EIA-364-50A-1998
EIA-364-20A电子连接器耐电压测试方法
电子连接器的耐电压测试方法公告EIA工程标准和出版物是为服务于公众利益而制定的,它是为了消除生产者和购买者之间的误解,促进产品的交流和提高,并帮助购买者在最短时间内挑选到他所需要的满意的产品﹒该标准的提出会促使EIA的成员在生产和销售产品时遵循该标准﹐而它也可以由国内外非EIA成员自愿使用﹒对于推荐标准和出版物中采用的文章﹑材料﹑方法﹐EIA在选取时未考虑其专利内容,故在此过程中EIA对任何专利所有者不承担责任﹐对任何采用该标准的机构也不承担责任﹒电子工业协会（EIA）工程部出版2001年华盛顿D.C.20006，N.W.Eye大街。
1983年印刷EIA版权所有U.S.A印制测试方法#20A电子连接器的耐电压测试方法此推荐标准是基于国际电子技术委员会(IEC)的技术内容;推荐512—2,测试4a,电压检测,1976.符合此IEC推荐的所有必要方面。
测试方法#20A电子连接器耐电压测试方法(摘自EIA建议标准NO.1555,是在EIA P-5.1工作组组织下提出。
)注﹔此TP-20A曾作为TP-20颁布于EIA建议标准RS-364中。
1.0TP-20A耐电压2.0目的这种测试程序的目的是介绍一种测试方法来确定电子连接器在额定电压内的安全运作性能，以及能够承受由于转换、掁荡和其它类似现象所引起的瞬间过载。
3.0 综述测试包括特定时间内﹐在连接器相互绝缘部分或是在绝缘部分与地之间，采用一个高于额定电压的电压值。
此标准化的目的是确定耐压值为连接器损坏电压最小值的75%。
并建议连接器的正常工作电压为承受电压值的1/3﹒这种测试经常被错误地认为是一种击穿电压或绝缘强度的测试。
导致绝绿破损或测量电冕并非此测试的本意。
它用来决定绝缘材料和组件部份间隙是否合适。
当一个连接器在这些方面不够完善时﹐实施电压测试将导致不正常放电或者情况恶化。
不正常放电伴随闪光(表面放电)﹑火花(空气放电)或破损(击孔放电)。
许多因素不同程度影响气体和固体的不导电行为，例如大气温度﹑气压﹑环境和电极形式﹑频率和波形﹑操作速率和测试电压的持续时间﹑样品的几何形式﹑机械压力和以前的测试纪录。
00-EIA-364系列标准
EIA-364系列标准EIA-CB18 固體的鉭式電容器儲存期限EIA-364-E 電子連接器/ 插座測試過程包括環境類別EIA-364-01B 加速度電子連接的測試過程EIA-364-02C 空氣滲漏電子連接的測試過程EIA-364-03B 高度浸入電子連接的測試過程EIA-364-05B 接觸插入，釋放，移動迫使電子連接的測試過程EIA-364-06C 接觸電阻電子連接的測試過程EIA-364-07C 與軸向的Concentricity電子連接的測試過程聯繫EIA-364-08B 捲曲抗拉的力量電子連接的測試過程EIA-364-09C 耐久性電子連接和接觸的測試過程EIA-364-10E 流動的浸入電子連接和插座的測試過程EIA-364-11B 電阻到溶劑電子連接和插座的測試過程EIA-364-13D Mating和Unmating 力量電子連接的測試過程EIA-364-14B 臭氧暴露電子連接的測試過程EIA-364-17B 有或沒有電負荷電子連接和插座的測試過程的溫度生命EIA-364-18B 接线盒和插座的外观与尺寸检查的测试流程EIA-364-20D 禁得住電壓電子連接，插座和同軸的接觸的測試過程EIA-364-21D 絕緣電阻電子連接，插座和同軸的接觸的測試過程EIA-364-22B 類比生命電子連接的測試過程EIA-364-23C 低的水準接觸電阻電子連接和插座的測試過程EIA-364-24B 維修使電子連接的測試過程變老EIA-364-25C 探查損壞電子連接的測試過程EIA-364-26B 鹽水霧電子連接器，接觸和插座的測試過程EIA-364-27B 機械震動(指定的脈搏)電子連接的測試過程EIA-364-28D 振動電子連接和插座的測試過程EIA-364-29C 接觸保留電子連接的測試過程EIA-364-31B 濕度電子連接和插座的測試過程EIA-364-32D 熱震(溫度週期變化)電子連接和插座的測試過程EIA-364-35B 插入保留電子連接的測試過程EIA-364-36B DETERMINATION OF GAS-TIGHT CHARACTERISTICS TEST PROCEDURE FOR ELECTRICAL CONNECTORS, AND OR CONTACT SYSTEMSEIA-364-37B 接觸約會和分離力量電子連接的測試過程EIA-364-38B 電報拔電子連接的測試過程EIA-364-39B 電子連接器，接觸和插座的液壓靜力測試過程EIA-364-40B 壓壞電子連接的測試過程EIA-364-41C 電報在電子連接的測試過程屈曲EIA-364-42B 影響電子連接的測試過程EIA-364-45A 防火牆火焰電子連接的測試過程EIA-364-46BEIA-364-48AEIA-364-50AEIA-364-53B 氮的Adic 蒸汽測試，金完成電子連接和插座的測試過程EIA-364-54A 有磁性的滲透性電子連接器，接觸和插座的測試過程EIA-364-56D 為了焊接熱電子連接和插座的測試過程的電阻EIA-364-66A EMI 保護效力電子連接的測試過程EIA-364-70BEIA-364-71B 焊接燈芯(波焊接技術)測試過程適合電子連接器和插座EIA-364-75EIA-364-81A 燃燒特性電子連接器住房，連接器會議和插座的測試過程EIA-364-82A 塑膠電子連接和插座住房的測試過程的Corrosivity EIA-364-83 殼牌公司轟炸和轟炸在艙壁測試過程抵抗適合電動汽車連接器EIA-364-89AEIA-364-90 串音比率電子連接，插座，電纜組件的測試過程或者相互連接系統EIA-364 91A 灰塵電子連接和插座的測試過程EIA-364-95 充分的鋪席子和鋪席子穩定電子連接的測試過程EIA-364-99 規格位置和保留電子連接的測試過程EIA-364-100 標明永久為電子連接和插座的測試過程EIA-364-101 Attentuation電子連接器，插座，電報會議或者相互聯繫系統的測試過程EIA 364-102 上升時間墮落電子連接器，插座，電報會議或者相互聯繫系統的測試過程EIA-364-103 傳播延遲電子連接器，插座，電報會議或者相互聯繫系統的測試過程EIA-364 104A 可燃性電子連接的測試過程EIA-364-105A 高度低溫電子連接的測試過程EIA-364-106 駐波比率(SWR)電子連接的測試過程EIA-364-107 眼睛圖案和在電子連接器，插座，電報會議或者相互聯繫系統的測試過程感到緊張EIA-364-108 阻抗，反射系數，返回損失，並且VSWR在時間和頻率領土電子連接器，電報會議或者相互聯繫系統的測試過程測量EIA-364 1000.01 評價電子連接器的性能的環境考試方法學和插座在生意辦公室應用方面使用EIA-364-109 環電感測量電子連接(1 nH 10 nH)的測試過程EIA-364-110。
EIA-364-20A耐电压 实验规范
电子连接器的耐电压测试方法公告EIA工程标准和出版物是为服务于公众利益而制定的,它是为了消除生产者和购买者之间的误解,促进产品的交流和提高,并帮助购买者在最短时间内挑选到他所需要的满意的产品﹒该标准的提出会促使EIA的成员在生产和销售产品时遵循该标准﹐而它也可以由国内外非EIA成员自愿使用﹒对于推荐标准和出版物中采用的文章﹑材料﹑方法﹐EIA在选取时未考虑其专利内容,故在此过程中EIA对任何专利所有者不承担责任﹐对任何采用该标准的机构也不承担责任﹒电子工业协会（EIA）工程部出版2001年华盛顿D.C.20006，N.W.Eye大街。
