X荧光测定全Fe的不确定度

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X射线荧光光谱法测定贵金属含量的不确定度评定

2020年 2月上世界有色金属157化学化工C hemical EngineeringX 射线荧光光谱法测定贵金属含量的不确定度评定彭小悦1，2，代泳波1，2，张文怡1，2，徐杰明1，2（１．常德市产商品质量监督检验所，湖南　常德　４１５２００；２．湖南省珠宝玉石饰品产品质量监督检验中心，湖南　常德　４１５２００）摘要：依据ＧＢ／Ｔ１８０４３－２０１３对金项链含金量进行测定，考虑标准物质、测量重复性、样品均匀性、标准曲线线性等因素对Ｘ射线荧光光谱法测定贵金属含量的不确定度进行评定，结果表明测量重复性所产生的不确定度所占分量最大。

本文采用的评定方法，能够广泛运用到贵金属含量检测。

关键词：Ｘ射线荧光光谱仪；贵金属；不确定度评定中图分类号：ＴＳ９３４．３文献标识码：Ａ文章编号：１００２－５０６５（２０２０）０３－０１５７－２Evaluation of Uncertainty in Determination of Noble Metal Content by X-ray Fluorescence SpectrometryPENG Xiao-yue 1,2, DAI Yong-bo 1,2, ZHANG Wen-yi 1,2, XU Jie-ming 1,2（１．Ｃｈａｎｇｄｅ　Ｃｉｔｙ　Ｐｒｏｄｕｃｔ　Ｑｕａｌｉｔｙ　Ｓｕｐｅｒｖｉｓｉｏｎ　ａｎｄ　Ｉｎｓｐｅｃｔｉｏｎ　Ｉｎｓｔｉｔｕｔｅ，　Ｃｈａｎｇｄｅ　４１５２００，　Ｃｈｉｎａ；２．Ｈｕｎａｎ　Ｐｒｏｖｉｎｃｉａｌ　Ｑｕａｌｉｔｙ　Ｓｕｐｅｒｖｉｓｉｏｎ　ａｎｄ　Ｉｎｓｐｅｃｔｉｏｎ　Ｃｅｎｔｅｒ　ｆｏｒ　Ｊｅｗｅｌｒｙ，　Ｊａｄｅ，　ａｎｄ　Ｏｒｎａｍｅｎｔ　Ｐｒｏｄｕｃｔｓ，　Ｃｈａｎｇｄｅ　４１５２００，　Ｃｈｉｎａ）Abstract:　Ｔｈｅ　ｇｏｌｄ　ｃｏｎｔｅｎｔ　ｏｆ　ｇｏｌｄ　ｎｅｃｋｌａｃｅｓ　ｗａｓ　ｄｅｔｅｒｍｉｎｅｄ　ａｃｃｏｒｄｉｎｇ　ｔｏ　ＧＢ　／　Ｔ１８０４３－２０１３，　ａｎｄ　ｔｈｅ　ｕｎｃｅｒｔａｉｎｔｙ　ｏｆ　ｔｈｅ　ｄｅｔｅｒｍｉｎａｔｉｏｎ　ｏｆ　ｐｒｅｃｉｏｕｓ　ｍｅｔａｌ　ｃｏｎｔｅｎｔ　ｂｙ　Ｘ－ｒａｙ　ｆｌｕｏｒｅｓｃｅｎｃｅ　ｓｐｅｃｔｒｏｍｅｔｒｙ　ｗａｓ　ｅｖａｌｕａｔｅｄ　ｉｎ　ｃｏｎｓｉｄｅｒａｔｉｏｎ　ｏｆ　ｓｔａｎｄａｒｄ　ｍａｔｅｒｉａｌｓ，　ｍｅａｓｕｒｅｍｅｎｔ　ｒｅｐｅａｔａｂｉｌｉｔｙ，　ｓａｍｐｌｅ　ｕｎｉｆｏｒｍｉｔｙ，　ａｎｄ　ｓｔａｎｄａｒｄ　ｃｕｒｖｅ　ｌｉｎｅａｒｉｔｙ．　Ｕｎｃｅｒｔａｉｎｔｙ　ｄｕｅ　ｔｏ　ｍｅａｓｕｒｅｍｅｎｔ　ｒｅｐｅａｔａｂｉｌｉｔｙ　ｈａｓ　ｔｈｅ　ｌａｒｇｅｓｔ　ｃｏｍｐｏｎｅｎｔ．　Ｔｈｅ　ａｓｓｅｓｓｍｅｎｔ　ｍｅｔｈｏｄ　ｕｓｅｄ　ｉｎ　ｔｈｉｓ　ｐａｐｅｒ　ｃａｎ　ｂｅ　ｗｉｄｅｌｙ　ｕｓｅｄ　ｆｏｒ　ｔｈｅ　ｄｅｔｅｃｔｉｏｎ　ｏｆ　ｐｒｅｃｉｏｕｓ　ｍｅｔａｌ　ｃｏｎｔｅｎｔ．Keywords: Ｘ－ｒａｙ　ｆｌｕｏｒｅｓｃｅｎｃｅ　ｓｐｅｃｔｒｏｍｅｔｅｒ；　ｐｒｅｃｉｏｕｓ　ｍｅｔａｌ；　ｕｎｃｅｒｔａｉｎｔｙ　ｅｖａｌｕａｔｉｏｎ在经济不断发展的当今社会，人们的生活方式和生活追求发生着翻天覆地的变化，越来越多的人开始关注奢侈品，珠宝玉石这个行业正在不断地飞快的崛起。

