展潜力,是陶瓷封装材料研究的重要发展领域。

人们预计,在基片和封装两大领域,氮化铝陶瓷最终将取代目前的氧化铝陶瓷和氧化铍陶瓷。

[2]氮化铝陶瓷的主要特点如下:1)热导率高,是氧化铝陶瓷的5~10倍,与剧毒氧化铍相当;2)热膨胀系数(4.3×10-6/℃)与半导体硅材料(3.5-4.0×10-6/℃)匹配;3)机械性能好,高于氧化铍陶瓷,接近氧化铝;4)电性能优良,具有极高的绝缘电阻和低的介质损耗;5)可以进行多层布线,实现封装的高密度和小型化;6)无毒,有利于环保。

[3]2氮化铝粉体的制备2.1直接氮化法氮化铝在自然界中不存在,现在是由金属铝粉末直接氮化合成或由Al2O3碳热还原后再直接氮化法制备,其化学反应式为:2Al(s)+N2(g)→2AlN(s)直接氮化法具有若干优点:1)成本低廉;2)原料丰富;3)反应体系简单,没有副反应;4)反应温度低于碳热还原;5)适合大规模生产。

氮化物材料

氮化物材料

N系化合物—第三代半导体
N系化合物—第三代半导体
相比于第一代和第二代半导体材料,III族氮化物具有如下特点:
极化效应强。当两种不同的材料组成异质结时,会由于自发极化和压电极化的不连续导致 在异质结界面处产生极化电荷。例如[0001]晶向的AlGaN/GaN异质结中,极化效应大小的不 连续会导致在异质结处产生正的极化电荷,其面密度可高达1013 cm-2量级。正极化电荷对电 子具有吸引作用,使得AlGaN/GaN异质结不用掺杂就可以实现很高的二维电子气(2DEG) 密 度。由于不用掺杂,2DEG不会受到电离杂质散射的影响,有利于制备高电子迁移率晶体管 (HEMT)。 稳定性好。III族氮化物,特别是GaN和AlN,具有耐高温、不易腐蚀、热导率好、抗辐照能 力强、以及击穿电压高等特点,使其成为工作在高温、大功率以及极端环境下的器件的理想 选择。 禁带宽宽可调范围大。稳定相的AlN、GaN和InN均为直接带隙半导体,其室温下禁带宽度 分别为6.2 eV、3.39 eV和0.7 eV。将两种或三种材料组成三元或四元合金,可以实现材料的 禁带宽度从0.7 eV到6.2 eV连续可调,相应的光谱覆盖了整个可见光波段以及一部分的近红外 和紫外波段,非常有利于研制多种工作波长的光电器件,如发光二极管、半导体激光器、光 电探测器以及太阳能电池等。
MOCVD (CH3)3Ga (g)+ NH3(g) GaN (s) + 3CH4
原料成本高 一般III族氮化物材料或结构生长中需要用到的III族生长源有三甲基镓(TMGa)、三乙基 钾(TEGa)、三甲基铝(TMAl)、三甲基铟(TMIn)等;p型掺杂源有二茂镁(Cp2Mg)、二 乙基锌(DEZn)等;深能级掺杂源有二茂铁(Cp2Fe)等。 寄生反应强 金属有机源,特别是TMGa和TMAl,为典型的刘易斯(Lewis) 酸,而NH3则为Lewis 碱,酸和碱结合会发生寄生反应,生成不易分解的大分子或者氮化物颗粒。寄生反应 对氮化物的生长没有贡献,会造成原料的消耗和浪费,生成的颗粒物质也会落到基片 表面,造成外延片的污染,对后续的器件制备造成困难。 高In组分InGaN和高Al组分AlGaN生长困难 由于InN的分解压高,在常用的低压MOCVD中生长高In组分InGaN需要降低生长温度。 低生长温度会导致高In组分的InGaN的晶体质量不高,器件效率低下。另外,由于 GaN和InN互溶率低,高In组分InGaN中会出现相分离现象。而对于高Al组分AlGaN 而言,由于AlN的表面迁移率低,高Al组分AlGaN往往难以形成二维生长,材料的表 面形貌很差。