1983年印刷EIA版权所有U.S.A印制测试方法#20A电子连接器的耐电压测试方法此推荐标准是基于国际电子技术委员会(IEC)的技术内容;推荐512—2,测试4a,电压检测,1976.符合此IEC推荐的所有必要方面。
测试方法#20A电子连接器耐电压测试方法(摘自EIA建议标准NO.1555,是在EIA P-5.1工作组组织下提出。
)注﹕此TP-20A曾作为TP-20颁布于EIA建议标准RS-364中。
1.0TP-20A耐电压2.0目的这种测试程序的目的是介绍一种测试方法来确定电子连接器在额定电压内的安全运作性能，以及能够承受由于转换、掁荡和其它类似现象所引起的瞬间过载。
3.0 综述测试包括特定时间内﹐在连接器相互绝缘部分或是在绝缘部分与地之间，采用一个高于额定电压的电压值。
此标准化的目的是确定耐压值为连接器损坏电压最小值的75%。
并建议连接器的正常工作电压为承受电压值的1/3﹒这种测试经常被错误地认为是一种击穿电压或绝缘强度的测试。
导致绝绿破损或测量电冕并非此测试的本意。
它用来决定绝缘材料和组件部份间隙是否合适。
当一个连接器在这些方面不够完善时﹐实施电压测试将导致不正常放电或者情况恶化。
不正常放电伴随闪光(表面放电)﹑火花(空气放电)或破损(击孔放电)。
许多因素不同程度影响气体和固体的不导电行为，例如大气温度﹑气压﹑环境和电极形式﹑频率和波形﹑操作速率和测试电压的持续时间﹑样品的几何形式﹑机械压力和以前的测试纪录。
EIA-364_List
环境 环境
EIA-364-82 EIA-364-91 EIA-364-89
A A A
Corrosivity of Plastics Dust Space Application
塑料腐蚀性 灰尘
A B 1988 A A 1989 1990 1998 1996 1996 1997 1997 1997 1999 1997 1997 R2006 C B E R2006 01 A A B 2006 B B B B B C F B B B A 1993 B D 1987 A A C 1997 2002 A
Rev. E C 2003 D D C A 1990 1983 A A A 1989 B 1999 1996 1995 2000 R2006 1999 2000 2000 2000 2000 B A B B B C A E A 1988 B A D C F C B C C B E B
简称 Abbr. Introduction EIA-364规范介绍 CR 接触电阻 Loop inductance 电感(回路) DWV 耐电压 IR 绝缘电阻 LLCR 接触电阻 Capacitance 电容 Inductance 电感 Ice Resistance 低温阻抗 Magnetic 磁导率 Current 电流 EMI 电磁屏蔽 Inductance 微电感 Temp. Rise vs Current 温升与电流 Shell and Bulkhead Resistance Nanosecond Event Detection Residual Magnetism Attenuation 衰减 Rise time 爬升时间 Propagation Delay 传播延迟 SWR 驻波比 Eye and Jitter 眼图和抖动 Impedance, RL, VSWR 阻抗,反射损耗,电压驻波比 Crosstalk 串音 Acceleration 加速度 Normal Force 正向力 插拔力 Contact axial concentricity 接触轴心度 Crimp tensile strength 拉力 Durability 耐久 Restricted entry 束口 Mating and Unmating Force 匹配 Contact Strength 接触强度 Stripping force 抗剥离力 Visual 文文字 外观尺寸 Torsional insert retention 扭转插入保持力 Probe Damage 探针损伤 Mechanical Shock 机械冲击 Vibration 振动 Contact retention 接触保持力 Insert Retention 插入保持 Contact Engagement and Sparation Force Cable pull-out 电缆拔拉 Crush 挤压 Flexing 摇摆 Impact 摔落冲击
#EIA-364-20A电子连接器耐电压测试方法
电子连接器的耐电压测试方法公告EIA工程标准和出版物是为服务于公众利益而制定的,它是为了消除生产者和购买者之间的误解,促进产品的交流和提高,并帮助购买者在最短时间内挑选到他所需要的满意的产品﹒该标准的提出会促使EIA的成员在生产和销售产品时遵循该标准﹐而它也可以由国内外非EIA成员自愿使用﹒对于推荐标准和出版物中采用的文章﹑材料﹑方法﹐EIA在选取时未考虑其专利内容,故在此过程中EIA对任何专利所有者不承担责任﹐对任何采用该标准的机构也不承担责任﹒电子工业协会（EIA）工程部出版2001年华盛顿D.C.20006，N.W.Eye大街。
1983年印刷EIA版权所有U.S.A印制测试方法#20A电子连接器的耐电压测试方法此推荐标准是基于国际电子技术委员会(IEC)的技术内容;推荐512—2,测试4a,电压检测,1976.符合此IEC推荐的所有必要方面。
测试方法#20A电子连接器耐电压测试方法(摘自EIA建议标准NO.1555,是在EIA P-5.1工作组组织下提出。
)注﹕此TP-20A曾作为TP-20颁布于EIA建议标准RS-364中。
1.0TP-20A耐电压2.0目的这种测试程序的目的是介绍一种测试方法来确定电子连接器在额定电压内的安全运作性能，以及能够承受由于转换、掁荡和其它类似现象所引起的瞬间过载。
3.0 综述测试包括特定时间内﹐在连接器相互绝缘部分或是在绝缘部分与地之间，采用一个高于额定电压的电压值。
此标准化的目的是确定耐压值为连接器损坏电压最小值的75%。
并建议连接器的正常工作电压为承受电压值的1/3﹒这种测试经常被错误地认为是一种击穿电压或绝缘强度的测试。
导致绝绿破损或测量电冕并非此测试的本意。
它用来决定绝缘材料和组件部份间隙是否合适。
当一个连接器在这些方面不够完善时﹐实施电压测试将导致不正常放电或者情况恶化。
不正常放电伴随闪光(表面放电)﹑火花(空气放电)或破损(击孔放电)。
许多因素不同程度影响气体和固体的不导电行为，例如大气温度﹑气压﹑环境和电极形式﹑频率和波形﹑操作速率和测试电压的持续时间﹑样品的几何形式﹑机械压力和以前的测试纪录。
[讲解]EIA-364系列标准
![[讲解]EIA-364系列标准](https://img.taocdn.com/s3/m/3557b67149d7c1c708a1284ac850ad02de80071b.png)
