线痕测量原理

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划痕实验的原理

划痕实验的原理

划痕实验的原理划痕实验是一种用于测试材料硬度和耐磨性的方法。

它通常涉及使用固定压力和重复划痕操作的工具,如划痕硬度测定仪或万能材料试验机。

通过比较材料在不同负荷下的划痕深度或宽度,可以评估其硬度和耐磨性能。

划痕实验基于一个简单的原理:在固定压力作用下,硬度较低的材料容易被划痕,而硬度较高的材料则更难被划痕。

这是因为硬度高的材料具有更高的抵抗划痕的能力,即需要更大的力量才能产生切削作用。

然而,材料的硬度不仅取决于其化学成分和晶体结构,还受到其表面处理和内部组织的影响。

因此,划痕实验的目的是通过定量测量划痕的特性来评估材料的硬度和耐磨性。

划痕实验涉及以下几个关键因素:1. 实验工具:划痕实验工具通常包括一个具有固定载荷的尖锐物体,如钻石金字塔或钢球。

这些工具能够在材料表面产生切削作用。

2. 实验条件:划痕实验需要控制划痕工具的载荷和划痕速度。

一般来说,载荷越大,划痕深度越大。

划痕速度对划痕宽度和形状也有影响。

3. 观察和测量:在划痕实验中,对于每个材料,需要测量划痕的长度、宽度和形状。

这可以通过显微镜观察和相应的图像处理技术来实现。

此外,还可以使用显微硬度计来测量划痕的深度。

4. 数据分析:通过比较不同材料的划痕测量结果,可以评估其硬度和耐磨性。

较大的划痕深度和宽度通常表示较低的硬度和耐磨性能。

划痕实验的优点在于它是一种相对简便和经济的方法,可以在不破坏材料的情况下对其硬度进行评估。

它还可以用于不同类型的材料,如金属、陶瓷、聚合物等。

然而,划痕实验也有一些限制。

首先,划痕实验只能提供对材料硬度的相对评估,而不能给出精确的硬度值。

其次,在实施划痕实验时需要严格控制实验条件,以确保结果的可靠性和可重复性。

最后,划痕实验不能直接提供关于材料其他性质(如弹性模量、塑性变形等)的信息,因为划痕过程主要涉及材料的切削和塑性变形。

综上所述,划痕实验是一种用于评估材料硬度和耐磨性能的简便方法。

它基于通过划痕工具在固定压力下进行切削的原理,并通过定量测量划痕的特性来评估材料的硬度和耐磨性。

法医学在工具痕鉴定中的原理与操作

法医学在工具痕鉴定中的原理与操作

法医学在工具痕鉴定中的原理与操作工具痕鉴定是法医学中的一项重要领域,通过对犯罪现场的物证进行鉴定,从而帮助司法机关追查犯罪线索,确保案件的公正和正义。

本文将从法医学在工具痕鉴定中的原理和操作两个方面进行探讨。

一、法医学在工具痕鉴定中的原理1. 工具痕的形成与特征工具痕是指犯罪工具在犯罪过程中与物体表面或内部所留下的痕迹。

通过对工具痕的形态学、组织学、物理化学性质等特征进行分析,可以推断出犯罪工具的类型、特征以及与物体的接触情况。

2. 工具痕鉴定的原理工具痕鉴定主要依靠以下原理进行分析判断:(1)物理痕迹原理:根据物理学规律,通过对工具痕的形态、结构、尺寸等特征进行观察和测量,以及对物体的材质、硬度等进行分析,可以推断出犯罪工具的类型和特征。

(2)化学痕迹原理:通过对工具痕进行化学试剂的处理,观察工具痕的颜色变化、溶解性等特征,或者通过质谱、红外光谱等仪器手段对工具痕进行分析,可以推断出犯罪工具的材料成分。

(3)组织学痕迹原理:通过对物体的显微组织、细胞构造等进行观察和分析,可以推断出犯罪工具与物体的接触情况。

3. 工具痕鉴定的误差与排除在进行工具痕鉴定时,为确保鉴定结果的准确性,需要注意以下几个方面:(1)排除背景痕迹:犯罪现场可能存在其他的痕迹,如环境污染、接触痕迹等,需要通过对痕迹的来源和特征进行分析判断,排除非犯罪工具留下的痕迹。