氮化物材料的制备及其性能研究

氮化物材料的制备及其性能研究

氮化物材料的制备及其性能研究氮化物材料是近年来备受研究关注的一种材料类型,其独特的电子、光学、热学、力学等性能使其在半导体、光电子、热电等领域具有广泛的应用前景。

本文将介绍氮化物材料的制备方法、表征技术和性能研究进展。

一、氮化物材料的制备方法氮化物材料通常是通过化学气相沉积、分子束外延、物理气相沉积、热分解等方法制备得到。

其中最为常用的是化学气相沉积和分子束外延。

化学气相沉积方法是将氨气和金属有机化合物混合在高温下进行反应,气相中产生的氮和金属元素在表面上形成氮化物膜。

化学气相沉积方法具有成本低、易于控制生长条件等优点,但由于反应中涉及到的化学物质较多,容易导致杂质的污染,对薄膜的质量影响较大。

分子束外延方法是将高纯度的材料加热,使其升华成分子束并瞄准目标基片,通过物理碰撞和热解反应等机理将分子束转化为固体材料。

分子束外延方法具有制备高质量、大尺寸晶片的优点,但需要高真空条件和精密的控制技术,成本较高。

二、氮化物材料的表征氮化物材料的表征方式主要包括X射线衍射、透射电镜、拉曼光谱等方法。

其中,X射线衍射可以用于表征材料的结晶性、晶格常数和应变等信息;透射电镜可以用于观察材料的微观结构和晶粒尺寸等信息;拉曼光谱可以用于分析材料的振动模式和晶格动力学等信息。

三、氮化物材料的性能研究进展氮化物材料具有优良的电学、光学、热学和机械性能,目前在射频功率器件、LED、激发器、太赫兹器件、高效热电材料等领域有广泛应用。

电学性能方面,氮化物材料具有较高的电子迁移率和载流子浓度,因此在高功率半导体器件中得到了广泛的应用。

此外,同时具有宽带隙和高饱和漂移速度的氮化镓材料能够实现高速的光电转换,被广泛应用于蓝绿光LED、激光和太赫兹探测器等领域。

光学性能方面,氮化物材料已经成为高效的光电转换材料。

例如,氮化铟镓材料在低电压下就能实现高光量子效率,因此在LED和固态照明产品中的应用得到了高度的关注。

热学性能方面,氮化物材料被广泛应用于高效的热电转换器件。

AlN晶体

AlN晶体

晶体简介AlN晶体是第三代半导体材料的典型代表之一,具有宽带隙、高热导率、高电阻率、良好的紫外透过率、高击穿场强与较强的抗辐射能力,因而更适合用于制造高温、高频、抗辐射及大功率器件,如高能效光电子器件、高功率电子器件、固态激光探测器、高密度固态存储器等。

同时,AlN晶体也是外延生长Ⅲ族氮化物的理想衬底材料,能够弥补Si衬底、蓝宝石衬底、SiC衬底等所存在的晶格失配大、热失配大的缺点。

国际状况国外多家研究机构进行了大量的工作,在晶体的尺寸、商品级AlN晶圆的开发以及紫外LED的研制等方面取得了一定的成果。

美国CrystalIS公司制备的高质量AlN衬底已成功应用于紫外LED、深紫外量子阱LED以及毫瓦级深紫外LED等器件的制造。

俄罗斯N-Crystals公司也利用商品级AlN衬底,制造了深紫外LED,其性能明显优于利用蓝宝石衬底制造的同类器件。

德国埃朗根-纽伦堡大学进行的研究包括籽晶晶向对AlN生长的影响、AlN晶圆的光吸收图谱分析,到2011年已利用AlN籽晶生长出直径为25mm、厚度为15mm的AlN体单晶。

美国北卡罗莱纳州立大学于2010年获得了直径为15mm、高度为15mm的无裂纹AlN晶圆,并于2011年利用AlN衬底外延生长了高质量的AlN、AlGaN薄膜等AlN。