EIA-364系列标准EIA-364系列标准，带目录，总共53个标准，6个压缩包EIA-CB18 固体的钽式电容器储存期限EIA-364 D 电子连接器/ 插座测试过程包括环境类别EIA-364 01B 加速度电子连接的测试过程EIA-364 02C 空气渗漏电子连接的测试过程EIA-364 03B 高度浸入电子连接的测试过程EIA-364 05B 接触插入，释放，移动迫使电子连接的测试过程EIA-364 06B 接触电阻电子连接的测试过程EIA-364 07b 与轴向的Concentricity电子连接的测试过程联系EIA-364 08B 卷曲抗拉的力量电子连接的测试过程EIA-364 09C 耐久性电子连接和接触的测试过程EIA-364 10C 流动的浸入电子连接和插座的测试过程EIA-364 11A 电阻到溶剂电子连接和插座的测试过程EIA-364 13B Mating和Unmating 力量电子连接的测试过程EIA-364 14B 臭氧暴露电子连接的测试过程EIA-364 17B 有或没有电负荷电子连接和插座的测试过程的温度生命EIA-364 20C 禁得住电压电子连接，插座和同轴的接触的测试过程EIA-364 21C 绝缘电阻电子连接，插座和同轴的接触的测试过程EIA-364 22B 类比生命电子连接的测试过程EIA-364 23B 低的水准接触电阻电子连接和插座的测试过程EIA-364 24B 维修使电子连接的测试过程变老EIA-364 25C 探查损坏电子连接的测试过程EIA-364 26B 盐水雾电子连接器，接触和插座的测试过程EIA-364 27B 机械震动(指定的脉搏)电子连接的测试过程EIA-364 28D 振动电子连接和插座的测试过程EIA-364 29B 接触保留电子连接的测试过程EIA-364 31B 湿度电子连接和插座的测试过程EIA-364 32C 热震(温度周期变化)电子连接和插座的测试过程EIA-364 35B 插入保留电子连接的测试过程EIA-364 37B 接触约会和分离力量电子连接的测试过程EIA-364 38B 电报拔电子连接的测试过程EIA-364 39B 电子连接器，接触和插座的液压静力测试过程EIA-364 40B 压坏电子连接的测试过程EIA-364 41C 电报在电子连接的测试过程屈曲EIA-364 42B 影响电子连接的测试过程EIA-364 45A 防火墙火焰电子连接的测试过程EIA-364 53B 氮的Adic 蒸汽测试，金完成电子连接和插座的测试过程EIA-364 54A 有磁性的渗透性电子连接器，接触和插座的测试过程EIA-364 56B 为了焊接热电子连接和插座的测试过程的电阻EIA-364 66A EMI 保护效力电子连接的测试过程EIA-364 71B 焊接灯芯(波焊接技术)测试过程适合电子连接器和插座EIA-364 81A 燃烧特性电子连接器住房，连接器会议和插座的测试过程EIA-364 82A 塑胶电子连接和插座住房的测试过程的CorrosivityEIA 364-83 壳牌公司轰炸和轰炸在舱壁测试过程抵抗适合电动汽车连接器EIA 364-90 串音比率电子连接，插座，电缆组件的测试过程或者相互连接系统EIA-364 91A 灰尘电子连接和插座的测试过程EIA 364-95 充分的铺席子和铺席子稳定电子连接的测试过程EIA 364-99 规格位置和保留电子连接的测试过程EIA 364-100 标明永久为电子连接和插座的测试过程EIA 364-101 Attentuation电子连接器，插座，电报会议或者相互联系系统的测试过程EIA 364-102 上升时间堕落电子连接器，插座，电报会议或者相互联系系统的测试过程EIA 364-103 传播延迟电子连接器，插座，电报会议或者相互联系系统的测试过程EIA-364 104A 可燃性电子连接的测试过程EIA 364-105 高度低温电子连接的测试过程EIA 364-106 驻波比率(SWR)电子连接的测试过程EIA 364-107 眼睛图案和在电子连接器，插座，电报会议或者相互联系系统的测试过程感到紧张EIA 364-108 阻抗，反射系数，返回损失，并且VSWR在时间和频率领土电子连接器，电报会议或者相互联系系统的测试过程测量EIA 364 1000.01 评价电子连接器的性能的环境考试方法学和插座在生意办公室应用方面使用EIA 364-109 环电感测量电子连接(1 nH 10 nH)的测试过程。
EIA-364-D中文
Qualification Procedure-Sequence
• 此建議測試順序是最低限度要求，適 用所有的等級。 • 依照不同應用，特定測試項目可自 測試順序、補充測試、及/或接合測 試項中增加或刪除。
Qualification Procedure-Sample Size
測試件應含對應端。每一特性量測的數據數量應為 測試件25%的端子量，但不應低於25筆數據。若低於 25筆數據，則所有端子必頇量測; 若還不足25筆，就 必頇提供額外的測試件。
EIA-364-D目的/範圍
針對電子連接器及插座建議基本的 (recommended minimum) 測試次序(Sequence) 及方法(Procedures) 依照預定的應用環境分級, 以便對每一分級能 作合適的評估 定義各環境分級的儀器操作狀況, 包含溫度與 溼度的最大範圍, 以及海洋氣候與嚴苛環境之 可能性
Contact resistance at rated current shall be used in those applications where the current levels are in excess of 100 milliamperes and the voltage levels are in excess of 3.0 volts. 選定電流的電阻測試(CRRC)用於 I>100mA & V>3V.
Qualification Procedure-Sequence
Visual examination shall be performed on the test specimens initially and after each environmental and stress test. Unless otherwise specified, unmating of the test specimens shall not be permitted until completion of the test sequence. The referencing document shall specify if the test specimens are to be unmated after vibration, physical shock and salt spray for visual examination. If not specified, the test samples shall remain mated.測試前後的外觀檢驗之必要性與解除互配狀態之許可. Unless otherwise specified, IR and/or DWV shall be tested between the closest spaced contacts (adjacent and/or between rows). Six contact pairs or 25% of the positions whichever is greater shall be tested per specimen. In the event that hardware and/or metal shells are used, the test shall also be performed between the metal accessories and the contacts closest to them in accordance with EIA-364-20 and/or EIA-364-21. IR與DWV之 測試點數量要求6對或25%的端子, 及端子與鐵殼/其他鐵件之測試 必要.