(2)重复测试:为降低误差,需要对同一工具痕进行多次测试,对结果进行比对和验证。

(3)参照样本:通过与已知的工具样本进行比对,确定工具的特征和类型,进一步提高鉴定的准确性。

二、法医学在工具痕鉴定中的操作1. 犯罪现场勘查犯罪现场勘查是工具痕鉴定的起点,法医人员需要仔细观察犯罪现场,记录和收集犯罪工具痕迹。

在勘查过程中,法医人员应当注意保护痕迹,避免破坏和污染。

2. 工具痕样本的采集工具痕鉴定需要对犯罪现场的物体进行采样。

采样时,法医人员应当佩戴手套,使用无菌工具进行操作,防止污染和交叉感染。

划痕实验 荧光反应原理

划痕实验 荧光反应原理

划痕实验荧光反应原理划痕实验荧光反应原理划痕实验是一种常见的表面检测方法,它可以通过划痕的形成来判断材料的硬度和耐磨性。

而荧光反应则是一种常见的化学反应,它可以通过物质的荧光发射来检测物质的存在和性质。

那么,划痕实验荧光反应原理是什么呢?我们需要了解一下荧光反应的基本原理。

荧光是一种物质在受到激发后发出的光,它的发射波长通常比激发波长长,而且荧光发射的光强度通常比激发光弱。

荧光反应是指物质在受到特定的激发条件下,发生荧光发射的化学反应。

这种反应通常需要使用荧光试剂或荧光探针来实现。

在划痕实验中,我们通常会使用一些荧光试剂或荧光探针来检测材料表面的化学性质。

这些荧光试剂或荧光探针可以与材料表面的化学物质发生特定的化学反应,从而产生荧光发射。

这种荧光发射可以被检测仪器或肉眼观察到,从而判断材料表面的化学性质。

例如,我们可以使用一种叫做二苯基丙烯酮的荧光试剂来检测材料表面的羟基含量。

当二苯基丙烯酮与羟基发生反应时,会产生一种荧光物质,这种荧光物质可以被检测仪器或肉眼观察到。

因此,我们可以通过划痕实验来检测材料表面的羟基含量,从而判断材料的化学性质。

除了荧光试剂和荧光探针,还有一些其他的荧光材料可以用于划痕实验。

例如,我们可以使用一种叫做荧光纤维的材料来检测材料表面的磨损程度。

当荧光纤维与材料表面发生摩擦时,会产生一种荧光发射,这种荧光发射的强度可以反映材料表面的磨损程度。

划痕实验荧光反应原理是通过荧光试剂、荧光探针或其他荧光材料与材料表面的化学物质发生特定的化学反应,从而产生荧光发射,从而检测材料表面的化学性质或磨损程度。

这种方法可以用于材料的质量控制、产品的检测和表面处理等方面。

线纹尺工作原理

线纹尺工作原理

线纹尺工作原理
嘿,朋友们!今天咱就来聊聊这线纹尺的工作原理。

你想想啊,线纹尺就像是一个超级精确的测量小精灵!它小小的身体里可藏着大秘密呢。

比如说,你要量一个东西的长度,把线纹尺往上一放,就像孙悟空有了金箍棒,那叫一个厉害。

咱来具体说说它咋工作的哈。

线纹尺上面有非常精细的刻度线,这些刻度线就像一个个小士兵,整整齐齐地排列着。

咱要测量的时候,就把它靠在要测量的东西旁边,刻度线就开始发挥作用啦!这不就跟咱走路要沿着路走一样嘛。

再比如说,你看裁缝做衣服,他得知道布料尺寸吧,这时候线纹尺不就派上用场了嘛!那岂不是比瞎估摸强多了呀!
哎呀,线纹尺在工业生产中也是大功臣呢!它能确保产品的尺寸都精确无误,要是没有它,那得出现多少不合格的产品呀!这多重要啊!
其实线纹尺工作原理不难理解,就是靠着那些刻度线准确地测量长度呀。

它就这么简单又神奇地完成了自己的使命。

所以说呀,线纹尺可真是个了不起的小工具!虽然它看着普普通通的,
但作用却大得很呢!别小看它哦,它可是在很多地方都发挥着不可或缺的作用呢!它真的超级棒!你们说是不是呢!。