同年的工作还包括完成了265nmLED的制造与表征。

国内状况国内对于AlN晶体生长技术的研究尚处于起步阶段,主要研究机构有山东大学、中国科学院半导体研究所、中国科学院物理研究所、深圳大学光电子研究所等。

2006年,山东大学研究了在BN坩埚内制备AlN单晶,着重分析了生长温度对晶体形貌的影响,其中,在2200~2300℃得到了长度为几毫米的块状晶体。

2007年,中国科学院半导体研究所利用物理气相传输法制备出长40~50mm、厚8~10mm的多晶锭。

深圳大学郑瑞生教授的小组报道了一种制备AlN晶体的新方法,通过在钨坩埚盖中心位置开小孔来控制反应条件与结晶过程,制备出直径大于2mm的AlN单晶。

无机化学中的氮化物材料的合成与性能研究

无机化学中的氮化物材料的合成与性能研究

无机化学中的氮化物材料的合成与性能研究氮化物材料是一类重要的无机化合物,由氮原子和其他金属或非金属元素组成。

它们具有丰富的化学和物理性质,在材料科学和能源领域具有广泛的应用前景。

本文将探讨氮化物材料的合成方法和其在各个领域中的性能研究。

一、氮化物材料的合成方法1. 气相沉积法气相沉积法是一种常用的合成氮化物材料的方法。

它通过将金属或非金属前驱体与氮气在高温下反应,生成氮化物薄膜或纳米颗粒。

这种方法可以实现对氮化物材料的精确控制,得到具有优异性能的材料。

2. 水热合成法水热合成法是一种简单有效的合成氮化物材料的方法。

它通过将金属或非金属前驱体与水在高温高压条件下反应,生成氮化物晶体。

这种方法具有低成本、易操作等优点,适用于大规模生产。

3. 溶液法溶液法是一种常用的合成氮化物材料的方法。

它通过将金属或非金属前驱体溶解在溶剂中,加入适量的氮源,通过溶液反应生成氮化物材料。

这种方法可以实现对材料形貌和结构的调控,得到具有特定功能的材料。

二、氮化物材料的性能研究1. 光电性能氮化物材料具有优异的光电性能,可以广泛应用于光电器件领域。

例如,氮化镓材料具有较宽的能带隙和高电子迁移率,适用于制备高效的LED和光伏器件。

此外,氮化硼材料具有较高的硬度和高熔点,可用于制备高温光电器件。

2. 磁性能氮化物材料具有丰富的磁性能,可以应用于磁性材料和磁存储器件。

例如,氮化铁材料具有高磁饱和磁感应强度和低矫顽力,适用于制备高性能的永磁材料。

此外,氮化铜材料具有较高的居里温度和良好的磁导率,可用于制备高频磁性材料。

3. 电化学性能氮化物材料具有优异的电化学性能,可以应用于电化学能源存储和转换领域。

例如,氮化钛材料具有高比容量和优异的循环稳定性,适用于制备高性能的锂离子电池。

此外,氮化硅材料具有较高的电导率和优异的催化活性,可用于制备高效的电催化材料。

4. 热学性能氮化物材料具有良好的热学性能,可以应用于高温结构材料和热管理领域。

氮化物材料的制备方法和性质研究

氮化物材料的制备方法和性质研究

氮化物材料的制备方法和性质研究氮化物是一种重要的功能材料,在电子、光电、热电、结构材料等领域都有广泛的应用。

随着科技的发展和对新材料需求的不断增加,氮化物材料的制备方法和性质研究也得到了极大的关注和研究。

一、制备方法1、氨气氛法氨气氛法是一种生长大面积氮化物薄膜的传统方法,该方法可用于MOCVD、MBE和反应磁控溅射等技术中。

在氨气氛法中,氨气被加热至700℃至1000℃,使其分解为氮和氢离子,通过在半导体表面沉积形成氮化物材料。

2、激光脉冲沉积法激光脉冲沉积法是一种新型氮化物材料制备方法,其使用激光脉冲瞬间把靶材料蒸发,使得蒸汽部分在衬底表面沉积形成氮化物。

该方法既适用于薄膜制备,也适用于三维结构从而实现生长单晶,可大幅降低晶体缺陷密度。

3、物理气相沉积法物理气相沉积法是一种常用的氮化物材料制备方法,其原理是在高温下使用惰性气体浸泡靶材料,并通过高功率电弧放电的形式将靶材料蒸发,通过化学反应形成氮化物材料,以及其他化合物。