EIA-364连接器专项测试标准简介
Firewall Flame Test Procedure for Electrical Connectors
EIA-364-46B
MICROSECOND DISCONTINUITY TEST PROCEDURE FOR ELECTRICAL CONNECTORS,CONTACTS AND SOCKETS
Thermal Shock (Temperature Cycling) Test Procedure for Electrical Connectors and Sockets
EIA-364-35B
Insert Retention Test Procedure for Electrical Connectors
EIA-364-90
Crosstalk Ratio Test Procedures for Electrical Connectors, Sockets, Cable Assemblies or Interconnect Systems
EIA-364-91A
Dust Test Procedure for Electrical Connector and Sockets
EIA-364-56C
Resistance to Soldering Heat Test Procedure for Electrical Connectors and Sockets
EIA-364-59A
LOW TEMPERATURE TEST PROCEDURE FOR ELECTRICAL CONNECTORS AND SOCKETS
EIA-364-95
Full Mating and Mating Stability Test Procedures for Electrical Connectors
#EIA-364-18A电子连接器外观和尺寸检测方法
电子连接器外观和尺寸检测方法公告EIA工程标准和出版物是为公共利益设计的,它是为了消除生产者和购买者之间的误解,促进产品的交流和提高,并帮助购买者在最短时间内挑选到他所需要的满意的产品﹒该标准的提出会促使EIA的成员在生产和销售产品时遵循该标准﹐而它也可以由国内外非EIA成员自愿使用﹒对于推荐标准和出版物中采用的文章﹑材料﹑方法﹐EIA在选取时未考虑其专利内容,故在此过程中EIA对任何专利所有者不承担责任﹐对任何采用该标准的机构也不承担责任﹒EIA标准根据国际标准制定﹐但是国际电工协会还没有提出EIA标准与IEC 标准的有效的对照﹒该标准的提出不是意在安全问题或适用性做硬性规定﹒标准使用者的职责是在使用前建立起一个安全健康的实践体系和确定某些标准的适用性﹒EIA—364---18A测试方法＃18A电子连接器外观和尺寸检测方法此EIA推荐标准是基于国际电子技术委员会(IEC)的技术目录;推荐—512—2, 测试1a和1b, 外观和尺寸检测,1976.它符合此IEC推荐的所有必要方面.EIA—364—18A测试方法＃18A电子连接器外观和尺寸检测方法(摘自EIA建议标准NO.1548,是在EIA P-5.1工作组组织下提出的﹒)注﹔本测试程序曾印于EIA建议标准RS-364中TP-18﹒1.0 TP-18 外观和尺寸检测2.0 目的本方法的目的是说明电子连接器外观和尺寸检验的标准方法,以判断电子连接器与无性能要求的可行说明和详细文件是否一致.该方法补充了其它详细检测方法中的外观检验﹒3.0 综述外观检验是检查产品鉴定﹑外观﹑工艺和最终加工（电镀）﹒尺寸检验是用合适的检测工具和仪器对实际零件进行检测﹐以验证工程图中的尺寸﹒4.0 样品准备测试样品由plug ﹑receptacle或配合的plug receptacle组成﹒5.0 测试方法5.1 测试仪器外观检测应用肉眼在正常视野中进行﹒除非特别说明﹐不允许使用放大镜﹑偏振光及其它指示器﹒5.2 测试步骤5.2.1 外观检测至少应包括以下内容﹔(a) 工艺(b) 标记(c) 材料(d) 最终加工（电镀）(e) 标准(f) 设计和结构﹒注﹔材料﹑最终加工和标准需要由制造商进行物理测试和／或验证﹒5.2.2 尺寸检测应遵照详细说明中的外形轮廓图进行检查﹒6.0 细节说明以下细节将在细节说明中说明﹔(a) 检测零件数目(b) 适用的标准(c) 材料(d) 设计和结构(e) 最终加工(f) 工艺(g) 特殊检测条件(h) 材料﹑最终加工等的物理检测要求﹒7.0 参考文件数据窗体应包括﹔(a) 测试题目(b) 样品描述(c) 所用的测试仪器(d) 评估和观测(e) 测试日期和操作者姓名﹒。
EIA-364-30
電子連接器的電容測試方法公告EIA工程標准和出版物是為服務於公眾利益而制定的,它是為了消除生產者和購買者之間的誤解,促進產品的交流和提高,並幫助購買者在最短時間內挑選到他所需要的滿意的產品﹒該標準的提出會促使EIA的成員在生產和銷售產品時遵循該標準﹐而它也可以由國內外非EIA成員自愿使用﹒對于推荐標准和出版物中采用的文章﹑材料﹑方法﹐EIA在選取時未考慮其專利內容,故在此過程中EIA對任何專利所有者不承擔責任﹐對任何采用該標準的機構也不承擔責任﹒電子工業協會（EIA）工程部出版2001年華盛頓D.C.20006，N.W. Eye大街。
1987年印刷EIA版權所有U.S.A印制EIA—364---30測試方法NO.30電子連接器電容測試方法此EIA推荐標准是基于國際電子技術委員會(IEC)的技術內容;推荐512—9,測試22a,電容測試,1977.它符合IEC推荐的所有必要方面.測試方法NO.30電子連接器的電容測試方法(摘自EIA建議標準NO.1959,EIA P.5-1電子連接器工作組組成。
)注意：此TP-30沒有在EIA-364系列測試中出版過。
1.0目的﹕1.1此測試方法的目的是介紹一种標準測試方法以確定電子連接器使用元件的電容。
1.2電容測試是一系列測試項目的一項基本測試,測試後可置於任何環境中。
2.0樣品準備：2.1測試樣品由一個符合規格說明的成品連接器組成。
3.0測試方法3.1測試儀器使用電容計量器測量電容將確保+/-0.5%的精確度，精確值為+0.2p f。
直流電壓和交流電壓的峰值總數不得超過樣品額定電壓。
標準測試頻率為:1KHz +/- 1%1MHz +/- 1%1KHz +/- 1%為最佳測試頻率。
3.2測試過程3.2.1使用如下配置按規定頻率測試電容3.2.1.1通過最低阻抗路徑,用以下將端子接地:所有其它端子所有鐵殼接地片3.2.1.2任意兩連接端之間,以下部件可接於地面任意處:所有其它端子所有鐵殼接地片3.2.1.3 其它方面或操作條件按規格規定進行。
eia-364系列标准（EIA-364seriesstandard）
eia-364系列标准（EIA-364 series standard）EIA-364 series standard, with directory, a total of 53 standards, 6 compression packagesEIA-CB18 solid tantalum capacitor storage periodThe EIA-364 D electronic connector / socket test process includes environmental categoriesTest procedure of EIA-364 01B acceleration electronic connectionTest procedure for EIA-364 02C air leakage electronic connectionsTest procedure for highly immersed electronic connections of EIA-364 03BEIA-364, 05B contact, insertion, release, movement, forcing, electronic connection, testing processTest procedure for electronic connection of EIA-364 06B contact resistanceThe connection process between the EIA-364 07B and the axial Concentricity electronic connectionTest procedure for EIA-364 08B Crimp Tensile Force electronic connectionsEIA-364 09C durability test procedures for electronicconnections and contactsEIA-364 10C flow test procedures for immersed electronic connections and socketsEIA-364 11A resistance to solvent electronic connections and sockets test processTest procedures for EIA-364, 13B, Mating, and Unmating power electronic connectionsTest procedure for EIA-364 14B ozone exposure electronic connectionsEIA-364 17B has or has no electrical load, electronic connections, and sockets for testing the temperature lifeEIA-364 20C withstand voltage, electronic connections, sockets, and coaxial contact test proceduresEIA-364, 21C, insulation, resistance, electronic connections, sockets and coaxial contact test proceduresThe test process of EIA-364 22B analog life electronic connectionsEIA-364, 23B low level contact resistance, electronic connections and sockets test processEIA-364 24B maintenance keeps the test process of electronic connections getting olderEIA-364 25C examines the test process for damaging electronic connectionsEIA-364 26B brine mist electronic connector, contact and socket test procedureEIA-364 27B mechanical shock (designated pulse) electronic connection test procedureTest procedure for EIA-364 28D vibration electronic connections and socketsEIA-364 29B contact test procedure for retention of electronic connectionsEIA-364, 31B