热氧化温度对Cr和N共掺ZnO薄膜结构及性能的影响

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K a t a y a m a [ “ 进一步 提出利 用过渡金属和非釜) 素共 掺可使受
主能级与施主能级的排斥作用降低 , 即过渡金属与非金属元素共 掺杂也将成为一种有效改善掺杂Z n O 体 系的光 电、 光磁 陛质的方
法[ 1 2 。 I
8 I \
60 0" C
2 e ( d e g r e e )
图 1 不 同热氧 化温度获得 的Z n O: ( C r 。 N ) 薄膜 X R D谱 表1 Z n O: ( c r 。 N ) 薄膜样品的晶格常数 C
为2 0 0℃; 预溅射 1 0 mi n 清除靶材表面杂质 , 溅射时间为4 5 mi n, 溅射过程 完成后 , 样 品在纯O , 气氛 中热氧化4 5 mi n, 热氧 化温度 为4 0 0℃, 5 0 0℃, 6 0 0℃, 最后得到不 同热氧化温度的Z n O: ( C r ,
一 ~ —
该文采用热氧化Z n N, : C r 薄膜制备Z n O: ( c 7 , N) , 并研 究了 I J 热氧化温 度对薄膜的结构 、 光学带 隙及 磁学性能的影 响。

J L
i.


t . Biblioteka 5 o o o c 1 实验
Z n N, : c r 薄膜 采用J D Z 0 4 5 C B 0 1 型磁控溅射与电阻炉联合系
表2 Z n O: ( O r 。 N ) 薄膜样 品的晶粒 尺寸Dk z
N) 薄膜 。

T / C
l 4 0 0
I 5 0 0
I 6 0 0
利 用X 射线衍射仪( X R D )  ̄ I J 场发射扫描 电镜( S E M) 分 别对薄
膜样品的 晶体结 构和表面形貌进行分析 ; 使用双光束紫外/ 可见
等人通过 电子结构计算预测过渡金属原子( F e 、 C o 、 Ni 、 C r 、 Mn ) 掺 杂Z n O 可形成 稀磁半导体[ 5 ] , 随后人们对C u, F e , C o , Ni 等过渡

( DMS ) 被 认 为是 理 想 的稀磁 半 导体 材料 [ 9 , 1 o 而 Ya ma mo t o  ̄ 1 ]


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统在石英 玻璃衬底 上沉积获得 , 溅射靶 材为直径为6 0 mm的Z n
( 纯 度9 9 . 9 9 %)  ̄I C r ( 纯度9 9 . 9 9 %) , 分另 采用射频 溅射和 直流溅 射; 衬底 分别用无水乙醇和去离子水超声清洗1 0 mi n, 然 后用高
Q:
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学 术 论 坛
DO I : 1 0 . 1 6 6 6 1 / j . c n k i . 1 6 7 2 -3 7 9 1 . 2 0 1 5 . 3 2 . 2 4 1
SCI EN CE & TECH NOLOGY l NFORMATI ON
Z n O是一种六 角结构 的直接带 隙宽禁带半导体材料 , 在室温 下具 有较 大的禁带 宽度( 约3 . 3 7 e V) ¥ n 较高 的激 子束缚能 ( 约6 0
me V ) , 并具 有 良好的压电、 光 电和光敏特性 , 因此 , 在半导体发光 器件及光 电传感器等领 域具 有潜 在的应 用价值[ 1 - 4 ] o 近 几年 , S a t o

1 5 0 0 2 5 )
要: 首先利用共溅射方法在石英玻璃村底上生长z n 。 N 。 : C r 薄膜 , 然后 用热氧化 方法制备 了C r 和N 共掺Z n O 薄膜 , 研 究 了不 同
热氧化 温度对薄膜的结构, 光学带 隙及磁 学性 能的影响 , X R D 结果表明, 薄膜样 品具有纤辞矿结构, 且 沿C 轴择 优生长, 随着热氧 化温度的增加, 样品的晶格 常数c ) L 乎没有改变, 而晶拉尺寸先增大后减小 。 样品的吸收光谱表 明温度的升高使薄膜样品的吸收 边发生蓝移 , 即薄膜样 品带隙值增 大, 磁性测试表 明5 0 0℃热氧化温度获得的薄膜样品 室温铁磁性最强。 关键词 : 热氧化 Z n O ( C r , N ) 薄膜 带隙 室温铁磁性
D  ̄ , / i r m
I 2 8 . 6 2 8
l 2 9 . 2 6 3
I 2 8 : 7 1 9
①基金项 目: 黑龙江省 自 然基金( F 2 0 l 2 0 2 ) ; 黑龙江省教育厅骨干教师项 N ( 1 2 5 G 0 3 1 ) ; 黑龙江省研究生创新科研资金项目( N o . YJ S C
纯N , 吹干 ; 溅射前溅射 室本底真空 度优 于3 X 1 0 ~P a ; Z n 靶 的溅
∞ 驼 3 - .
射功率为7 0 W ̄ I ] C r 靶的溅射功 率为 1 2 w; 溅射时工作气体是由
1 0 s e e m的Ar  ̄ 1 ] 4 0 s c c m的N 组成, 工作气压 为3 . 0 P a ; 衬 底温度
热氧 化 温度对 O r 和 N共掺 Z n O薄膜结构 及 性 能 的影 响 ①
孙可 心 1 , 2 , 3 金哲明 。 杨芳淼 ・ 。 谭 明月 1 , 2 ; 3 姚 成宝 ・ 。 孙文军 1 . 2 - 。 ( 1 . 光电带隙材料教育部重点实验室 ; 2 . 黑龙江省先进功能材料 与激发态 重点实验 室 ; 3 . 哈尔滨师范大学 黑龙江哈尔滨
中图分类号 : 0 4 7 4
文献标识码 : A
文章编号 : l 6 7 2 — 3 7 9 l ( 2 0 l 5 ) l 1 ( b ) 一 0 2 4 卜0 3 金属掺杂氧化锌材 料的制备 、 结构和性能进行 了大量 的研 究『 7 . 8 】 。
由于 过渡 金属掺 杂Z n O显示 出室温铁磁性 , Z n O 基 稀磁 半导体
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