X射线荧光光谱法快速测定FeSiB非晶合金薄带中硅、硼、铁

X射线荧光光谱法快速测定FeSiB非晶合金薄带中硅、硼、铁王瑶;李艳萍;冯圣雅;李健靓【摘要】提出了以自制的标准样品,采用单点法绘制校准曲线,利用X射线荧光光谱仪测定FeSiB非晶薄带样品中硅、硼和铁的含量.对于4个FeSiB非晶合金薄带样品中硅、硼和铁进行了10次测定,其分析结果的相对标准偏差分别为0.4％～0.5％、1.3％～4.2％和0.2％～0.4％.方法的分析结果与火花源原子发射光谱法、化学重量法和电感耦合等离子体原子发射光谱(ICP-AES)法的测定值吻合较好.方法快速、简便,薄带样品无需制样,适用于FeSiB非晶合金薄带的快速成分分析.【期刊名称】《中国无机分析化学》【年(卷),期】2015(005)004【总页数】4页(P56-59)【关键词】X射线荧光光谱法(XRF);FeSiB非晶合金薄带;FeSiB合金;单点法【作者】王瑶;李艳萍;冯圣雅;李健靓【作者单位】安泰科技股份有限公司,北京100081;安泰科技股份有限公司,北京100081;安泰科技股份有限公司,北京100081;安泰科技股份有限公司,北京100081【正文语种】中文【中图分类】O657.34;TH744.15喷制FeSiB非晶合金薄带是FeSiB非晶合金生产过程的最后一道工序。

为了保证FeSiB非晶合金带材的质量和性能，快速准确地测定FeSiB非晶合金薄带中硅、硼和铁的含量具有重要意义。

采用化学分析法（CAM）和电感耦合等离子体发射光谱法（ICP-AES）测定FeSiB非晶合金薄带中硅、硼和铁的含量，分析过程繁杂，分析时间太长，不能满足快速、简便的要求。

火花源原子发射光谱法（SSAES）配合FeSiB非晶合金的冶炼工艺过程，已被用于快速、准确地分析熔融的FeSiB合金中各种合金元素成分的含量。

然而，因为FeSiB非晶合金薄带的厚度仅几十微米，采用火花源原子发射光谱法在火花激发过程中会击穿FeSiB非晶合金薄带，从而使分析工作无法正常进行。

X射线荧光光谱法测定工业硅样品中Fe的不确定度评定

ｎｌｌａｙｃｌｃａｕｌａｔｅｄ，ａｎｄｔｈｅｕｎｃｅｒｔａｉｎｔｙｅｖｌｕａａｔｉｏｎｒｅｐｏｔｒｏｆｔｈｅＦｅｃｏｎｔｅｎｔｄｅｔｅｍｉｒｎａｔｉｏｎａｎｌｙａｓｉｓｒｅｓｕｌｔｆｏｒｉｎｄｕｓｔｉｒａｌｓｉｌｉｃｏｎｂｙｔｈｉｓｍｅｔｈｏｄｓｉｓ
２０１３年ｌＯ月 பைடு நூலகம்
云南冶金
ＹＵＮＮＡＮＭＥＴＡＬＬＵＲＧＹ
０ｃｔ．２０１３
第４２卷第５期（总第２４２期）
Ｖｏ１．４２．Ｎｏ．５（Ｓｕｍ２４２）
ｘ射线荧光光谱法测定工业硅样品中Ｆｅ的不确定度评定
ＧＵＳｏｎｇ。
，
ＹＡＮＧＨａｉ —ａｎ。
，
ＬＩＵＹｉｎｇ—ｂｏ，ＬＵＯＳｕｎ，
（１．ＫｕｎｍｉｎｇＭｅｔａｌｌｕｒｇｉｃａｌＲｅｓｅａｒｃｈＩｎｓｔｉｔｕｔｅ，Ｋｕｎｍｉｎｇ，Ｙｕｎｎａｎ６５００３１，Ｃｈｉｎａ；
依次对分析重复性、标准物质、分析曲线回归、天平称量等方面引起的不确定度分量作出了评定，最后计算了合成标准不确定度以及扩展不确定度，并给出使用该方法检测工业硅中Ｆｅ含量所得分析结果的不确定度评定报告。

RoHS检测用X荧光光谱仪测量结果不确定度的评定

RoHS 检测用X 荧光光谱仪测量结果的不确定度评定一、概述1.测量条件环境温度：15℃~30℃；相对湿度：≤70%。

2.测量对象EDX8600X 荧光光谱仪（EDXRF ）。

3.测量标准一套RoHS 检测X 荧光分析用ABS 中镉、铬、汞、铅成分分析标准物质（ERM-EC681k ）。

4.测量方法在规定的环境条件下，仪器预热且经自带的校准片校准后，再利用上述一套ABS 标物连续测量被检仪器6次，根据各元素的测量平均值与标准值可求得XRF 光谱仪的相对示值误差。

二．数学模式△X Xs —— = 1 — ——⎺X ⎺X 式中：ΔX/⎺X ———相对示值误差，%； ⎺X ———元素的测量平均值，mg/kg ； Xs ———元素的标准值，mg/kg 。