humidity, electronic connections and sockets test processEIA-364, 32C thermal shock (temperature cycle changes), electronic connections and sockets test processThe EIA-364 35B inserts the test process that retains the electronic connectionThe test process for EIA-364 37B engagement, engagement and separation of forces, electronic connectionsThe test process of EIA-364 38B telegraph electronic connectionHydrostatic test procedures for EIA-364 and 39B electronicconnectors, contacts and socketsEIA-364 40B crushed electronic connection testing processEIA-364 41C telegraphy in electronic connection test procedure bucklingEIA-364 42B affects the testing process of electronic connectionsTest process of flame electronic connection of EIA-364 45A firewallEIA-364 53B nitrogen Adic vapor test, gold complete electronic connection and socket test processThe EIA-364 54A has magnetic permeability electronic connectors, contacts and sockets for the testing processEIA-364 56B in order to weld the resistance of the hot electronic connections and sockets during the test processEIA-364 66A EMI test procedures for protecting the effectiveness of electronic connectionsThe EIA-364 71B welding wick (wave soldering technology) test procedure is suitable for electronic connectors and socketsEIA-364 81A combustion characteristics, electronic connectors, housing, connector, conference and socket test processEIA-364 82A plastic electronic connections and sockets housing test process CorrosivityEIA 364-83, Shell Companies bombing and bombing in bulkhead test procedure resists resistance to electric car connectorEIA 364-90 crosstalk ratios, electronic connections, sockets, test procedures for cable assemblies, or interconnected systemsTest procedure for EIA-364, 91A dust, electronic connections and socketsEIA 364-95 adequate placement of mats and mats to stabilize electronic connections during testingTest procedure for EIA 364-99 specification position and retention of electronic connectionsEIA 364-100 indicates permanent testing procedures for electronic connections and socketsTest procedures for EIA 364-101 Attentuation electronic connectors, sockets, telegraph conferences, or interconnected systemsEIA 364-102 rise time, degradation, electronic connectors, sockets, telegraph conferences, or test procedures for Interconnected SystemsEIA 364-103 propagation delays, electronic connectors, sockets,telegraph conferences, or test procedures for Interconnected SystemsTest procedure for EIA-364 104A flammability electronic connectionsTest procedure for EIA 364-105 high temperature electronic connectionTest procedure for EIA 364-106 standing wave ratio (SWR) electronic connectionEIA 364-107 eye patterns and tension in electronic connectors, sockets, telegraph conferences, or interconnected system testingEIA 364-108 impedance, reflection coefficient, return loss, and VSWR measurements in time and frequency, territory, electronic connectors, telegraph conferences, or interconnected system testing processesEIA 3641000.01 environmental testing methods and sockets for evaluating the performance of electronic connectors are used in business office applicationsTest procedure for EIA 364-109 ring inductance measurement of electronic connections (1, nH, 10, nH)。
EIA-364-05B-1998 - TP-05B Contact Insertion Release and Removal Force Test Procedure for Electrical
EIASTANDARDTP-05BContact Insertion, Release andRemoval Force Test Procedurefor Electrical ConnectorsEIA-364-05B(Revision of EIA-364-05A)MAY 1998ELECTRONIC INDUSTRIES ALLIANCEENGINEERING DEPARTMENTNOTICEEIA Engineering Standards and Publications are designed to serve the public interest through eliminating misunderstandings between manufacturers and purchasers, facilitating interchangeability and improvement of products, and assisting the purchaser in selecting and obtaining with minimum delay the proper product for his particular need. Existence of such Standards and Publications shall not in any respect preclude any member or nonmember of EIA from manufacturing or selling products not conforming to such Standards and Publications, nor shall the existence of such Standards and Publications preclude their voluntary use by those other than EIA members, whether the standard is to be used either domestically or internationally. Standards and Publications are adopted by EIA in accordance with the American National Standards Institute (ANSI) patent policy. By such action, EIA does not assume any liability to any patent owner, nor does it assume any obligation whatever to parties adopting the Standard or Publication.This standard is based upon the major technical content of International Electrotechnical Commission standard 512-8, test 15d, contact insertion, release and extraction force, 1993-01. It conforms in all essential respects to thi s IEC standard.This Standard does not purport to address all safety problems associated with its use or all applicable regulatory requirements. It is the responsibility of