Shashlyk电磁量能器反光层性能研究

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基金项 目: 国家 自然科学 基金 ( 1 1 4 7 5 1 0 6 ) 资助。
作者简介 : 李昂( 1 9 9 5一) , 男, 山东滕 州人 , 本科 生 ,
为确定 P M T的增 益 , 首先测量 P M T的单
光电子谱 。图2为一只 P M T在 1 5 0 0 V电压下 的单光 电子谱测量结果 , 左侧 的峰仅截取 了一
8 7 3
物理专业。通信作者 : 焦健斌 , 男, 副教 授 , E— m a i l :
j i a o j b @s d u . e d u . 1 c n o
l f e e t o r一 兰
s c i n t i l l a t o r
二 三 兰: : 兰兰兰兰三
当宇宙 线 子 同时 穿 过 顶 部 触 发 闪 烁 体 和底 部触 发 闪烁 体 , 两 个 触 发 闪烁体 的信号 通 过低 阈甄 别 器 后 进 入符 合 逻 辑 单元 , 产 生 门信 号, Q D C接收 到 门信 号 后 开始 采 集待 测 闪烁体 的信号 。为使 待测 闪烁 体 的信号 能落人 门信号 内, 各路待 测 闪烁体 输 出信 号都 进行 了延时 。
S h a s h l y k电磁 量 能器 反 光 层 性 能 研 究
李昂 , 冯 思远 , 张忠泉 , 焦健斌
( 1 . 山东大学 , 济南 2 5 0 1 0 0 ; 2 . 山东师范大学 附属 中学 , 济南 2 5 0 0 1 4 )
摘要 : S h a s h l y k电磁量能器采用 薄片型 闪烁体 , 包裹 闪烁 体的反 光层 材料对 其 光学性 能有 重要影 响。本工作搭建 了一套宇宙线 子测试系统 , 测量不 同反光层材 料对 闪烁 体光学性 能 的影 响。测量结 果表 明 , 反光层 材料 的反 射率是影响 闪烁体光收集效率的主要 因素 。 关键词 : S h a s h l y k , 电磁量 能器 , 闪烁体 , 反光层 , 宇宙线 子
实验中考虑了 4种反光层材料 方案 , 方案 不放任何反光层材料 , 闪烁体直接与铅板接
触, 铅片表面为灰色 ; 方案二的反光层采用普通 打印纸 , 该种材料表面为漫反射 ; 方案三使用杜 邦公司生产的 T y v e k 膜, 该材料表面 以漫反射 为主, 反射率可高达 9 5 %; 方案 四使用铝膜 , 铝 膜表面主要是镜面反射 , 反射率约为 8 0 %【 5 】 。
第3 6卷
2 0 1 6年
第8 期
8月
核 电子学与 探测 技术
Nu c l e a r E l e c t r o n i c s& De t e c t i o n T e c h n o l o g y
V0 1 . 3 6 No . 8 Au g . 2 0 1 6

实验采用 S h a s h l y k电磁量能器 , 其 闪烁体为边 长l 2 . 6 c m 、 厚1 . 5 m m的正六边形塑料闪烁体 薄片, 闪烁体片两侧加反光层 以提高光收集效 率。根据该闪烁体几何形状 , 搭建了一套基 于 宇宙线 子的测试系统 , 研究不同反光层材料 对闪烁体薄片光收集效率的影响。
C R 2 8 4型光电倍增管 ( P M T ) , 分压器使用锥形
分压电路 , P M T 外缠绕一层绝缘材料 , 再裹一层磁屏蔽膜。 P M T性能指标通过 山东 大学多功能 P M T自动 测试平 台 进行标定。
加工, 其光产额约为蒽晶体 的 6 0 %。测量过程
收稿 日期 : 2 0 1 6— 0 7— 2 9
Qt ) C
图 1 闪 烁 体 测试 单 兀 结 构 剖 面 图 , P M T
与闪烁体侧边通过空气直接耦 合。
部分, 是电子学的台阶值 , 右侧 的峰为 P M T单 光 电子 峰 。对 测量 结 果 进 行 高 斯 拟 合 , 其 中 电
子学 台阶拟合值 为 V =6 5 2 . 8 c h , 单光 电子 峰
值为 V s P E = 6 8 9 . 0 c h 。电量数字转换器( Q D C ) 的L S B( 每道 电荷 量 ) 标定为0 . 0 2 9 p C / c h , 可
得P M T的增 益 G为 :
G =[ (
一 )×L S B] / 1 . 6×1 0 ( 1 )
中图分类号 : O 5 7- 0 9 3 4 ( 2 0 1 6 ) 8 08 - 7 3 - 0 4
S h a s h l y k电磁量能器 由塑料 闪烁体薄 片、 反光层和铅片逐层堆叠而成 , 并 由贯穿其中的 波长位移光纤把闪烁光导出L l - z 3 。波长位移光 纤收集闪烁体发出的光子 , 其收集效率与闪烁 体的几何形状和包裹闪烁体所用的反光层材料 相关 ’ ] 。
美 国杰弗 森 国家实 验 室 计 划 建造 的 S O L I D
中P M T ( 光 电倍增管 ) 与闪烁体 的窄边侧面直
接耦合 , 不使用波长位移光纤 。 1 . 1 闪烁 体反 光层 设计 实验中把 3片闪烁体叠在一起测量 , 叠放 方式如图 1 所示 , 模仿 S h a s h l y k型量能器 的结 构, 闪烁体两侧分别加反光层 , 每层闪烁体之间 放一片O . 5 m m厚的铅片 , 通过外力压实 , 使各 层之间紧密结合。
1 . 2 光 电倍 增管标 定
1 测 量 方 法
实验使用的闪烁体是 由北京高能科迪科技
有 限公 司按照 S O L I D实 验 的要 求 定 制 , 使 用 磨 具 通过 挤 塑 工艺 生产 , 表 面 和小 孔 未 进行 机 械
实 验采 用 北 京 滨 松 光 子 技 术 有 限 公 司 产
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