三、标准不确定度评定1.A 类不确定度评定A 类不确定度主要是由测量重复性引入的，本文以合并样本标准（偏）差的方式进行评定，记为urel1。

选取一台性能稳定的RoHS 检测用X 荧光光谱仪，以ERM-EC681k 标准片为例连续测量6次，所得结果如表1、表2、表3所示。

计算公式如下：()10.25)(612=-=∑=i i X X X s合并样本标准（偏）差s p1=njRSDni ∑=12=u rel1表1 ERM-EC681k 747型标物的测量结果元素Cd Pb Hg Cr Br测量值(mg/kg) 140.1 109.7 28.8 97.9 780.4 137.5 110.5 20.4 90.5 779.8 134.9 101.4 25.1 101.7 777.6 135 102.9 29.8 93.4 788.3 129.8 120 27.6 99.1 785.5 141.5 114.5 25.3 93 783.2平均值(mg/kg) 136.47 109.83 26.17 95.93 782.47 真实值(mg/kg) 137 98 23.7 100 770 实验标准差(mg/kg) 4.21 7.00 3.39 4.28 3.97 相对实验标准差（%） 3.09 6.37 12.94 4.46 0.51表2 ERM-EC681k 型标物的测量结果元素Cd Pb Hg Cr Br测量值(mg/kg) 142.4 105 21.8 94.8 772.8 142.3 109.7 25.1 88 762.4 134.6 96.8 25.9 98.4 773.4 150.5 101.7 20.7 98.2 768.9 148.8 112.4 24.3 92.2 767.8 145.8 104.9 19.8 95.4 770.9平均值(mg/kg) 144.07 105.08 22.93 94.50 769.37 真实值(mg/kg) 137 98 23.7 100 770 实验标准差(mg/kg) 5.70 5.57 2.51 3.93 4.04 相对实验标准差（%） 3.95 5.30 10.94 4.16 0.53表3 ABS系列标物中各元素测量重复性引入的RSDj及urel2（%）元素编号Cd Pb Hg Cr Br1 3.09 6.37 12.94 4.46 0.512 3.95 5.3 10.94 4.16 0.53Urel1=sp1 3.55 5.86 11.98 4.31 0.522.B类不确定度评定B类不确定度主要是由ABS标物中各元素的定值不确定度引入的，可由合并样本标准（偏）差的方式进行评定，记为urel2。

X射线荧光光谱法测定成灰中Fe的含量2

表
5
分析结果对照
on of anaIytkaI resuIts
TabIe5 Compar抬
样品名称
化学法 (v/%)
荧光 (勿 /%)
standard name
Chem忆 al
method
32.91
(分段曲线〉
XRF
32.56
偏差
Dev1at1° n
荧耋亡首
:
:∶
32.08
第 30卷增 ⒛ 10年 9月
冶
金
分
析
Vol。
30,supplement
Metallurgical Analysis
september,2010 表
于后 )和
1.0000g硝酸锂 ,置于铂金和金坩埚中
4
通道
混匀 ,滴加
5~6滴饱和溴化锂溶液。将铂金坩埚
1150℃ 下熔融 ⒛ mh,制成玻
T,Fe())50)
熔融与制片过程与标准样品相同。
表
3
标准样品含盘范围
TabIe3
标样名称
Content range oF standard sample
标样种类
1.4.2 背景
不同元素根据各自的扫描结果分别扣除背景 ,TFe的不同通道可以选择一个共同背景。
宽范围元素含量的样品进行测定 ,使用 X射线荧
-ˉ
349 -—
பைடு நூலகம்
,
1.4
因此在分析结果中会显示出不同的数据。 TFe 曲线校准如果不同范围的化合物与通道之间不能一一结果的选取首先要根据数值 ,确定范围 ,再读取与之相对应的范围曲线的测定结果。

X-射线荧光光谱法测定硅铁合金中硅不确定度的评定111

X-射线荧光光谱法测定硅铁合金中硅的测量不确定度评定鲍希波石毓霞(邯钢技术中心，邯郸056015)摘要：针对X-射线荧光光谱法(XRF)测定硅铁合金中Si的测量不确定度来源进行了详细的分析，对XRF法测定硅铁合金中Si的结果的测量不确定度进行了仔细的评定，最终给出了扩展不确定度。

关键词：X射线荧光光谱法；测量不确定度；硅铁合金理化检验工作中，制约分析测试结果准确度的因素主要包括检测方法、标准物质、仪器设备、试剂、操作者水平等，多年来分析检验工作者们对这些因素的作用机理以及如何有效消除或降低影响的研究从没间断过，并获得了有益的结果。

多种制约因素的客观存在使分析测试工作永远不能穷尽测量值与真值之间的差异，因此产生误差这一概念用来表达测量结果的可靠程度，误差愈大，可靠性愈低，反之亦然。

随着近年来对分析结果制约因素的深入研究，误差已不能准确客观表达测量工作的受阻和制约情形，于是一个新的概念"不确定度(Uncertainty)"被提出来了，不确定度这一概念对于我们许多分析检验人员来说还是比较陌生的，但又是我们必须尽快熟悉的，在今后的工作中，不确定度将会越来越多的出现，而误差的概念将逐渐被谈忘。

JJF1059-1999给出了测量不确定度定义是“表征合理地赋予被测量之值的分散性，与测量结果相联系的参数”。

不确定度越小，则测量结果的可疑程度越小，可信程度越大，测量结果的质量越高，水平越高，其使用价值越高，反之亦然。

测量不确定度根据评定方法的不同区分为A类标准不确定度和B类标准不确定度。

前者是用对观测列的统计得出的不确定度，后者是不同于观测列的统计得出的不确定度，即根据许多已知信息来评定的标准不确定度。

各因素引起的输入量的不确定度分量(包括A类和B类)评定以后，根据不确定度传播定律，对各分量进行合成，从而得到合成标准不确定度，再按所确定的置信概率将合成标准不确定度乘上包含因子，从而得到扩展不确定度，有时也称为展伸不确定度或范围不确定度或总不确定度。

X射线荧光光谱法测定钒钛磁铁矿中铁等14种元素的分析方法不确定度评定

Ｂｔｄｉｇａｄｔｅｉｅｐｏｅｓｏｘｒｃｉｇａｄａｏｔｇｍｉｒ－ｓｉｅｘａｄｎｃｎｉｒｖｅｅ￣ｃｏｏｈａｄｎｄｉｖｎｔｒｃｓｆｅｔａｔｎｄｐｎｃｏ—ａｓｔｄｅｔｃｏａｉｈｎｉｓｒｍｐｏｅｔｘａｔｎｈｉ
钙、、、、、、、、、、、等ｌ镁铝铬钒硅硫磷锰铜钴镍４种元
素含量的结果不确定度进行了分析和评定。
５ｉ，还原物质充分氧化，护铂金坩埚免受腐ｍｎ使保
蚀，然后升温到１５￣熔融，００（：摇动１ｍｎ０ｉ。熔融均匀
第６期
２１００年１２月
ＭｕｌｉｒｓｉｉａｉｉｒｌＲｅｏｒｃｓｔｐｕｐｏｅＵｔｌｚｔｏｎｏｆＭｎｅａｓｕｅ
矿产综合利用
Ｎｏ６．Ｄｅ．２０１ｃ０
番｝冷｝球｝｝｝｝｝蕊｝｝冀｛｝｝
来，地矿部门常在标准物质的研制时引人不确定度。近年来，对分析不确定度的评定已经越来越重视。根据１９９５年公布的《量不确定度表示指南》测
（Ｕ国际标准，国国家质量技术监督局已于ＧＭ）中
｛ ÷｝ “｛｝
ｘ射线荧光光谱法测定钒钛磁铁矿中铁等
１元素的分析方法不确定度评定４种
仵利萍，雷勇，刘卫
（中国地质科学院矿产综合利用研究所，四川成都６０４）１０１

