重掺方面的资料

对于重掺、轻掺，分档应该是电阻率小于0.001为重掺，电阻率在0.01-0.001之间为轻掺。

PN结采用不同的掺杂工艺，通过扩散作用，将P型半导体与N型半导体制作在同一块半导体（通常是硅或锗）基片上,在它们的交界面就形成空间电荷区称PN结。

PN结具有单向导电性。

P是positive 的缩写，N是negative的缩写，表明正荷子与负荷子起作用的特点。

PN结（PN junction）一块单晶半导体中，一部分掺有受主杂质是P型半导体，另一部分掺有施主杂质是N型半导体时，P 型半导体和N型半导体的交界面附近的过渡区称为PN结。

PN结有同质结和异质结两种。

用同一种半导体材料制成的 PN 结叫同质结，由禁带宽度不同的两种半导体材料制成的PN结叫异质结。

制造PN结的方法有合金法、扩散法、离子注入法和外延生长法等。

制造异质结通常采用外延生长法。

P型半导体（P指positive，带正电的）：由单晶硅通过特殊工艺掺入少量的三价元素组成，会在半导体内部形成带正电的空穴；N型半导体（N指negtive，带负电的）：由单晶硅通过特殊工艺掺入少量的五价元素组成，会在半导体内部形成带负电的自由电子。

在 P 型半导体中有许多带正电荷的空穴和带负电荷的电离杂质。

在电场的作用下，空穴是可以移动的，而电离杂质（离子）是固定不动的。

N 型半导体中有许多可动的负电子和固定的正离子。

当P型和N型半导体接触时，在界面附近空穴从P型半导体向N型半导体扩散，电子从N型半导体向P型半导体扩散。

空穴和电子相遇而复合，载流子消失。

因此在界面附近的结区中有一段距离缺少载流子，却有分布在空间的带电的固定离子，称为空间电荷区。

P 型半导体一边的空间电荷是负离子，N 型半导体一边的空间电荷是正离子。

正负离子在界面附近产生电场，这电场阻止载流子进一步扩散，达到平衡。

在PN结上外加一电压，如果P型一边接正极，N型一边接负极，电流便从P型一边流向N型一边，空穴和电子都向界面运动，使空间电荷区变窄，电流可以顺利通过。

如果N型一边接外加电压的正极，P型一边接负极，则空穴和电子都向远离界面的方向运动，使空间电荷区变宽，电流不能流过。

这就是PN结的单向导电性。

PN结加反向电压时，空间电荷区变宽，区中电场增强。

反向电压增大到一定程度时，反向电流将突然增大。

如果外电路不能限制电流，则电流会大到将PN结烧毁。

反向电流突然增大时的电压称击穿电压。

基本的击穿机构有两种，即隧道击穿（也叫齐纳击穿）和雪崩击穿，前者击穿电压小于0.6V，有负的温度系数，后者击穿电压大于0.6V，有正的温度系数。

PN结加反向电压时，空间电荷区中的正负电荷构成一个电容性的器件。

它的电容量随外加电压改变。

根据PN结的材料、掺杂分布、几何结构和偏置条件的不同，利用其基本特性可以制造多种功能的晶体二极管。

如利用PN结单向导电性可以制作整流二极管、检波二极管和开关二极管，利用击穿特性制作稳压二极管和雪崩二极管；利用高掺杂PN结隧道效应制作隧道二极管；利用结电容随外电压变化效应制作变容二极管。

使半导体的光电效应与PN结相结合还可以制作多种光电器件。

如利用前向偏置异质结的载流子注入与复合可以制造半导体激光二极管与半导体发光二极管；利用光辐射对PN结反向电流的调制作用可以制成光电探测器；利用光生伏特效应可制成太阳电池。

此外，利用两个PN结之间的相互作用可以产生放大，振荡等多种电子功能。

PN 结是构成双极型晶体管和场效应晶体管的核心，是现代电子技术的基础。

在二级管中广泛应用。

PN结的平衡态,是指PN结内的温度均匀、稳定,没有外加电场、外加磁场、光照和辐射等外界因素的作用,宏观上达到稳定的平衡状态.PN结的工作原理PN结的形成在一块本征半导体的两侧通过扩散不同的杂质,分别形成N型半导体和P型半导体。