莫尔条纹法测玻璃缺陷的原理

莫尔条纹法测玻璃缺陷的原理

莫尔条纹法测玻璃缺陷的原理
莫尔条纹法是一种常用的测量玻璃缺陷的方法,它的原理基于光的干涉现象。

在玻璃表面或内部存在缺陷时,缺陷周围的玻璃会导致光程差的改变,进而产生干涉条纹。

当平行光射入玻璃表面时,一部分光会经过反射,一部分光会透射入玻璃内部。

如果玻璃表面存在一个缺陷,例如凹陷或凸起,那么在缺陷周围的玻璃表面就会存在一个不规则的曲面。

根据光的反射定律,光线在缺陷周围会发生折射和反射,形成反射光和透射光。

这两束光会在缺陷附近相遇并产生干涉。

根据干涉理论,当两束光的光程差为波长的整数倍时,会产生明条纹;而当光程差为半波长的奇数倍时,会产生暗条纹。

在莫尔条纹法中,通过观察玻璃表面的条纹模式,可以确定缺陷的位置、形状和大小。

莫尔条纹法的实施步骤如下:首先,在玻璃表面涂上一层胶或油脂,并在其上方放置一块平面玻璃。

当光线透过两层玻璃时,会在缺陷周围产生干涉。

通过调整平面玻璃与玻璃表面的距离,可以改变光线的干涉状况,进而观察到不同的条纹模式。

根据条纹的形态变化,可以判断缺陷的性质。

例如,当平面玻璃与玻璃表面接触时,会出现圆形或椭圆形的暗纹,这表示玻璃表面存在一
个凸起的缺陷。

而当平面玻璃与玻璃表面分开时,暗纹会变成明纹,表示玻璃表面存在一个凹陷的缺陷。

总之,莫尔条纹法利用光的干涉现象,可以有效地测量玻璃缺陷的形状、位置和大小。

这种非接触的测量方法在玻璃制造和质量控制的过程中具有重要的应用价值。

线纹尺检定

线纹尺检定

实验三线纹尺检定[学习目的]1.了解阿贝比较仪的原理和使用方法。

2.熟悉测量线纹尺的方法。

[实验用量器具]阿贝比较仪,被检线纹尺。

[仪器描述]阿贝比较仪又称阿贝比长仪,主要用于线纹尺检定及二刻线之间距离的测量。

1.工作原理仪器是按照阿贝原则设计的,被检线纹尺与标准线纹尺放置在同一工作台的同一直线上,用二个连在一起的显微镜(一为对线显微镜,一为读数显微镜)来进行测量。

当工作台移动时,被检线纹尺与标准线纹尺同时移动相等的距离。

借助读数显微镜读取标尺移动的示值,即可得到被检线纹尺移动的示值。

图3-1是仪器光路图,当被检线纹尺通过反射镜2照明,由3x 倍物镜组3成象在目镜4的分划板上,用目镜4进行对线。

物镜3和目镜4组成对线显微镜。

放大率为30倍,而具有60倍放大率的读数显微镜由5倍物镜6及带有螺旋测微分划板的目镜5组成,由反射镜1照亮图3-1 仪器光路图1-反射镜2-反射镜3-3x 物镜4-目镜5-测微目镜6-5x 物镜标准尺安装在仪器工作台上的标准刻尺7,经物镜6成象在目镜5的分划板上,并且在目镜5中进行读数。

2.仪器结构图3-2所示为仪器外形图,仪器的工作台4放置成水平位置或与水平位置成45°倾斜的位置。

在工作台4上左边放置被测件,右边为200mm长的标准线纹尺6,被测物体上方是对线显微镜2,线纹尺上面是读数显微镜3,两显微镜中间装有防热钢板,两者均装在一个坚固的支架1上。

松开锁紧螺钉7后,工作台可沿导轨5移动,拧紧螺钉7,转动手轮8可使工作台微动。

图3-2 仪器外形图1-支架2-对线显微镜3-读数显微镜4-工作台5-导轨6-标准线纹尺7-锁紧螺钉8-手轮9-调丝手轮10-目镜头11.12-旋钮3.仪器的使用和调整将被测线纹尺安放在工作台左端,调节反光镜使两线纹尺得到均匀照明,调节图3-2中对线显微镜手轮9使被检尺刻线象清晰,再对读数显微镜调焦使标准刻线象清晰。

旋转对线显微镜中镜头10(图3-2),把它调成如图3-3(a)所示水平位置,松开锁紧螺钉7(图3-2),移动平台,让它停留在读数显微镜0刻线位置上,移动被检尺,使被检测零位出现在对线显微镜视场中,然后再移动工作台,微调被检尺的左端,一直调整到工作台上的被检尺刻线0与200mm,都与对线显微镜双划线水平线成像于同一位置,如图3-3(a)所示刻线与分划板水平线垂直,而且0与200mm两点在某点影像重合,这样我们就调整好标准尺与被检尺在一直线上,再将被检尺与标准尺同时调零,标准尺调零可旋转旋钮10及12(图3-2)。

线纹尺检定

线纹尺检定

实验三线纹尺检定[学习目的]1.了解阿贝比较仪的原理和使用方法。

2.熟悉测量线纹尺的方法。

[实验用量器具]阿贝比较仪,被检线纹尺。

[仪器描述]阿贝比较仪又称阿贝比长仪,主要用于线纹尺检定及二刻线之间距离的测量。

1.工作原理仪器是按照阿贝原则设计的,被检线纹尺与标准线纹尺放置在同一工作台的同一直线上,用二个连在一起的显微镜(一为对线显微镜,一为读数显微镜)来进行测量。

当工作台移动时,被检线纹尺与标准线纹尺同时移动相等的距离。

借助读数显微镜读取标尺移动的示值,即可得到被检线纹尺移动的示值。

图3-1是仪器光路图,当被检线纹尺通过反射镜2照明,由3x 倍物镜组3成象在目镜4的分划板上,用目镜4进行对线。

物镜3和目镜4组成对线显微镜。

放大率为30倍,而具有60倍放大率的读数显微镜由5倍物镜6及带有螺旋测微分划板的目镜5组成,由反射镜1照亮图3-1 仪器光路图1-反射镜2-反射镜3-3x 物镜4-目镜5-测微目镜6-5x 物镜标准尺安装在仪器工作台上的标准刻尺7,经物镜6成象在目镜5的分划板上,并且在目镜5中进行读数。