x荧光分析仪校验规程

X荧光分析仪校验规程
1、目的
保障X荧光分析仪正常使用，保证测量数据准确可靠。

2、范围
适用X荧光分析仪的标定和校验。

3、标定器具
3.1分析天平(万分之一)
2.2配位滴定相关用具及试剂。

3.3自制生料、熟料和水泥及其他原料标样及相关用具。

4、技术要求
测量误差范围：
SiO2±0.2％,Al2O3±0.2％,Fe2O3±0.15％,CaO±0.25％,SO3±0.15％
5、程序
5.1自制标样：以生产样为基样，各配制10个标准样品。

5.2标样含量范围：CaO35.0-48%；Fe2O30.5-4.0%；Al2O30.5-4.0%；SiO27.5-17.0%；MgO0.1-3.0%；SO30.1-4.0%。

5.3按作业指导书标定仪器。

6、规则
标定符合4技术条件规定后仪器可正常使用，如达不到，应重新标定或调整，必须达到后才能使用。

7、使用校验
仪器稳定性，准确性的校验：每班由荧光分析员检验一次已定值的管理样品（剩余基样），以对仪器稳定性，准确性进行例行检验，并将结果记录到荧光分析记
录上。

如有异常由管理员决定对工作曲线是否调整。

8、结果判定
若以上校验过程符合技术要求，则可投入使用或继续使用。

9、校验周期
用前自校
10、参考文件
JJF 1071国家计量校准规范编写规则
JJF 1001 通用计量术语及定义
GBT/T 8170 数值修约规则与极限数值的表示和判定
11、记录表格
《校验记录表》。

能量色散X射线荧光光谱仪检出限方法的研究与不确定度评定的研究报告

能量色散X射线荧光光谱仪检出限方法的研究与不确定度评定的研究报告能量色散X射线荧光光谱仪(EDXRF)是一种应用较为广泛的分析仪器，用于矿物、化学品、食品、医药、生物等领域的元素分析。

本文研究了EDXRF检出限的方法及其不确定度的评定。

一、EDXRF检出限的方法1. 概念EDXRF检出限是指仪器在测量半球模式下，仪器底噪信号处理后，再通过仪器计算出来的仪器最小检测浓度，即在该检测浓度下，检出率为99%以上。

2. 测定方法（1）样品准备：选用4个不含分析元素的纸膜，分别做好背景标准样品和待检测样品。

（2）测量条件：选用合适的分析光束和分析晶体，设置透过电压和电流，观察合适的计数时间，进行光谱扫描。

（3）数据处理：取出背景标准样品的峰面积，除以对应的计数时间得出峰强度；将待检测样品的峰面积除以对应的计数时间得出峰强度。

计算出样品中分析元素的峰强度比值。

（4）计算检出限：按照EDXRF仪器的峰强度比值计算公式，根据已知检测元素的重量含量和测量时间，可得出检出限。

二、EDXRF检出限的不确定度评定EDXRF检出限的不确定度包括三种不确定因素：背景噪声、样品不均匀性和计数不确定度。

在此基础上，可以采用以下方法对其进行评定：1. 背景噪声的不确定度（1）增加计数时间：可以提高样品的信噪比，从而减小背景噪声的不确定度。

（2）通过样品上下推移：记录各样品测量多次的平均值及标准差，得到背景噪声的不确定度。

2. 样品不均匀性的不确定度（1）使用大样品：使用较大的样品时，样品内部元素分布均匀，减小了样品不均匀性的不确定度。

（2）通过不同位置的测量：测量不同位置时，记录各样品测量多次的平均值及标准差，得到样品不均匀性的不确定度。

3. 计数不确定度的评定（1）用同一个样品测量多次：记录各样品测量多次的平均值及标准差，得到计数不确定度。

（2）使用标准样品：根据标准样品的实验结果，评定EDXRF检出限的计数不确定度。

评定三种不确定度后，根据不确定度传递原则，对总结果的不确定度进行评定。

X射线荧光光谱法测定铁矿石中的全铁含量(修改稿)

X射线荧光光谱法测定铁矿石中的全铁含量丁仕兵曲晓霞岳春雷（黄岛出入境检验检疫局青岛266555）摘要：用高纯度试剂人工合成校准样，制备系列校准片。

铁矿试样经预氧化及灼烧后制备熔片，用X射线荧光光谱仪直接测定，以标准曲线法定量。

该方法具有较好的准确度和精密度，用70个样品进行对比测试，所测得的铁含量与湿化学法结果差值不大于0.30%；用两个标准样品验证无显著性差异，标准偏差分别为0.11%（铁矿标样W88307a,n=8）和0.07%（铁矿标样W88302,n=7）。

关键词：铁，X射线荧光光谱法，铁矿石中图分类号：O657.34 文献标识码：AX射线荧光光谱仪广泛应用于测定铁矿石中杂质成分，铁含量同时被测定，但有关标准[1，2]仅把铁含量作为参考数据用于计算基体效应。

我们通过大量的对比实验发现，采用高纯度试剂人工合成校准样，利用标准曲线法直接测定铁含量能取得较好的效果，完全可以作为全铁的测定方法，具有前处理简单、测定速度快、同时进行多元素分析、节省人力物力的优点。

