光学双稳实验讲义(打印稿)

仪器结构及其技术指标
本实验装置由：计算机、示波器、电路系统、光学系统四部分构成：
系统结构框图
系统原理图
1． PⅢ以上计算机，并配置有232C串行通信口。

同时配有Windows xp操作系统及实验系统软件，用于理论计算及系统数据采集、存储、处理和输出波形等。

2．示波器(用户自备)。

示波器有两个信号输入通道，用于监视实验系统的两路波形。

这两个通道分别称为：Y1通道和Y2通道。

3．电路系统：整个电路系统由放大器1、2、3、正弦信号发生器、音频信号发生器和激光电源组成。

放大器1：
放大光电转换器D1的输出信号，对应面板上的插口为“输入1、输出1”，由“倍率调节1”旋钮调节放大器的倍数。

放大器2：
放大光电转换器D2的输出信号，面板上对应的插口为“输入2、输出2”，由“倍率调节2”旋钮调节放大倍数。

放大器3：
由直流偏压电路和放大电路构成，用于放大正弦、音乐调制信号及外调信号或D/A输出的反馈信号，放大后的信号与直流偏压叠加到一起，作为晶体的调制电压加在晶体上，面板上对应的插口为“输入3、输出3”，由“倍率调节3”旋钮调节放大倍数。

输出3用于将输入3 的信号输出到示波器上来监视输入3的信号，因此，输出3的信号幅度始终与输入3信号的幅度相同。

直流偏压的调节范围为-200V~ +200V，通过“偏压调节”旋钮调节直流偏压的大小；后面板上有两个直流偏压输出电极和一个直流偏压开关。

“显示选择”旋钮有二档，左档显示直流偏压大小，右档显示输入光强大小。

“正弦，音乐，外调”旋钮为三档旋钮，左档产生一个施加到晶体上的正弦信号，中档产生一个施加到晶体上的音乐信号，右档由“输入3”端输入一个外部调制信号或D/A 输出的反馈信号。

“信号幅度”调节旋钮配合“倍率调节3”用于调节正弦，音乐和外调信号或D/A 输出信号的幅度大小。

4．He-Ne 激光电源：
点燃电压DC8000V ，工作电压2000V ，工作电流5mA ，面板上的两个旋钮分别为电流粗调和细调。

5．光学系统：
是整个实验系统的主体，由LiNbO 3晶体、光电二极管、偏振片、1/4波晶片、分束片、He-Ne 激光器（632.8nm ）、三维调节平台和特制光具座组成。

激光光束经偏振片P 1后变为线偏振光，（转动P 1它可改变光强大小）然后被分束片分成两束。

一束经过一个偏振片P 3射入电光调制晶体，出射光又经过一个偏振片P 4进入光电转换器D1转换成电信号，然后通过放大器1放大，经由A/D 转换通道0进入单片机系统。

偏压数据经由D/A 通道输出，然后通过放大器3放大，连同直流偏压一起施加到电光调制晶体上，可构成闭合回路。

另一束激光经光电转换器D2转换成电信号，再经放大器2放大后作为输入信号，经由A/D 卡通道1进入计算机（或直接进入示波器），用于观察、监视输入光强。

由上述原理图展示的电光双稳系统的动力学行为可以用下面的微分方程来描述： )(]})(cos[1{2
1
)()(t f T t V K I t V dt t dV =+--+-=θ 式中的t T K t V I ,,,),(,θ 分别是系统的输入强度，输出强度，消光系数，延迟时间，与偏压有关的相位因子和时间变量。

当系统的输出强度不随时间变化时系统呈现稳态，上述微分方程就变成如下的稳态方程： )]cos(1[5.0θ+-=V K I V
光学双稳实验一
(报告上写此题目：晶体电光调制实验)
一﹑实验目的：
通过本实验观察电光效应引起的晶体光学性质的变化和会聚偏振光的干涉现象, 掌握晶体电光调制的原理和实验方法, 学习测量晶体的半波电压和电光常数的实验技术。

二﹑实验装置：
如图一所示, 由激光器Laser 发出的氦氖激光经分束器分束，一束射入LiNbO 3电光调制晶体，出射光经光电转换器D 1转换成电信号，再经放大器1放大后，送A/D 转换通道0进行转换，并通过示波器Y1通道观察波形。