2.仪器结构图3-2所示为仪器外形图,仪器的工作台4放置成水平位置或与水平位置成45°倾斜的位置。

在工作台4上左边放置被测件,右边为200mm长的标准线纹尺6,被测物体上方是对线显微镜2,线纹尺上面是读数显微镜3,两显微镜中间装有防热钢板,两者均装在一个坚固的支架1上。

松开锁紧螺钉7后,工作台可沿导轨5移动,拧紧螺钉7,转动手轮8可使工作台微动。

图3-2 仪器外形图1-支架2-对线显微镜3-读数显微镜4-工作台5-导轨6-标准线纹尺7-锁紧螺钉8-手轮9-调丝手轮10-目镜头11.12-旋钮3.仪器的使用和调整将被测线纹尺安放在工作台左端,调节反光镜使两线纹尺得到均匀照明,调节图3-2中对线显微镜手轮9使被检尺刻线象清晰,再对读数显微镜调焦使标准刻线象清晰。

旋转对线显微镜中镜头10(图3-2),把它调成如图3-3(a)所示水平位置,松开锁紧螺钉7(图3-2),移动平台,让它停留在读数显微镜0刻线位置上,移动被检尺,使被检测零位出现在对线显微镜视场中,然后再移动工作台,微调被检尺的左端,一直调整到工作台上的被检尺刻线0与200mm,都与对线显微镜双划线水平线成像于同一位置,如图3-3(a)所示刻线与分划板水平线垂直,而且0与200mm两点在某点影像重合,这样我们就调整好标准尺与被检尺在一直线上,再将被检尺与标准尺同时调零,标准尺调零可旋转旋钮10及12(图3-2)。

三等标准金属线纹尺工作原理和维护

三等标准金属线纹尺工作原理和维护

三等标准金属线纹尺工作原理和维护工作原理金属线纹尺(Micrometer)是一种用于精准明确测量各种尺寸的仪器。

它包含一个螺纹框架,一个可滑动的螺纹套和一个测量头。

当测量头与待测物体接触时,螺纹套将会向着螺纹框架移动。

同时,螺纹框架上的刻度尺记录下螺纹套移动的数量和方向,从而得出待测物体的尺寸。

作为一个三等标准金属线纹尺,它充分ISO或GB标准并能够充分大多数试验室的日常需求。

精度为0.01毫米,辨别率为0.001毫米。

维护与保养三等标准金属线纹尺的常规维护特别简单,即注意适时清洁和保养。

清洁清洁金属线纹尺是维护其保持良好工作状态的关键操作。

在使用后,请务必适时清洗并清除可能附着在其表面的杂质和污垢。

以下是清洁金属线纹尺的步骤:1.准备清洁材料,例如干净的布或纸巾等;2.检查金属线纹尺是否有损坏;3.用布或纸巾清除金属线纹尺表面的杂质和污垢,并摇摆螺纹套和测量头以确保其畅通;4.避开使用有刺激性或腐蚀性的清洁剂;5.清洗完毕后,将金属线纹尺轻轻擦拭干燥并存放在干燥通风处。