本方法还同时测定铁矿石中的二氧化硅、氧化铝、氧化钙、氧化镁、磷、锰、二氧化钛等杂质成分。

1实验部分1.1仪器及试剂X射线荧光光谱仪（德国，SRS3400，SPECTRA PLUS软件）；马弗炉（1150℃）；Pt-Au坩埚及模具；天平（瑞士，AE240）。

三氧化二铁（高纯，在1000ºC下至少灼烧1hr）；二氧化硅（高纯，1000ºC 至少灼烧1hr）；氧化钙（基准碳酸钙，1000ºC下灼烧至恒重）；氧化镁（基准试剂，1000ºC灼烧1hr）；三氧化二铝（高纯，α-型，1000ºC至少灼烧2hr）；二氧化钛（光谱纯，1000 ºC至少灼烧1hr）；四氧化三锰（优级纯，二氧化锰（MnO2）臵于铂坩埚中在1000ºC下灼烧24hr，然后冷却，所得块状材料破碎成细粉，在550ºC下烧结1hr）；磷酸二氢钾（优级纯，在105ºC下烘1hr）；无水四硼酸锂（X 射线荧光光谱专用试剂，550ºC下灼烧4hr）。

X荧光光谱不确定度评定

X 射线荧光光谱法测定铁矿石中TFe 测量结果的不确定度评定第一步、检测方法：（1）测量原理：通过测量X 射线光源中元素的X 光强度与其含量成正比的原理，根据检测标准样品质量分数得到的回归方程计算出该元素在试样中的含量。

（2）环境条件：室温：25±2℃ 湿度≤80%（3）测量仪器：MXF-2400荧光光谱仪（4）设备参数：电压40KV ，电流70MA ，分析时间40S ，铁谱线选择Ka 离子线。

（5）前处理：称取6.0000g 四硼酸锂，1.0000g 碳酸锂，0.7000 g 铁矿石试样和0.7000 g 三氧化二钴于铂黄坩埚中混合均匀，加少量碘化铵作脱模剂，在融样机上于1050℃熔融18分钟，冷却后制成玻璃片，在MXF-2400 X 荧光光谱仪上测量。

（6）测量次数：标准曲线样选用5个标准物质，按试样同样操作测量一次。

试样重复测定8次。

第二步、数学模型的建立测量各标准样品中TFe 的光谱强度I i ，I i 与相应的TFe 量c i 线性函数：c=a+bI 。

试样的TFe 含量通过校准曲线计算得出。

第三步、不确定度来源的识别根据分析方法的数学模型及分析测试过程可以得出X 荧光光谱法不确定度分量来源于：1、测量重复性引入的不确定度分量2、标准样品的不确定度分量3、试样质量M 的不确定度分量4、待测元素在标准样品建立的校准曲线线性拟合中的不确定度分量。

第四步、不确定度分量的评定4.1测量重复性不确定度分量的评定根据重复测量数据计算其重复性的标准不确定度U(s)和相对标准不确定重复性标准偏差按下式计算：S(x)=√∑(x i −x̅)2n i=1n−1=0.0585%在检测分析中，试样测定8次，报告平均值，计算标准不确定度：U(s)=S(x ̅)=√8=√8=0.0207%相对标准不确定度Urel(s)Urel(s)=U(s)x ̅=0.020761.77=0.00034.2标准样品的不确定度分量测试采用5个标准样品对仪器进行校正，该5个标准样品标准的不确的影响可用相对不确定度的均方根来表示：Urel(C b )=√(0.06150.23)2+(0.06454.28)2+(0.04161.77)2+(0.04466.71)2+(0.06671.79)25 =√4.59×10−65=9.58×10−44.3试样质量M 的不确定度分量（1）由试剂称量不确定性引起的不确定度：四硼酸锂，碳酸锂的称量不确定度与总试料量相比可忽略不计，故由试剂称量的不确定性引起的不确定度也可以忽略不计。

利用X荧光仪测定磁铁矿中全铁的含量

Ｓ２
Ｓ２ｓ４Ｓ２
“Ｆ１
ＮａＣ１ＩｊＦ１ＬｉＦ１
５
１００－３００１ｏｏ－３００
测定值４ＸＲＦ化学值误差
测定值５
ＸＲＦ
Ｔｉ — Ｋｄ６０－６０１／１
２０
２０１０２０１Ｏ
ＰＣ
ＳＣＰｃＰＣＳＣ
ｌ】０．０ｏ
１Ｏ
１００ — ３００
９０－３５０
Ｆｅ — Ｋｄ６０ — ６０１／１
Ｓ一Ｋ一６０－６０１／１６０ — ６Ｏ１／１
条件下测量．按照日本理学提供分析软件．首先做Ｃｏｍｐｔｏｎ散射线内标校正．根据共存元素的吸收一增强效应．在做相应的经验系数法校正模型进行适当的校正２．４精密度与准确度２．４．１磁铁矿石的测量精密度实验准确秤取一铁矿石样品６份．按本法制成玻璃片后在ｘ射线荧光仪上测量．每个样片测定一次．分析结果列于表３由表３结果可见．本法对低品位磁铁矿有较高的测量精度
０９．１００１４４．８５３９．４１４７．８８
裟
怒
误差测定值３ＸＲＦ
化学值误差
８
２坦１ｌ０ｌ
Ｉｌ３．１２
５７．５ＯＩｌ０．６５ｌ３６．６８８６．１４
需加强

波长色散X射线荧光光谱仪计数率偏差的不确定度分析

波长色散 X射线荧光光谱仪计数率偏差的不确定度分析摘要：计数线性是波长色散X射线荧光光谱仪的一项重要计量性能指标。

本文依据JJG810-1993《波长色散X射线荧光光谱仪》检定规程给定的检定方法，对波长色散X射线荧光光谱仪计数率偏差进行了不确定度评定。

关键词：波长色散X射线荧光光谱仪；计数线性；不确定度;仪器检校文献标志码：B0 引言波长色散X射线荧光光谱仪主要用于固体、液体或粉末物质的元素分析。

其工作原理是利用X射线管发出的初级X射线激发试样中的原子，使之产生荧光（次级X射线），通过晶体分光并用探测器测量，根据各种元素特征X荧光谱线的波长和强度进行元素的定性和定量分析[2]。

