材料分析报告测试技术复习题二
材料分析报告报告材料测试技术左演声课后问题详解
第一章 电磁辐射与材料结构
一、教材习题
1-1 计算下列电磁辐射的有关参数:
(1)波数为3030cm -1的芳烃红外吸收峰的波长(μm ); 答:已知波数ν=3030cm -1
根据波数ν与波长λ的关系)
μm (10000
)cm (1λν=-可得: 波长μm 3.3μm 3030
100001
≈=
=
ν
λ
(2)5m 波长射频辐射的频率(MHz ); 解:波长λ与频率ν的关系为λ
νc
=
已知波长λ=5m ,光速c ≈3×108m/s ,1s -1=1Hz
则频率MHz 6010605/103168=⨯=⨯=
-s m
s
m ν (3)588.995nm 钠线相应的光子能量(eV )。 答:光子的能量计算公式为λ
νc
h
h E ==
已知波长λ=588.995nm=5.88995⨯10-7m ,普朗克常数h =6.626×10-34J ⋅s ,光速c ≈3×108m/s ,1eV=1.602×10-19J 则光子的能量(eV )计算如下:
eV eV J m
s
m s J E 107.210
602.110
375.3 10375.31088995.5/10310626.619
19
197
834
≈⨯⨯=
⨯=⨯⨯⨯⋅⨯=-----
1-3 某原子的一个光谱项为45F J ,试用能级示意图表示其光谱支项与塞曼能级。 答:对于光谱项45F J ,n =4,L =3,M =5;S =2(M =2S +1=5),则J =5,4,3,2,1,
当J =5,M J =0,±1,±2,···±5;……J =1,M J =0,±1。光谱项为45F J 的能级示意图如下图:
测试技术复习题2 (1)
复习题
1 绪论
选择题:
1.依据机敏材料本身的物性随被测量的变化来实现信号转换的装置称为( A )
A.物理型传感器
B.结构型传感器
C.电桥
D.A/D转换器
2. 一个被测量与一个预定标准之间进行定量比较,从而获得被测对象的数值结果过程称为( B )
A.测试 B.测量 C. 试验 D.传感
3. 电测法具有测试范围广、精度高、灵敏度高、响应速度快等优点,特别适合于( C )
A.静态测试 B.线性测试 C. 动态测试 D.非线性测试
填空题:
1.测试泛指测量和试验两个方面的技术,是具有试验性质的测量,是测量和试验的综合。
2.测量是指一个被测量与一个预定标准之间进行定量比较,从而获得被测对象的数值结果,即以确定被测对象的量值为目的的全部操作,可分为直接比较法和间接比较法。
3.依据机敏材料本身的物性随被测量的变化来实现信号转换的装置称为物理型传感器。
4.随着新材料的开发,传感器正经历着从机构型为主向物性型为主的转变。
名词解释:
1.电测法
答:电测法是将非电量先转换为电量,然后用各种电测仪表和装置乃至计算机对电信号进行处理和分析的方法。
2. 间接比较法
答:间接比较法利用仪器仪表把待测物理量的变化变换成与之保持已知函数关系的另一种物理量的变化。
3.直接比较法
答:直接比较法无须经过函数关系的计算,直接通过测量仪器得到被测量值。
简答题:
1.试述测量与测试的概念及其区别。
答:测量是指一个被测量与一个预定标准之间进行定量比较,从而获得被测对象的数值结果,即以确定被测对象的量值为目的的全部操作。测试是对信号的获取、加工、处理、显示记录及分析的过程。测量是被动的、静态的、较孤立的记录性操作,其重要性在于它提供了系统所要求的和实际所取得的结果之间的一种比较;测试是主动地、涉及过程动态的、系统的记
测试技术复习题和答案
信号部分