the user of this Standard to establish appropriate safety and health practices and to determine the applicability of regulatory limitations before its use.Published byELECTRONIC INDUSTRIES ALLIANCE 1998Engineering Department2500 Wilson BoulevardArlington, VA 22201PRICE: Please refer to the currentCatalog of EIA, JEDEC, and TIA STANDARDS and ENGINEERING PUBLICATIONS or call Global Engineering Documents, USA and Canada (1-800-854-7179)International (303-397-7956)All rights reservedPrinted in U.S.A.CONTENTSClause Page 1Introduction (1)1.1Scope (1)2Test resources (1)2.1Equipment (1)3Test specimen (1)3.1Description (1)3.2Preparation (1)4Test procedure (2)4.1Insertion force (2)4.2Release and removal force (2)4.3Failures (3)5Details to be specified (3)6Test documentation (3)i(This page left blank)iiEIA-364-05BPage 1TEST PROCEDURE No. 05BCONTACT INSERTION, RELEASE AND REMOVAL FORCETEST PROCEDURE FOR ELECTRICAL CONNECTORS(From EIA Standards Proposal No. 3981, formulated under the cognizance EIA CE-2.0 Committee on National Connector Standards.)1 Introduction1.1 ScopeThis standard establishes a test method to determine the forces required to insert contacts into and remove contacts form their normal position in a connector.2 Test Resources2.1 EquipmentThe test equipment shall consist of:2.1.1 Applicable insertion and removal tools.2.1.2 Suitable device for holding the component.2.1.3 Suitable device for measuring the forces (force gauges, loadcells, etc.).3 Test Specimen3.1 DescriptionThe specimen shall consist of a connector and associated contacts.3.2 Preparation3.2.1 The sealing member shall be relaxed or removed if the design permits.3.2.2 All contacts shall be wired with cabe/wire as specified in the referencing document. All contacts shall be installed, except those to be used for the test.EIA-364-05BPage 23.2.3 Cable fitting and accessories shall not be mounted on the connector.3.2.4 Where applicable, gang retention devices shall be indexed to the release position.3.2.5 The connector shall be mounted securely in a suitable clamping device and in a position suitable for performing the measurement.3.2.6 The force gage shall be mounted to indicate the applied force.3.2.7 The applicable insertion and removal tools shall be adapted for use with the force gage.4 Test ProcedureUnless otherwise specified, select 20% of the contacts (but not fewer than six contacts per connector mating half) at random for the test. For connections having six contacts or less, all contact shall be used for the test. At least one contact shall be near the periphery and one near the center of the connector.4.1 Insertion Force4.1.1 The plug and receptacle shall be mounted in a suitable position for the insertion of contacts.4.1.2 The insertion tool, with the contact, shall be engaged in the approved manner.4.1.3 Axial alignment shall be maintained and sufficient force applied to insert the contact into its normal position in the connector. This force shall be recorded.4.2 Release and Removal Force4.2.1 The plug and receptacle shall be mounted in a suitable position for removal of contacts. For rear release systems, the mounting shall be on a load cell, or equivalent, that indicates both compression and tension forces.4.2.2 The removal tool shall be engaged with the contact and contact locking device in the approved manner.4.2.3 Axial alignment shall be maintained and sufficient force applied to release the locking mechanism and effect removal of the contact (until the tool plunger has traveled its full distance, when applicable). The peak force shall be recorded.EIA-364-05BPage 3 4.3 FailuresPotential modes of failure resulting from this test are forces in excess of those specified for insertion or removal of contacts from the connector.5 Details to be specifiedThe following details shall be specified in the referencing document:5.1 Number of contacts to be tested, if other than specified herein; see clause 45.2 Preparation, mounting and wiring of specimen5.3 Wire type, gage5.4 Appropriate insertion and removal tools5.5 Test condition, if other than standard ambient5.6 Maximum insertion, release and removal forces5.7 Any deviation from standard test condition.6 Test documentationDocumentation shall contain the details specified in clause 5, with any exceptions, and the following:6.1 Title of test6.2 Specimen description and contact identification, including fixturing6.3 Test equipment used, and date of last and next calibration6.4 Test procedure6.5 Values and observations6.6 Name of operator and date of test。
00-EIA-364系列标准