依据仪器说明和波长色散X射线荧光光谱仪检定规程，本文以流动气体正比计数器为例，着重探讨仪器计数率偏差的不确定度评定。

1 概述1.1 测量依据JJG810-1993《波长色散X射线荧光光谱仪》检定规程[2]。

1.2 测量仪器X射线荧光光谱仪检定用标准物质（纯铝块）。

1.3 被测对象X射线荧光光谱仪，S8 TIGER，德国布鲁克。

1.4 测量过程以流动气体正比计数器为例，用纯铝块样品测量AlKα辐射。

X射线源电压设置在30kV,电流分别为2,5,10,15,20,25,30,40,50,60,70 mA，依次测量AlKα辐射的计数率，计数时间取10 s，每个电流值的计数率测量3次，取平均值。

测定结果绘制计数率对电流的曲线，并计算90%或60%仪器规定最大线性计数率的计数率偏差。

2 X射线荧光光谱仪计数线性的不确定度评定以布鲁克S8 TIGER的波长色散X射线荧光光谱仪的测量结果为例进行分析。

2.1 测量模型和不确定度来源分析其中，CD—测仪器的量计数率偏差；I—由实测工作曲线给出的计数率值，kcps；I—由线性直线给出的计数率值，在此为90%或60%仪器规定最大线性计数率，kcps。

I为实测工作曲线给出的计数率值，实际测量时用多次测量的平均值获得，通过计算重复性得出其标准不确定度。

波长色散x射线荧光光谱仪的检定及不确定度评定

波长色散x射线荧光光谱仪的检定及不确定度评定波长色散X射线荧光光谱仪的检定及不确定度评定相对比较复杂，需要专业的检测人员和仪器设备。

以下是一般的检定及不确定度评定流程：
一、检定流程：
1. 准备样品：选择测试对象作为样品，样品应具有一定的代表性和稳定性。

2. 将样品固定到样品台上，调节仪器参数：开机，调节仪器参数，使其处于最佳工作状态。

3. 测量：进行样品测量，并记录测量结果。

4. 分析数据：将测量结果进行数据分析，包括计算和处理。

5. 判断检定结果：根据分析结果，判断是否符合指标要求，并发出检定报告。

二、不确定度评定流程：
1. 确定主要误差来源：波长色散X射线荧光光谱仪检定中主要的误差来源有分辨能力误差、位置重复性误差、能量校准误差等。

2. 确定误差量级：根据实际测量数据及相关标准，确定误差的量级。

3. 计算不确定度：根据误差来源和量级，计算不确定度，并按照相关标准进行处理和评定。

4. 发布报告：将评定结果以报告的形式发布，并提示误差来源及其量级。

X射线荧光镀层测厚仪校准记录及不确定度计算

2.3 2.41 2.322
0.7834 2.369
厚度标准片的实际值 Actual value of thickness standard sheet
Hi /μｍ
0.795
2.37
标准差 standard deviation
S/μｍ
0.0097548 0.040923
示值误差不确定度分量 The uncertainty component of the value error
相对测量重复性
示值稳定性
相对示值误差结果
5.3%
5.3%
1.2%
1.7%
1.0%
1.8%
-1.5% -0.04%
符合
符合
公式
校准证书给出
U_1
示值稳定
Au(0.795 )
Ni(2.37)
性数据
1 0.783 2.369
2 0.786 2.383
3 0.781 2.383
4 0.779 2.382
U5 /μｍ
合成标准不确定度 Synthetic standard uncertainty
Uc/μｍ (K=2)
0.02067Leabharlann 0.06162 0.003 0.0058
0.021121 0.063236
相对扩展不确定度 Relative expansion uncertainty
Urel (K=2)
5 0.787 2.411
MAX
0.787 2.411
MIN
0.779 2.369
U4
=
Hi
∗ U95r K
Urel
=
k
∗ Uc Hi
U3/μｍ

浅析荧光分光光度计检出限测量结果不确定度评定

浅析荧光分光光度计检出限测量结果不确定度评定摘要：本文主要阐述了荧光分光光度计检出限测量结果不确定度评定的过程和方法，对不确定度来源进行分析，并最终给出检出限相对扩展不确定度。

关键词：荧光分光光度计；检出限；不确定度荧光分光光度计是用于扫描液相荧光标记物所发出的荧光光谱的一种仪器。

其能提供包括激发光谱、发射光谱以及荧光强度、量子产率、荧光寿命、荧光偏振等许多物理参数，从各个角度反映了分子的成键和结构情况。

通过对这些参数的测定，不但可以做一般的定量分析, 而且还可以推断分子在各种环境下的构象变化，从而阐明分子结构与功能之间的关系，广泛应用于生物化学、生物医学、环境化工等部门。

1概述1.1 测量依据：JJG 537-2006《荧光分光光度计》。

1.2 环境条件：温度20.0℃，相对湿度：70％，电源电压：220V。

1.3 测量标准：硫酸水溶液中硫酸奎宁溶液标准物质(1×10-9g/mL、1×10-7g/mL)；1.4 测量对象：荧光分光光度计，检出极限为不大于5×10-10g/ml（配备A型单色器）；检出极限为不大于1×10-8g/ml（配备B型单色器）。

1.5 测量方法：用0.05mol/L硫酸溶液做空白溶液，选取硫酸水溶液中硫酸奎宁溶液标准溶液，配置A类单色器的荧光分光光度计选取1×10-9g/ml浓度；配置B类单色器的荧光分光光度计选取1×10-7g/ml浓度。