1 试判断下述结论的正误。
(1 )凡频谱是离散的信号必然是周期信号。
(2 )任何周期信号都由频率不同,但成整倍数比的离散的谐波叠加而成。(3 )周期信号的频谱是离散的,非周期信号的频谱也是离散的。
(4 )周期单位脉冲序列的频谱仍为周期单位脉冲序列。
(5 )非周期性变化的信号就是随机信号。
(6 )非周期信号的幅值谱表示的是其幅值谱密度与时间的函数关系。
(7 )信号在时域上波形有所变化,必然引起频谱的相应变化。
(8 )各态历经随机过程是平稳随机过程。
(9 )平稳随机过程的时间平均统计特征等于该过程的集合平均统计持征。(10 )两个周期比不等于有理数的周期信号之和是周期信号。
(11 )所有随机信号都是非周期信号。
(12 )所有周期信号都是功率信号。
(13 )所有非周期信号都是能量信号。
(14 )模拟信号的幅值一定是连续的。
(15 )离散信号即就是数字信号。
2 对下述问题,选择正确答案填空。
(1 )描述周期信号的数学工具是( ) 。
A. 相关函数
B. 傅氏级数
C. 拉氏变换
D. 傅氏变换
(2 )描述非周期信号的数学工具是( ) 。
A. 三角函数
B. 拉氏变换
C. 傅氏变换
D. 傅氏级数
(3 )时域信号持续时间压缩,则频域中低频成分( ) 。
A. 不变
B. 增加
C. 减少
D. 变化不定
(4 )将时域信号进行时移,则频域信号将会( ) 。
A. 扩展
B. 压缩
C. 不变
D. 仅有相移
(5 )概率密度函数在( )域、相关函数是在( )域、功率谱密度函数是在( )域上来描述的随机信号
A. 时间
材料分析测试技术试题及答案
材料分析测试技术试题及答案
材料分析测试技术试题及答案(一)
1、施工时所用的混凝土空心砌块的产品龄期不应小于( D)。
A、14d
B、7d
C、35d
D、28d
2、高强度大六角头螺栓连接副和扭剪型高强度螺栓连接副出厂时应分别随箱带有( C )和紧固轴力(预拉力)的检验报告。
A、抗拉强度
B、抗剪强度
C、扭矩系数
D、承载力量
3、勘察、设计、施工、监理等单位应将本单位形成的工程文件立卷后向( A )移交。
A、建立单位
B、施工单位
C、监理单位
D、设计单位
4、城建档案治理机构应对工程文件的立卷归档工作进展监视、检查、指导。在工程竣工验收前,应对工程档案进展( C ),验收合格后,须出具工程档案认可文件。
A、检查
B、验收
C、预验收
D、指导
5、既有文字材料又有图纸的案卷( A )。
A、文字材料排前,图纸排后
B、图纸排前,文字材料排后
C、文字材料、图纸按时间挨次排列
D、文字材料,图纸材料交叉排列
6、建筑与构造工程包括那几个分部( B )。
A、地基与根底、主体、装饰装修、屋面、节能分部
B、地基与根底、主体、装饰装修、屋面分部
C、地基与根底、主体、装饰装修分部
D、地基与根底、主体分部
7、在原材料肯定的状况下,打算混凝土强度的最主要因素是( B )。
A、水泥用量
B、水灰比
C、水含量
D、砂率
8、数据加密技术从技术上的实现分为在( A )两方面。
A、软件和硬件
B、软盘和硬盘
C、数据和数字
D、技术和治理
9、混凝土同条件试件养护:构造部位由监理和施工各方共同选定,同一强度等级不宜少于10组,且不应少于( A )组。
A、3
安徽工业大学材料分析测试技术复习题及答案
复习的重点及思考题
以下蓝色的部分作为了解
第一章X射线的性质
X射线产生的基本原理。
●X射线的本质―――电磁波、高能粒子、物质
●X射线谱――管电压、电流对谱的影响、短波限的意义等
●高能电子与物质相互作用可产生哪两种X射线?产生的机理?