单片机通过D/A 输出数字调节电压，此电压经放大器3放大后形成直流偏压V B （范
围为±200V ）加到电光调制晶体上。

同时可把正弦信号及其它模拟信号通过放大器3调制到直流偏压V B 上。

另一束经光电转换器D 2转换、放大器2放大，用来监视输入光强。

放大器2放大的信号通过A/D 转换通道1转换为数字量。

和V 是系统的两个与输出光强有关的输出电压，P1、P2、P3是偏振片。

图一：电光双稳系统的装置图
三﹑电光调制器原理：
图二所示的是一种典型的电光调制装置。

它由正交的偏振片P1、P2与一块铌酸锂（LiNbO 3）晶体组成，晶体光轴沿Z 轴方向，光沿Z 轴传播，电场加在X 方向。

起偏器P1沿X 方向。

晶体在未加电场时为单轴晶体，当加上X 方向的电场后，变为双轴晶体，其主轴折射率为：
n x ≈n 0-(1/2)n 03Υ22E x n y ≈n 0+(1/2)n 03Υ22E x n z ≈n e
光路中放入1/4波片，使调制器工作在线性区，当晶体加上幅度较小，频率为ωm 的调制电压时（V m <<V π），系统对入射光的透射率为：
T=I 出/I 入=sin 2δ/2=1/2{1+sin[(π/V π)(V 0+V m sin ωt)]}
其中：δ=(π/V π)[V B +V m sin(ωt)]+π/2 π/2是λ/4波片产生的位相差。

此时输出光强的幅度随晶体上所加的电压的变化而变化，称为幅度调制。

对LiNbO 3晶体，半波电压可表示为：
V π=(λ/2n 03Υ22)(d/ι)
式中λ=6328埃，d=2.00mm ，l=54.3mm ，n 0=2.286，Υ22分别为入射光的波长、晶体的厚度、长度、O 光折射率和电光系数。

四、实验内容
1．观察单轴晶体、双轴晶体的偏振干涉图。

2．分别用极值法和调制法测量半波电压V π。

3．观察直流偏压对输出特性的影响，并记录和打印相应的输出特性曲线。

五、实验步骤： 1.光路调整：
光路必须保证He-Ne 激光束与晶体光轴平行。

起偏器透振方向平行于X 轴。

P3与P4的透振方向垂直。

图二：电光调制装置图
图中P1平行于X 方向。

P2平行于Y 方向。

电场方向为X 轴方向。

光路调整好后，在P2后放一屏，当转动P3时，光点不变。

2.在断开G 点的情况下，不加电场，观察单轴晶体的锥光图为：
图三. 单晶体的干涉图 图四. 双轴晶体的干涉图 3. 加上电场观察双轴晶体的的锥光图为图四所示：
图五. 测量V T -I 曲线的接线图：
改变偏压V B的值，就有一个V2，由一组数据画出如图六所示的调制曲线。

（b）调制法测量Vπ。

在晶体上同时加直流电压和交流电压。

调节直流偏压V B，观察示波器上的图形的变化，当输出波形出现倍频失真时，断开交流电压，测出V
T
值，然
后增加V
T ，直到再次出现倍频失真时，测出V
T
,两次之差就是V
π。

利用Vπ求
出Υ22，并与理论值（Υ22=6.4X10-12m/v）比较。

λ=6328埃，d=2.00mm, ι=54.3mm.
图六. V T-I的关系曲线
5．观察直流偏压的变化对输出特性的影响：
把交流电源E输出的正弦信号分成两路，一路信号输入示波器的通道Y1，(V2处接示波器)，另一路经放大器2放大后加到晶体调制器上，将接收器的输出信号放大后接入示波器的通道Y2，与原信号相比较，观察调制器在不同状态下的输出特性。