保养对金属线纹尺进行保养可以帮忙延长其使用寿命并保持其良好的工作状态。

以下是建议的保养措施:1.注意放置位置。

金属线纹尺应放置在干燥通风处,并避开长时间曝露于阳光下或潮湿环境中。

2.避开碰撞和损坏。

金属线纹尺应保持其完整性,避开受到碰撞和其他机械损坏。

3.定期检查。

请定期检查螺纹套和测量头的移动是否正常,并查看刻度尺是否变形和损坏。

4.定期校准。

金属线纹尺的精度需要定期校准。

可以依据实际需求选择校准周期和方法。

5.储存时使用套盒。

金属线纹尺的套盒可以保证其在存储和运输中不受损害。

结论三等标准金属线纹尺是试验室日常测量工作中必不可少的仪器之一、关注其常规清洁和保养可以保持其工作精度和延长使用寿命。

在购买和使用金属线纹尺时,请务必选择符合ISO或GB标准的适当型号,并依照操作手册正确操作和维护金属线纹尺。

痕迹检验中手印的测量原理

痕迹检验中手印的测量原理

痕迹检验中手印的测量原理
痕迹检验中手印的测量原理是通过测量手印的主要特征来确定其唯一性和个体差异。

手印的主要特征包括纹型、纹型特征和细节特征。

纹型是指手指表面具有的纹理格局,包括脊线和沟槽。

脊线是凸起的线条,沟槽是脊线之间的空隙。

纹型特征是指脊线和沟槽的分布和排列方式,如弓形、环形和螺旋形等。

细节特征是指纹纹型上的细小特征,如脊线的分叉、岔出和中断等。

测量手印的原理包括以下几个步骤:
1. 手印的采集:使用指纹获取设备或者手印粉将手印印在纸张上。

2. 手印的增强:通过使用化学荧光染剂、光学或数字图像处理等方法,增强手印的对比度和细节特征,使得手印更易于分析和测量。

3. 手印的分析:对增强后的手印进行分析,比对纹型、纹型特征和细节特征,识别出手印的基本特征,如脊线和沟槽的形状和分布。

4. 手印的测量:根据手印的基本特征,进行测量,比如测量脊线的长度、角度和距离等。

5. 手印的比对:将测量得到的手印特征与数据库中的手印特征进行比对,确定手印的唯一性和个体差异。

通过以上步骤,可以对手印进行准确的测量和比对,从而用于痕迹检验。

[04]几种常用线迹的形成原理

[04]几种常用线迹的形成原理

几种常用线迹的形成原理(一)单线链式线迹的形成原理单线链式线迹是由一根缝线自身往复循环穿套而成的链条状线迹。

它的形成是由带线机针的上下往复运动和不带线的旋转线钩的转动运动配合实现的,图3—13所示为线迹形成过程。

(1)机针穿刺缝料,运动至最低位置回升时形成线环,线环随即被逆时针旋转的旋转钩钩住(图3-13(a))。

(2)机针上升退出缝料,旋转钩拉长并扩大线环,在线环滑至中部,送布牙上升,开始推送缝料(图3—13(b))。

(3)送布牙推送一个针距,机针二次穿刺缝料,此时旋转钩转过180°(图3-13(c))。

(4)机针再次从最低位置回升开始形成线环,旋转钩继续运动,准备再次钩取直针线环(图3—13(d))。

(5)旋转钩转过360°时,第二次钩入线环并拉长扩大线环,使新线环穿入旧线环(图3—13(e))。

(6)旋转钩继续运动,旧线环从旋转钩上滑脱并套在被钩住的新线环上(图3—13(f)),此时挑线杆上升收紧旧线环,完成单线链式线迹的一个单元。

如此周而复始就形成了连续的单线链式线迹。

图3-13 单线链式线迹形成过程 1-直针 2-旋转线钩 3-送布牙 4-压脚(二)手缝线迹的形成原理(1)机针被固定在针杆上,用左、右弯针将缝线钩住,送布动作,机针下降(图3—14所示)。

(2)机针穿过面料进入下针杆,右弯针返回原位(图3—15所示)。

(3)针杆从最低点刚上升的时候,下弯针针尖钩进针线所形成的线环(图3—16所示)。

(4)此时下弯针向右,左弯针向上,将前一针刺入面料下的缝线拉出的同时送布动作,向前移动一个针迹(图3-17所示)。

(5)机针上升刺穿面料,下弯针将缝线向下拉出(图3—18所示)。

(6)机针上升刺穿面料,上针杆夹住机针面线脱离下弯针,接着上面的左右弯针开始钩面线,又重复循环周期的第一个动作(图3—19所示)。

图3-14 图3-15 图3-16 图3-17 图3-18 图3-19(三)锁式线迹的形成原理1.图3-20为摆梭与机针配合实现锁式线迹的过程。

浅析线条状痕迹检验

浅析线条状痕迹检验

浅析线条状痕迹检验作者:谢坤莫师师来源:《中国科技博览》2016年第28期[摘 ;要]线条状痕迹检验是公安基层痕迹检验鉴定工作中一种常见的方法。

本文对线条检验应注意的问题进行探讨,便于检验鉴定人员参考,更好发挥线条检验在痕迹检验鉴定中的作用,相信对从事相关工作的痕迹人员能有所帮助。

[关键词]公安 ;线条痕迹 ;痕迹检验中图分类号:TM715 文献标识码:B 文章编号:1009-914X(2016)28-0310-011 前言线条状痕迹检验是根据痕迹检验的原理和程序,运用相关的科学知识,利用痕迹中反映出的线条,在对接比较显微镜下,依据线条痕迹接合是否吻合,确定痕迹特征的异同进而作出认定或否定结论的检验方法。