连续X射线:当高速运动的电子(带电粒子)与原子核内电场作用而减速时会产生电磁辐射,这种辐射所产生的X射线波长是连续的,故称之为~
特征(标识)X射线:由原子内层电子跃迁所产生的X射线叫做特征X射线。
X射线与物质的相互作用
●两类散射的性质
●吸收与吸收系数意义及基本计算
●二次特征辐射(X射线荧光)、饿歇效应产生的机理与条件
二次特征辐射(X射线荧光):由X射线所激发出的二次特征X射线叫X射线荧光。
俄歇电子:俄歇电子的产生过程是当原子内层的一个电子被电离后,处于激发态的电子将产生跃迁,多余的能量以无辐射的形式传给另一层的电子,并将它激发出来。
这种效应称为俄歇效应。
●选靶的意义与作用
第二章X射线的方向
晶体几何学基础
●晶体的定义、空间点阵的构建、七大晶系尤其是立方晶系的点阵几种类型
在自然界中,其结构有一定的规律性的物质通常称之为晶体
● 晶向指数、晶面指数(密勒指数)定义、表示方法,在空间点阵中的互对应 ● 晶带、晶带轴、晶带定律,立方晶系的晶面间距表达式
● 倒易点阵定义、倒易矢量的性质
● 厄瓦尔德作图法及其表述,它与布拉格方程的等同性证明
λ1= 为半径作一球; (b) 将球心置于衍射晶面与入射线的交点。
(c) 初基入射矢量由球心指向倒易阵点的原点。
(d) 落在球面上的倒易点即是可能产生反射的晶面。
测试技术复习题及参考答案
一、选择题
1、描述周期信号的数学工具是 B 。
A 相关函数
B 傅里叶级数
C 傅里叶变换
D 拉氏变换
2、傅里叶级数中的各项系数是表示各谐波分量的 C 。
A 相位
B 周期
C 振幅
D 频率
3、复杂周期信号的频谱是 A 。
A 离散的
B 连续的
C δ函数
D sinc 函数
4、下列表达式中, C 是周期信号。 A.. ⎪⎩⎪⎨⎧≥<=T t T t t t x 0cos )(0ω B. ⎪⎩⎪⎨⎧><=T t T t t w 01)(
C. )45100cos(2.010cos 5.0)(︒-+=t t t x
D. ()()t x t x t x 21)(+=
5、将时域信号进行时移,则其频域信号将会 D 。
A 扩展
B 压缩
C 不变
D 仅有相移
6、线性度是表示静态标定曲线 A 的程度。
A 接近理想直线
B 偏离其拟合直线
C 正反行程的不重合
7、若测试系统由两个环节串联而成,且两个环节的传递函数分别为()s H 1、 ()s H 2,则该系统总的传递函数为 B 。
A ()s H 1+ ()s H 2
B ()⨯s H 1 ()s H 2
C ()s H 1- ()s H 2
D ()s H 1/ ()s H 2
8、线性系统的叠加原理表明 A 。
A 施加于线性系统的各个输入量所产生的响应过程互不影响
B 一定倍数的原信号作用于系统所产生的响应,等于原信号的输出乘以该倍数
C 系统的输出响应的频率等于系统的输入激励信号的频率
D 系统的输出响应的频率为输入信号频率的总和
9、对于理想的定常线性系统,其灵敏度是 B 。
A 随机变量
测试技术综合复习题
测试技术综合复习题
一、判断题
1、当输入信号x(t)一定时,系统的输出y(t)将完全取决于传递函数h(s),而与该系统的物理模型无关。(t)
2、传递函数相同的各种装置,其动态特性均相同。(f)
3、所有随机信号都就是非
周期信号;(f)4、所有周期信号都就是功率信号;(t)5、所有非周期信号都就是能量
信号;(f)6、非周期信号的频谱都就是已连续的。(t)
7、非周期信号幅频谱与周期信号幅值谱的量纲一样。(f)8、模拟信号的幅值一定
是连续的;(f)9、瞬态信号是能量有限信号。(t)
10、瞬态信号就是时间轴上的零平均功率信号。(t)11、直流信号被切断后的频谱
就是已连续的。(t)
12、信号的时域描述与频域描述包含相同的信息量。(t)13、各态历经随机过程一
定是平稳随机过程。()14、直流信号具有无限的频谱。(f)
15、幅频特性就是指积极响应与鞭策信号的振幅比与频率的关系。(f)16、频响函
数充分反映了系统积极响应的稳态过程。(t)17、频响函数充分反映了系统积极响应的
稳态过程。()