按规程要求设置条件——灵敏度置最高档，选择适当的狭缝宽度。

根据激发波长在350nm、发射波长在450nm左右的原则，设定两侧的波长或选择滤光片。

对空白溶液与标准溶液进行连续交替11次测量。

按规程中的公式计算仪器检出限。

2 数学模型：式中：DL—检出限；—11次测量的平均荧光强度；c—标准溶液的质量浓度；s—单次测量的标准偏差。

仪器检出限的相对合成不确定度由公式:计算；3. 荧光检出极限不确定度的评定3.1、配置A类单色器的荧光分光光度计检出限不确定度的评定3.1.1荧光光谱峰值强度测量时重复性引入的不确定度分量配置A类单色器的荧光分光光度计在荧光光谱峰值强度测量检出极限时需用质量浓度为1×10-9/mL硫酸中硫酸奎宁标准溶液，其检出极限测量数据如下表1所示:表1由此可以计算出单次测量的标准偏差，，DL 1=1.37×10-10，按此方法连续测六组荧光光谱峰强度数据，得DL 2=2.02×10-10、DL 3=1.47×10-10、DL 4=1.86×10-10、DL 5=2.04×10-10、DL 6=2.18×10-10。

x射线荧光光谱测定金属镀层厚度不确定度的评定

x射线荧光光谱测定金属镀层厚度不确定度的评定X射线荧光光谱是一种非常常见的金属镀层厚度测定方法，它的优点在于可以快速、准确地测定金属镀层的厚度，并且不会对样品造成损伤。