（a）.当晶体上的直流电压V B =Vπ/2, V m<<Vπ时，调制器的工作点选定在线性工作区的中心处，可以获得较高的线性调制，如图七(a)所示。

（b）.当V B=0, V m较大，即不满足V m<< Vπ时，调制器的工作点虽然在线性工作区，但不满足小信号调制的要求，输出波形失真，如图七(b)所示。

（c）.当V B=0, V m<< Vπ时，输出信号的频率是输入信号频率的二倍，产生倍频失真，如图七(c)所示。

（d）.当V B在T—V曲线的极小值附近或极大值附近时，因为工作点不在线性工作区，输出波形也将失真，如图七(d)所示。

在示波器上能观察到如图七所示的(a) 、(b) 、(c) 、(d)四种情况, 在图八的V2处，改接计算机取图，与用示波器看到的效果一样。

图七.输出特性的影响图
6．激光通讯的演示：
如图八，F是扬声器（即接收放大器），调制信号E改用音乐信号，接收信号放大后通过扬声器播放，改变晶体的直流电压和遮光时均可以演示激光通讯，将音乐信号接到示波器上（V处接示波器），可以看到我们刚才听到的音乐信号的波形，它是由许多正弦波叠加而成的，也可以用光缆把输出信号和接收器连接起来，实验模拟激光光纤通讯。

图八、激光通讯装置图
六、思考题：
激光通信时，应如何选择偏压V T的数值？
晶体电光调制实验原理（补充材料）
1．实验原理
本实验的目的是观察电光效应引起的晶体光学性质的变化和会聚偏振光的干涉现象, 掌握晶体电光调制的原理和实验方法, 学习测量晶体的半波电压和电光常数的实验技术。

晶体电光调制器是采用铌酸锂晶体的横向、幅度调制方式制成的。

调制器结构如下图所示，铌酸锂晶体放在两个正交偏振器P 3 、P 4之间，起偏器P 3的透振方向平行于x 轴，检偏器P 4的透振方向平行于y 轴，激光沿z 轴传播。

电光调制器结构图
铌酸锂晶体属于三方晶系，3m 点群，在未加电场时为单轴晶体，当在x 方向加上电场后，变为双轴晶体，其感应轴为x ’、y ’，并与x 、y 轴成450。

其主轴折射率为：
当一束线偏振光沿z 方向入射到晶体后，在晶体中被分解成两个互相垂直的偏振分量，其偏振方向分别平行于x ’、y ’，折射率分别为n x ’、n y ’，若晶体的长度为L ，则两偏振分量由晶体后端面出射时，其位相差为：
d
L V n L n n y x 2230''2)(2γλπλπδ=-= （1）
式中的d, L, n o , r 22,V 分别为晶体的厚度、长度、O 光折射率，电光系数和晶体上的横向外加电压。

π=δ时对应的电压称为半波电压：
)(22230L d
n V γλπ= （2）
将（2）式代入（1）式得
π
πδV V = （3）
设电光晶体前端面上的入射线偏振光的光场为： t ACos E ω2=
由于起偏器的偏振轴与电光晶体的x ’、y ’轴夹角为450，所以电光晶体入射端面上的两个本征模分别为： t ACos E t
ACos E y x ωω==''
入射光强为：
22
'2
'*2)()(A o E o E E E I y x =+=⋅∝入
两本征模经过电光晶体传输后，位相延迟为δ，此时出射端面上 午两个本征模可以表示成： δ
i 'y 'x Ae
)L (E A
)L (E -== 在检偏器后面出射的总光场是E x ’(L)和E y ’(L)在检偏轴方向上的分量之和，即：
)1e (2
A E i -=-δ
出
与之相应的出射光强为：
2
2)
1)(1(22
22*
δ
δδSin A e e A E E I i i =--=⋅∝-出出出 由此可以得到入射光强与出射光强之比为：
)2(222π
πδV V Sin Sin I I T ===入出 （4）
由（4）式可以看出，一般情况下，透过率T 与外加电压V 是非线性关系。

当外加电压t Sin V V V s m ω+=0，且 2
0πV
V =，πV V m <<，即系统的工作点选择适
当时
⎥⎦
⎤⎢⎣⎡+=+==)(121
)
24(2t Sin V V Sin t Sin V V Sin I I T s m s m
ωπωππππ
入出
t Sin V V s m ωππ
221+≈
即透过率T （或者输出光强I 出）与晶体上的外加调制电压V m 之间近似有线性关系。

另外，还可以在电光晶体与检偏器间插入一块4
λ
波片，使系统总
的位相延迟变为δπ
+2
，也可以使系统工作在线性区。

光学双稳实验二
（报告上写此题目：用拟合方法测定系统的实验参数）
一、实验目的：
通过本实验学习如何将实验测量数据与理论公式中的参数合理地联系起来，准确地测量出实验中与公式
)(]})(cos[1{2
1
)()(t f T t V K I t V dt t dV =+--+-=θ 中对应的参数I ，V ，K ，θ的值。