EIA-364系列标准EIA-CB18 固體的鉭式電容器儲存期限EIA-364-E 電子連接器/ 插座測試過程包括環境類別EIA-364-01B 加速度電子連接的測試過程EIA-364-02C 空氣滲漏電子連接的測試過程EIA-364-03B 高度浸入電子連接的測試過程EIA-364-05B 接觸插入，釋放，移動迫使電子連接的測試過程EIA-364-06C 接觸電阻電子連接的測試過程EIA-364-07C 與軸向的Concentricity電子連接的測試過程聯繫EIA-364-08B 捲曲抗拉的力量電子連接的測試過程EIA-364-09C 耐久性電子連接和接觸的測試過程EIA-364-10E 流動的浸入電子連接和插座的測試過程EIA-364-11B 電阻到溶劑電子連接和插座的測試過程EIA-364-13D Mating和Unmating 力量電子連接的測試過程EIA-364-14B 臭氧暴露電子連接的測試過程EIA-364-17B 有或沒有電負荷電子連接和插座的測試過程的溫度生命EIA-364-18B 接线盒和插座的外观与尺寸检查的测试流程EIA-364-20D 禁得住電壓電子連接，插座和同軸的接觸的測試過程EIA-364-21D 絕緣電阻電子連接，插座和同軸的接觸的測試過程EIA-364-22B 類比生命電子連接的測試過程EIA-364-23C 低的水準接觸電阻電子連接和插座的測試過程EIA-364-24B 維修使電子連接的測試過程變老EIA-364-25C 探查損壞電子連接的測試過程EIA-364-26B 鹽水霧電子連接器，接觸和插座的測試過程EIA-364-27B 機械震動(指定的脈搏)電子連接的測試過程EIA-364-28D 振動電子連接和插座的測試過程EIA-364-29C 接觸保留電子連接的測試過程EIA-364-31B 濕度電子連接和插座的測試過程EIA-364-32D 熱震(溫度週期變化)電子連接和插座的測試過程EIA-364-35B 插入保留電子連接的測試過程EIA-364-36B DETERMINATION OF GAS-TIGHT CHARACTERISTICS TEST PROCEDURE FOR ELECTRICAL CONNECTORS, AND OR CONTACT SYSTEMSEIA-364-37B 接觸約會和分離力量電子連接的測試過程EIA-364-38B 電報拔電子連接的測試過程EIA-364-39B 電子連接器，接觸和插座的液壓靜力測試過程EIA-364-40B 壓壞電子連接的測試過程EIA-364-41C 電報在電子連接的測試過程屈曲EIA-364-42B 影響電子連接的測試過程EIA-364-45A 防火牆火焰電子連接的測試過程EIA-364-46BEIA-364-48AEIA-364-50AEIA-364-53B 氮的Adic 蒸汽測試，金完成電子連接和插座的測試過程EIA-364-54A 有磁性的滲透性電子連接器，接觸和插座的測試過程EIA-364-56D 為了焊接熱電子連接和插座的測試過程的電阻EIA-364-66A EMI 保護效力電子連接的測試過程EIA-364-70BEIA-364-71B 焊接燈芯(波焊接技術)測試過程適合電子連接器和插座EIA-364-75EIA-364-81A 燃燒特性電子連接器住房，連接器會議和插座的測試過程EIA-364-82A 塑膠電子連接和插座住房的測試過程的Corrosivity EIA-364-83 殼牌公司轟炸和轟炸在艙壁測試過程抵抗適合電動汽車連接器EIA-364-89AEIA-364-90 串音比率電子連接，插座，電纜組件的測試過程或者相互連接系統EIA-364 91A 灰塵電子連接和插座的測試過程EIA-364-95 充分的鋪席子和鋪席子穩定電子連接的測試過程EIA-364-99 規格位置和保留電子連接的測試過程EIA-364-100 標明永久為電子連接和插座的測試過程EIA-364-101 Attentuation電子連接器，插座，電報會議或者相互聯繫系統的測試過程EIA 364-102 上升時間墮落電子連接器，插座，電報會議或者相互聯繫系統的測試過程EIA-364-103 傳播延遲電子連接器，插座，電報會議或者相互聯繫系統的測試過程EIA-364 104A 可燃性電子連接的測試過程EIA-364-105A 高度低溫電子連接的測試過程EIA-364-106 駐波比率(SWR)電子連接的測試過程EIA-364-107 眼睛圖案和在電子連接器，插座，電報會議或者相互聯繫系統的測試過程感到緊張EIA-364-108 阻抗，反射系數，返回損失，並且VSWR在時間和頻率領土電子連接器，電報會議或者相互聯繫系統的測試過程測量EIA-364 1000.01 評價電子連接器的性能的環境考試方法學和插座在生意辦公室應用方面使用EIA-364-109 環電感測量電子連接(1 nH 10 nH)的測試過程EIA-364-110。
EIA-364 (连接器产品常用测试规范之目录)
Item Standard NO.Rev.Description1EIA-CB18Solid Tantalum Capacitor Shelf-Life固体的钽式电容器储存期限2EIA-364E ELECTRICAL CONNECTOR/SOCKET TEST PROCEDURES INCLUDING ENVIRONMENTAL CLASSIFICATIONS电子连接器/插座（包括环境类 ）的测试程序3EIA-364-01B Acceleration Test Procedure for Electrical Connectors电子连接器的加速测试程序4EIA-364-02C Air Leakage Test Procedure for Electrical Connectors空气渗漏电子连接器的测试程序5EIA-364-03B Altitude Immersion Test Procedure for Electrical Connectors高度浸入电子连接器的测试程序6EIA-364-05B Contact Insertion, Release and Removal Force Test Procedure for Electrical Connectors电子连接器的 端子插入、释放及取出 测试程序7EIA-364-06C Contact Resistance Test Procedure for Electrical Connectors电子连接器的接触电阻测试程序8EIA-364-07B Contact Axial Concentricity Test Procedure for Electrical Connectors电子连接器的端子同心度测试程序9EIA-364-08B Crimp Tensile Strength Test Procedure for Electrical Connectors电子连接器的卷曲抗拉强度测试程序10EIA-364-09C Durability Test Procedure for Electrical Connectors and Contacts端子连接器与端子的耐久性测试程序11EIA-364-10D Fluid Immersion Test Procedure for Electrical Connectors电子连接器的液体浸没测试程序12EIA-364-11B Resistance to Solvents Test Procedure for Electrical Connectors and Sockets电子连接器和插座的电阻测试程序13EIA-364-13D Mating and Unmating Forces Test Procedure for Electrical Connectors电子连接器的 插入力和拔出力 测试程序14EIA-364-14B Ozone Exposure Test Procedure for Electrical Connectors电子连接器的臭氧暴露测试程序15EIA-364-17B Temperature Life with or without Electrical Load Test Procedure for Electrical Connectors andSockets. 电子连接器和插座的温度寿命测试或没有电负载测试程序16EIA-364-18B Visual and Dimensional Inspection Test Procedure for Electrical Connectors and Sockets电子连接器和插座的外观与尺寸检验程序17EIA-364-20C Withstanding Voltage Test Procedure for Electrical Connectors, Sockets and Coaxial Contacts电子连接品、插座和同轴端子的耐电压测试程序18EIA-364-21C Insulation Resistance Test Procedure for Electrical Connectors, Sockets, and Coaxial Contacts电子连接品、插座和同轴端子的绝缘电阻测试程序19EIA-364-22B Simulated Life Test Procedure for Electrical Connectors电子连接器的模拟寿命测试程序20EIA-364-23C Low Level Contact Resistance Test Procedure for Electrical Connectors and Sockets电子连接器与插座的接触电阻测试程序21EIA-364-24B Maintenance Aging Test Procedure for Electrical Connectors电子连接器的维持能力测试程序22EIA-364-25C Probe Damage Test Procedure for Electrical Connectors电子连接器的探伤测试程序23EIA-364-26B Salt Spray Test Procedure for Electrical Connectors, Contacts and Sockets电子连接器、端子和插座的盐雾测试程序24EIA-364-27B Mechanical Shock (Specified Pulse) Test Procedure for Electrical Connectors电子连接器的机械震动(指定的脉搏)测试程序25EIA-364-28E Vibration Test Procedure for Electrical Connectors and Sockets电子连接器与插座的振动测试程序26EIA-364-29C Contact Retention Test Procedure for Electrical Connectors电子连接器的端子保持力测试程序27EIA-364-30A Capacitance Test Procedure for Electrical Connectors and Sockets电子连接器与插座的电容测试程序28EIA-364-31B Humidity Test Procedure for Electrical Connectors and Sockets电子连接器与插座的湿度测试程序29EIA-364-32D Thermal Shock (Temperature Cycling) Test Procedure for Electrical Connectors and Sockets电子连接器与插座的热冲击(温度周期变化)测试程序30EIA-364-35B Insert Retention Test Procedure for Electrical Connectors电子连接器的保持力测试程序31EIA-364-36B Determination of Gas-tight Characteristics test procedure for Electrical connectors and or contactsystems. 