此时将在N型半导体和P型半导体的结合面上形成如下物理过程:因浓度差↓多子的扩散运动®由杂质离子形成空间电荷区↓空间电荷区形成内电场↓ ↓内电场促使少子漂移内电场阻止多子扩散最后，多子的扩散和少子的漂移达到动态平衡。

在P型半导体和N型半导体的结合面两侧，留下离子薄层，这个离子薄层形成的空间电荷区称为PN结。

PN结的内电场方向由N区指向P区。

在空间电荷区，由于缺少多子，所以也称耗尽层。

PN结形成的过程可参阅图01.06。

电阻率低于-2 的一般就称为重掺了，N型半导体掺杂元素有:P、AS 、Sb P型半导体掺杂元素有：B、AL、Ca、In重掺硅衬底材料中氧沉淀研究进展1 引言器件性能的提高，需要器件工艺的改善，另外还要有基础材料质量的保证。

材料的发展更能促进器件发展的飞跃，而材料的性能又取决于其内部结构。

半导体硅材料以丰富的资源、优质的特性、日臻完善的工艺以及广泛的用途等综合优势而成为当代电子工业中应用最多的半导体材料。

从50年代开始，氧在硅中的行为就已经得到广泛的研究。

人们已经知道氧在硅中是处于过饱和状态的，并且发现了氧对硅片的机械增强作用。

在60年代，人们一度认为硅中氧的行为已经得到了很好的理解，并且在60年代中期，外延晶体管工艺有了较大的发展。

由于管芯制作在外延层中，因此对衬底单晶中氧的研究没有引起人们的足够重视。

70年代中期，集成电路从中规模发展到大规模、超大规模，成品率下降。

起初人们只把注意力集中在器件工艺上，忽视了衬底影响。

而实际上，当集成电路发展到超大规模、线宽缩小到微米、亚微米级时，由衬底氧沉淀所诱生的缺陷向外延层延伸的影响已相当严重，单个缺陷就足以引起管芯短路，而导致电路失效。

Tan<1>在70年代末发现了氧沉淀的吸除效应，即一定密度的氧沉淀和其诱发二次缺陷具有内吸杂特性<2>，能有效地吸除硅单晶体内的点缺陷和器件工艺中引入的重金属杂质，降低对表面有源区的污染，从而获得高质量的表面洁净区(DZ)。

这就是半导体工业中广泛使用的内吸杂(IG)工艺。

从此，对于氧的研究已从单纯追求降低氧含量及其沉淀密度变为氧和氧沉淀的控制和利用。

近年来，先进VLSI-C MOS工艺使n／n+和p／p+外延片的优越性得到了充分体现。

研究表明，重掺衬底／外延层结构与IG技术的结合是解决α粒子引起的软失效和闩锁效应的最佳途径。

有鉴于此，重掺硅衬底材料引起了国内外研究者的广泛兴趣。

2 重掺硅中氧沉淀的形成氧是直拉硅(CZSi)单晶中最主要的非故意掺杂元素，其量级一般在1017～1018之间，以间隙氧形态存在于硅单晶中。

硅中的氧来源于拉晶过程中石英坩埚的熔解，石英坩埚与硅的反应如下Si+SiO2=2SiO大约有99％的氧以SiO形式蒸发掉，所以掺入晶体中的氧只是溶解氧量的很小部分。