学习一种把实验测量数据与理论参数相拟合的方法。

二、实验原理：
图一：电光双稳系统的装置原理图 图中Laser 是氦氖激光器，P1,P2,P3是偏振片，D1,D2是光电转换器。

将实验的可测量，比如 图一中的 V 1，V 2，V T ，与公式 )(]})(cos[1{2
1
)()(t f T t V K I t V dt t dV =+--+-=θ 中的 I ，V ，K ，θ 等参量一一对应起来，由实验数据来判断系统的调整是否理想，并检测出系统的工作参数。

将图一中的G 点切断。

当系统处于稳态时，电压V 2可表示为
)](cos 1[2s T V V a K A V +-= （1） 式中 K 为消光系数，α与调制器的半波电压有关，V T 为加在调制器上的总电压，V s 为晶体剩余应力引起的附加电压,它与调制器及其电极的放置位置和缺陷有关，A 是一个比例常数。

首先按实验一中调节光路的作法调整好系统的光路。

然后保持入射光强恒定。

改变偏压 V B ，从而改变加在调制器上的总电压 V T ，且对应每一个数值 i T V 记录与其相对应的 i V 2，可以得出如图三所示的一条实验曲线。

图二：实验调制曲线
图中的A T V 和B T V 分别与调制曲线的最低和最高点相对应。

由实验曲线估计 出A T V 和B T V 的值，结合上面的公式（1），可以得出如下关系，
1T s V V -= 和 )/(21T T V V a -=π （2）
为了进一步求得 K 及 A ，定义一个平方误差函数
∑=+--=N
i s i T i V V a K A V e 1222
)]}(cos 1[{ （3）
式中，求和变量的范围与实验数据组数相同。

误差函数值的大小可以指示出V s 、α、A 、K 等参数值是否与系统的真实参数最接近。

由定义可知，A 与 K 的取值应使平方误差函数2e 的取值最小，即应有0/2=∂∂A e 和0/2=∂∂K e 。

由此可得
出：3142341S S S S NS S S K --= 和 2
123
142S NS S S S S A --= ， 其中：
∑==N
i i S 1
1cos γ ， ∑==N
i i S 1
2
2cos γ ， ∑==N
i i i
V S 1
2
3cos γ ， ∑==N
i i V S 1
24 ，
)(S i T i V V +=αγ ，N 为测量次数。

由此，我们可以从实验测量值i i T V V 2~求出与系统调制特性有关的常数 V s 、α、A 、K 的值。

由于 V s 、a 是根据实验曲线估计出来的，未必十分精确，而它们的不精确性又给 A 、K 的计算带来误差。

为了克服这个缺点，可将 V s 、α的数值在测量计算值附近稍加改动，并同时计算相应的误差函数 2e 及 A 、K 的数值，直到2e 达到极小值为止。

此称为最小平方拟和法。

这时的 V s 、α、A 、K 值显然是与系统的真实参数最接近。

上述过程可通过计算机来实现。

所用计算机软件可以事先编好，也可以让学生自编。

为了检查实验调制曲线是否是一个理想的余弦函数，可将上面得出的 V s 、α、A 、K 等数值代入电压 V 2 的公式（1）里，得出一条理想的余弦函数曲线，并与实验调制曲线比较，如果二者拟合较好，说明调制器的调整已比较理想，否则，还需要进一步调整系统，重复上边的过程。

当系统调整好后，可进一步从实验测量值中确定理论公式 )(]})(cos[1{2
1
)()(t f T t V K I t V dt t dV =+--+-=θ
中的 I ，V ，θ 等参数，继续进行下面的实验测量。

首先将图一中的G 点闭合。

联系系统的输入与输出的实验公式可以重新写为下面的形式 )](cos 1[12s T V V a K mV V +-= （4） 式中的 m 是一个比例常数，它与系统的光损耗有关。

V T 不仅与固定偏压 V B 有关，还与反馈电压 V 2 有关。

即有
B T V V V +=2γ （5） 式中γ是放大器1的放大倍数，由上式可得
)(1
2B T V V V -=γ
以及 )](cos 1[1s T B T V V a K RV V V +-+= （6）
为了确定上式中的 V B 及m R γ=，连续改变入射光强，并记录下相应的一组i V 1和i T V 的数值。