18、传递函数不仅反映了系统的稳态过程,还反映了系统响应的过渡过程。(f)19、若x(t)是限带信号,在被截断后必成为无限带宽的函数。(f)20、一阶系统中常用时间常
数τ作为响应上升时间。(f)21、稳态响应法不能用于一阶系统的动态特性测试。(f)22、测试系统的灵敏度越高测量性能越好。(f)
23、若传感器的灵敏度为常数,则说明该传感器的输入、输出关系为线性关系。(f)
24、金属电阻应变片的电阻相对变化主要就是由于电阻丝的尺寸变化产生的。(t)25、
现代材料测试技术复习题及答案
现代材料测试技术复习
第一部分
填空题:
1、X射线从本质上说,和无线电波、可见光、γ射线一样,也是一种电磁波。
2、尽管衍射花样可以千变万化,但是它们的基本要素只有三个:即衍射线的峰位、线形、强度。
3、在X射线衍射仪法中,对X射线光源要有一个基本的要求,简单地说,对光源的基本要求是稳定、强度大、光谱纯洁。
4、利用吸收限两边质量吸收系数相差十分悬殊的特点,可制作滤波片。
5、测量X射线衍射线峰位的方法有七种,它们分别是7/8高度法、峰巅法、切线法、弦中点法、中线峰法、重心法、抛物线法。
6、X射线衍射定性分析中主要的检索索引的方法有三种,它们分别是哈那瓦尔特索引、芬克索引、字顺索引。
7、特征X射线产生的根本原因是原子内层电子的跃迁。
8、X射线衍射仪探测器的扫描方式可分连续扫描、步进扫描、跳跃步进扫描三种。
9、实验证明,X射线管阳极靶发射出的X射线谱可分为两类:连续X射线光谱和特征X射线光谱。
10、当X射线穿过物质时,由于受到散射,光电效应等的影响,强度会减弱,这种现象称为X射线的衰减。
11、用于X射线衍射仪的探测器主要有盖革-弥勒计数管、闪烁计数管、正比计数管、固体计数管,其中闪烁计数管和正比计数管应用较为普遍。
12、光源单色化的方法:试推导布拉格方程,解释方程中各符号的意义并说明布拉格方程的应用
名词解释
1、X-射线的衰减:当X射线穿过物质时,由于受到散射,光电效应等的影响,强度会减弱,这种现象称为X-射线的吸收。
2、短波限:电子一次碰撞中全部能量转化为光量子,此光量子的波长
3、吸收限:物质对电磁辐射的吸收随辐射频率的增大而增加至某一限度即骤然增大,称吸收限。吸收限:引起原子内层电子跃迁的最低能量。
测试技术复习题
测试技术复习题
一、填空题:
1.复杂周期信号展开为三角函数形式的傅立叶级数时,A n 表示谐波分量的 。
2.信号x (t )=x 01sin5t +x 02cos(100t +450),则该信号的周期T = 。
3.频率不同的两个正弦信号,其互相关函数等于 。
4.在相关分析中,自相关函数保留了原信号的 和 信息。
5.已知某信号的自相关函数πττ50cos 100)(=x R ,则该信号的均方值=2x ψ
。
6.随机信号的均值μx 、方差σx 2、均方值ψx 2之间的关系是 。
7.若信号x (t )的傅立叶变换是X (f ),则x (kt )的傅立叶变换是 。
8.复杂周期信号展开为三角函数形式的傅立叶级数时,a 0表示 分量。
9.信号当时间尺度压缩时,则其频带 ,幅值降低。
10.求周期信号、非周期信号频谱的数学方法分别是 。
11.周期信号、非周期信号频谱的差别是 。
12.信号x (t )的均值x μ表示信号中的 分量。
13.周期信号的频谱具有的特点是 、 和 。
14.信号当时间尺度压缩时,则其频带展宽,幅值 。
15.)(f S x 和)(f S y 分别为系统输入和输出的自谱,H (f )为系统的频响函数,则它们间的关
系式满足=)(f S y 。
16.信号的互相关函数)(τxy R 的峰值偏离原点位置0τ,反映时延0τ时相关程度 。
17.时间域包含各态历经随机信号的统计特征参数主要有 。
18.当时延τ=0时,信号的自相关函数R x (0)= 。
19.若信号满足)()(t x t x =-,则其傅立叶级数中只有 项。
测试技术习题答案版
测试技术复习题
一、填空题:
1.一阶系统的时间常数为T,被测信号的频率为1/T,则信号经过测试系统后,输出
信号与输入信号的相位差为(-45 度).