4、化学气相沉积法化学气相沉积法是一种在化学气氛下实现氮化物薄膜、纤维以及碳化物制备的方法。

这种方法主要是通过化学反应过程,利用化学气相成分,在衬底表面沉积形成薄膜、纤维以及碳化物。

二、性质研究1、热处理效果对氮化物材料进行热处理具有极大的影响。

通常,氮化物材料的热稳定性是非常脆弱的。

在高温下,氮化物材料中的组分会因脱氮而流失,从而导致损失。

2、光学性质氮化物材料在光学性质上也有广泛的应用。

氮化物具有很高的折射率和较大的离子键结合能,使其在太阳能电池、光电显示、激光器等设备中有广泛的应用。

3、力学性能氮化物材料具有良好的强度和耐磨性,使其在机械设备中具有广泛的应用。

通过将氮化物材料使用不同的方法制备,可以实现材料的强度和韧性之间的平衡,从而使其在机械设备中具有更好的性能表现。

4、电学性质氮化物材料在电学性质上也有广泛的应用。

氮化物材料的电学性质可通过材料的结构和化合物组成来进行调控。

氢气相外延(hvpe)法

氢气相外延(hvpe)法

氢气相外延(hvpe)法
氢气相外延(HVPE)法是一种用于制备氮化物材料的新技术,它的具体过程是利用氢气将氮化物晶体在高温下沉积在衬底上。

该方法已经在氮化镓、氮化铝、氮化硼等材料的生产中得到了广泛应用。

HVPE法具有以下优点:
1. 精密控制性能优异:HVPE法在制备氮化物材料时能够实现精密控制,以确保其性能优异。

2. 成本较低:HVPE法的成本相对较低,这使得它在量产中具有很大的优势。

3. 生产效率高:HVPE法具有高生产效率,并且能够生产大面积的晶体。

此外,HVPE法还可以用于制备氮化硼材料,它具有优异的物理和化学性质,可以被广泛应用于电子器件、钢铁制品、陶瓷和涂料等领域。

总之,氢气相外延法是一种创新的制备氮化物材料的技术,它在成本、生产效率和精密控制性能等方面具有优势。

该方法的应用范围很广,可以为电子器件、钢铁制品、陶瓷和涂料等领域提供可靠的氮化物材料。

@英特美光电总经理刘晓博士谈荧光粉技术与发展趋势

@英特美光电总经理刘晓博士谈荧光粉技术与发展趋势

英特美光电总经理刘晓博士谈荧光粉技术与发展趋势(图)摘要大量厂家转用英特美荧光粉,不少厂家还接受了英特美的荧光粉专利授权。

刘博士同时给我们介绍了英特美近期的市场规划。

除去硅酸盐的专利,英特美的氮化物红粉也有专利。

提到YAG荧光粉,刘博士介绍说,英特美也生产YAG荧光粉,价格有优势,性能卓越,光效比市面上其他YAG荧光粉可高出10至15个百分点,如果不考虑专利,也是非常好的荧光粉,特别在照明领域。

提到荧光粉厂家,不得不说英特美,自英特美进入中国市场4年来,以其精湛的技术和优秀的品质,推动了荧光粉的进步,也带动了中国LED封装业的发展。

今天我们有幸邀请到英特美光电总经理刘晓博士,为我们讲解荧光粉的先进技术和未来的发展趋势。

荧光粉生产入门台阶较低,许多大小厂家纷纷投入,各家品质也是参差不齐,让人难辨优劣。

对此现象刘博士说道:市场是检验品质的唯一标准。

英特美在过去的4年里,凭借其独特的专利技术从无人知晓的品牌一家家走访封装厂家,蹲点指导工厂研发配粉,到现在炙手可热,成为多家大厂指定荧光粉供应品牌,其品质和服务得到业内的广泛认可。

刘博士认为,金融危机甚至成为了英特美的推广机遇,大量封装大厂员工流动较大,让荧光粉技术快速流动,英特美也因此广泛被各封装企业所熟悉。

谈到荧光粉的选择,刘博士指出,荧光粉因其“门坎”低,吸引大量厂家生产,但是质量好而精的就只有少数几个厂家在竞争,对于LED企业来说,荧光粉上占很小的成本,在荧光粉的购买方面价格不应该成为其主要的选择因素。