然后定义新的平方误差函数
∑=+---=N i s i T i B i T V V a K RV V V E 1
212
)]}(cos 1[{ （7）
该函数值可以指示出 V B 及R 等参数值是否与系统的真实参数最接近。

使用与前面类似的过程，即必须使平方误差函数最小，可以算得
42232
1NP P NP P P R --= 和4
224
132NP P P P P P V B --= （8）
其中，∑==N
i i T
V P 1
1，∑==N
i i
m P 1
2，∑==N
i i
i T
m V P 1
3，∑==N
i i i m m P 1
4
)]}(cos[1{1s i T i i V V K V m +-=α
进一步可将（6）式写为下面的形式：
)]}()(cos[1{)(1B s B T B T V V a V V a K aRV V V a ++--=- （9）
)(),(,221B s B T V V a V V a V aRV I +=-==θ （10）
)]cos(1[)2/1(2θ+-=T V K I V （11）
（11）式正是系统的稳态公式。

至此，可将理论公式中的所有参量与实验测量值一一拟合起来了。

三、实验装置：
如图一所示，氦氖激光laser 经过分束，一束激光经过光电转换器D1转换，再通过放大器1放大后，输入到示波器中，观察光强引起的电压V1的变化，(当断开G 点时，V1应保持不变)，另外一束激光经过LiNbO 3电光调制晶体调制，再经过电光转换器D2转换，经过放大器2放大，再经过放大器3放大，加上直流偏压V B ,一起输入到电光调制晶体上，构成反馈回路，（其中G 点位于放大器1和放大器2之间），放大器2另外接示波器，观察G 点电压V2。

四、实验内容和要求:
1.测量与电光调制系统的特性有关的常数:V
s
、α、A、K、的值。

2.测量不同实验条件下的理论参数：I、V
1
、θ。

Ｉ=2αRV
1
；
Ｖ=α(V
T -V
B
)；
θ=α(V
s +V
B
)
五、实验步骤:
a.按实验一方法调整好光路，在晶体上不加偏压时，可观察到较好的锥光干涉
图。

b.断开G点，不加延时，保持V
1不变（V
1
=1。

4V左右较好），对每一个V
T
记录
一个V
2。

（V
T
变化在200V—-200V之间）。

每10V左右测量一个点，测量三
次。

将测量的数据取平均后，输入计算机并保存为数据文件，执行拟和算法程序（同学可自行编制程序，也可利用已编好的程序）。

c.观察实验曲线与理论曲线的拟和情况。

如果拟和的不好，说明仪器没有调整
好，要重新调整光路。

当拟和较好时，可求出此时的V
s
、α、K、A。

d.在状态不变的情况下，闭合G点，调节偏振片P
3，使输入光强改变。

即V
1
变化，测量V
1i与V
T
i的关系曲线。

偏振片P
3
每转10o测量一个V
1
及其对应的
V
T。

测量三次，将数据平均后输入计算机，利用计算机中的最小平方拟和法
程序求出此时对应的R、V
B 、及K、α、V
s
等。

六、思考题：
试分析V1（输入光强）、V2（输出光强）取不同单位量化单位时，对A、K、R和V B数值的影响。

光学双稳实验三
（报告上写此题目：光学双稳和光强稳定特性实验）
一、实验目的：
通过本实验熟悉系统的光学双稳特性，观察和测量系统的开关光强和
光强稳定特性。

二、实验原理：
1：系统的光学双稳特性
当dV(t)/dt=0时，方程 )(]})(cos[1{2
1
)()(t f T t V K I t V dt t dV =+--+-=θ 变为表示系统稳定状态的如下方程：
)]cos(1[)2/1(00θ+-=V K I V （1） 上述稳态方程还可以改写成如下形式的两个方程：
I
x
y = 和 )]cos(1)[2/1(θ+-=x K y （2）
式中 0V x =，则I V ~0的稳态双稳曲线可以由上面的左右两个方程通过图解法求得，如图一所示。

图中的的一簇直线是由方程i i I x y /=出发，相应于不同入 图一：调制曲线
射光强51~I I 画出的,图一中的余弦调制函数曲线是由方程)]cos(1)[2/1(θ+-=x K y 得到的。