2.一阶系统的动特性参数是(),为使动态响应快,该参数(越小越好)。
3.周期信号的频谱是离散的,同时周期信号具有(谐波性)和(收敛性)特性。
4.周期信号的频谱具有(离散)特点,瞬变非周期信号的频谱具有(对称)特点。
5.模似信号是指时间和幅值都具有(连续)特性的信号。
6.信号在时域被压缩,则该信号在频域中的(低频)成分将增加。
7.X(F)为x(t)的频谱,W(F)为矩形窗函数w(t)的频谱,二者时域相乘,则频域可表示
为(X(F)* W(F)),该乘积后的信号的频谱为(连续)频谱。
8.根据采样定理,被测信号的频率f1与测试系统的固有频率f2关系是(f2>2f1)。
9.正弦信号的自相关函数是一个同频的(余弦)函数。
10.对二阶系统输入周期信号x(t) =a cos(wt+q),则对应的输出信号的频率(不变),输
出信号的幅值(震荡或衰减),输出信号的相位(延迟)。
11.时域是实偶函数的信号,其对应的频域函数是(实偶)函数。
12.频域是虚奇函数的信号,其对应的时域函数是(实奇)函数。
13.引用相对误差为0.5%的仪表,其精度等级为(0.5 )级。
14.某位移传感器测量的最小位移为0.01mm,最大位移为1mm,其动态线性范围(或
测量范围)是(40 )dB。
15.测试装置输出波形无失真但有时间延迟t的有失真测试条件是:装置的幅频特性为
(常数),相频特性为(与为线性关系);输出波形既不失真又无延迟的条件是:幅频特性为(常数),相频特性为()。
材料测试方法复习题
复习题
一.名词解释
1.系统消光
2.X射线衍射方向
3.二次电子
4.差热分析
5.差示扫描量热法
6.外推始点温度
7.拉曼效应
8.Moseley定律
9.化学位移 10.光电效应 11.衍射衬度像 12.质厚衬度像 13.相位衬度像
二.简答题
1. X射线谱有哪两种基本类型?各自的含义是什么?
2.X射线是怎么产生的?连续X射线谱有何特点?
3.何谓Kα射线/何谓Kβ射线?这两种射线中哪种射线强度大?哪种射线的波长短?
4.什么方向是晶体对X射线的衍射的衍射方向?
6. 布拉格方程的由来、表达、阐明的问题及所讨论的问题?
7. 晶体使X射线产生衍射的充分条件是什么?何谓系统消光?
8.粉晶X射线衍射卡片(JCPDF卡)检索手册的基本类型有哪三种?每种手册如何编排?每种物相在手册上的形式?
9.在进行混合物相的X射线衍射线定性分析鉴定时,应特别注意优先考虑的问题有哪些?
10.电子束与物质相互作用可以获得哪些信息?
12.简述电子透镜缺陷的种类及产生的原因? 如何提高它的分辨率?
13.透射电子显微图象包括哪几种类型?
14.散射衬度与什么因素有关?这种图象主要用来做什么?
15.衍射衬度与什么因素有关?这种图象主要用来做什么?
16.何谓明场象?何谓暗场象?
17.何谓二次电子?扫描电镜中二次电子象的衬度与什么因素?为什么?最适宜研究什么?
18.何背散射电子?扫描电镜中背散射电子象的衬度与什么因素有关?为什么?最适宜研究什么?
19.什么是X射线的能谱分析和波谱分析?X射线显微分析方法有哪三种?
20.何为差热分析?差热分析的基本原理是什么
材料分析资料报告测试技术习题及问题详解
材料分析资料报告测试技术习题及问题详解
第一章
一、选择题
1.用来进行晶体结构分析的X射线学分支是()
A.X射线透射学;
B.X射线衍射学;
C.X射线光谱学;
D.其它
2. M层电子回迁到K层后,多余的能量放出的特征X射线称()
A.Kα;
B. Kβ;
C. Kγ;
D. Lα。
3. 当X射线发生装置是Cu靶,滤波片应选()
A.Cu;B. Fe;C. Ni;D. Mo。
4. 当电子把所有能量都转换为X射线时,该X射线波长称()
A.短波限λ0;
B. 激发限λk;
C. 吸收限;
D. 特征X射线
5.当X射线将某物质原子的K层电子打出去后,L层电子回迁K 层,多余能量将另一个L层电子打出核外,这整个过程将产生()(多选题)
A.光电子;
B. 二次荧光;
C. 俄歇电子;
D. (A+C)
二、正误题
1. 随X射线管的电压升高,λ0和λk都随之减小。()
2. 激发限与吸收限是一回事,只是从不同角度看问题。()
3. 经滤波后的X射线是相对的单色光。()
4. 产生特征X射线的前提是原子层电子被打出核外,原子处于激发状态。()
5. 选择滤波片只要根据吸收曲线选择材料,而不需要考虑厚度。()
三、填空题
1. 当X射线管电压超过临界电压就可以产生X射线和X射线。
2. X射线与物质相互作用可以产生、、、、
、、、。
3. 经过厚度为H的物质后,X射线的强度为。
4. X射线的本质既是也是,具有性。
5. 短波长的X射线称,常用于;长波长的X射线称
,常用于。
习题
1.X射线学有几个分支?每个分支的研究对象是什么?
2.分析下列荧光辐射产生的可能性,为什么?