这种方法在痕迹检验中较多地被用于工具痕迹和枪弹痕迹检验,起到了很大的作用。

但是在实际工作中由于痕迹检验人员的业务水平、仪器操作、对线条痕迹特征的掌握等因素影响了检验鉴定的效率和质量,要掌握和运用好这种方法,有必要对线条状痕迹检验的科学基础、线条痕迹的形成和特征以及对接检验中应注意的问题作加强认识。

2 线条状痕迹的形成线条状痕迹出现有两种类型:一是直接单独出现。

例如工具痕迹中的擦划线条痕迹、枪弹痕迹中弹底窝与弹壳底面摩擦形成的线条痕迹、射击弹头上的坡膛痕迹和膛线痕迹等。

二是伴随其他痕迹同时出现。

例如工具痕迹中钳剪断头斜面上的线条痕迹、锯挫钻等工具割削时形成的痕迹;枪弹痕迹中进弹时弹壳与弹膛后切口碰撞在壳体上形成的擦点状痕迹、抛壳口痕迹中的线条等。

从形成线条状痕迹时造痕体与承痕体的接触状态分,又有切划接触和印压接触两种类型。

其中以切划接触形成的线条痕迹为主。

切划接触是指造痕体与承痕体在接触时产生相对运动,接触点处于连续改变,承痕体以凸凹线条的起伏形态反映造痕体接触部位的形态结构,线条痕迹与造痕体凸凹象相反。

印压接触是指造痕体与承痕体的接触点不改变,线条痕迹与造痕体接触面呈一一对应、凸凹象相反。

较为典型的是枪弹痕迹中,在火药气体高温高压下形成的弹底窝加工痕迹。

平板划线法原理

平板划线法原理

平板划线法原理
平板划线法是一种常用的测量手段,用于确定物体的直线度和平面度。

其原理是基于划线时所形成的划线误差与被测物体表面的偏差之间的关系。

具体来说,划线误差是指划线轨迹与理想直线(或平面)之间的偏差,通常采用两线之间的最大垂直距离来表示。

而被测物体表面的偏差则是指物体表面与理想直线(或平面)之间的距离,用于表示物体的直线度或平面度。

通过平板划线法测量时,首先需要选取一个基准面,这个基准面可以是工作台面或处理过的平板。

然后在基准面上振动一支细而长的针,使其与基准面接触,并保持直线运动。

在针尖接触基准面的过程中,由于基准面的粗糙度和形状误差,在针尖的运动轨迹中会出现波动或偏移。

为了减小这种波动和偏移,针尖的运动路径应尽量与基准面平行,并且应该选择合适的压力和速度。

通过将针尖固定在一定位置,观察针尖轨迹与被测物体表面的偏差,可以测量被测物体的直线度或平面度。

平板划线法的优点是简单易行,可以在常规的生产和检测环境中进行。

然而,它也存在一些限制,如测量范围受到针尖长度的限制,测量精度受到基准面的质量和划线过程中的运动稳定性的影响。

因此,在实际应用中需要综合考虑这些因素,选择合适的方法和设备来进行测量。

PV800硅片线痕分析

PV800硅片线痕分析

PV800.硅片线痕分析分类:线痕按表现形式分为杂质线痕、划伤线痕、密布线痕、错位线痕、边缘线痕等。

各种线痕产生的原因如下:1、杂质线痕:由多晶硅锭内杂质引起,在切片过程中无法完全去除,导致硅片上产生相关线痕。

表现形式:(1)线痕上有可见黑点,即杂质点。

(2)无可见杂质黑点,但相邻两硅片线痕成对,即一片中凹入,一片凸起,并处同一位置。

(3)以上两种特征都有。

(4)一般情况下,杂质线痕比其它线痕有较高的线弓。

改善方法:(1)改善原材料或铸锭工艺,改善IPQC检测手段。

(2)改善切片工艺,采用粗砂、粗线、降低台速、提高线速等。

其它相关:硅锭杂质除会产生杂质线痕外,还会导致切片过程中出现“切不动”现象。

如未及时发现处理,可导致断线而产生更大的损失。

2、划伤线痕:由砂浆中的SIC大颗粒或砂浆结块引起。

切割过程中,SIC颗粒“卡”在钢线与硅片之间,无法溢出,造成线痕。

表现形式:包括整条线痕和半截线痕,内凹,线痕发亮,较其它线痕更加窄细。

改善方法:(1)针对大颗粒SIC(2.5~3D50),加强IQC检测;使用部门对同一批次SIC先进行试用,然后再进行正常使用。

(2)导致砂浆结块的原因有:砂浆搅拌时间不够;SIC水分含量超标,砂浆配制前没有进行烘烤;PEG水分含量超标(重量百分比<0.5%);SIC成分中游离C(<0.03%)以及<2μm微粉超标。