英特美荧光粉目前在美国进行生产,虽然在苏州已经建了加工厂,但是仍然不敢贸然生产,担心转移带来的稳定性的问题,英特美必须保证其产品的可靠性,一致性和光效。

英特美光电总经理刘晓博士谈荧光粉技术与发展趋势英特美荧光粉在国际市场占据了相当大的份额,只韩国一家电视背光LED的月需求量就达到了好几百公斤,大部分都是使用英特美的荧光粉。

中国的背光厂家需求虽然还很小,但正在起步,且增长迅速。

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论氮化物衬底材料的开发宽带隙的GaN基半导体在短波长发光二极管、激光器和紫外探测器,以及高温微电子器件方面显示出广阔的应用前景;对环保,其还是很适合于环保的材料体系。

半导体照明产业发展分类所示的若干主要阶段,其每个阶段均能形成富有特色的产业链。

世界各国现在又投入了大量的人力、财力和物力,以期望取得GaN基高功率器件的突破,并且居于此领域的制高点。

“氮化物衬底材料与半导体照明的应用前景”文稿介绍了氮化物衬底材料与半导体照明的应用前景的部分内容。

GaN、AlN、InN及其合金等材,是作为新材料的GaN系材料。

对衬底材料进行评价要就衬底材料综合考虑其因素,寻找到更加合适的衬底是发展GaN基技术的重要目标。

评价衬底材料要综合考虑衬底与外延膜的晶格匹配、衬底与外延膜的热膨胀系数匹配、衬底与外延膜的化学稳定性匹配、材料制备的难易程度及成本的高低的因素。

InN的外延衬底材料就现在来讲有广泛应用的。

自支撑同质外延衬底的研制对发展自主知识产权的氮化物半导体激光器、大功率高亮度半导体照明用LED,以及高功率微波器件等是很重要的。

“氮化物衬底材料的评价因素及研究与开发”文稿介绍了氮化物衬底材料的评价因素及研究与开发的部分内容。

氮化物衬底材料与半导体照明的应用前景 GaN 是直接带隙的材料,其光跃迁几率比间接带隙的高一个数量级。

因此,宽带隙的GaN基半导体在短波长发光二极管、激光器和紫外探测器,以及高温微电子器件方面显示出广阔的应用前景;对环保,其还是很适合于环保的材料体系。

1994年,日本的Nicha公司在GaN/Al2O3上取得突破,1995年,GaN器件第一次实现商品化。

1998年,GaN基发光二极管LED市场规模为US$5.0亿,2000年,市场规模扩大至US$13亿。

据权威专家的预计,GaN基LED及其所用的Al2O3衬底在国际市场上的市场成长期将达到50年之久。

GaN基LED及其所用的Al2O3衬底具有独特的优异物化性能,并且具有长久耐用性。

预计,2005年GaN基器件的市场规模将扩大至US$30亿,GaN基器件所用的Al2O3衬底的市场规模将扩大至US$5亿。

半导体照明产业发展分类所示的若干主要阶段,其每个阶段均能形成富有特色的产业链:(1)第一阶段第一阶段(特种照明时代,2005年之前),其中有:仪器仪表指示;金色显示、室内外广告;交通灯、信号灯、标致灯、汽车灯;室内长明灯、吊顶灯、变色灯、草坪灯;城市景观美化的建筑轮廓灯、桥梁、高速公路、隧道导引路灯,等等。

(2)第二阶段第二阶段(照明时代,2005~2010年),其中有:CD、DVD、 H-DVD光存储;激光金色显示;娱乐、条型码、打印、图像记录;医用激光;开拓固定照明新领域,衍生出新的照明产业,为通用照明应用打下基础,等等。