但是，由于测量过程中存在着各种误差，因此需要对测量结果进行不确定度评定，以保证测量结果的可靠性。

首先，需要明确的是，x射线荧光光谱测定金属镀层厚度的不确定度评定是一个比较复杂的问题，需要考虑多种因素。

其中最主要的因素包括：样品的准备、仪器的精度、测量条件的稳定性、数据处理方法等等。

下面我们将对这些因素进行逐一分析。

1. 样品的准备样品的准备是影响测量结果不确定度的一个重要因素。

在样品制备过程中，需要注意以下几点：（1）样品表面应该平整、干净、光滑，避免存在任何杂质或者凹凸不平的情况。

（2）样品的形状和大小应该与仪器的测量范围相匹配，以确保在测量过程中能够完全覆盖到样品表面。

（3）在进行测量之前，需要对样品进行表面处理，以去除表面氧化层等影响测量结果的因素。

2. 仪器的精度X射线荧光光谱仪器的精度也会影响到测量结果的不确定度。

在使用仪器时，需要注意以下几点：（1）仪器的精度和灵敏度应该符合要求，以保证测量结果的准确性。

（2）在进行实验之前，需要对仪器进行校准，以确保仪器输出数据的准确性。

（3）在进行测量时，需要控制好仪器的工作条件，避免因为仪器工作条件不稳定而导致误差。

3. 测量条件的稳定性在进行测量时，测量条件的稳定性也是一个非常重要的因素。

在进行实验之前，需要对测量条件进行优化和控制，以保证测量结果的稳定性和准确性。

具体而言，需要注意以下几点：（1）控制好样品和仪器之间的距离，并保持稳定。

（2）控制好X射线管电流和电压等参数，并保持稳定。

（3）控制好样品和探测器之间的距离，并保持稳定。

4. 数据处理方法最后一个影响测量结果不确定度的因素是数据处理方法。

在进行数据处理时，需要注意以下几点：（1）选择合适的数据处理方法，并对数据进行有效地处理。

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20
∑( Cj - C) 2 = 166142 ,
j =1
SR B1
=
n
∑[ A j - ( B 0 + B 1 Cj) ]2
j =1
n- 2
/ B1
= 01085 53 ( %) 。
∑ 将
p,
n,
C0
,
C
,
SR B1
20
和
j =1
( Cj
-
C) 2 代入计算得 :
ucur = 01085 53
1 2
ucur
=
SR B1
∑ 1
p
+
1 n
+
( C0 - C) 2
n
( Cj - C) 2
j =1
其中 p = 2 (对 A 矿标样 YSB C18702 - 93 进行两
次测量) , n = 20 (对绘制工作曲线的 20 个标准
样品进行一次测量) 。
20
∑Ci
C=
i =1
20
= 55134 ( %) ,
X 射线荧光光谱法测定烧结矿中 TFe 的不确定度评定
胡正阳 3 ,邢华宝 ,史厚义 ,孙雪松
(马鞍山钢铁股份有限公司技术中心检化验室 ,安徽马鞍山 243000)
摘要 :采用 X 射线荧光光谱法测定烧结矿中 TFe ,应用现代统计学理论对其分析结果不确定度的产生原因进行分析 ,同时对烧结矿中 TFe 含量测定结果的不确定度进行了评定 ,确定了分析结果的置信区间。关键词 :X 荧光光谱 ;烧结矿 ; TFe ;不确定度 ;置信区间
收稿日期 :2003 - 07 - 29
— 82 —
品 ,绘制工作曲线 ,采用 PH 模式 ,经验系数法对基体效应和增强 - 吸收效应进行校正。
2 不确定度评定
211 不确定度的来源测量结果的不确定度来源包括工作曲线校
正、试样称量、标准样品的不确定度、仪器测量等。图 1 为不确定度的因果图。
大者作为由标样定值所引起的不确定度 us = 01053 % ,相对标准不确定度 : urels = 01000 93 。 21313 仪器测量引起不确定度 u XRF (1) 由仪器波动引起的不确定度 :仪器波动有随机波动和定向波动两种 ,随机波动已包括在 A 类之中 ; 定向波动已由仪器漂移校正进行校正 ,可忽略不计 ; (2) 仪器灵敏度引起的不确定度 :仪器灵敏度为仪器最小读数单位对测量值的影响。我们测量的烧结矿中 TFe 含量较高 , 仪器灵敏度对之影响较小 ,可忽略不计。 21314 工作曲线校正引起不确定度 ucur 由工作曲线可得 : R = B0 + B1 C = - 469129 + 141656 C , B0 = 469129 , B1 = 141656 。对 A 矿标样 YSB C18702 - 93进行两次分析 , TFe 测定结果 ( w / %) 分别为 53166 ,53178 ,平均结果 C0 = 53172 %。则 C0 的标准不确定度
第 25 卷第 2005 年 2
1期月
冶金分析 Metallurgical Analysis
Vol. 25 ,
February
No . 1 , 2005
53172 = 01000 41 。 213 B 类不确定度评定 21311 试样称量引起不确定度 um (1) 由试剂称量不准确性引起的不确定度 : Li2B4O7 , N H4NO3 ,N H4 I 的称量不准确度与总试料量相比可忽略不计 ,故由试剂称量的不准确性引起的不确定度也可以忽略不计 ; (2) 由试样称量不准确性引起的不确定度 :称量时要求准确至 01000 2 g 。按均匀分布 , 不确定度为 01000 2/ 3 = 01000 12 (g) ; (3) 由天平准确性引起的不确定度 : 检定证书给出天平的不确定度为 011 mg 。两项合成 , 由称量引起的标准不确定度 um =
uc = 0. 001 6 ×53. 72 % = 0. 086 % 215 扩展不确定度
取置信度为 95 % ,则 k = 2 , 扩展不确定度 U 95rel = k ×uc = 2 ×0. 086 % = 0117 %。结果表示 : w ( TFe) / % = (53172 ±0117) 。
第 25 卷第 2005 年 2
1期月
冶金分析 Metallurgical Analysis
Vol. 25 ,
February
No . 1 , 2005来自文章编号 :1000 - 7571 (2005) 01 - 0082 - 03
01000 122 + 01000 12 = 01000 16 (g) ,相对标准不确定度 urelm = 01000 16/ 11000 0 = 01000 16 。 21312 标准样品引起不确定度 us (1) 标样不均匀性引起的不确定度 :假设标样是均匀的、稳定的 ,则由此引起的不确定度可忽略不计 ; (2) 由标样定值引起的不确定度 : 标样 YSB C18702 - 93 的标准偏差为 0109 % ,定值组数为 8 ,其不确定度 us = s/ 8 = 01032 ( %) 。由于我们多采用自制内控标样 ,对之用 5 种不同的化学方法进行分析 , TFe 测定结果 ( w / %) 如下 : 56188 , 56161 , 56177 , 56166 , 56161 。计算的标准偏差 s = 01012 % ,平均值 x = 56171 % ,定值组数为 5 ,则 us = s/ 5 = 01012/ 5 = 01053 ( %) ; 选取其中最
[ 2 ] 丁仕兵. 冶金分析[J ] ,2002 ,22 (1) :631 [ 3 ] 方玉枝. 冶金分析[J ] ,2003 ,23 (2) :461 [ 4 ] 魏吴. 化学分析中不确定度的评估指南[ M ]1 北京 :
中国计量出版社 ,20021
Evaluation of uncerta inty f or determination of TFe in sinter ore by XRF
图 1 测定结果不确定度的因果图 Fig11 Cause and effect of the uncertainty of results
212 A 类不确定度评定选取烧结矿标样 YSB C18702 - 93 ( TFe 的质
量分数 :53172 %) 作试样 ,不同时间、不同操作人员进行 10 次重复测定 , TFe 测定结果 ( w / %) 如下 : 53166 , 53178 , 53168 , 53185 , 53176 , 53179 , 53163 ,53171 , 53172 , 53163 。求得平均值 x = 53172 % ,标准偏差 s = 01070 %。测量的标准不确定度 : uA ( x ) = s/ n = 01070/ 10 = 01022 ( %) 。相对标准不确定度 : urelA ( x ) = 01022/
1 实验部分
111 主要仪器 PW1606 X 射线荧光光谱仪 (荷兰飞利浦公
司) ; Pt/ Au 坩埚 (< 3815 mm) ;马弗炉。 112 实验方法
称取 11000 0 g (准确至 01000 2 g) 试样 ,置于 60 mL 称量瓶内 ,加入 81000 0 g (准确至 01000 5 g) Li2B4O7 和 01400 0 g N H4NO3 ,振摇 2 min ,转移至 Pt/ Au 坩埚中 ,用微量注射器注入 016 mL N H4Br 溶液。将坩埚置于 1 150 ℃的马弗炉内 , 熔融 12 min ,取出摇匀并赶尽气泡 ,水平放置 ,自然冷却。将冷凝样片倒在洁净的纸上 , 用 PW1606 X 射线荧光光谱仪分析 2 次 ,计算平均结果。选用烧结矿标样及自制内控标样作标准样
Abstract :Total iron content in sinter ore was determined by XRF1 The causes of t he uncertainty in measure2 ment was discussed by statistics1 The uncertainty of determination result for TFe has been evaluated by us2 ing a sample as a example ,and t he confidential interval of t he result s has been given1 Key words :XRF ;sinter ore ;total iron ;uncertainty ;confidential interval
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中图分类号 :O657134 文献标识码 :B
X 射线荧光光谱法是测定烧结矿中 TFe 的常见方法 ,但对其分析结果的不确定度研究报道不多。不确定度是对测量结果“分散程度”的定量表征 ,不确定度评定已广泛应用于分析化学领域[1 - 3 ] 。本文依据中国实验室国家认可委员会等编制的“化学分析中不确定度的评估指南”,应用现代统计学理论对其分析结果不确定度的产生原因进行分析 ; 同时 ,对一个烧结矿中 TFe 含量测定结果的不确定度进行了评定 ,确定了分析结果的置信区间。
HU Zheng2yang ,XIN G Hua2bao ,SHI Hou2yi ,SUN Xue2song
(Developmental Center of Science and Technology ,Maanshan Iron and Steel Co1 ,Ltd1 ,Maanshan 243000 ,China)