一种微波电场强度的测量方法及装置[发明专利]

专利名称：一种微波电场强度的测量方法及装置专利类型：发明专利
发明人：成永杰,靳刚,黄承祖,刘星汛,齐万泉
申请号：CN202010874926.9
申请日：20200827
公开号：CN112098737A
公开日：
20201218
专利内容由知识产权出版社提供
摘要：本发明提供一种微波电场强度的测量方法及装置，该测量方法将包括：将处于里德堡态的原子设于可感应本地微波电场和待测的信号微波电场的位置，然后利用探测器接收探测光照射所述原子后的设定频段或频率的检测信号，进而可以根据所述检测信号确定所述信号微波电场的强度，本发明的测量方法是基于量子超外差原理，原理清晰，易于实现与应用，利用里德堡原子作为微波敏感介质，实现对微波电场强度的高灵敏度测量，该方法不仅能显著提高对微波电场强度的测量灵敏度，而且实现了突破了现有的指标，将微波电场测量精度提高一个数量级的目的，从而为微波电场强度的精密测量研究提供新技术基础。

申请人：北京无线电计量测试研究所
地址：100854 北京市海淀区142信箱408分箱
国籍：CN
代理机构：北京正理专利代理有限公司
代理人：付生辉
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