由于氧是在高温(硅熔点1420℃)下结合进入晶体的，氧在硅熔点时的最大溶解度为3×1018cm-3。

随着温度的下降，其溶解度也下降，因而常温下氧处于过饱和状态。

氧沉淀就是由于氧被硅中平衡溶解度限制，过饱和间隙氧和硅基体、掺杂剂或缺陷作用，咯种形态在硅单晶体中沉淀下来而形成的。

实际上，氧沉淀是非常复杂的问题，影响因素很多，不仅涉及到氧初始浓度分布、存在形态，而且涉及到掺杂剂原子的浓度及分布，热处理的温度、时间等因素<3>。

近年来，重掺硅单晶中氧沉淀行为得到了许多研究者的广泛关注。

研究结果表明，重掺硅单晶中氧沉淀行为和轻掺杂硅单晶中氧沉淀行为有明显的差异。

3 热处理对氧沉淀的影响3.1 单步退火总体讲，在各温度单步退火时，随退火时间的延长，间隙氧含量逐渐降低，氧沉淀体积逐渐增大，氧沉淀密度逐渐增加。

在低温退火时，氧浓度变化很小，氧沉淀含量很少，这被归因于此时间隙氧的过饱和大，形核临界半径小，氧沉淀易于形核，且密度较大，但由于温度较低，氧的扩散较慢，激活能也小，所以氧沉淀核心极小，难以长大，甚至在电镜下也难以分辨，此时的退火又称形核温度退火<4>；中温退火时，氧沉淀量大增，此氧的扩散能力强，自间隙硅原子的迁移率高，氧沉淀核心极易长大，所以又被称为长大温度退火<5>；高温退火时，氧沉淀的量也较少，这被认为是由于退火温度很高，作为氧沉淀核心的空位群或自间隙原子团分解，大部分氧沉淀核心收缩，重新溶入基体中去，最终抑制了氧沉淀<6>。

单步退火实际上是对氧沉淀形态的确定，为衬底材料打下技术应用基础。

3．2 两步退火研究氧沉淀的形核长大过程，往往采用两步退火，它可分为低温-高温、高温-低温两种形式。

在低温退火时，沉淀易形核，沉淀密度大，但难以长大；在高温退火时，沉淀的形核速率小，但沉淀易长大，所以和单步退火相比，低温-高温两步退火是通过低温大密度形核，高温长大，促进了氧沉淀，也为氧沉淀形核长大的研究提供了方便。

3．3 多步退火多步退火是在两步退火的基础上发展起来的退火工艺，主要是模拟器件的制造工艺和设计最佳内吸杂工艺。

因为考虑的重点不一样，故多步退火的温度、时间及次序也各种各样，其中运用最多的是高温-低温-高温退火工艺。

4 氧沉淀的观测氧沉淀的研究主要借助于腐蚀显示技术和电子显微技术作为探测手段。

4．1 腐蚀显示技术腐蚀显示技术主要用来显示氧沉淀的宏观分布和表现形态。

由于氧沉淀及诱发的二次缺陷应力集中，能量较高，腐蚀速度较快，故可以根据腐蚀坑的情况来研究氧沉淀的宏观分布和形态。

一般根据需要，选择适当的择优腐蚀剂，对样品腐蚀后，在光学显微镜下观察。

这种方法设备简单、工作迅速方便，是一种广泛使用的常规检测方法。

如经内吸除处理的硅片，在腐蚀后的样品解理面上，可观察到硅片内部的腐蚀坑密度最大，接近硅片表面处腐蚀坑密度变小，在硅片表层的几十微米宽度内就无腐蚀坑了。

4．2 电子显微技术电子显微技术主要用来研究氧沉淀的微观结构，可定性地分析晶体中微沉淀的形态和成分。

透射电镜和高分辨电镜可以从原子量级的尺寸来研究氧沉淀的精细结构。

但是存在着制样困难、视域窄小等缺点，但是，至今还没有其他方法可以代替。

针对重掺硅的光致发光特性，可以从光学方面考虑检测氧沉淀，此方法还须进一步实验。

5 掺杂剂对重掺硅单晶中氧沉淀的影响掺杂剂对氧沉淀是否产生影响，直接影响着器件的质量。

研究结果表明重掺硅单晶中氧沉淀行为与轻掺硅单晶氧沉淀行为有明显大的差异。

实验得到在硅单晶中各种杂质掺入量极限(表1)。

5．1 重掺B硅单晶中的氧沉淀重掺B硅单晶中氧沉淀比轻掺硅单晶的密度大，片状沉淀的生长速率较轻掺杂样品小<7>，TEM对重掺B硅单晶中氧沉淀形貌进行研究表明<8>，750℃退火样品中观察到针状沉淀，900℃退火样品中观察到片状沉淀，1100℃退火样品中观察到多面体结构。

Wiiaranakula<9>研究结果表明，针状沉淀具有同轻掺样品相同的{100}惯性面，而盘状沉淀具有{110}和{111}两种惯性面，同轻掺杂不同的是在盘状沉淀附近发现复杂位错环。