(3)第三阶段第三阶段(通用照明时代,2010年之后),包括以上二个阶段的应用,并且还全面进入通用照明市场,占有30~50%的市场份额。

到达目前为止(处于第一阶段,特种照明时代),已纷纷将中、低功率蓝色发光二极管(LED)、绿色LED、白光LED、蓝紫色LED等实现了量产,走向了商业市场。

高功率蓝色发光二极管(LED)、激光二极管(LD)和全波段InN-GaN等,将会引发新的、更加大的商机,例如,光存储、光通讯等。

实现高功率蓝色发光二极管(LED)、激光二极管(LD)和全波段InN-GaN实用化,并且达到其商品化,这需要合适的衬底材料。

因此,GaN材料及器件发展,需要寻找到与GaN匹配的衬底材料,进一步提高外延膜的质量。

另外,就基础研究和中长期计划考虑,科技发展越来越需要把不同体系的材料结合到一起,即称之为异质结材料。

应用协变衬底可以将晶格和热失配的缺陷局限在衬底上,并且为开辟新的材料体系打下基础。

已提出了多种协变衬底的制备技术,例如,自支撑衬底、键合和扭曲键合、重位晶格过渡层,以及SOI 和VTE衬底技术等。

预计,在今后的10~20年中,大尺寸的、协变衬底的制备技术将获得突破,并且广泛应用于大失配异质结材料生长及其相联系的光电子器件制造。

世界各国现在又投入了大量的人力、财力和物力,并且以期望取得GaN基高功率器件的突破,居于此领域的制高点。

氮化物衬底材料的评价因素及研究与开发GaN、AlN、InN及其合金等材料,是作为新材料的GaN系材料。

对衬底材料进行评价,要就衬底材料综合考虑其因素,寻找到更加合适的衬底是作为发展GaN基技术的重要目标。

一、评价衬底材料综合考虑因素评价衬底材料要综合考虑以下的几个因素:(1)衬底与外延膜的晶格匹配衬底材料和外延膜晶格匹配很重要。

晶格匹配包含二个内容:· 外延生长面内的晶格匹配,即在生长界面所在平面的某一方向上衬底与外延膜的匹配;·沿衬底表面法线方向上的匹配。

(2)衬底与外延膜的热膨胀系数匹配热膨胀系数的匹配也很重要,外延膜与衬底材料在热膨胀系数上相差过大不仅可能使外延膜质量下降,还会在器件工作过程中,由于发热而造成器件的损坏。

(3)衬底与外延膜的化学稳定性匹配衬底材料需要有相当好的化学稳定性,不能因为与外延膜的化学反应使外延膜质量下降。

(4)材料制备的难易程度及成本的高低考虑到产业化发展的需要,衬底材料的制备要求简洁,而且其成本不宜很高。

二、InN的外延衬底材料的研究与开发 InN的外延衬底材料就现在来讲有广泛应用的,其中有:InN;α-Al2O3(0001);6H-SiC;MgAl2O4(111);LiAlO2和LiGaO2;MgO;Si ;GaAs(111)等。

Ⅲ-Ⅴ族化合物,例如,GaN、AlN、InN,这些材料都有二种结晶形式:一种是立方晶系的闪锌矿结构,而另一种是六方晶系的纤锌矿结构。

以蓝光辐射为中心形成研究热点的是纤锌矿结构的氮化镓、氮化铝、氮化铟,而且主要是氮化镓、氮化铝、氮化铟的固溶体。

这些材料的禁带是直接跃迁型,因而有很高的量子效率。

用氮化镓、氮化铝、氮化铟这三种材料按不同组份和比例生成的固溶体,其禁带宽度可在2.2eV到6.2eV之间变化。

这样,用这些固溶体制造发光器件,是光电集成材料和器件发展的方向。

(1)InN和GaN 因为异质外延氮化物薄膜通常带来大量的缺陷,缺陷损害了器件的性能。

与GaN一样,如果能在InN上进行同质外延生长,可以大大减少缺陷,那么器件的性能就有巨大的飞跃。

自支撑同质外延GaN,AlN和AlGaN衬底是目前最有可能首先获得实际应用的衬底材料。

(2)蓝宝石(α-Al2O3)和6H-SiC α-Al2O3单晶,即蓝宝石晶体。

(0001)面蓝宝石是目前最常用的InN的外延衬底材料。

其匹配方向为:InN(001)// α-Al2O3(001),InN[110]// α-Al2O3[100][11,12]。

因为衬底表面在薄膜生长前的氮化中变为AlON,InN绕α-Al2O3(0001)衬底的六面形格子结构旋转30°,这样其失匹配度就比原来的29%稍有减少。

虽然(0001)面蓝宝石与InN晶格的失配率高达25%,但是由于其六方对称,熔点为2050℃,最高工作温度可达1900℃,具有良好的高温稳定性和机械力学性能,加之对其研究较多,生产技术较为成熟,而且价格便宜,现在仍然是应用最为广泛的衬底材料。