其它相关:SIC的特性包括SIC含量、粒度、粒形、硬度、韧性等,各项性能对于切片都有很大的影响。

3、密布线痕(密集型线痕):由于砂浆的磨削能力不够或者切片机砂浆回路系统问题,造成硅片上出现密集线痕区域。

表现形式:(1)硅片整面密集线痕。

(2)硅片出线口端半片面积密集线痕。

(3)硅片部分区域贯穿硅片密集线痕。

(4)部分不规则区域密集线痕。

(5)硅块头部区域密布线痕。

改善方法:(1)硅片整面密集线痕,原因为砂浆本身切割能力严重不足引起,包括SIC颗粒度太小、砂浆搅拌时间不够、砂浆更换量不够等,可针对性解决。

电缆线的剪切痕迹特征及检验技术研究

电缆线的剪切痕迹特征及检验技术研究

2013年第2期广东公安科技总第112期电缆线的剪切痕迹特征及检验技术研究张华林江对(东莞市公安局石碣分局,广东东莞523290)摘要在盗窃电缆线案件中,如何利用现场遗留的断头,及断头上遗留的痕迹进行分析判断犯罪工具种类以及犯罪工具的特征,成为公安一线民警必须面对的问题。

本文对线缆剪、断线钳以及钢丝剪剪切电线缆的痕迹进行比较性研究,从材料与工具刃口各部位相互作用的性质出发,对工具结构、断头侧面形态及坡面留痕特点分别进行观察与分析,通过不同工具留痕特点的比较,对痕迹的稳定性及其出现率进行更深层次探讨,并从本质上分析形成痕迹的不同理论原因。

关键词电缆线剪切痕迹检验技术成的工具痕迹判断犯罪人所采用的工具种类,引言从而确定侦查方向。

获得嫌疑工具后能利用工具和痕迹进行同一认定工作,进而从痕迹电缆是用于电力、通信及相关传输用途到工具,从工具到确定嫌疑人。

的材料。

由于电缆线由大量的银、铜、铝线本文第一次系统地论述和总结了能够剪组成,这些银、铜、铝线在废旧金属市场价切电缆线的工具的种类和各工具痕迹的种类格颇高,致使一些不法分子为谋取暴利,利特征和个别特征,为公安实践工作指明了方用一些工具盗窃电缆线,不仅给国家集体造向。

本文特别对一些工具的留痕特征做了详成经济损失,还严重影响群众正常的生产生细的介绍,对工具种类的认定及工具的同一活秩序。

认定都起到了不可或缺的作用。

目前对一些特定的工具剪切电缆线有一定的研究,但对于多种工具剪切痕迹的区别1实验部分以及检验方法缺乏研究还存在一定的局限性。

在电缆线盗窃案件中,现场提取到线缆断头1.1实验器材时,难以区分工具种类。

因此,本文对线缆DUCK牌D型线缆剪,金虎牌钢丝剪,剪、断线钳以及钢丝剪剪切电线缆比较性研雄马牌600mm断线钳,TOPEX600mm断线究,从材料与工具刃口各部位相互作用的性钳,WL600断线钳,MIT0600mm断线钳。

质出发,对工具结构、断头侧面形态及坡面1.2实验内容及过程留痕特点分别进行观察与分析,通过不同工观察实验的6把工具的咬合状态、刃口具留痕特点的比较,对痕迹的稳定性及其出花纹,用数码相机趴下照片。

太阳能电池用硅片粗糙度及切割线痕检测方法

太阳能电池用硅片粗糙度及切割线痕检测方法

《太阳能电池用硅片粗糙度及切割线痕检测方法》编制说明一工作简况1.标准涉及的测量方法概况国家标准《太阳能电池用硅片粗糙度及切割线痕检测方法》中规定了太阳能电池用硅片的两个产品参数的测量方法:表面粗糙度的测量方法和表面切割线痕的测量方法。

1.1 表面粗糙度测量方法粗糙度的测量方法多种多样,常用的有样板比较法、光切法、干涉法、触针法等。

大体上这些测量技术可以分为接触式和非接触式两类。

接触式方法最常用的是触针法,包括使用各种高精度探针式轮廓仪等;非接触式方法常用的是目视检测法和各种光学方法,目视检测法也就是上述的样板比较法,而光学法中有切光法、干涉法、散射法以及拍照法和光斑反射法等。

此外,用于电子级硅片的表面粗糙度测量的方法还有原子力显微镜(AFM)法等。

由于原理、干扰因素、误差来源以及使用的滤波器、滤波参数、算法等方面的不一致,不同的技术测量一般会给出不同的粗糙度测量结果。

1.2 表面切割线痕测量方法切割线痕的测量方法也可以分为接触式和非接触式两类。

现在业界也有用轮廓仪测量切割线痕的,但是这种方法不值得推荐。

另一种是使用各种光学技术,比如拍照法、光斑移动法等。

在本标准中,我们采用非接触式光学法。

2.任务来源根据全国半导体材料和设备标准化技术委员会材料分技术委员会半标材委[2011]16号文件《关于下达2011年第一批半导体材料国家标准制(修)订项目计划的通知》的精神, 以瑟米莱伯贸易(上海)有限公司为主承担项目编号为20110059-T-469的国家标准《太阳能电池用硅片粗糙度及切割线痕检测方法》的制定任务。