电子连接器和（或）端子系统的气密特性测试程序32EIA-364-37B Contact Engagement and Separation Force Test Procedure for Electrical Connectors电子连接器 端子结合力和分离力 测试程序33EIA-364-38B Cable Pull-Out Test Procedure for Electrical Connectors电子连接器的电材拉拔力测试程序34EIA-364-39B Hydrostatic Test Procedure for Electrical Connectors, Contacts and Sockets电子连接器、接触和插座的液压静力测试程序35EIA-364-40B Crush Test Procedure for Electrical Connectors电子连接器v压坏 测试程序36EIA-364-41C Cable Flexing Test Procedure for Electrical Connectors电报在电子连接的测试程序屈曲37EIA-364-42B Impact Test Procedure for Electrical Connectors电子连接器的机械冲压测试程序38EIA-364-45A Firewall Flame Test Procedure for Electrical Connectors电子连接器的阻燃火焰测试程序39EIA-364-46B MICROSECOND DISCONTINUITY TEST PROCEDURE FOR ELECTRICAL CONNECTORS,CONTACTS AND SOCKETS电子连接器、端子和插座的瞬断（微秒不间断）测试程序40EIA-364-48A Metallic Coating Thickness Measurement of Contacts Test Procedure for Electrical Connectors电子连接器 端子喷涂层厚底测试程序41EIA-364-50A Dust (Fine Sand)Test Procedure for Electrical Connectors电子连接器的粉尘（细沙）测试程序42EIA-364-53B Nitric Acid Vapor Test, Gold Finish Test Procedure for Electrical Connectors and Sockets电子连接器与插座的硝酸蒸汽测试、黄金制品测试程序43EIA-364-54A Magnetic Permeability Test Procedure for Electrical Connectors, Contacts, and Sockets电子连接器、端子和插座的导电率测试程序44EIA-364-56C Resistance to Soldering Heat Test Procedure for Electrical Connectors and Sockets电子连接器和插座的焊接热电阻测试程序45EIA-364-59A LOW TEMPERATURE TEST PROCEDURE FOR ELECTRICAL CONNECTORS AND SOCKETS电子连接器和插座的低温测试程序46EIA-364-66A EMI Shielding Effectiveness Test Procedure for Electrical Connectors电子连接器的电磁干扰屏蔽效应测试程序47EIA-364-70B TEMPERATURE RISE VERSUS CURRENT TEST PROCEDURE FOR ELECTRICAL CONNECTORS AND SOCKETS电子连接器与插座的温升与电流测试程序48EIA-364-71B Solder Wicking (Wave Solder Technique) Test Procedure for Electrical Connectors and Sockets电子连接器与插座的溢锡(波峰焊接技术)测试程序49EIA-364-75LIGHTNING STRIKE TEST PROCEDURE FOR ELECTRICAL CONNECTORS电子连接器的雷击测试程序50EIA-364-81A Combustion Characteristics Test Procedure for Electrical Connector Housings, Connector Assembliesand Sockets. 电子连接器塑料、组装成品与插座的燃烧特性测试程序51EIA-364-82A Corrosivity of Plastics Test Procedure for Electrical Connector and Socket Housings电子连接器与插座塑胶的塑胶腐蚀性测试程序52EIA-364-83Shell-to-Shell and Shell-to-Bulkhead Resistance Test Procedure for Electrical Connectors电子连接器的接地壳与接地壳及接地壳与主板 之电阻测试程序53EIA-364-89A Space Application Test Procedure for Electrical Connectors and Sockets电子连接器与插座的空间应用测试程序54EIA-364-90Crosstalk Ratio Test Procedures for Electrical Connectors, Sockets, Cable Assemblies orInterconnect Systems电子连接器、插座、线束或互联系统的串扰率测试程序55EIA-364-91A Dust Test Procedure for Electrical Connector and Sockets电子连接器与插座的粉尘测试程序56EIA-364-95Full Mating and Mating Stability Test Procedures for Electrical Connectors电子连接器的完整互配与互配稳定测试程序57EIA-364-99Gage Location and Retention Test Procedure for Electrical Connectors电子连接器的计量位置与保留测试程序58EIA-364-100Marking Permanence Test Procedure for Electrical Connectors and Sockets电子连接器与插座的永久性标识测试程序59EIA-364-101Attenuation Test Procedure for Electrical Connectors, Sockets, Cable Assemblies or InterconnectionSystems 电子连接器、插座、线束或互联系统的衰减测试程序60EIA-364-102Rise Time Degradation Test Procedure for Electrical Connectors, Sockets,Cable Assemblies orInterconnection Systems。
EIA-364-70
2.1一般條件
2.1.1電流率曲線的確定：連接器電流率受接触面、端子材料溫度性質的影響，同時也受絕綠材料１的影響。因此，電流率是電子連接器自身散熱和環境溫度下連接器操作使用的結果。
用不同電流對連接器測量點的平衡溫度（tb）和環境初始溫度（tu）進行測量。用2.2.3所給的方法進行測量時，獲得平衡溫度的測試點（tb）要盡可能地接近連接器的最熱部位，此最熱部位通常位於多pin型體的中心位置。tb和ty溫度之差就是電流導致的溫度升高。公式表達如下：
樣品將用被放置在圈內。最接近於圈底的樣品平面與圈底不少2英寸（5.1cm）；最接近於圈頂的樣品平面與圈頂不少6英寸（15.2cm）。樣品要與圈四周等距离放置。假如這些不能做到的話，要使用一個導熱≦2W/m.K的絕綠材料連接樣品表面，接触面不少於20%。
樣品將使用合適交差的電線連接。為了把外部熱量散發降至最低點，圈內的連接線至少留有10英寸（25.4cm）長。假如是多PIN連接器，連接器的所有端子要用相同尺寸的電線以相同的連接方法連接（預留10英寸）。除非另有說明，否則這些電線長應都為10英寸（25.4cm）。
1992年印刷
版權所有,U.S.A印制
測試方法TP-70
電子連接器電流和溫度升高的測試方法
1.0目的﹕
1.1此測試方法的目的是介紹一种標準測試方法以確定電子連接器負載規定電流時的電流率及溫度升高。
1.2此方法也許涉及到危險材質、操作和設備，但並不意味著要對安全問題或適用性要求做硬性規定。測試操作者在使用前要負責建立適當安全、健康的操作體系，並確定適應性標準。
EIA採納的推薦標準和出版物符合美國國家標準協會（ANSI）專利證書，在此過程中EIA對任何專利所有者不承擔責任﹐對任何使用該標準的機構也不承擔責任。
元器件抗气候氧化国际标准
元器件抗气候氧化国际标准
关于元器件抗气候氧化的国际标准，我了解的信息如下：
在电子元器件的可靠性试验中，气候老化试验是评估其性能和可靠性的重要手段之一。
其中，抗气候氧化标准是针对电子元器件在自然环境条件下的耐候性能进行测试和评估的标准。
在国际上，常用的抗气候氧化标准包括：
-STD-883: 美国军方标准，其中包括了在各种气候条件下的试验程序
和评估方法。
2.IEC 60068-2-52: 国际电工委员会发布的试验方法标准，针对电子元器件
的气候老化性能进行测试和评估。
3.GB/T 2423: 中国国家标准，其中包括了在各种气候条件下的试验程序和
评估方法。
这些标准对抗气候氧化的测试和评估有着不同的方法和要求，但都旨在评估电子元器件在自然环境条件下的耐候性能，以确保其在使用过程中的可靠性和性能稳定性。
需要注意的是，具体的抗气候氧化标准可能会因不同的应用场景和产品类型而有所不同。
如果您需要了解更多关于电子元器件抗气候氧化的国际标准信息，建议查阅相关的标准文档或咨询专业人士。
#EIA-364-09电子连接器的耐插拔测试方法
电子连接器的耐插拔测试方法公告EIA工程标准和出版物是为服务于公众利益而制定的,它是为了消除生产者和购买者之间的误解,促进产品的交流和提高,并帮助购买者在最短时间内挑选到他所需要的满意的产品﹒该标准的提出会促使EIA的成员在生产和销售产品时遵循该标准﹐而它也可以由国内外非EIA成员自愿使用。
对于推荐标准和出版物中采用的文章﹑材料﹑方法﹐EIA在选取时未考虑其专利内容,故在此过程中EIA对任何专利所有者不承担责任﹐对任何采用该标准的机构也不承担责任。
EIA标准根据国际标准制定﹐但是国际电工协会还没有提出EIA标准与IEC 标准的有效的对照。
该标准的提出不是意在安全问题或适用性做硬性规定﹒标准使用者的职责是在使用前建立起一个安全健康的实践体系和确定某些标准的适用性。
（摘自NO.2377建议标准，EIA P-5.1下属连接器委员会形成）电子工业协会（EIA）工程部出版2001年华盛顿D.C.20006，N.W.宾西法尼亚大道。
价格：请参照时价EIA，JEDEC标准，工程出版物或者称为全球工程文件，美国、加拿大（1-800-854-7179），国际（714-261-1455）1992年印刷版权所有,U.S.A印制电子工业协会测试方法#09B电子连接器耐插拔测试方法此EIA所推荐的标准是基于国际电子技术委员会(IEC)的技术内容;推荐512—5,测试9a,机械操作,1977.它符合此IEC推荐的所有必要方面.电子工业协会测试方法#09B电子连接器的耐插拔测试方法1.0TP—09A 耐插拔2.0目的﹕此测试程序的目的是介绍一种统一的测试方法，此方法模拟连接器的预期寿命来测试电子连接器周围环境对插拔造成的影响﹒带有量规的插拔只用来产生机械应力﹐而带有装配组件的耐力测试产生机械应力和磨损应力。
3.0仪器3.1参考文件要求的配合组件。
3.2夹片，夹钳或其它连接器夹持工具或测试量规通过半系统测试恰当结合使用可以自由滑动（假如连接器规格说明有要求）。