6H-SiC作为衬底材料应用的广泛程度仅次于蓝宝石。

同蓝宝石相比,6H-SiC与InN外延膜的晶格匹配得到改善。

此外,6H-SiC具有蓝色发光特性,而且为低阻材料,可以制作电极,这就使器件在包装前对外延膜进行完全测试成为可能,因而增强了6H-SiC作为衬底材料的竞争力。

又由于6H-SiC的层状结构易于解理,衬底与外延膜之间可以获得高质量的解理面,这将大大简化器件的结构;但是同时由于其层状结构,在衬底的表面常有给外延膜引入大量的缺陷的台阶出现。

(3)镁铝尖晶石(MgAl2O4)MgAl2O4晶体,即铝酸镁晶体。

MgAl2O4晶体是高熔点(2130℃)、高硬度(莫氏8级)的晶体材料,属面心立方晶系,空间群为Fd3m, 晶格常数为0.8085nm。

MgAl2O4晶体是优良的传声介质材料,在微波段的声衰减低,用MgAl2O4晶体制作的微波延迟线插入损耗小。

MgAl2O4晶体与Si的晶格匹配性能好,其膨胀系数也与Si相近,因而外延Si膜的形变扭曲小,制作的大规模超高速集成电路速度比用蓝宝石制作的速度要快。

此外,国外又用MgAl2O4晶体作超导材料,有很好的效果。

近年来,对MgAl2O4晶体用于GaN的外延衬底材料研究较多。

由于MgAl2O4晶体具有良好的晶格匹配和热膨胀匹配,(111)面MgAl2O4晶体与GaN晶格的失配率为9%,具有优良的热稳定性和化学稳定性,以及良好的机械力学性能等优点,MgAl2O4晶体目前是GaN较为合适的衬底材料之一,已在MgAl2O4基片上成功地外延出高质量的GaN膜,并且已研制成功蓝光LED和LD。

此外,MgAl2O4衬底最吸引人之处在于可以通过解理的方法获得激光腔面。

在前面的研究基础上,近来把MgAl2O4晶体用作InN的外延衬底材料的研究也陆续见之于文献报道。

其之间的匹配方向为:InN(001)//MgAl2O4(111),InN[110]//MgAl2O4[100],InN绕MgAl2O4(111)衬底的四方、六方形格子结构旋转30°。

研究表明(111)面MgAl2O4晶体与InN晶格的失配率为15%,晶格匹配性能要大大优于蓝宝石,(0001)面蓝宝石与InN 晶格的失配率高达25%。

而且,如果位于顶层氧原子层下面的镁原子占据有效的配位晶格位置,以及氧格位,那么这样可以有希望将晶格失配率进一步降低至7%,这个数字要远远低于蓝宝石。

所以MgAl2O4晶体是很有发展潜力的InN 的外延衬底材料。

(4)LiAlO2和LiGaO2 以往的研究是把LiAlO2 和LiGaO2用作GaN的外延衬底材料。

LiAlO2 和LiGaO2与GaN的外延膜的失配度相当小,这使得LiAlO2 和LiGaO2成为相当合适的GaN的外延衬底材料。

同时LiGaO2作为GaN的外延衬底材料,还有其独到的优点:外延生长GaN后,LiGaO2衬底可以被腐蚀,剩下GaN外延膜,这将极大地方便了器件的制作。

但是由于LiGaO2晶体中的锂离子很活泼,在普通的外延生长条件下(例如,MOCVD法的化学气氛和生长温度)不能稳定存在,故其单晶作为GaN的外延衬底材料还有待于进一步研究。

而且在目前也很少把LiAlO2和LiGaO2用作InN 的外延衬底材料。

(5)MgO MgO晶体属立方晶系,是NaCl型结构,熔点为2800℃。

因为MgO晶体在MOCVD气氛中不够稳定,所以对其使用少,特别是对于熔点和生长温度更高的InN薄膜。

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