这两种曲线分别相交于I A ~的九个点。

求出这些交点对应的0V 和I 取
值，就可以作图得到I V ~0双稳曲线，如图二所示。

图二：双稳曲线图。

从图二中,我们可以看出,光学双稳态是指在一光学系统中，对应于一个确定的输入光强，系统的输出光强有两个可能的稳定值，且可以用某种方法使系统在这两个状态中相互转化. 2：系统的开关光强
上图所示的双稳曲线可以分为下支和上支，也可以分别称为下稳态和上稳态。

下稳态对应很弱的输出光强，上稳态则对应较强的输出光强。

因此，我们也称下稳态为输出光的关状态，上稳态为输出光的开状态。

若让输入光强由零慢慢增加，当输入光强到达下稳态的最大值时，若继续增加系统的输入光强，则系统的输出光强将由关状态突然地上跳到开状态，我们称这个下稳态的上跳点对应的输出光强为开光强。

接着让输入光强慢慢减弱，当输入光强到达上稳态的最小值时，若继续减小系统的输入光强，则系统的输出光强将由开状态突然地下跳到关状态，我们称这个上稳态的下跳点对应的输出光强为关光强。

3：系统的光强稳定特性
由图二所示的双稳曲线可以明显看出，无论是在双稳曲线的上支或下支都有输入光强变化虽然很大，但输出光强却变化很小的特性。

由此可知，电光双稳系统实际上具有稳定输出光强的特性。

若定义入射光强与出射光强的相对变化率之比为系统的静态稳定度 S ，则有
out
out in
in I I I I I S in //lim
0∆∆=→∆ （3） 我们就可以由此测量出系统的静态稳定度，并可以在实验中把电光双稳系统用作光强稳定器。

三、实验装置:
如图三所示，氦氖激光 Laser 经分束器分束，一束射入LiNbO 3电光调制晶体M ，出射光经光电转换器D1光电转换、放大器1放大、单片机取样。

再经放大器3放大，然后连同直流偏压 V B 一起反馈到电光调制晶体M 上，构成闭合回路。

另一束经光电转换器D2光电转换、放大器2放大，用来监视输入光强。

V 2 和 V T 是系统的两个与输出光强有关的输出电压。

图三：电光双稳系统的装置原理图
图中Laser 是氦氖激光器，P2右面是LiNbO3电光调制晶体， P1,P2,P3是偏振片，D1,D2是光电转换器
四、实验内容和要求:
1．
调出系统的双稳特性曲线，观察并打印双稳特性曲线。

2． 测量系统的双稳开和关的光强度。

3． 测量系统的光强稳定度。

五、实验步骤：
1．按实验一的要求调节光路。

2．按要求连接好电路系统。

3．观察系统的双稳曲线:
① 启动电路系统并运行实验系统软件。

② 遮住射向接收器D1的光路,直流偏压输出的接线柱上连一电压表,读
取直流偏压的电压值. 调节偏压旋钮,使直流偏压处于-200伏特左右. ③ 向一个方向缓慢转动偏振片1(P1),同时观察示波器上光点的变化,看
有无双稳现象的出现.若P1转动一周后没有出现双稳现象,就断开D1的光路,将偏压向正方向变化5V ，即将偏压调至-195伏, 再接通D1的光路,并P1转动一周，看有无双稳现象,如此不断增加偏压，反复重
图四:计算机采集并处理的双稳图片
复如上步骤,直到观察到理想的双稳曲线为止,并记录出现双稳现象的偏压的范围.
④ 采集数据并用计算机显示。

处理采集到的数据，得到如图四所示的结
果。

1.观察测量系统的开光光强。

①在仪器的“X输出”端接电压表,读取与输入光强成正比的电压值。

置
偏压于-130V左右。

②缓慢顺时针旋转偏振片1(P1),观察监视用示波器上光点位置的变化,
当看到光点突然向上跳动时,停止旋转P1,读取电压表示数，这就是开
光强对应的电压值,再继续旋转P1,当看到光点突然向下跳动时,停止
转动P1,读取电压表示数, 这就是关光强对应的电压值.实验中应记录
数据。

2.计算系统的光强稳定度:
从如下图所示的双稳曲线中读取数据并计算出光强稳定度S。

图五：读取数据图
六、思考题：
试分析如何选择系统的R和V B的数值，才有利于产生光学双稳现象。