3.标准项目申报单位简况瑟米莱伯贸易(上海)有限公司是一家在中国本土注册的公司,是Semilab的中国分公司。

Semilab是一家匈牙利公司,成立于1989年,总部位于匈牙利首都布达佩斯。

自成立以来,经过二十多年的发展,Semilab已经成为全球领先的半导体及光伏测试仪器提供商,并先后收购了美国Semitest公司、Box Crosss公司、美国SSM公司、SDI公司、AMS公司、法国Sopra公司、德国Balser硅片微隐裂测试技术、挪威Tordivel公司硅片外观检测技术等多家半导体测试设备公司或技术,现在产品覆盖半导体、光伏、液晶显示器等领域,为客户提供专业、快捷、全方位的支持。

探测路面黑线的基本原理

探测路面黑线的基本原理

探测路面黑线的基本原理:光线照射到路面并反射,由于黑线和白纸对光的反射系数不同,可以根据接收到的反射光强弱来判断是否是黑线。

利用这个原理,可以控制小车行走的路迹。

下面几种可行的方案是根据本原理设计的:方案一:采用普通的发光二极管及光敏电阻组成的发射接收方案,如图1-1所示。

其工作原理:当无光照时,光敏电阻呈现高阻状态,又分压公式可知,电阻R2无压降三极管截止,三极管的集电极输出高电平;反之,当有光照的时候,光敏电阻接收到反射的光,其阻值下降,由分压公式,R2有压降三极管导通,输出低电平,利用高低电平可以判断控制小车的形程和方向。

本方案能达到基本的控制要求,但是它的缺点在于容易受到外界光线的干扰,不易于控制小车的行迹,损坏了信号采集的效果。

主要是因为可见光的反射效果跟地表的平坦程度、材料的反射情况有关直接影响到检测效果。

1-1发光二极管及光敏电阻组成的发射接收方案方案二:脉冲调制的反射式红外发射接收器。

由于采用该有交流分量的调制信号,侧可大幅度减少外界干扰;另外红外发射接收管的最大工作电流取决于平均电流。

如果采用占空比小的调制信号,再平均电流不变的情况下,瞬时电流很大(50~100mA),则大大提高了信噪比。

并且其反应灵敏,外围电路也很简单。

如图1-2所示。

它的优点是消除了外界光线的干扰提高了灵敏度,制作比较简单。

1-2脉冲调制的反射式红外发射接收方案由以上两种方案比较可知。

方案二要比方案一优势大,市场上很多红外观点探头也都基于这个原理。

其电路简单,工作可靠,性能比较稳定。

从而避免了电路的复杂性,因此我先用方案二作为小车的监测系统。

2.电动机的选择市场上用很多种类的小电压直流电动机,很方便的选择到。

主要有普通电动机、和步进电动机。

方案一:采用步进电机,步进电动机的一个显著的特点就是具有快速启动和停止能力,能够达到我们所要求的标准。

如果负荷不超过步进电机所能提供的动态转矩值,就能够立即是步进电机启动或反转。

measure lines 原理

measure lines 原理

measure lines 原理
测量线段的原理
在几何学和物理学中,测量线段的原理是基于直观的几何概念和数学原理。

测量线段是确定两点之间距离的方法,并可应用于各种领域,如地理测量、建筑设计和工程等。

测量线段的最基本原理是利用计量工具,如尺子、测量绳或仪器来确定线段的长度。

这些工具通常标有刻度,用于读取或估计线段的长度。

准确测量线段的方法包括直接测量、间接测量和相似三角形原理。

在直接测量中,可以使用尺子或测量绳等工具来直接测量线段的长度。

确保工具与线段完全贴合,并读取工具上与线段起始和终止点对齐的刻度,即可确定线段的长度。

在间接测量中,可以利用其他已知线段或几何形状来确定待测线段的长度。

例如,使用相似三角形原理,可以通过测量已知线段和相似三角形的边长比例,计算出待测线段的长度。

这种方法在无法直接测量线段的情况下非常有用。

测量线段还可以应用其他几何原理,如勾股定理和正弦定理。

这些原理可用于计算特殊情况下的线段长度,例如在直角三角形中使用勾股定理,或在任意三角形中使用正弦定理。

总之,测量线段的原理是基于数学和几何原理的应用。

利用合适的工具和几何概念,我们可以准确测量线段的长度,并在各种领域中应用这些原理。

这为我们的日常生活和各个行业提供了重要的测量方法。

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