材料分析测试技术复习题 附答案
材料分析测试技术复习题
【第一至第六章】
1.X射线的波粒二象性
波动性表现为:
-以波动的形式传播,具有一定的频率和波长
-波动性特征反映在物质运动的连续性和在传播过程中发生的干涉、衍射现象
粒子性突出表现为:
-在与物质相互作用和交换能量的时候
-X射线由大量的粒子流(能量E、动量P、质量m)构成,粒子流称为光子-当X射线与物质相互作用时,光子只能整个被原子或电子吸收或散射
2.连续x射线谱的特点,连续谱的短波限
定义:波长在一定范围连续分布的X射线,I和λ构成连续X射线谱
开始直到波长无穷大λ∞,•当管压很低(小于20KV 时),由某一短波限λ
波长连续分布
处)向短•随管压增高,X射线强度增高,连续谱峰值所对应的波长(1.5 λ
0波端移动
•λ
正比于1/V, 与靶元素无关
•强度I:由单位时间内通过与X射线传播方向垂直的单位面积上的光量子数的能量总和决定(粒子性观点描述)
•单位时间通过垂直于传播方向的单位截面上的能量大小,与A2成正比(波动性观点描述)
短波限:对X射线管施加不同电压时,在X射线的强度I 随波长λ变化的关系
,称为短波限。
曲线中,在各种管压下的连续谱都存在一个最短的波长值λ
3.连续x射线谱产生机理
【a】.经典电动力学概念解释:
一个高速运动电子到达靶面时,因突然减速产生很大的负加速度,负加速度引起周围电磁场的急剧变化,产生电磁波,且具有不同波长,形成连续X射线谱。
【b】.量子理论解释:
* 电子与靶经过多次碰撞,逐步把能量释放到零,同时产生一系列能量为hυi的光子序列,形成连续谱
* 存在 ev=hυmax,υmax=hc/ λ0, λ0为短波限,从而推出
(完整版)现代分析测试技术期末考试复习题
期末考试复习题
绪论
1.熟悉丙纶、涤纶、尼龙的化学组成、分子式。
2.高分子材料的分子量有哪几种表示方式?怎样计算分子量多分散系数(分子量分布)D?
Mw=96835,Mn=95876,D=Mw/Mn
分子量表示方法:数均分子量(Mn)、重均分子量(Mw)、粘均分子量(Mη)和Z均分子量(Mz)
3.什么是高分子材料的玻璃化转变温度?什么是玻璃态,什么是高弹态?
玻璃化转变温度:高聚物由高弹态转变为玻璃态的温度,指无定型聚合物(包括结晶型聚合物中的非结晶部分)由玻璃态向高弹态或者由后者向前者的转变温度,是无定型聚合物大分子链段自由运动的最低温度,通常用Tg表示。在此温度以上,高聚物表现出弹性;在此温度以下,高聚物表现出脆性。
玻璃态:-整个分子链和链段松弛时间很长,在短时间内无法观察到,只有小运动单元(如支链、侧基等)的运动才能观察到
高弹态(rubbery state):链段运动但整个分子链不产生移动。此时受较小的力就可发生很大的形变(100~1000%),外力除去后形变可完全恢复,称为高弹形变。
4.熟悉各种测试技术的类型和类别。
紫外
1.电子跃迁有哪些种类?哪些类型的跃迁可以在紫外光谱中得到反映?、
有机分子电子跃迁类型有σ→σ*跃迁,n→σ*跃迁,π→π*跃迁,n→π*跃迁,π→σ*
跃迁,σ→π*跃迁。其中π→π*跃迁、n→π*跃迁、n→σ*跃迁对应的波长在紫外光区,能在紫外光谱上反映
2.双酚A聚砜标样的分子量为153246g/mol,将其配制成不同浓度的溶液,一定波长下作
紫外光谱分析,得到吸光度A-浓度C曲线如图所示。现有一未知分子量的双酚A聚砜,
材料现代测试技术-期末复习题
材料现代测试技术-期末复习题
射线管主要由阳极,阴极,和窗口构成。
射线透过物质时产生的物理效应有:散射,光电效应,荧光辐射,俄歇效应。
3.德拜照相法中的底片安装方法有:正装,反装,和偏装三种。
射线物相分析方法分:定性分析和定量分析两种。
5.透射电子显微镜的分辨率主要受衍射效应和像差两因素影响。
7.电子探针包括波谱仪和能谱仪成分分析仪器。
8.扫描电子显微镜常用的信号是二次电子和背散射电子。
9.人眼的分辨率本领大约是:
)
10.扫描电镜用于成像的信号:二次电子和背散射电子,原理:光栅扫描,逐点成像。
的功能是:物相分析和组织分析(物相分析利用电子和晶体物质作用可发生衍射的特点;组织分析;利用电子波遵循阿贝成像原理):定性分析(或半定量分析),测温范围大。DSC:定量分析,测温范围常在800℃以下。
13.放大倍数(扫描电镜):M=b/B(b:显像管电子束在荧光屏上的扫描幅度,通常固定不变;B:入射电子束在样品上的扫描幅度,通常以改变B来改变M)
射线衍射分析方法中,应用最广泛、最普通的是衍射仪法。
15.透射电镜室应用透射电子来成像。
无机非金属材料大多数以多相、多组分的非导电材料,直到60年代初产生了离子轰击减薄法后,才使无机非金属材料的薄膜制备成为可能。
17.适合透射电镜观察的试样厚度小于200nm的对电子束“透明”的试样。
~
18.扫描电镜是用不同信号成像时分辨率不同,分辨率最高的是二
次电子成像。
19.在电子与固体物质相互作用中,从试样表面射出的电子有背散射电子,二次电子,俄歇电子。
20.影响红外光谱图中谱带位置的因素有诱导效应,键应力,氢键,物质状态。
中国矿业大学(徐州)《测试技术》复习题库
R3 ei
R2
用电阻 应变片及 双臂电桥 悬臂梁的 应变 。其贴 片及组桥 方法如图 所示。已 知图中
' R1 R1' R2 R2 120 ,上下贴片位置对称,应变片的灵敏度系数 k 2 。应变值
10 103 ,电桥供桥电压 ui 3V 。试分别求出如图组成桥路时的输出电压 uo ?
