用正偏二次击穿测量法验证大功率器件的可靠性
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用正偏二次击穿测量法验证大功率器件的可靠性
陈克明
【期刊名称】《半导体技术》
【年(卷),期】1999(24)5
【摘要】介绍了一些比较简单的提高大功率器件可靠性的老化、筛选措施。
【总页数】5页(P38-42)
【关键词】可靠性;二次击穿;老化;筛选;功率器件;晶体管
【作者】陈克明
【作者单位】电力总公司扬州电讯仪器厂
【正文语种】中文
【中图分类】TN323.4;TN306
【相关文献】
1.用测量正偏二次击穿参数筛选大功率器件 [J], 陈克明
2.用测量正偏二次击穿参数的方法来验证大功率器件的可靠性 [J], 陈克明
3.用测量正偏二次击穿参数的方法来验证大功率器件的可靠性 [J], 陈克明
4.用测量正偏二次击穿参数的方法来验证大功率器件的可靠性 [J], 陈克明
5.功率管正偏二次击穿筛选的注意事项 [J], 蒋济昌
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