第六章 位移测量 第七章 力学参数的测量
1‘有一薄壁圆管式拉力传感器如下图所示。已知其弹性元件材料的泊松比为 0.3,电阻应
变片 R1、R2、R3 和 R4 阻值相同,且灵敏系数均为 2,应变片贴片位置如图所示。若受拉力
P 作用,问:
(1) 欲测量拉力 P 的大小,应如何正确组成电桥?请画出相应的电桥。 (2) 当供桥电压 ei 2V , 1 2 300με 时,输出电压 eo 是多少(1με 1 10 )?
4、 某测试装置为一线性时不变系统,其传递函数为 H ( s )
x ( t ) 0.5 cos 10t 0.2 cos(100 t 45 ) 的稳态响应 y ( t ) 。
第三章 常用传感器
下图为采用某一种传感器测量不同的非电量的示意图。 图中被测物体 2 均为金属 材料制成,1 为传感器。试问: (6 分) (1)该种传感器是何种传感器? (2)图中分别测量的是哪些非电量? (3)总结该种传感器的两个优点。
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材料分析测试技术
一、名词解释(共有20分,每小题2分。)
1. 辐射的发射:指物质吸收能量后产生电磁辐射的现象。
2. 俄歇电子:X射线或电子束激发固体中原子内层电子使原子电离,此时原子(实际是离子)处于激发
态,将发生较外层电子向空位跃迁以降低原子能量的过程,此过程发射的电子。
3. 背散射电子:入射电子与固体作用后又离开固体的电子。
4. 溅射:入射离子轰击固体时,当表面原子获得足够的动量和能量背离表面运动时,就引起表面粒
子(原子、离子、原子团等)的发射,这种现象称为溅射。
5. 物相鉴定:指确定材料(样品)由哪些相组成。
6. 电子透镜:能使电子束聚焦的装置。
7. 质厚衬度:样品上的不同微区无论是质量还是厚度的差别,均可引起相应区域透射电子强度的改
变,从而在图像上形成亮暗不同的区域,这一现象称为质厚衬度。
8. 蓝移:当有机化合物的结构发生变化时,其吸收带的最大吸收峰波长或位置(?最大)向短波方
向移动,这种现象称为蓝移(或紫移,或“向蓝”)。
9. 伸缩振动:键长变化而键角不变的振动,可分为对称伸缩振动和反对称伸缩振动。
10. 差热分析:指在程序控制温度条件下,测量样品与参比物的温度差随温度或时间变化的函数关系
的技术。
二、填空题(共20分,每小题2分。)
1. 电磁波谱可分为三个部分,即长波部分、中间部分和短波部分,其中中间部分包括(红外线)、
(可见光)和(紫外线),统称为光学光谱。
2. 光谱分析方法是基于电磁辐射与材料相互作用产生的特征光谱波长与强度进行材料分析的方法。
光谱按强度对波长的分布(曲线)特点(或按胶片记录的光谱表观形态)可分为(连续)光谱、(带状)光谱和(线状)光谱3类。
3. 分子散射是入射线与线度即尺寸大小远小于其波长的分子或分子聚集体相互作用而产生的散射。
分子散射包括(瑞利散射)与(拉曼散射)两种。
4. X射线照射固体物质(样品),可能发生的相互作用主要有二次电子、背散射电子、特征X射线、俄
歇电子、吸收电子、透射电子
5. 多晶体(粉晶)X射线衍射分析的基本方法为(照相法)和(X射线衍射仪法)。
6. 依据入射电子的能量大小,电子衍射可分为(高能)电子衍射和(低能)电子衍射。依据
电子束是否穿透样品,电子衍射可分为(投射式)电子衍射与(反射式)电子衍射。
7. 衍射产生的充分必要条件是((衍射矢量方程或其它等效形式)加?F?2≠0)。
8. 透射电镜的样品可分为(直接)样品和(间接)样品。
9. 单晶电子衍射花样标定的主要方法有(尝试核算法)和(标准花样对照法)。
10. 扫描隧道显微镜、透射电镜、X射线光电子能谱、差热分析的英文字母缩写分别是( stm )、
( tem )、( xps )、( DTA )。
11. X 射线衍射方法有、、和。
12. 扫描仪的工作方式有和两种。
13. 在 X 射线衍射物相分析中,粉末衍射卡组是由委员会编制,称为 JC PDS 卡片,又称为 PDF 卡片。
14. 电磁透镜的像差有、、和。
15. 透射电子显微镜的结构分为。
16. 影响差热曲线的因素有、、和。
三、判断题,表述对的在括号里打“√”,错的打“×”(共10分,每小题1分)
1. 干涉指数是对晶面空间方位与晶面间距的标识。晶面间距为d110/2的晶面其干涉指数为(220)。
(√)
2. 倒易矢量r*HKL的基本性质为:r*HKL垂直于正点阵中相应的(HKL)晶面,其长度r*HKL等于(HKL)之
晶面间距dHKL的2倍。(×)倒数
3. 分子的转动光谱是带状光谱。(×)线状光谱
4. 二次电子像的分辨率比背散射电子像的分辨率低。(×)高
5. 一束X射线照射一个原子列(一维晶体),只有镜面反射方向上才有可能产生衍射。(×)
6. 俄歇电子能谱不能分析固体表面的H和He。(√)
7. 低能电子衍射(LEED)不适合分析绝缘固体样品的表面结构。(√)
8. d-d跃迁受配位体场强度大小的影响很大,而f-f跃迁受配位体场强度大小的影响很小。(√)
9. 红外辐射与物质相互作用产生红外吸收光谱必须有分子极化率的变化。(×)
10. 样品粒度和气氛对差热曲线没有影响。(×)
四、单项选择题(共10分,每小题1分。)
1. 原子吸收光谱是(A)。
A、线状光谱
B、带状光谱
C、连续光谱
2. 下列方法中,( A )可用于测定方解石的点阵常数。
A、 X射线衍射线分析
B、红外光谱
C、原子吸收光谱 D 紫外光谱子能谱
3. 合金钢薄膜中极小弥散颗粒(直径远小于1?m)的物相鉴定,可以选择(D )。
A、X射线衍射线分析
B、紫外可见吸收光谱
C、差热分析
D、多功能透射电镜
4. 几种高聚物组成之混合物的定性分析与定量分析,可以选择(A )。
A、红外光谱
B、俄歇电子能谱
C、扫描电镜
D、扫描隧道显微镜
5. 下列( B)晶面不属于[100]晶带。
A、(001)
B、(100)
C、(010)
D、(001)
6. 某半导体的表面能带结构测定,可以选择(D )。
A、红外光谱
B、透射电镜
C、X射线光电子能谱 D 紫外光电子能谱
7. 要分析钢中碳化物成分和基体中碳含量,一般应选用(A )电子探针仪,
A、波谱仪型
B、能谱仪型
8. 要测定聚合物的熔点,可以选择( C )。
A、红外光谱
B、紫外可见光谱
C、差热分析
D、X射线衍射
9. 下列分析方法中,(A )不能分析水泥原料的化学组成。
A、红外光谱
B、X射线荧光光谱
C、等离子体发射光谱
D、原子吸收光谱
10. 要分析陶瓷原料的矿物组成,优先选择( C )。
A、原子吸收光谱
B、原子荧光光谱
C、X射线衍射
D、透射电镜
11.成分和价键分析手段包括【 b 】
(a)WDS、能谱仪(EDS)和 XRD (b)WDS、EDS 和 XPS
(c)TEM、WDS 和 XPS (d)XRD、FTIR 和 Raman
12.分子结构分析手段包括【 a 】
(a)拉曼光谱(Raman)、核磁共振(NMR)和傅立叶变换红外光谱(FTIR)(b)
NMR、FTIR 和 WDS
(c)SEM、TEM 和 STEM(扫描透射电镜)(d) XRD、FTIR 和 Raman